- •ПРЕДИСЛОВИЕ
- •ВВЕДЕНИЕ
- •1. АНАЛИЗ И РАСЧЁТ ЦЕПЕЙ ПОСТОЯННОГО ТОКА
- •1.1. Электрическая цепь и её элементы
- •1.2. Основные электрические величины цепи постоянного тока
- •1.3. Резистивный элемент
- •1.4. Схемы замещения источников электрической энергии
- •1.5. Основные законы цепей постоянного тока
- •1.6. Потенциальная диаграмма электрической цепи
- •1.7. Эквивалентные преобразования в резистивных цепях
- •1.8. Методы расчёта цепей постоянного тока
- •1.8.2. Метод контурных токов
- •1.8.3. Метод узловых потенциалов
- •1.8.5. Метод эквивалентного генератора
- •1.9. Баланс мощностей
- •1.10. Расчёт нелинейных цепей постоянного тока
- •Контрольные вопросы и задания
- •2.1. Основные понятия переменного тока
- •2.2. Способы представления синусоидальных величин
- •2.3. Элементы электрической цепи синусоидального тока
- •2.3.1. Индуктивный элемент
- •2.3.2. Ёмкостный элемент
- •2.5. Законы Кирхгофа для цепей синусоидального тока
- •2.9. Мощности в цепях синусоидального тока
- •2.10. Учёт взаимно индуктивных связей при анализе электрических цепей
- •Контрольные вопросы и задания
- •3.1. Общие сведения
- •3.2. Схема соединения звездой в трёхфазных цепях
- •3.3. Схема соединения треугольником в трёхфазных цепях
- •3.5. Мощность в трёхфазных цепях
- •3.6. Измерение мощности трёхфазной цепи
- •Контрольные вопросы и задания
- •4.3. Расчёт цепей несинусоидального периодического тока
- •Контрольные вопросы и задания
- •5.1. Элементы магнитной цепи
- •5.2. Основные величины и законы магнитных цепей
- •5.3. Свойства и характеристики ферромагнитных материалов
- •5.4. Расчёт неразветвленной магнитной цепи
- •5.5. Электромеханическое действие магнитного поля
- •5.7. Мощность потерь в магнитопроводе
- •Контрольные вопросы и задания
- •6.1. Общие сведения
- •6.2. Устройство однофазного трансформатора
- •6.3. Принцип действия однофазного трансформатора
- •6.4. Схема замещения однофазного трансформатора
- •6.5. Работа трансформатора в режиме холостого хода
- •6.6. Работа трансформатора в режиме короткого замыкания
- •6.8. Мощности трансформатора
- •6.11. Автотрансформаторы
- •Контрольные вопросы и задания
- •7.1. Общие сведения
- •7.3. Режимы работы трёхфазных асинхронных машин
- •7.4. Принцип действия трёхфазных асинхронных двигателей
- •7.5. Мощность и КПД трёхфазных асинхронных двигателей
- •7.6. Механические характеристики асинхронных двигателей
- •7.7. Пуск трёхфазных асинхронных двигателей
- •7.9. Однофазные асинхронные двигатели
- •Контрольные вопросы и задания
- •8.1. Общие сведения
- •8.2. Устройство трёхфазных синхронных машин
- •8.3. Разновидности трёхфазных синхронных машин
- •8.5. Принцип действия трёхфазных синхронных машин
- •8.6. Работа синхронного генератора в режиме холостого хода
- •8.7. Работа синхронного генератора в режиме короткого замыкания
- •8.8. Работа синхронного генератора в режиме нагрузки
- •8.9. Мощность и КПД трёхфазных синхронных машин
- •8.10. Характеристики трёхфазных синхронных машин
- •8.11. Пуск трёхфазных синхронных двигателей
- •Контрольные вопросы и задания
- •9.1. Общие сведения
- •9.2. Принцип действия коллектора
- •9.3. Устройство машин постоянного тока
- •9.5. Реакция якоря
- •9.6. Мощность и КПД машин постоянного тока
- •9.8. Характеристики генераторов постоянного тока
- •9.9. Характеристики двигателей постоянного тока
- •9.11. Регулирование частоты вращения двигателей постоянного тока
- •Контрольные вопросы и задания
- •10.ОСНОВЫ ЭЛЕКТРОНИКИ
- •10.1. Общие сведения о полупроводниках
- •10.2. Полупроводниковые устройства
- •10.2.2. Биполярные транзисторы
- •10.2.3. Полевые транзисторы
- •10.2.4. Тиристоры
- •10.2.5. Классификация электронных устройств
- •Контрольные вопросы и задания
- •10.3. Источники вторичного электропитания
- •10.3.1. Полупроводниковые выпрямители
- •10.3.2. Управляемые выпрямители
- •10.3.3. Регуляторы переменного тока
- •10.3.4. Инверторы
- •Контрольные вопросы и задания
- •10.4. Усилители электрических сигналов
- •10.4.1. Классификация усилителей
- •10.4.3. Операционные усилители
- •Контрольные вопросы и задания
- •10.5. Генераторы синусоидальных колебаний
- •Контрольные вопросы и задания
- •10.6. Импульсные и цифровые электронные устройства
- •10.6.1. Работа операционного усилителя в импульсном режиме
- •10.6.2. Логические элементы
- •10.6.4. Импульсные устройства с устойчивым состоянием. Триггеры
- •Контрольные вопросы и задания
- •10.7. Программируемые устройства. Микропроцессоры
- •Контрольные вопросы и задания
- •11.1. Методы измерений
- •11.2. Средства измерений
- •11.3. Погрешности измерений
- •Контрольные вопросы и задания
- •ЗАКЛЮЧЕНИЕ
- •Библиографический список
- •ОГЛАВЛЕНИЕ
10.ОСНОВЫ ЭЛЕКТРОНИКИ
10.1.Общие сведения о полупроводниках
Полупроводники своим названием обязаны тому, что их электропроводность меньше электропроводности металлов и больше электропроводности диэлектриков. К полупроводникам относятся элементы IV, V VI групп Пер одической системы элементов Менделеева (Si, Ge, As, Se, Te) некоторые химические соединения, например оксиды, сульф ды, селен ды, сплавы элементов различных групп. Различают
собственные |
пр месные полупроводники [1, 5, 11]. |
|||
С |
|
|
|
|
обственными полупроводниками являются химически чистые |
||||
полупроводн ки, |
х проводимость называется собственной прово- |
|||
димостью. Рассмотр м механизм собственной проводимости на при- |
||||
мере кремн я Si, |
меющего кристаллическую решётку, в которой ка- |
|||
ждыйовалентнымиатом связан к |
связями с четырьмя ближайшими |
|||
соседями. Упрощённая плоская схема атомов в кристалле Si пред- |
||||
ставлена на р |
с. 10.1. В идеальном кристалле при 0 К такая структура |
|||
представляет |
|
диэлектрик, так как валентные электроны участ- |
||
собой |
|
|||
вуют в образовании связей и, следовательно, не участвуют в прово- |
||||
димости. |
|
|
|
|
При повышении температуры (или под действием других внеш- |
||||
|
|
Движение |
||
них факторов) тепловые колебания решётки могут привести к разры- |
||||
ву некоторых валентныхАсвязей, результате чего часть электронов |
||||
отщепляется и они становятся свободными. В покинутом электроном |
||||
месте возникает дырка, заполнить которую могут электроны из со- |
||||
седней пары. В результате дырка, так же как и освободившийся элек- |
||||
трон, будет двигаться по кристаллу. |
И |
|||
электронов проводи- |
мости и дырок в отсутствие электрического поля является хаотическим. Если к кристаллу приложить электрическое поле, то электроны начнут двигаться против поля, дырки – по полю, что приведёт к возникновению собственной проводимости кремния, обусловленной как электронами, так и дырками.
Проводимость собственных полупроводников, обусловленная электронами, называется собственной электронной проводимостью
или проводимостью n-типа (от лат. negative – отрицательный). Проводимость полупроводников, обусловленная квазичастицами – дыр-
ками, называется собственной дырочной проводимостью или прово-
димостью p-типа (от лат. positive – положительный).
259
Si Si Si
С |
Si |
Si |
|
||
|
Si |
Si Si |
месными |
|
|
Р с. 10.1. Собственная проводимость кремния |
Провод мость полупроводников, обусловленная примесями, называется пр месной проводимостью, а сами полупроводники – приполупроводнбками. Примесями являются элементы, атомы которых меют валентность, отличную на единицу от валентности
основных элементов.
Напр мер, при замещении атома кремния пятивалентным атомом мышьяка (рис. 10.2,Аа) один электрон не может образовать ковалентной связи, он оказывается лишним и может быть легко при тепловых колебаниях решётки отщеплён от атома, т.е. стать свободным. Образование сво одного электрона не сопровождается нарушением ковалентной связи, следовательно, дырка не возникает. Избыточный положительный заряд, возникающийДвблизи атома примеси, связан с атомом примеси и поэтому перемещаться по решётке не может. Таким образом, в полупроводниках с примесью, валентность которой на единицу больше валентности основных атомов, носителями заряда являются электроны; возникает электронная примесная проводи-
мость (проводимость n-типа). Примеси, являющиесяИисточником электронов, называются донорными.
Если в решётку кремния введён примесный атом с тремя валентными электронами, например бор (рис. 10.2, б), то для образования связей с четырьмя ближайшими соседями у атома бора не хватает одного электрона, одна из связей остаётся неукомплектованной и четвёртый электрон может быть захвачен от соседнего атома основного вещества, где образуется дырка. Последовательное заполнение образующихся дырок электронами эквивалентно движению дырок в полупроводнике, т.е. дырки перемещаются в решётке кремния как свободные заряды. Избыточный отрицательный заряд, возникающий вблизи атома примеси, связан с атомом примеси и по решётке перемещаться
260
не может. Таким образом, в полупроводниках с примесью, валентность которой на единицу меньше валентности основных атомов, носителями заряда являются дырки, возникает дырочная проводимость (проводимость p-типа). Примеси, захватывающие электроны, назы-
ваются акцепторами.
С |
|
|
|
|
|
Si |
Si |
Si |
Si |
Si |
Si |
|
+As |
Si |
- B |
|
Si |
Si |
Si |
Si |
Si |
Si |
Si |
|
б |
б |
|
||
|
а |
|
|
|
|
иР с. 10.2. Примесная проводимость кремния: |
|
||||
|
|
а – электронная; |
– дырочная |
|
|
|
|
А |
|
|
Граница соприкосновения двух полупроводников, один из которых имеет электронную, а другой дырочную проводимость, называется
электронно-дырочным переходом (или p–n-переходом). Принцип рабо-
ты большинства полупроводниковых устройств основан на явлениях, возникающих в этом переходе. В полупроводнике n-типа из-за ухода электронов вблизи границы остаётсяДнескомпенсированный положительный объёмный заряд неподвижных ионизированных донорных атомов. В полупроводнике p-типа из-за ухода дырок вблизи границы образуется отрицательный объёмный заряд неподвижных ионизированных акцепторов (рис. 10.3, а). Эти объёмныеИзаряды образуют у границы двойной электрический слой, поле которого, направленное от n-области к p-области, препятствует дальнейшему переходу электронов в направлении n → p и дырок в направлении p → n.
Если значение электрического потенциала на границе раздела полупроводников (х = 0) принять равным нулю φ(0) = 0, то распределение потенциала в полупроводниках p- и n-типов будет определяться зависимостью (рис. 10.3, б)
x |
εdx , |
(10.1) |
ϕ = ∫ |
||
0 |
|
|
где ε – напряжённость электрического поля p–n-перехода.
261
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Толщина слоя p–n-перехода в |
|||
|
|
p-тип |
n-тип |
полупроводниках составляет пример- |
|||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
но 10-6 – 10-7 м, а контактная разность |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
потенциалов – десятые доли вольт. |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Носители тока |
способны преодолеть |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
а |
такую разность потенциалов лишь при |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
|
ε |
|
|
|
|
|
|
температуре в несколько тысяч граду- |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
сов, т.е. при обычных температурах |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
равновесный контактный слой являет- |
|||
|
|
|
|
φ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ся запирающим (характеризуется по- |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
СΔφ |
вышенным сопротивлением). |
|
|||||||||||||||
Сопротивление запирающего |
|||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
0 |
|
|
|
|
x |
слоя можно изменить с помощью |
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
внешнего электрического поля. Если |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
к полупроводникам p- и n-типов со- |
|||
|
иответственно |
подключить |
отрица- |
||||||||||||||
|
|
Р с. 10.3. p–n-переход: |
тельный и положительный |
полюсы |
|||||||||||||
|
|
а – распределен е связанных |
|||||||||||||||
|
|
постоянного напряжения, то внешнее |
|||||||||||||||
|
|
свободных зарядов; |
|||||||||||||||
|
|
б – электрический потенциал |
электрическое поле будет совпадать |
||||||||||||||
|
|
на границебраздела |
|
|
|||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
по направлению с полем контактного |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
слоя и вызывать движение электро- |
|||
нов в n-полупроводнике и дырок в p-полупроводнике от границы |
p–n-перехода в противоположныеАстороны. В результате запирающий слой расширится и его сопротивление возрастёт (рис. 10.4, а). Направление внешнего поля, расширяющего запирающий слой, называется обратным (запирающим). В этом направлении электрический ток
этом направлении образуется лишьДза счёт неосновных носителей тока (электронов в p-полупроводнике и дырок в n-полупроводнике), но ими можно пренебречь, так как концентрации неосновных носителей тока в примесных полупроводниках весьма малы.
через p–n-переход практически не проходит. Ток в запирающем слое в И
Если приложенное к p–n-переходу внешнее электрическое поле направлено противоположно полю контактного слоя (к полупроводникам p- и n-типов соответственно подключить положительный и отрицательный полюсы постоянного напряжения), то оно вызывает движение электронов в n-полупроводнике и дырок в p-полупроводнике к границе p–n-перехода навстречу друг другу. В этой области они рекомбинируют, толщина контактного слоя и его сопротивление уменьшаются (рис. 10.4, б). Следовательно, в этом
262