- •Введение
- •1.Физические основы строения материалов
- •1.1. Квантово-механическая теория строения атома
- •1.2. Волновое уравнение электронов
- •1.3. Электронная конфигурация атомов
- •2. Строение твердого тела
- •2.1. Химическая связь в молекулах
- •2.2. Агрегатные состояния вещества
- •2.3. Строение твердых тел. Кристаллическая решетка
- •2.4. Дефекты кристаллических решеток твердых тел
- •2.5. Химические связи в кристаллах
- •2.6. Электронные состояния твердых тел
- •2.7. Металлы, диэлектрики, полупроводники с точки зрения зонной теории
- •3. Электропроводность полупроводников
- •3.1. Собственные полупроводники
- •3.2. Статистика свободных носителей заряда
- •3.3. Эффективная масса электрона
- •3.4. Концентрация свободных носителей и положение уровня Ферми в собственном полупроводнике
- •3.5. Примесные полупроводники
- •3.5.1. Донорные полупроводники
- •3.5.2. Акцепторные полупроводники
- •3.5.3. Оценка энергии активации и размеров примесных атомов
- •3.6. Рекомбинация носителей заряда
- •3.7. Концентрация свободных носителей заряда в примесном полупроводнике
- •3.7.1. Донорный полупроводник
- •3.7.2. Акцепторный полупроводник
- •3.7.3. Уравнение электронейтральности
- •3.7.4. Однородный вырожденный полупроводник
- •3.8. Связь между концентрациями носителей заряда в примесном и собственном полупроводниках (закон действующих масс)
- •3.9. Электрический ток в полупроводниках
- •3.10. Физические основы анализа полупроводниковых приборов
- •3.10.1. Общий порядок расчета
- •3.10.2. Неравновесные носители заряда
- •3.10.3. Уравнения непрерывности
- •4. Контактные явления в полупроводниках
- •4.1. Неоднородный полупроводник одного типа электропроводности
- •4.2. Электронно-дырочный переход в условиях равновесия
- •4.3. Энергетическая диаграмма р-n перехода в условиях равновесия
- •4.4. Расчет концентраций носителей заряда в электронно-дырочном переходе
- •4.5. Электронно-дырочный переход под воздействием внешнего напряжения
- •4.6. Толщина р-n перехода
- •4.7. Методика определения параметров р-п перехода
- •4.7.1. Основные параметры перехода
- •4.7.2. Граничные условия в области пространственного заряда
- •4.7.3. Анализ идеализированного диода
- •4.8. Вольт-амперная характеристика электронно-дырочного перехода
- •4.9. Генерация и рекомбинация в электронно-дырочных переходах
- •4.10. Емкости p-n перехода
- •4.10.1. Барьерная емкость перехода
- •4.10.2. Диффузионная емкость перехода
- •4.11. Контакт между полупроводниками с одним типом электропроводности
- •4.12. Работа выхода
- •4.13. Контакт металл – полупроводник
- •4.14. Влияние состояния поверхности на характеристики электронно-дырочного перехода
- •4.14.1. Теория приповерхностной области пространственного заряда
- •4.14.2. Поверхностная проводимость
- •4.14.3. Расчет поверхностных токов
- •4.15. Гетеропереходы
- •5. Пробой электронно-дырочного перехода
- •5.1. Лавинный пробой
- •5.2. Туннельный пробой
- •5.3. Тепловой пробой
- •6. Кинетические и термоэлектрические явления в полупроводниках
- •6.1. Эффект Холла
- •6.2. Эффект Эттингсгаузена
- •6.3. Эффект Зеебека
- •6.4. Эффект Пельтье
- •6.5. Эффект Томсона
- •7.Фотопроводимость и поглощение света полупроводниками
- •7.1. Природа фотопроводимости
- •7.2. Зависимость фотопроводимости от интенсивности облучения
- •7.3. Люминесценция полупроводников
- •Заключение
- •Библиографический список
- •Оглавление
- •1.Физические основы строения материалов 4
- •2. Строение твердого тела 16
- •3. Электропроводность полупроводников 31
- •4. Контактные явления в полупроводниках 56
- •5. Пробой электронно-дырочного перехода 108
- •6. Кинетические и термоэлектрические явления в полупроводниках 116
- •7.Фотопроводимость и поглощение света 123
- •Владимир Михайлович Бардаков Алефтина Алексеевна Лессинг Основы физики полупроводников
3.2. Статистика свободных носителей заряда
Для того чтобы проанализировать электропроводность полупроводника, необходимо знать концентрацию свободных носителей заряда и их распределение по энергиям. Одним из возможных законов распределения электронов по энергиям является распределение энергетических уровней, однако распределение электронов по энергиям будет соответствовать распределению уровней только в том случае, если все уровни данной зоны будут заняты электронами.
Наиболее простым частным случаем такого распределения будет собственный полупроводник при абсолютном нуле температуры Т = 0. В этом случае все возможные уровни валентной зоны заполнены электронами, и распределение электронов по энергиям будет строго соответствовать закону изменения плотности уровней. Все уровни зоны проводимости будут свободны, то есть в зоне проводимости не будет ни одного электрона. С повышением температуры некоторое количество электронов покидает валентную зону и переходит на уровни зоны проводимости.
Возникает вопрос: какова вероятность того, что тот или иной уровень в зоне проводимости будет занят электронами? Какова вероятность того, что тот или иной уровень валентной зоны лишится своего электрона и превратится в дырку? Ответ на этот вопрос дает статистика Ферми – Дирака. Согласно этой статистике вероятность того, что состояние с энергией W при данной температуре Т занято электроном, выражается функцией Ферми для электронов:
.
Здесь k – постоянная Больцмана.
Вероятность выражается в долях единицы.
Очевидно, что имеется две возможности:
1) уровень занят электроном;
2) уровень не занят электроном.
Сумма вероятностей этих событий должна быть равна единице. Вероятность того, что уровень в валентной зоне не занят электроном, соответствует вероятности нахождения на этом уровне дырки. Учитывая, что fn + fp = 1, получаем вероятность нахождения дырки на некотором уровне с энергией W, описываемую функцией Ферми – Дирака для дырок:
.
Здесь е ≈ 2,7 – основание натурального логарифма. Величина WF называется энергией или уровнем Ферми. При любых значениях температуры уровень Ферми совпадает с тем энергетическим уровнем, для которого характерна 50 %-ная вероятность заполнения (или незаполнения) его электроном (при W = WF, fn = fp = 0,5).
Физически уровень Ферми представляет собой химический потенциал, а химический потенциал для равновесной системы обязательно одинаков по всей системе, следовательно, он будет одинаков для образца, состоящего из различных полупроводниковых материалов.
При Т = 0 функция Ферми для электронов для всех значений W > WF будет равна нулю. Значит, при Т = 0 ни один уровень с энергией большей энергии Ферми не будет занят электронами. Мы уже знаем, что при температуре абсолютного нуля все уровни зоны проводимости будут свободны. Отсюда можно сделать вывод, что все уровни зоны проводимости лежат выше уровня Ферми.
Для всех значений W < WF функция Ферми при Т = 0 обращается в единицу. Это, в свою очередь, означает, что все уровни с энергиями W, меньшими, чем энергия Ферми, будут заняты электронами. Действительно, в этих условиях полностью заняты все уровни в валентной зоне. Следовательно, все уровни валентной зоны лежат ниже уровня Ферми. Это значит, что уровень Ферми расположен ниже свободной и выше валентной зоны, то есть в запрещенной зоне. Далее мы увидим, что в собственном (беспримесном) полупроводнике уровень Ферми располагается вблизи середины запрещенной зоны.
П ри Т = 0 положение уровня Ферми WFi показано на рис. 3.2, а , где WC – нижняя граница (дно) зоны проводимости, WВ – верхняя граница (потолок) валентной зоны.
Вид функции Ферми при Т = 0 изображен на рис. 3.5, б в виде ступеньки. С повышением температуры функция Ферми превращается в плавную кривую. Вероятность нахождения электрона в зоне проводимости становится отличной от нуля.
Нас не должно смущать, что значениям энергий, лежащим в запрещенной зоне, соответствуют некоторые значения функции Ферми. Это вовсе не означает, что электроны могут располагаться на уровнях в запрещенной зоне. Мы имеем право пользоваться функцией Ферми только на тех участках, где имеются уровни, разрешенные для электронов.
Положение уровня Ферми в запрещенной зоне можно характеризовать энергетическим состоянием его от границ разрешенных зон:
.
В большинстве случаев для полупроводников соблюдаются неравенства:
.
В этом случае экспонента в функции Ферми для уровней зоны проводимости и валентной зоны намного превысит единицу. Тогда распределение электронов и дырок по квантовым состояниям описываются упрощенными формулами Максвелла – Больцмана
, .
Если ширина запрещенной зоны мала и какая-либо из разностей окажется соизмеримой с величиной kT, то необходимо пользоваться распределением Ферми. Полупроводники, у которых уровень Ферми расположен в зоне проводимости или в валентной зоне, называются вырожденными. Полупроводники, для которых применимо распределение Максвелла – Больцмана являются невырожденными.