- •Рекомендуемая литература
- •1.1. Значение исследований поверхности
- •XIX - первая половина ХХ века
- •Роль поверхностных явлений
- •Катализ
- •Твердотельная электроника
- •Исследования в четко контролируемых условиях
- •1.2. Методы получения чистой поверхности
- •1.2.1.Прогрев при высоких температурах
- •1.2.2.Химические методы очистки
- •1.2.3. Ионная бомбардировка
- •Рецепты
- •1.2.4. Раскалывание в сверхвысоком вакууме
- •1.2.5.Некоторые специфические методы
- •1.3.Термодинамика поверхности
- •1.4. Анизотропия удельной поверхностной энергии
- •Литература к разделу II
- •II. АТОМНАЯ СТРУКТУРА ЧИСТЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ
- •2.1. Двумерная кристаллическая решетка
- •2.2. Обозначения поверхностей монокристаллов и атомных структур
- •2.3. Изменение межплоскостных расстояний у поверхности
- •2.3. Изменение межплоскостных расстояний у поверхности
- •2.4. Релаксация неполярных поверхностей ионных кристаллов
- •2.5.Реконструкция поверхности
- •2.5.1. Реконструкция на поверхности тугоплавких металлов
- •Золото (001)
- •Корреляция Энгеля
- •2.6. Реконструкция на поверхности полупроводников. Кремний (111).
- •2.7. Фасетирование поверхности
- •2.8. Влияние дефектов на структуру поверхности
- •2.9. Структура поверхности и ее физические свойства
- •2.10.Колебания поверхностных атомов
- •Термическое расширение
- •Литература к III разделу
- •III.ЭЛЕКТРОННЫЕ СВОЙСТВА ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДОГО ТЕЛА
- •3.2.Поверхностные состояния. Метод ЛКАО
- •3.3 Поверхностные состояния Шокли
- •3.4. Поверхностные состояния. Приближение почти свободных электронов
- •3.6. О возможности изменения ширины запрещенной зоны на поверхности
- •3.7. Поверхностная (проектированная) зона Бриллюэна
- •3.8. Экспериментальное исследование электронной структуры поверхности металлов
- •Фотоэлектронная спектроскопия
- •GaAs (110)
- •3.9. Изменение потенциала и распределение электронной плотности у поверхности
- •3.9.2. Метод функционала плотности
- •3.9.2.A. Электронный газ с почти постоянной плотностью
- •3.9.2.Б. Плавно меняющаяся электронная плотность
- •3.9.3. Способы реализации метода функционала плотности
- •3.9.3.Б. Усовершенствованный метод Хартри
- •3.9.3.В.Вариационный метод
- •3.9.4. Электронная плотность и потенциал у поверхности
- •3.9.5. Работа выхода
- •3.9.6. Поверхностная энергия
- •3.9.7. Учет атомной структуры поверхности
- •Расчеты электронной структуры различных граней металлов
- •3.8.8. Взаимодействие заряда с поверхностью
- •3.8.9.Влияние внешнего электрического поля
- •IV. АДСОРБЦИЯ
- •4.1. Кинетика адсорбции. Теория Ленгмюра.
- •4.2. Полимолекулярная адсорбция
- •4.3. Физическая и химическая адсорбция
- •4.3.1.Силы, приводящие к физической адсорбции
- •4.3.Б. Метод валентных связей
- •4.3.В.Заселенность перекрывания
- •4.3.3. Химическая связь
- •4.4. Электронное состояние адатома
- •4.5. Энергия связи адатомов с поверхностью
- •4.6. Латеральное взаимодействие адатомов
- •4.7. Структура адсорбированных слоев
- •4.8. Изменение работы выхода
- •4.9. Поверхностная диффузия
- •Солитонный механизм
- •V. ТОНКИЕ ПЛЕНКИ НА ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДОГО ТЕЛА
- •5.1. Механизмы роста пленок
- •5.2.Эпитаксия
- •5.3.Зародыши и их образование
- •5.4. Диспергированные пленки
- •5.5.Электропроводность тонких сплошных пленок
- •Удачи!
2.7. Фасетирование поверхности
Не только релаксация |
Изменение кристаллографической |
|
и реконструкция |
||
ориентации на отдельных участках |
||
Причина |
||
|
||
Поверхностная энергия |
Зависит от кристаллографической |
|
ориентации, выше у более рыхлых граней |
Проволоки, имеющие правильную цилиндрическую форму, после прогрева перекристаллизуются так, чтобы на поверхность были плотноупакованные грани
Проигрыш в энергии за счет увеличения площади поверхности
Итог – появление участков с различной кристаллографической ориентацией.
Выигрыш вследствие различия удельных поверхностных энергий.
Фасетирование поверхности.
Наблюдается на монокристаллических поверхностях
Ge(110): |
при повышенных температурах на поверхности |
|
фасетки из других граней (микроогранка) |
||
|
“Благополучная” грань (011) золота
Расположение рефлексов на дифракционной картине соответствует структуре (2x1). Взъерошивание, гофрировка, модель пропущенных рядов
Вычисления, привели к противоречивым результатам
Эксперименты по рассеянию ионов гелия показали, что она обладает значительно большей шероховатостью, чем предсказывается моделью пропущенных рядов
Необходимы значительно большие времена для перехода от структуры (1х1) к структуре (2х1), чем это наблюдается на эксперименте
Для реконструкции атомы должны мигрировать на несколько сот ангстрем (от 200 до 2000 Å )
“Зубчатая пила”
Сканирующая туннельная микроскопия Ленточная структура
Холмы вдоль [110] на сотни Ǻ, разделены на расстояние ~8 Ǻ, т.е. структура (2х1).
Часто ленты отделяются друг от друга ступенями и каналами, что ~ (3х1) и даже (4х1).
Au (011) |
на самом деле набор ленточных фасеток |
|
||
грани (111) шириной, равной 2-3 атомным рядам, |
|
|||
На стенках каналов - структура грани (111) |
У (2х1) шероховатость 0,45 Ǻ, |
|||
Объясняет наблюдаемую по рассеянию |
||||
в случае структуры (3х1) |
- 1,4 Ǻ. |
|||
ионов повышенную шероховатость. |
||||
|
|
|||
Si(100) - наряду с (2x1) имеются места с р(2x1) и с(2x1) Часто поверхность не равновесна
Ступенчатые грани Pt, образованных срезом под углом к граням (111) или (001)
Минимальную γ имеют По расчетам только плоскости
с низкими индексами.
Грани, соответствующие другим направлениям, в том числе ступенчатые, не стабильны,
По ДМЭ - |
у Pt ступенчатые грани не исчезают даже при отжиге выше 700 К |
|
Устойчивость объясняется затрудненностью путей перестройки |
||
Механизмы: |
поверхностная диффузия |
Требуется значительная энергия, |
|
термическая десорбция |
необходимо большое время |
|
объемная диффузия |
|
|
|
|
Зачастую имеют дело с поверхностями не достигшими равновесного состояния
Фасетирование может стимулироваться адсорбцией
(111) W или Mo + моноатомная пленка Rh, Pd, Ir, Pt, Au, O или Cl.
Пирамиды с огранкой гранями {211}
Почему не гранями {110}, имеющими наименьшую поверхностную энергию
Фасетирование гранями {211} увеличивает площадь на 6%
При огранке {110} площадь должна возрасти на 22%.
W(111), на которую нанесена моноатомная пленка Pd, после отжига при 1075 К
Фасетирование не происходит при |
Важна электронная |
|
структуры. |
||
адсорбции CO, Ti, Gd, Ni, Cu, Ag. |
||
|
||
Фасетируют адсорбаты с электроотрицательностью >2,0 |
||
Не фасетируют адсорбаты с электроотрицательностью <2,0
Аналогично на поверхности Ge(103) при адсорбции сурьмы
После кратковременного (5 мин) отжига при 800 К поверхность разбивается на пирамиды высотой ~10 Ǻ и шириной ~80 Ǻ с ориентацией граней {113}. Более длительный отжиг (20 мин) приводит к объединению пирамид в ленты зубчатой формы длиной 2000 Ǻ.
Их ширина ~ 170 Ǻ, а высота –20 Ǻ.
В некоторых случаях микроогранка может быть не стабильной и иметь место только при повышенных температурах.
