- •Рекомендуемая литература
- •1.1. Значение исследований поверхности
- •XIX - первая половина ХХ века
- •Роль поверхностных явлений
- •Катализ
- •Твердотельная электроника
- •Исследования в четко контролируемых условиях
- •1.2. Методы получения чистой поверхности
- •1.2.1.Прогрев при высоких температурах
- •1.2.2.Химические методы очистки
- •1.2.3. Ионная бомбардировка
- •Рецепты
- •1.2.4. Раскалывание в сверхвысоком вакууме
- •1.2.5.Некоторые специфические методы
- •1.3.Термодинамика поверхности
- •1.4. Анизотропия удельной поверхностной энергии
- •Литература к разделу II
- •II. АТОМНАЯ СТРУКТУРА ЧИСТЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ
- •2.1. Двумерная кристаллическая решетка
- •2.2. Обозначения поверхностей монокристаллов и атомных структур
- •2.3. Изменение межплоскостных расстояний у поверхности
- •2.3. Изменение межплоскостных расстояний у поверхности
- •2.4. Релаксация неполярных поверхностей ионных кристаллов
- •2.5.Реконструкция поверхности
- •2.5.1. Реконструкция на поверхности тугоплавких металлов
- •Золото (001)
- •Корреляция Энгеля
- •2.6. Реконструкция на поверхности полупроводников. Кремний (111).
- •2.7. Фасетирование поверхности
- •2.8. Влияние дефектов на структуру поверхности
- •2.9. Структура поверхности и ее физические свойства
- •2.10.Колебания поверхностных атомов
- •Термическое расширение
- •Литература к III разделу
- •III.ЭЛЕКТРОННЫЕ СВОЙСТВА ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДОГО ТЕЛА
- •3.2.Поверхностные состояния. Метод ЛКАО
- •3.3 Поверхностные состояния Шокли
- •3.4. Поверхностные состояния. Приближение почти свободных электронов
- •3.6. О возможности изменения ширины запрещенной зоны на поверхности
- •3.7. Поверхностная (проектированная) зона Бриллюэна
- •3.8. Экспериментальное исследование электронной структуры поверхности металлов
- •Фотоэлектронная спектроскопия
- •GaAs (110)
- •3.9. Изменение потенциала и распределение электронной плотности у поверхности
- •3.9.2. Метод функционала плотности
- •3.9.2.A. Электронный газ с почти постоянной плотностью
- •3.9.2.Б. Плавно меняющаяся электронная плотность
- •3.9.3. Способы реализации метода функционала плотности
- •3.9.3.Б. Усовершенствованный метод Хартри
- •3.9.3.В.Вариационный метод
- •3.9.4. Электронная плотность и потенциал у поверхности
- •3.9.5. Работа выхода
- •3.9.6. Поверхностная энергия
- •3.9.7. Учет атомной структуры поверхности
- •Расчеты электронной структуры различных граней металлов
- •3.8.8. Взаимодействие заряда с поверхностью
- •3.8.9.Влияние внешнего электрического поля
- •IV. АДСОРБЦИЯ
- •4.1. Кинетика адсорбции. Теория Ленгмюра.
- •4.2. Полимолекулярная адсорбция
- •4.3. Физическая и химическая адсорбция
- •4.3.1.Силы, приводящие к физической адсорбции
- •4.3.Б. Метод валентных связей
- •4.3.В.Заселенность перекрывания
- •4.3.3. Химическая связь
- •4.4. Электронное состояние адатома
- •4.5. Энергия связи адатомов с поверхностью
- •4.6. Латеральное взаимодействие адатомов
- •4.7. Структура адсорбированных слоев
- •4.8. Изменение работы выхода
- •4.9. Поверхностная диффузия
- •Солитонный механизм
- •V. ТОНКИЕ ПЛЕНКИ НА ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДОГО ТЕЛА
- •5.1. Механизмы роста пленок
- •5.2.Эпитаксия
- •5.3.Зародыши и их образование
- •5.4. Диспергированные пленки
- •5.5.Электропроводность тонких сплошных пленок
- •Удачи!
3.9.6. Поверхностная энергия
Поверхностная энергия |
|
Работа, необходимая для образования |
|||||||||
|
поверхности единичной площади. |
||||||||||
|
|
1 |
é |
æ 1 |
ö |
ù |
|||||
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|||||||
Esurf |
= |
|
|
ê2Eç |
|
N÷ - E(N )ú |
|
Esurf > 0 |
|
||
|
|
|
|||||||||
Esurf |
|
|
2S ë |
è 2 |
ø |
û |
|
|
|
||
= σ t + σ xc |
+ σ coul |
σt |
- изменение кинетической энергии, |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
приходящееся на единицу площади |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
σxc - изменение обменно-корреляционной энергии |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
σcoul изменение электростатической энергии |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
σt < 0 |
|
|
|
|
|
|
Электроны могут занимать большее пространство |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
Чем в большем объеме располагается электронный газ, |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
тем меньше его кинетическая энергия. |
|||
Поэтому |
|
|
|
|
Большое значение имеет правильный учет σxc и σcoul |
||||||
Нерасширенный метод Томаса-Ферми(не учитывает обмен и корреляцию, неусовершенствованный метод Хартри (игнорирует корреляцию)
не могут привести к удовлетворительным результатам.
При rs <2,5 ат.ед. – результаты противоречат физическому смыслу
Две причины
Первая - неверное описание обменно-корреляционной энергии, в первую очередь – использование локального приближения.
Тщательные расчеты показали
Приближение локальной плотности дает разумные величины для суммы обменной и корреляционной энергий.
Но каждая по отдельности вычисляется с ошибками, которые компенсируют друг друга.
Вторая причина - использование модели желе
3.9.7. Учет атомной структуры поверхности
Возмущающий потенциал |
v(rr) = åv ps (rr)− vg (rr) |
vg(r) - потенциал, создаваемый желеобразным положительным фоном, vps – псевдопотенциал атомов
Увеличивается энергия |
σcoul = ò |
r r |
r |
электростатического взаимодействия |
v(r )[n(r )− n+ (r )]dτ |
||
|
|
|
|
Упрощают, игнорируя атомную структуру вдоль поверхности, но сохраняя ее вдоль нормали.
Слоистая система - положительный заряд концентрируется на плоскостях, параллельных поверхности
Главные эффекты 1. Уменьшается изменение п на поверхности (z=a/2)
Электронная плотность сконцентрирована на слое и спадает при удалении от него.
Уменьшение электростатического вклада в потенциал, т.е. уменьшение дипольного момента на поверхности.
2.Увеличивается глубина изменения электронной плотности
Увеличение дипольного момента
3.Вклад в электростатическую энергию, обусловленный дискретностью решетки большой, может даже превосходить σcoul
4.Части σ, связанные с кинетической и обменно-корреляционной энергиями, практически не изменяются
Расчеты неплохо согласуются с экспериментом
