- •40.Диференціальні підсильвальні каскади.
- •1. Класифікація твердих тіл за їх електрофізичними властивостями. Модельні уявлення щодо електропровідності твердих тіл. Елементи зонної теорії твердих тіл.
- •Модельні уявлення щодо електропровідності тв. Тіл
- •Елементи зонної теорії тв. Тіл
- •2. Класична теорія електропровідності. Рухомість носіїв заряду, питомий опір та провідність.
- •3. Статистика електронів та дірок в напівпровідниках. Густина квантових станів. Функція розподілу Фермі – Дірака для електронів та дірок.
- •4. Залежність положення рівня Фермі від концентрації домішок та температури в напівпровідниках.
- •5. Дифузійний та дрейфовий струми в напівпровідниках. Рівняння неперервності.
- •6. Напівпровідник у зовнішньому електричному полі. Дебаєвська довжина екранування.
- •7. Модельні уявлення, щодо контакту двох напівпровідників із різними типами провідності. Ефект випрямлення струму на p-n переході.
- •9. Товщина шару об΄ємного заряду p-n переходу. Бар΄єрна та дифузійна ємність p-n переходу. Варікапи, їх характеристики та параметри.
- •10. Контакт вироджених n- та p- напівпровідників. Тунельний діоди, їх характеристики та параметри.
- •11. Пробой p-n-перехода. Стабилитрон.
- •12. Внутрішній фотоефекти. Фотодіоди та фототранзистори, їх характеристики та парметри.
- •13. Контакт метал – напівпровідник. Товщина шару об΄ємного заряду в контакті метал – напівпровідник.
- •14. Ефект випрямлення струму в контакті метал – напівпровідник. Діоди Шотки, їх характеристики та параметри.
- •15. Біполярні транзистори, їх характеристики та параметри.
- •16. Распределение носителей заряда в базе биполярного транзистора. Эффект модуляции толщины базы биполярного транзистора.
- •17. Динамічний режим роботи біполярного транзистора.
- •18. Схемы питания и стабилизации режима работы транзистора
- •21. Виды имс. Методы фотолитографии. Конструктивно-технологічні особливості біполярных имс, мдн- імс та гібридних імс.
- •23. Параллельный Колебательный Контур. Резонанс Токов.
- •24.Связанные контуры. Резонанс в индуктивно связанных контурах.
- •26 Четырехполюсники.
- •27. Електричні кола з розподіленими параметрами.
- •28.Не линейные электрические цепи.
- •29. Методы преобразования цепей
- •30. Методы расчёта сложных цепей. Метод Сигнальных графов
- •31. Переходные процессы в rc-цепях.
- •32. Переходные процессы в rl-цепях
- •33.Переходные процессы в rlc цепях
- •34.Операторный метод анализа переходных процессов.
- •35. Спектральный метод ряд фурье и его свойства.
- •36.Классификация усилителей. Основные хар-ки и параметры усилителей,
- •37. Классы усиления.
- •38. Усилитель низкой частоты
- •39. Обратные связи в усилителях.
- •40. Дифференциальные усилительные каскады
- •41. Выходные каскады усиления, характеристики и параметры.
- •46. Чм и фм –модуляция колебания.
- •45. Амплитудная модуляция
- •47. Детектирование сигналов. Детектор.
- •49. Мінімізація логічних пристроїв. Мінімізація із застосуванням карт Вейча.
- •50. Комбінаційні логічні пристрої. Типові функціональні вузли цифрових комбінаційних логічних пристроів
- •51.Перетворювачі кодів. Дешифратори.
- •52.Цифрові компаратори
- •53. Синхронний rs-тригери
- •57. Регістри
- •58. Лічильники
- •59. Дискретизация непрерервних сигналiв
- •60. Квантование сигналов
- •61.Фурье перетворення дискретных сигналiв
- •62. Алгоритми швидкого перетворення Фурьє
- •64. Рекурсивные и нерекурсивные фильтры
- •65 Методи синтезу цифрових фільтрів з нескінченною імпульсною характеристикою. Метод білінійного z-перетворення.
- •67.Ефекти кванування в цифрових фільтрах.
- •68. Явище епр. Тонка, надтонка та спер надтонка структура спектрів епр.
- •69. Форма ліній епр. Однорідне та неоднорідне розширення ліній епр.
- •71. Явище ямр. Ямр в рідинах та твердому тілі.
- •73.Двойные резонансы.
- •76. Отрицательные температуры и отрецательный коефициент поглощения.
- •79. Физические принципы лежащие в основе построения модуляторов лазерного излучения. Типы модуляторов.
Елементи зонної теорії тв. Тіл
Твердое тело состоит из атомов, т.е. из ядер атомов и электронов. Ядра атомов образуют кристаллическую решетку, которая обладает свойством пространственной периодичности. При наложении внешнего электрического поля решетка практически не деформируется. Это происходит потому, что силы, удерживающие ядра атомов в узлах кристаллической решетки, обычно значительно больше тех сил, которые создаются внешними электрическими полями. Те из электронов, которые не находятся близко к ядру атома , могут передвигаться по твердому телу, создавая электрический ток . Но так как между электронами действуют электрические силы отталкивания, то, движение электрона оказывается зависимым от движения окружающих его электронов. Поэтому для определения стационарных состояний и энергетического спектра совокупности большого числа атомных ядер и электронов в кристалле нужно решить уравнение Шредингера:
(2-1)
Ĥ Ψ = ЕΨ
где Ĥ — гамильтониан кристалла; Ψ — собственная волновая функция гамильтониана; Е — энергия кристалла.
2. Класична теорія електропровідності. Рухомість носіїв заряду, питомий опір та провідність.
Так как по классической теории радиус электрона r0 ~1013 см, то при концентрации их n ≈ 1022 см -3 обьем электронов сост.4/3*π r0n ≈ 10-17 объема вещества,
Плотность тока есть:
J= - e·n·V
Вероятность столкновений n частиц за время dt соответственно будет: n ·dt/τ. Следовательно, за время dt число носителей заряда, движущихся в данном направлении, уменьшается в результате рассеяния на величину:
-dn = n·dt/τ
n(t) = n0
где n = n0 при t=0.
Из этого следует, что количество электронов ,движущихся в данном направлении, в результате столкновений с неоднородностями кристаллической решетки уменьшается по экспоненциальному закону с постоянной времени τ. '
Скорость дрейфа есть скорость направленногодвижения электронов;
υ= Х/Т
где Х-суммарноерасстояние=х1+х2+х3+…..; Т –суммарное время , кот. проходят электороны Т = t1+t2+t3+….
Воспользовавшись предыдущ. выр-ми:
Электрическое поле напряженности E сообщит электрону с массой т ускорение, равное:
Величина, связывающая дрейфовую скорость носителей заряда с напряженностью электрического поля, называется подвижностью носителей заряда. Обозначим ее буквой μ тогда:
υ = μ*E
откуда : μ=
т. е. подвижность носителей заряда численно равна скорости дрейфа в электрическом поле единичной напряженности.
Плотности тока примет вид:
J = -enV=e n E μ
так как вектор скорости электронов V направлен в противоположную сторону вектора. E.
Удельная проводимость на основании закона Ома может быть выражена:
σ = J/E =e n μ
или
σ=
Удельное спротивление:
ρ=ρ0(1+αt)=(ρ /T)*T
где р0 — удельное сопротивление данного металла при- 0°С; — α-термический коэффициент сопротивления, равный 1/273; То = 273
Для полупроводников характер температурной зависимости удельного сопротивления и проводимости иной. Для некоторого интервала температур эти зависимости имеют вид:
Где ρ0 , σ0 , β — некоторые постоянные для данной интервала температур величины, характерные для каждого полупроводникового вещества.
Такие зависимости уд. сопротивления и проводимости от температуры имеют т. н. не в ы р ож д е н н ы е п/п.
Δσ/ ΔТ=
Рис. 1-2. Изменение удельной проводимости свинца (а) и кремния (б) в зависимости от температуры.