- •Isbn 5-283-02968-9
- •Глава 1
- •§ 1. Основные понятия
- •§ 2. Скалярные характеристики поля излучения
- •§ 3. Дифференциальные характеристики поля излучения
- •§ 4. Векторные характеристики поля излучения
- •§ 5. Токовые и потоковые величины в рассеивающей
- •§ 6. Теорема фано
- •§ 7. Поглощенная энергия излучения
- •§ 8. Линейная передача энергии
- •§ 9. Поглощенная доза
- •§ 10. Экспозиционная доза
- •§ 11. Коэффициент качества излучения. Эквивалентная доза
- •§ 11 Коллективная доза
- •§ 14. Коэффициент передачи энергии излучения
- •§ 15. Электронное равновесие
- •§ 16. Эффективный атомный номер вещества
- •§ 17. Средняя энергия новообразования
- •§ 18. Соотношение брэгга—грея
- •§ 19. Энергетическая зависимость чувствительности дозиметрического детектора в поле фотонного излучения
- •§ 20. Обобщенный принцип дозиметрии
- •§ 21. Вводные замечания
- •§ 22. Закономерности ионизационных камер
- •§ 23. Универсальная характеристика ионизационной камеры
- •§ 24. Закономерности ионизационных амер
- •2/3٠|2باكإب1 непр'/
- •§ 27. Газоразрядные счетчики
- •§ 28. Полостные ионизационные камеры
- •§ 29. Роль 6-электронов
- •Глава 5
- •§ 30. Особенности полупроводниковых детекторов
- •§ 31. Носители электрических зарядов в беспримесном полупроводнике
- •§ 32. Примесные полупроводники
- •§ 34. Уравнение протекания тока через полупроводниковый детектор
- •§ 35. Вольт-амперная характеристика полупроводникового детектора с /,-«-переходом
- •§ 36. Дозиметрические характеристики полупроводниковых
- •Глава 6
- •§ 37. Принцип метода
- •§ 41. Оптические эффекты в люминофорах
- •§ 42. Механизм радиофотолюминесценции
- •§ 43. Радиофотолюминесцентные дозиметры
- •§ 44. Механизм радиотермолюминесценции
- •§ 45. Кинетика термолюминесценции
- •§ 46. Кривая термовысвечивания
- •§ 47. Влияние режима облучения на чувствительность термолюминесцентных дозиметров
- •§ 48. Затухание люминесценции
- •§ 49. Люминесцентные дозиметры
- •§ 50. Фотохимическое действие излучения
- •§ 51. Дозовля чувствительность фотодозиметрл
- •52 ا. Компенсация энергетической зависимости чувствительности. Индивидуальный фотоконтроль
- •§ 53. Радиационно-химические превращения
- •§ 54. Жидкие дозиметрические системы
- •Глава 9
- •§ 57. Преобразование энергии нейтронов в веществе
- •§ 59. Энергетическая зависимость тканевой дозы
- •§ 60. Дозиметрия быстрых нейтронов с помощью ионизационных камер
- •§ 61. Применение пропорциональных счетчиков для дозиметрии быстрых нейтронов
- •§ 62. Сцинтилляционный метод дозиметрии нейтронов
- •§ 63. Активационный метод дозиметрии нейтронов
- •§ 64. Трековые дозиметрические детекторы
- •§ 65. Другие методы дозиметрии нейтронов
- •§ 66. Особенности дозиметрии высокоинтенсивных потоков ионизирующего излучения
- •§ 67. Жидкостные ионизационные камеры
- •§ 68. Ионизационные камеры без внешнего источника напряжения
- •§ 69. Детекторы прямой зарядки (радиационные элементы)
- •§ 70. Твердотельный комптоновский дозиметр
- •§ 71. Применение электретов в дозиметрии
- •§ 72. Тепловое действие ионизирующего излучения
- •§ 73. Одиночный калориметр
- •§ 74. Квазиадиабатическии режим калориметра
- •§ 75. Дифференциальная калориметрическая система
- •§ ٢6. Особенности дозиметрии высокоэнергетического фотонного излучения
- •§ 78. Квантометр
- •§ 79. Метод разности пар ،метод тонких конверторов؛
- •§ 80. Дозиметрия ускоренных заряженных частиц
- •Глава 12
- •§ 81. Общие замечания
- •§ 82. Лпэспектры
- •§ 83. Формирование лпспектров. Средние значения
- •§ 84. Распределение длины пути в сферической полости
- •§ 85. Связь лпэ-распределения с амплитудным спектром
- •§ 86. Метод линейной суперпозиции показаний нескольких детекторов
- •§ 87. Структура ионизации в конденсированных средах
- •§ 88. Основные положения теории неравномерной ионизации
- •§ 89. Рекомбинационный метод
- •§ 90. Предмет микродозиметрии
- •§ 91. Статистическая природа первичной передачи энергии
- •§ 93. Микродозиметрические величины и функции их распределения
- •§ 94. Экспериментальные методы микродозиметрии
- •§ 95. Прикладное значение микродозиметрии
- •§ 96. Пути поступления радионуклидов внутрь организма
- •§ 97. Образование и свойства радиоактивных аэрозолей
- •§ 98. ٥С٥бенн٥сти биологического, действия радиоактивных -аэрозолей
- •§ 100. Формирование дозы излучения инкорпорированных радионуклидов
- •§ 101. Кинетика формирования дозы
- •§ 1٠3. Кинетика продуктов, распада радона на фильтре
- •§ 104. Метод скрытой энергии
- •§ 105. Дозовая функция очечного источника ?-частиц
- •§ 106. Теорема обратимости дозы
- •§ 107. Доза от протяженных источников
- •Глава 15
- •§ 108. Общие замечания
- •§ 109. Расчетные методы дозиметрии р-излучения
- •Элементы метрологии в области ионизирующих излучений и радиоактивности
- •Оптимизация приборной погрешности по экономическому
- •В чем проблема!
- •Два класса дозиметрических величин
- •Переводные коэффициенты
- •Концепция универсальной дозы
- •Представительные фантомно-зависимые величины
- •٥О о 0 0 ٠١0 105 106 107 Энергия, эВ
- •1. Поле ионизирующего излучения
- •2. Доза излучения
- •Глава 3. Физические основы дозиметрии фотонного излучения ٠
- •Г л а в а 8. Фотографический и химический методы дозиметрии фотонно го излучения
- •§ 89. Рекомбинационный метод
- •13. Микродозиметрия
- •Глава 15. Дозиметрия потоков заряженных частиц
- •§ 108. Общие замечания . . ...٠٠٠
- •§ 109. Расчетные методы дозиметрии р-излучения ,
где
بغ
— потенциал
„-области полупроводника по отношению
к
р-области
за. счет внешнего источника напряжения.
Положительный
знак потенциала и
соответствует обратному
смещению,
отрицательный знак — прямому. Таким
образом, об-
ратное смещение повышает
потенциальный барьер, а прямое
снижает.
Это
означает, что изменяется расстояние
между уровнями
разрешенной зоны в р-
и „-областях. При наличии смещения
вместо
формулы (33.2) справедливо следующее
соотношение:
(33.5)
٥пр—٥пя
= ٥вр—٥вп
= вф,
где
ф определяется соотношением (33.4).
Подставив
в формулы (33.3) ф вместо фо, получим
выраже-
ния для концентрации дырок
р'п
на границе перехода с «-об-
ластью и
концентрации электронов п'р
на границе перехода с р-
областью:
Рп
= ؛хр(—6
33)
ا:س-)مئغ
(س'ه)
Формулы
(33.6)—для прямого смешения. Обозначения
со штри-
ХОМ относятся к концентрации
носителей при наличии смещения.
При
отсутствии смешения (0) р'п=рп
и п'р=Пр.
Следова-
тельно.
١
آآئ:ه—:مذ₽٦٢
(33.7)
и
формулы (33.6) принимают следующий вид:
p'n=Pne٦v(.e٠T١•,
п'р=п٠пП؟
(е٠т١.
(33.8)
Формулами
(33.8) мы в дальнейшем воспользуемся при
выводе
вольт-амперной характеристики
полупроводникового детектора
с
р—„-переходом.
Приведенные
выводы справедливы в предположении,
что кон-
центрация носителей достаточно
мала, и можно считать, что они
не
взаимодействуют между собой.
Концентрация
свободных носителей зарядов, т. е.
электронов
в зоне проводимости и
дырок в валентной зоне, определяет
элек-
трическую проводимость
полупроводника. Плотность тока про-
водимости
выражается формулой
j=e(nvn+pVp),
(34.1)
где
Vn,
Vp
—
скорость перемещения соответственно
электронов и
дырок;
ج
—
элементарный
заряд.
8_&40'8
113§ 34. Уравнение протекания тока через полупроводниковый детектор
в
электрическом поле напряженностью в
скорость перемеще- НИЯ зарядов
определяется их подвижностью. Пусть
кр
и кп — подвижность
соответственно дырки и электрона. Тогда
кр=2,Ор/В\
кр::V п/В٠ (34.2)
Плотность
тока можно выразить через проводимость
о:
1
= аВ, (34.3)
где
а равна сумме дырочной Ор
и электронной Он проводимости: СГ=0’р-|-О٠
Здесь
0р=еркр\
(Ур=епкр.
Для
чистого (беспримесного) полупроводника
п=р=П1
и
а٤
=
еПг(и&р). (34.4)
На
основании формул (31.8) и (31.13) запишем
концентрацию свободных носителей
заряда в следующем виде:
т=А
(кТ)з/2ехр
(гЕё/2кТ)> ' (34.5)
где
Л —не зависящий от температуры
коэффициент.
Подставив
формулу (34.5) в формулу (34.4), получим еле-
дующую зависимость проводимости чистого
полупроводника от температуры:
а==Ае(кп+кр)
2ا3(7٦م
ехрН٧2£7٦). (34.6)
Входящие
в формулу (34.6) подвижности кп
и кр
зависят от температуры. Эта зависимость
определяется механизмом влияния
температуры на среднюю длину свободного
пробега носителей. Для чистого
полупроводника температурная зависимость
провО’ димости определяется
экспоненциальным множителем в формуле
(34.6). В примесном полупроводнике картина
другая. Когда при- меси полностью
ионизированы, а собственная проводимость
ма- ла, проводимость полупроводника
линейно зависит от концент- рации
примесей. Проводимость примесного
полупроводника па- дает с повышением
температуры, однако при достаточно
высокой температуре начинает сказываться
собственная проводимость и характер
температурной зависимости проводимости
изменяется.
Плотность
тока в полупроводнике определяется
перемещени- ем электронов и дырок,
причем это перемещение может быть
вызвано как диффузией, так и силой
электрического ПОЛЯ, в об- щем виде
плотность тока
,ج(ط)-+ه(»ؤ)-ا-طط)+٠(ط)=ل
-где
индексы рип
означают соответственно дырочную и
элек- тронную составляющие тока, а
индексы Пи Е
—
перемещение вследствие диффузии и под
действием ПОЛЯ соответственно.
Выпишем
каждую составляющую плотности тока
отдельно в предположении, что движение
носителей заряда происходит 114
только
вдоль оси х:
О'р)о е٥р
>
(1р)е
~ ePkp&’
(in)D
=
eDn
٦٢
; (/„)£
=
enkn3,
(34.8)
где
р и п — концентрация носителей
соответственно положительных (дырки)
и отрицательных (электроны) зарядов;
٥р
и ٥„
—
коэффициенты
диффузии дырок и электронов; <8
—
напряженность электрического поля.
Подставив
значение составляющих плотности тока
из формул
в
формулу (34.7), получим
+ (34.9)
В
общем случае концентрация носителей
заряда является функцией времени и
координаты, поэтому для решения уравнения
необходимо
знать функции р(х, I)
и п(х, /)•
В
каждый данный момент времени изменение
концентрации носителей заряда
определяется их добавлением и
исчезновением. Добавление (генерация)
носителей заряда зависит от свойств
полупроводника и температуры. Исчезновение
происходит из-за рекомбинации электронов
с дырками, а также в результате участия
носителей зарядов в создании электрического
тока.
Пусть
— скорость генерации электронно-дырочных
пар, т. е. число носителей заряда одного
знака, в среднем добавляемых в единицу
времени в единицу объема рабочей области
полупроводника. Пусть имеется
равновесное состояние, тогда равновесная
концентрация электронов в зоне
проводимости
где
ъп
—среднее
время жизни электрона.
Рекомбинация
электронов с дырками происходит иначе,
чем рекомбинация положительных и
отрицательных ионов в газах. Прямой
переход электрона из зоны проводимости
в валентную зону и воссоединение со
свободной дыркой — процесс маловероятный.
Более вероятны захват электрона ловушкой
на одном из локальных уровней в
запрещенной зоне и последующая
рекомбинация с дыркой.
Процесс
рекомбинации влияет на среднее время
жизни электрона. Пусть в какой-то
момент времени концентрация электронов
в зоне проводимости равна /г, а
соответствующее этой концентрации
среднее время жизни электрона равно
тп;
тогда скорость исчезновения носителей
заряда в результате рекомбинации в
момент времени t
будет
п/тп٠
Теперь
можно написать следующее уравнение
баланса концентрации электронов:
،34•10>
115
8*
Это
уравнение отражает тот факт, что
изменение концентрации носителей
заряда в единицу времени определяется
скоростью генерации носителей, их
исчезновением в результате рекомбинации,
а также их уносом электрическим током.
Аналогичное
уравнение можно написать и для
концентрации дырок в валентной зоне
В
этих уравнениях
Яп
=
Яр
= Ро1Хро.
(34.12)
Для
одномерного случая можем написать
;ل£(اا/)+٠د/)للتط٧لا)
عوفى
•1ءر/)بهد/)لاً
=
ج
Шу
٠
(34.13)
Подставляя
в формулы (34.10) и
(34.11) соответствующие
значения из
формул (34.12) с учетом соотношений (34.8),
полу-
чаем следующую систему уравнений
для концентрации носите-
лей
заряда:
،+٢١٦
ؤ٠ه+ب٠’"آ
дп:д
:
\р فى:
Для
равновесного состояния
.ههعهغه
•آه+آ٧+ةة+ل-.ا-آ
Система
упрощается, если можно пренебречь ролью
электри-
ческого поля. Полагая <г=о,
вместо системы (34.13) получаем
систему
(34.14)
Теперь
вместо уравнения (34.14) можно написать
(34.15)
л
٢٠?..
_ ٥.
_ о
п
дх?
Формулы
(34.15) с формулой (34.9) представляют
систему
уравнений, описывающих перенос
зарядов в полупроводнике в
116