- •Вступ 6 зм 1. Електричні властивості напівпровідників 9
- •Зм 2. Напівпровідникові прилади 26
- •Зм 3. Електронні пристрої 79
- •Зм 4. Електронні елементи мікропроцесорної техніки 164
- •Зм 1. Електричні властивості напівпровідників
- •1.1. Основи зонної теорії твердого тіла.
- •1.2. Електропровідність напівпровідників.
- •1.2.1. Власна електропровідність напівпровідників
- •1.2.2. Домішкова електропровідність напівпровідників
- •1 .2.3. Ефекти, що пов’язані з електропровідністю напівпровідників
- •1.3. Властивості електронно-діркового переходу.
- •1.3.1. Формування електронно-діркового переходу.
- •1.3.2. Властивості n-p переходу при підключенні зовнішньої напруги
- •1.3.3. Тунельний ефект
- •1.4. Питання для самоперевірки.
- •Зм 2. Напівпровідникові прилади
- •2.1. Напівпровідникові діоди1
- •2.1.1. Випрямляючі діоди
- •2.1.2. Стабілітрони і схеми стабілізації напруги.
- •2.1.3. Варикапи
- •2.1.4. Тунельні діоди
- •2.1.5. Інші види діодів
- •2.2. Біполярні транзистори і їх використання в електронних пристроях
- •2.2.1. Устрій та принцип роботи біполярного транзистора.
- •2.2.2. Режими роботи біполярного транзистора.
- •2.2.3. Схеми включення транзисторів.
- •2.2.4. Вольт-амперні характеристики біполярних транзисторів та режими роботи (на прикладі n-p-n транзисторів).
- •2.2.5. Транзистор як активний чотирьохполюсник.
- •2.3. Уніполярні транзистори.
- •2.4. Тиристори
- •2.5. Питання для самоперевірки.
- •Зм 3. Електронні пристрої
- •3.1. Випрямлячі змінного струму.
- •3.2. Підсилювачі електричних сигналів.
- •3.2.1. Загальна інформація.
- •3.2.2. Характеристики підсилювачів
- •3.2.3. Зворотний зв’язок в підсилювачах.
- •3.2.4. Схеми підсилювальних каскадів на біполярних транзисторах.
- •3.2.5. Особливості роботи схеми попередніх каскадів підсилювача.
- •3.2.6. Режими роботи підсилюючих елементів.
- •3.2.7. Особливості роботи схеми кінцевого каскаду підсилювача.
- •3.2.8. Складені транзистори.
- •3.2.9. Спеціальні види підсилювачів.
- •3.3. Транзисторні генератори електричних сигналів.
- •3.3.1. Генератори синусоїдальних коливань.
- •3.3.2. Генератори імпульсів складної форми.
- •3.3.2.1. Параметри імпульсів прямокутної форми.
- •3.3.2.2. Мультивібратори.
- •3.3.2.3. Очікуючий мультивібратор або одновібратор.
- •3.3.2.4. Блокінг-генератори.
- •3.3.2.5. Генератори пилкоподібної напруги (гпн).
- •3.3.3. Генератори сигналів на операційних підсилювачах1.
- •3.4. Питання для самоперевірки.
- •Зм 4. Електронні елементи мікропроцесорної техніки
- •4.1. Уявлення про мікропроцесорну техніку, мікропроцесорні засоби і мікропроцесорні системи.
- •4.2. Структура мікропроцесорної системи.
- •4.2.1. Загальне уявлення про мікропроцесорну систему.
- •4.2.2. Мікропроцесорні засоби в системах керування
- •4.3. Елементи математичного апарату цифрової техніки.
- •4.3.1. Системи числення.
- •4.3.2. Фізичне уявлення інформації в мп-системі.
- •4.3.3. Форми представлення чисел.
- •4.3.4. Кодування чисел в мп-системах
- •4.3.5. Поняття булевої змінної та булевої функції
- •4.3.6. Операції та закони булевої алгебри.
- •4.3.7. Функціонально повні системи булевих функцій.
- •4.3.8. Мінімізація булевих функцій.
- •4.4. Цифрові схеми та цифрові автомати.
- •4.4.1. Елементи ртл.
- •4.4.2. Елементи дтл.
- •4.4.3. Елементи ттл.
- •4.4.4. Елементи езл.
- •4.4.5. Інтегральні схеми на моп–транзисторах.
- •4.5. Комбінаційні цифрові пристрої.
- •4.5.1 Дешифратор.
- •4.5.2. Перетворювачі кодів і шифратори.
- •4.5.3. Мультиплексори і демультиплексори.
- •4.5.4. Напівсуматор і суматор.
- •4.6. Послідовнісні пристрої.
- •4.6.1. Тригери.
- •4.6.1.1. Синхронний однотактний rs–тригер.
- •4.6.1.2. Синхронний двотактний rs–тригер.
- •4.6.2. Регістри.
- •4.6.2.1. Прийом і передача інформації в регістрах.
- •4.6.2.2. Схемна реалізація зсуваючого регістру
- •4.6.2.3. Реалізація порозрядних операцій в регістрах.
- •4.6.3. Лічильники.
- •4.6.3.1. Загальне уявлення і класифікація.
- •4.6.3.2. Лічильник з безпосередніми зв’язками з послідовним переносом.
- •4.6.3.3. Лічильник з паралельним переносом.
- •4.6.3.4. Реверсивний лічильник з послідовним переносом.
- •4.6.4. Накопичуючі суматори.
- •4.6.4.1. Однорозрядний накопичуючий суматор.
- •4.6.4.2. Багаторозрядні суматори
- •4.6.5. Електронні елементи пам’яті.
- •4.6.6. Перетворювачі сигналів.
- •4.7. Питання для самоперевірки.
- •Додаток
- •Префікси для кратних одиниць
- •Список рекомендованої літератури
1.2. Електропровідність напівпровідників.
Електропровідність – важливіша властивість твердих тіл – пояснюється рухом вільних електронів (електронів, що втратили валентний зв’язок з ядрами атомів) під дією електричного поля. Такі електрони можуть переміщуватись між атомами і взаємодіяти з іншими електронами, ядрами, електричними полями.
Як вже зазначалось за електропровідністю всі речовини умовно розділяють на провідники, напівпровідники і діелектрики.
1.2.1. Власна електропровідність напівпровідників
В основі роботи напівпровідникових приладів лежить той факт, що вивільнення електрона супроводжується утворенням дірки, причому дірка не є постійною приналежністю одного атому – при переході на її місце електрона з сусіднього атому вільне місце з’являється тепер в іншому зв’язку, тобто разом з хаотичним рухом вільних електронів здійснюється і хаотичний рух дірок, який супроводжується переміщенням валентних електронів з одного міжатомного зв’язку (ковалентного зв’язку) в інший.
Якщо помістити напівпровідник в електричне поле, в ньому хаотичний рух перетворюється у впорядкований – рух вільних електронів в зоні провідності і рух електронів в валентній зоні, тобто дірок. Тільки рух дірок направлений зворотно руху вільних електронів.
Отже носіями електричного струму в напівпровідниках є як від’ємні заряди – електрони, так і позитивні заряди – дірки.
Електропровідність, що обумовлена рухом вільних електронів, називається електронною і позначається буквою n.
Електропровідність, що обумовлена рухом дірок, називається дірковою і позначається буквою p.
В хімічно чистому кристалі напівпровідника1 кількість дірок завжди дорівнює кількості вільних електронів і електричний струм в ньому утворюється в результаті одночасного переносу зарядів обох знаків. Така електронно-діркова провідність називається власною електропровідністю напівпровідника. При цьому загальний струм в напівпровіднику дорівнює сумі електронного і діркового струмів: J = Jn + Jp, де J – щільність струму, А/см2; Jn – щільність електронної складової струму; Jp – щільність діркової складової струму.
Величина щільності струму залежить від швидкості переміщення носіїв заряду в напівпровіднику, яка пропорційна напруженості електричного поля і рухомості відповідно електронів і дірок. Величина рухомості залежить від типу напівпровідника – структури його кристалічної решітки, хімічного складу, температури і т.д.
Відомо, що щільність струму чисельно дорівнює заряду, що проходить через одиницю площі за одиницю часу. Отже, питома електропровідність напівпровідника залежить від концентрації електронів і дірок і від їх рухомості.
Зауважимо, що чим вища температура, тим вища питома електропровідність напівпровідника. Ця залежність має експоненціальний характер.
1.2.2. Домішкова електропровідність напівпровідників
Чистий напівпровідник має однакові степені електронної і діркової провідності (в розумінні рівної кількості носіїв одного та іншого типів).
Шляхом внесення в чистий напівпровідник певного домішку можна створити напівпровідник, в якому переважала або n-, або p-провідність.
Електропровідність, зумовлена присутністю в кристалі напівпровідника домішок із атомів з іншою валентністю, називається домішковою. Напівпровідник із такою електропровідністю називають домішковим (примесным рус.).
В кількісному відношенні домішки в чистому напівпровіднику складають 10–7%.
Ефект збільшення електричної провідності пояснюється присутністю в кристалі напівпровідника атомів елементів іншої валентності.
Домішки, що збільшують електронну провідність, називаються донорними (що віддають), а домішки, що збільшують діркову провідність, – акцепторними (що приєднують).
Для чотирьохвалентних напівпровідників (кремній, германій) донорними домішками є п’ятивалентні елементи (сурма, миш’як, бор та ін.), а акцепторними є трьохвалентні (індій, галій, алюміній та ін.).
Атом донорного домішку займає місце в кристалічній решітці, при цьому чотири його валентні електрони вступають в ковалентні зв’язки з сусідніми атомами кремнію, а п’ятий, облишений ковалентних зв’язків, слабо пов’язаний з ядром і легко звільняється. Напівпровідники, електропровідність яких підвищилась завдяки утворення надлишку електронів при введені домішку, називаються напівпровідниками з електронною провідністю, або скорочено напівпровідниками типу n.
Атоми домішку мають енергетичні рівні, відмінні від рівнів основного напівпровідника – енергетичні рівні валентних електронів домішкових атомів (цей рівень називають домішковим) близькі до зони провідності основного напівпровідника. Тому вже при кімнатній температурі майже всі електрони з домішкового рівня набувають енергії зони провідності. В зв’язку з цим розподіл ймовірностей Фермі-Дірака, а відповідно і рівень Фермі, зміщується до зони провідності, тобто енергетичний рівень, імовірність знаходження на якому електрона дорівнює 0,5, збільшується майже до рівнів зони провідності.
Концентрація дірок в напівпровіднику з донорним домішком значно менша, ніж в чистому бездомішковому напівпровіднику.
Електрони, що складають переважну більшість рухомих носіїв зарядів в напівпровідниках n-типу, називають основними носіями заряду, а дірки – неосновними.
Отже донорні атоми різко збільшуючи кількість вільних електронів, не збільшують кількості дірок, оскільки ковалентні зв’язки атомів домішку заповнені і не перехоплюють електронів з валентної зони сусідніх атомів.
Атоми акцепторного домішку, вступаючи трьома своїми валентними електронами в ковалентні зв’язки, залишає одне місце в ковалентному зв’язку незаповненим, тобто утворюється дірка. Внесення акцепторних домішок призводить до утворення дірок і не супроводжується збільшенням числа вільних електронів. Напівпровідники, електропровідність яких зумовлена в основному рухом дірок, називаються напівпровідниками з дірковою провідністю, або скорочено напівпровідниками типу р.
В атомах акцепторного домішку валентні електрони розташовані на енергетичних рівнях, що знаходяться в безпосередній близькості від зони валентних електронів основного напівпровідника. В зв’язку з цим електрони валентної зони легко переходять на домішковий рівень («захоплюються» трьохвалентними атомами домішку). Отже, у валентній зоні з’являється велика кількість дірок. Вони будуть заповнюватись іншими електронами валентної зони, на місці яких утворюються нові дірки і т.д. таким чином, з’являється можливість послідовного зміщення електронів у валентній зоні, що зумовлює підвищення провідності напівпровідника. Розподіл Фермі-Дірака і рівень Фермі в цьому випадку зменшуються в бік валентної зони.
Концентрація електронів в напівпровіднику з акцепторним домішком значно менша, ніж в основному напівпровіднику.
Отже, на відміну від напівпровідників з донорним домішком в напівпровідниках р-типу дірки є основними носіями зарядів, а електрони – неосновними.
Оскільки будь-який напівпровідник має (хоч і незначну) власну провідність, в ньому крім основних носіїв, є невелика частка неосновних. Інакше кажучи в напівпровідниках n-типу є велика кількість вільних електронів і невелика кількість дірок, а в напівпровіднику р-типу – навпаки.