- •40.Диференціальні підсильвальні каскади.
- •1. Класифікація твердих тіл за їх електрофізичними властивостями. Модельні уявлення щодо електропровідності твердих тіл. Елементи зонної теорії твердих тіл.
- •Модельні уявлення щодо електропровідності тв. Тіл
- •Елементи зонної теорії тв. Тіл
- •2. Класична теорія електропровідності. Рухомість носіїв заряду, питомий опір та провідність.
- •3. Статистика електронів та дірок в напівпровідниках. Густина квантових станів. Функція розподілу Фермі – Дірака для електронів та дірок.
- •4. Залежність положення рівня Фермі від концентрації домішок та температури в напівпровідниках.
- •5. Дифузійний та дрейфовий струми в напівпровідниках. Рівняння неперервності.
- •6. Напівпровідник у зовнішньому електричному полі. Дебаєвська довжина екранування.
- •7. Модельні уявлення, щодо контакту двох напівпровідників із різними типами провідності. Ефект випрямлення струму на p-n переході.
- •9. Товщина шару об΄ємного заряду p-n переходу. Бар΄єрна та дифузійна ємність p-n переходу. Варікапи, їх характеристики та параметри.
- •10. Контакт вироджених n- та p- напівпровідників. Тунельний діоди, їх характеристики та параметри.
- •11. Пробой p-n-перехода. Стабилитрон.
- •12. Внутрішній фотоефекти. Фотодіоди та фототранзистори, їх характеристики та парметри.
- •13. Контакт метал – напівпровідник. Товщина шару об΄ємного заряду в контакті метал – напівпровідник.
- •14. Ефект випрямлення струму в контакті метал – напівпровідник. Діоди Шотки, їх характеристики та параметри.
- •15. Біполярні транзистори, їх характеристики та параметри.
- •16. Распределение носителей заряда в базе биполярного транзистора. Эффект модуляции толщины базы биполярного транзистора.
- •17. Динамічний режим роботи біполярного транзистора.
- •18. Схемы питания и стабилизации режима работы транзистора
- •21. Виды имс. Методы фотолитографии. Конструктивно-технологічні особливості біполярных имс, мдн- імс та гібридних імс.
- •23. Параллельный Колебательный Контур. Резонанс Токов.
- •24.Связанные контуры. Резонанс в индуктивно связанных контурах.
- •26 Четырехполюсники.
- •27. Електричні кола з розподіленими параметрами.
- •28.Не линейные электрические цепи.
- •29. Методы преобразования цепей
- •30. Методы расчёта сложных цепей. Метод Сигнальных графов
- •31. Переходные процессы в rc-цепях.
- •32. Переходные процессы в rl-цепях
- •33.Переходные процессы в rlc цепях
- •34.Операторный метод анализа переходных процессов.
- •35. Спектральный метод ряд фурье и его свойства.
- •36.Классификация усилителей. Основные хар-ки и параметры усилителей,
- •37. Классы усиления.
- •38. Усилитель низкой частоты
- •39. Обратные связи в усилителях.
- •40. Дифференциальные усилительные каскады
- •41. Выходные каскады усиления, характеристики и параметры.
- •46. Чм и фм –модуляция колебания.
- •45. Амплитудная модуляция
- •47. Детектирование сигналов. Детектор.
- •49. Мінімізація логічних пристроїв. Мінімізація із застосуванням карт Вейча.
- •50. Комбінаційні логічні пристрої. Типові функціональні вузли цифрових комбінаційних логічних пристроів
- •51.Перетворювачі кодів. Дешифратори.
- •52.Цифрові компаратори
- •53. Синхронний rs-тригери
- •57. Регістри
- •58. Лічильники
- •59. Дискретизация непрерервних сигналiв
- •60. Квантование сигналов
- •61.Фурье перетворення дискретных сигналiв
- •62. Алгоритми швидкого перетворення Фурьє
- •64. Рекурсивные и нерекурсивные фильтры
- •65 Методи синтезу цифрових фільтрів з нескінченною імпульсною характеристикою. Метод білінійного z-перетворення.
- •67.Ефекти кванування в цифрових фільтрах.
- •68. Явище епр. Тонка, надтонка та спер надтонка структура спектрів епр.
- •69. Форма ліній епр. Однорідне та неоднорідне розширення ліній епр.
- •71. Явище ямр. Ямр в рідинах та твердому тілі.
- •73.Двойные резонансы.
- •76. Отрицательные температуры и отрецательный коефициент поглощения.
- •79. Физические принципы лежащие в основе построения модуляторов лазерного излучения. Типы модуляторов.
76. Отрицательные температуры и отрецательный коефициент поглощения.
–I=Ix=(B12N1–B21N2)uhx
Коэффициент поглощения будет иметь вид:
Учитывая, что g1B12=g2B21 получаем
Из распределения Больцмана
следует, что
Поскольку E2>E1, а в равновесии g1N2<g2N1 то T>0.
Однако если выполняется неравенство
или
то Т<0.
Инверсия населенности. Методы образования инверсии населенности.
Как известно, коэффициент поглощения имеет вид
Из распределения Больцмана
следует, что
Поскольку E2>E1, а в равновесии g1N2<g2N1 то T>0.
Однако если выполняется неравенство
или
то Т<0. Таким образом, для того чтобы создать среду с отрицательным поглощением, необходимо осуществить неравновесное состояние, при котором число возбужденных атомов было бы больше числа атомов, находящихся в нормальном, невозбужденном состоянии. Заселенность энергетических уровней атомов, удовлетворяющих данному неравенству, носит название инверсной населенности.
Одним из способов получения среды с отрицательным поглощением может явиться создание косвенным путем избытка атомов на более высоком уровне энергии по отношению к более низкому.
Такой случай можно осуществить на атомной или молекулярной системе, которая может находиться в трех энергетических состояниях: в нормальном с энергией E0 и двух возбужденных (1 и 2) с энергиями E1 и E2, между которыми возможны спонтанные переходы с вероятностями А20, A21 и A10.
В такой системе с помощью поглощаемых квантов света производится заселение возбужденного уровня 2. Селективное заселение уровня получило название оптической накачки. Уровень 1 заселяется только в результате спонтанного перехода 21, и число таких переходов в единицу времени равно A21N2
Уменьшение населенности уровня 1 происходит только за счет переходов 10, и число таких переходов в единицу времени будет A10N1. В стационарных условиях количество заселяющих переходов равно числу обратных переходов:
A21N2=A10N1.
Для получения индуцированного излучения необходима инверсная населенность уровней, т. е. населенность уровня 2 должна быть больше, чем уровня 1. Для рассматриваемой системы инверсная населенность уровней возникнет в том случае, если
A21<A10
Из этого соотношения следует, что уровень 2 за счет перехода 21 должен опустошаться медленнее, чем уровень 1 за счет переходов 10. При таком соотношении вероятностей в состоянии 2 будет накапливаться больше атомов, чем в состоянии 1. Однако для осуществления такого процесса накопления атомов необходимо также, чтобы уровень 2 достаточно медленно опустошался за счет переходов 20, т.е. вероятность перехода из состояния 2 в состояние 0 должна быть мала.
77. Светодиоды и полупроводниковые лазеры на pn-переходе.
В свет-х свечение возникает при пропускании тока в прямом направлении.
Свечение в с – е относится к явлению электро люминис-ции. Инжекция на р-n переходе возн. в рез. инжекции неосновных носителей заряда.
Электроны инжектируются в p-область, а дырки в n-область. Рекомбинация своб-х электронов и дырок может происходить на примесных уровнях или в рез. рекомбинации свободного эл. и дырки. Спектр испускания свет-в может иметь несколько полос, связанных с примесными центрами (активаторами), и полосу зонно-зонных переходов. Излучение св-а явл. спонтанным, кванты света распростроняются в разном направлении. Яркость свечения. В области p-n перехода т.ж. может происходить рекомбинация, эн. кот. Тратится на нагревание кр. решётки, поэтому КПД =до 40%.
Среди светоизлучающих диодов (СИД) различают диоды для индикации, для оптической связи, а также обладающие высокой мощностью излучения.СИД по сравнению с полупроводниковыми лазерами обладают более широким спектром излучения, полоса модуляции у них уже, а эффективность связи с оптическим волокном ниже.
По способу вывода излучения СИД подразделяются на диоды с поверхностными излучателями и на диоды с торцевыми излучателями.
В СИД с поверхностным излучателем свет излучается в направлении, перпендикулярном поверхности перехода. В СИД с торцевыми излучателями вывод излучения, выходящего из активного слоя, осуществляется с торца, как в полупроводниковых лазерах. Так как в этом случае генерируемое излучение при выводе наружу проходит через активный слой, то имеет место сильное самопоглощение и КПД вывода излучения не может быть таким же высоким, как у ранее рассмотренного типа диодов.
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ЛАЗЕР НА P-N-ПЕРЕХОДЕ.
Энергетический спектр идеального полупроводника состоит из очень широких зон: это валентная зона V и зона проводимости С, разделенные областью запрещенных значений энергии (запрещенной зоной).
Поскольку электроны стремятся перейти из зоны С в зону V (т. е. рекомбинировать с дыркой), то, если поместить такой полупроводник в соответствующий резонатор, можно получить лазерную генерацию. Необходимым условием лазерной генерации должно быть превышение числа вынужденных актов испускания фотонов над числом актов их поглощения. Чтобы получить вынужденное излучение, должно выполняться условие
Bq[fс(1–fυ)-fυ(1–fc)]>0.
Чтобы получить лазерную генерацию, две противоположные поверхности полупроводникового образца полируют и делают плоскопараллельными, а две другие оставляют грубо обработанными с тем, чтобы предотвратить генерацию в нежелательных направлениях. Обычно обе рабочие поверхности не имеют отражающих покрытий.
Полупроводниковый лазер не может работать в непрерывном режиме при температурах выше некоторой критической температуры Тс. Повышенные температуры требуют более высокой плотности тока, которая в свою очередь приводит к дальнейшему росту температуры, исключая таким образом возможность получений непрерывного режима генерации. Самые эффективные лазеры имеют очень широкую полосу генерации (>1011Гц)
78. Основные нелинейные явления в оптическом диапазоне
1. Просветление среды.
2. Затемнение среды.
3. ”Выпрямление ” среды (по частотам)
-вектор поляризации
где Р – поляризайия =
- при больших полях
4. Эфект самофокусировки.
При мощности порядка 90кВт пучок диаметра 0.5 см при прохождении через среду сжимается до 30 мкм.
5. Нарушение кр. границы фотоэффекта.
При мощном излучении проявляется эффект двойного фотонного поглащения
6. а) Вынужденное комбинационное рассеивание.
На материал падает частота н (накачки) и видно чо в спектре появляются новые частоты
1, 2, 3 – собственные колебания среды (кол – я диполе, молекул и т.д.)
б)Вынужденное рассеивание Мельдннштама – Брюллюэна.
С помощью пьезоелектрика запускаем низкочастотное колебание (в кристале) и при входной частоте н на выходе будет н+n
7.Параметрическая генерация света.
Действкя на вращающийся кристалл 3 – мя волнами
Eн0 >> E10 >> E20
то на выходе увидим что частота изменилась 1 < вых < 2