- •40.Диференціальні підсильвальні каскади.
- •1. Класифікація твердих тіл за їх електрофізичними властивостями. Модельні уявлення щодо електропровідності твердих тіл. Елементи зонної теорії твердих тіл.
- •Модельні уявлення щодо електропровідності тв. Тіл
- •Елементи зонної теорії тв. Тіл
- •2. Класична теорія електропровідності. Рухомість носіїв заряду, питомий опір та провідність.
- •3. Статистика електронів та дірок в напівпровідниках. Густина квантових станів. Функція розподілу Фермі – Дірака для електронів та дірок.
- •4. Залежність положення рівня Фермі від концентрації домішок та температури в напівпровідниках.
- •5. Дифузійний та дрейфовий струми в напівпровідниках. Рівняння неперервності.
- •6. Напівпровідник у зовнішньому електричному полі. Дебаєвська довжина екранування.
- •7. Модельні уявлення, щодо контакту двох напівпровідників із різними типами провідності. Ефект випрямлення струму на p-n переході.
- •9. Товщина шару об΄ємного заряду p-n переходу. Бар΄єрна та дифузійна ємність p-n переходу. Варікапи, їх характеристики та параметри.
- •10. Контакт вироджених n- та p- напівпровідників. Тунельний діоди, їх характеристики та параметри.
- •11. Пробой p-n-перехода. Стабилитрон.
- •12. Внутрішній фотоефекти. Фотодіоди та фототранзистори, їх характеристики та парметри.
- •13. Контакт метал – напівпровідник. Товщина шару об΄ємного заряду в контакті метал – напівпровідник.
- •14. Ефект випрямлення струму в контакті метал – напівпровідник. Діоди Шотки, їх характеристики та параметри.
- •15. Біполярні транзистори, їх характеристики та параметри.
- •16. Распределение носителей заряда в базе биполярного транзистора. Эффект модуляции толщины базы биполярного транзистора.
- •17. Динамічний режим роботи біполярного транзистора.
- •18. Схемы питания и стабилизации режима работы транзистора
- •21. Виды имс. Методы фотолитографии. Конструктивно-технологічні особливості біполярных имс, мдн- імс та гібридних імс.
- •23. Параллельный Колебательный Контур. Резонанс Токов.
- •24.Связанные контуры. Резонанс в индуктивно связанных контурах.
- •26 Четырехполюсники.
- •27. Електричні кола з розподіленими параметрами.
- •28.Не линейные электрические цепи.
- •29. Методы преобразования цепей
- •30. Методы расчёта сложных цепей. Метод Сигнальных графов
- •31. Переходные процессы в rc-цепях.
- •32. Переходные процессы в rl-цепях
- •33.Переходные процессы в rlc цепях
- •34.Операторный метод анализа переходных процессов.
- •35. Спектральный метод ряд фурье и его свойства.
- •36.Классификация усилителей. Основные хар-ки и параметры усилителей,
- •37. Классы усиления.
- •38. Усилитель низкой частоты
- •39. Обратные связи в усилителях.
- •40. Дифференциальные усилительные каскады
- •41. Выходные каскады усиления, характеристики и параметры.
- •46. Чм и фм –модуляция колебания.
- •45. Амплитудная модуляция
- •47. Детектирование сигналов. Детектор.
- •49. Мінімізація логічних пристроїв. Мінімізація із застосуванням карт Вейча.
- •50. Комбінаційні логічні пристрої. Типові функціональні вузли цифрових комбінаційних логічних пристроів
- •51.Перетворювачі кодів. Дешифратори.
- •52.Цифрові компаратори
- •53. Синхронний rs-тригери
- •57. Регістри
- •58. Лічильники
- •59. Дискретизация непрерервних сигналiв
- •60. Квантование сигналов
- •61.Фурье перетворення дискретных сигналiв
- •62. Алгоритми швидкого перетворення Фурьє
- •64. Рекурсивные и нерекурсивные фильтры
- •65 Методи синтезу цифрових фільтрів з нескінченною імпульсною характеристикою. Метод білінійного z-перетворення.
- •67.Ефекти кванування в цифрових фільтрах.
- •68. Явище епр. Тонка, надтонка та спер надтонка структура спектрів епр.
- •69. Форма ліній епр. Однорідне та неоднорідне розширення ліній епр.
- •71. Явище ямр. Ямр в рідинах та твердому тілі.
- •73.Двойные резонансы.
- •76. Отрицательные температуры и отрецательный коефициент поглощения.
- •79. Физические принципы лежащие в основе построения модуляторов лазерного излучения. Типы модуляторов.
15. Біполярні транзистори, їх характеристики та параметри.
Принцип работы биполярного транзистора. Физ. параметры БТ.
Биполярный транзистор состоит из двух близко расположенных друг к другу p-n-переходов.
Рассмотрим режим работы транзистора в так называемой схеме с общей базой (рис. а). На эмиттерный переход подают прямое смещение, на коллекторный — обратное. Электроны из эмиттерной области инжектируются через понизившийся потенциальный барьер эмиттерного перехода (стрелки 1 на рис а, в) в базовую область транзистора. электрическое поле в базе отсутствует и электроны, инжектированные в базу через эмиттерный переход, диффундируют к коллекторному переходу. Их концентрация у эмиттерного перехода повышена по сравнению с равновесной в exp[eVЭ/(kT)] раз, а у границы обратно-смещенного коллекторного р-n-перехода она практически равна нулю. электронный ток эмиттерного перехода InЭ транзистора течёт не через базовый его вывод, а через коллектор и далее через сопротивление нагрузки Rн. Включение транзистора с общей базой позволяет получить усиление напряжения в выходной цепи транзистора (на сопротивлении нагрузки Rн) по сравнению с напряжением Vвх в его входной цепи.
Усилительные свойства транзисторов
Рассмотрим теперь некоторые количественные показатели работы транзистора как усилителя для различных схем его включения.
На рис. а, б, в показаны 3 простейшие усилительные схемы при включении транзистора с общей базой (рис. а), общим эмиттером (рис. б) и общим коллектором (рис. в).
Коэффициент усиления по току .
Коэффициент усиления по напряжению
.
Коэффициент усиления по мощности
Входное сопротивление
Для указанных на рис. трех схем включения транзистора коэффициенты усиления по току, напряжению и мощности определяются следующими вполне очевидными выражениями.
Схема с общей базой
Поскольку ток эмиттера — наибольший из всех токов транзистора, то схема с общей базой имеет малое входное сопротивление для переменной составляющей тока сигнала.
Схема с общим эмиттером
Основной особенностью схемы с общим эмиттером явл. то, что входным током в ней является не ток эмиттера, а малый по величине ток базы. Поэтому в схеме с общим эмиттером можно получить усиление порядка нескольких десятков. Достоинством схемы с ОЭ следует также считать возможность питания её от одного источника питания, поскольку на Б и на К подаётся питающее напряж. одного знака.
Схема с общим коллектором
Параметры транзистора. Основным параметром транзистора является коэффициент усиления по току .
Коэффициент наз. внешним параметром транзистора. Он определяется через три внутренних параметра: эффективность эмиттера , коэффициент переноса и эффективность коллектора *.
Эффективность эмиттера равна отношению изменения электронной компоненты эмиттерного тока к изменению полного тока эмиттера IЭ:
Так как движение электронов в базе имеет чисто диффузионный характер, то значение электронной компоненты тока эмиттера определяется градиентом концентрации электронов
,
где ось х направлена от эмиттера к коллектору.
Определим градиент концентрации электронов в базе. У эмиттерного перехода их концентрация ,
у коллекторного n(w) = 0. Следовательно,
Подставляя получаем
Учитывая, что IЭ = InЭ + IpЭ, получим для эффективности эмиттера выражение
Коэффициент переноса
Для узкой базы (w<<Ln) расчет показывает, что
Эффективность коллектора, определяемая как
может превышать единицу, если в коллекторном p-n-переходе происходит ударная ионизация. В обычном же режиме, когда VK << Vпроб, значение практически равно единице.
Из выше сказанного следует, что =*
Подставив сюда значения и , положив *=1 и отбросив слагаемые второго порядка малости, получим .
Отсюда следует, что в схеме с общей базой усиления по току не происходит (< 1).