Вопросы и задания
В чем разница между исправной и работоспособной системой?
Как связана модель объекта с моделью дефекта? Приведите пример модели дефекта для конкретной модели объекта.
Чем отличается система тестового диагностирования от системы встроенного функционального контроля?
В чем заключается метод построения тестов с помощью активизации существенного пути?
Как строится комбинационная модель последовательностной схемы?
Какова размерность теста, построенного по комбинационной модели последовательностной схемы?
Сколько функций, в общем случае, должна выполнять схема встроенного контроля?
Для чего предназначены схемы сжатия?
Охарактеризуйте диагностическую модель устройства управления микропроцессорной системы.
Какие критерии используются для оценки методов встроенного функционального контроля цифровых систем?
Чем характеризуются методы пошагового контроля правильности хода программ?
Изложите суть любого (по вашему выбору) метода пошагового контроля правильности хода программ.
Чем характеризуются методы блокового контроля правильности хода программ?
Изложите суть любого (по вашему выбору) метода блокового контроля правильности хода программ.
Приведите четыре модели обучения.
В чем разница между обучаемыми и самообучаемыми экспертными системами?
Как выглядит алгоритм обучения по максимальной вероятности?
В каком случае система считается обученной?
Как выглядит алгоритм обучения по наименьшему расстоянию?
В чем заключается проблема прогнозирования технического состояния узла?
Список литературы
Основы технической диагностики / под ред. П.П. Пархоменко. – М.: Энергия, 1976. – 464 с.
Пархоменко П.П., Согомонян Е.С. Основы технической диагностики. – М.: Энергоиздат, 1981. – 321 с.
Кон Е.Л., Кулагина М.М. Встроенный функциональный контроль устройств управления микропроцессорных систем. – Пермь: Перм. обл. упр. ВНТО радиотехники, электроники и связи им. А.С. Попова, 1989. – 74 с.
Гончаровский О.В., Кон Е.Л. Проектирование диагностических и отладочных стендов при производстве аппаратуры связи. Тестовое диагностирование и контролепригодное проектирование цифровых устройств: учеб. пособие / Перм. гос. техн. ун-т. – Пермь, 2005. – 73 с.
Белоусов В.В., Кон Е.Л., Кулагина М.М. Надежность средств и систем. Применение теории нечетких множеств и теории категорий для решения задач надежности, технической диагностики и телекоммуникации: учеб. пособие. – Пермь, 2002. – 116 с.
С.И. Николенко, Тулупьев А.Л. Самообучающиеся системы. – М., МЦНМО, 2009. – 288 с.
Дианов В.Н. Диагностика и надежность автоматических систем. – М.: МТИУ, 2005. – 160 с.
Приложение Интенсивность отказов компонентов иус
|
Компонент |
Интенсивность отказов, 1/с |
|
|
|
|
БИС (биполярная технология) |
10-5 |
|
БИС (КМОП-технология) |
10-6 |
|
ИС |
10-7 |
|
Диод |
0,5∙10-6 |
|
Транзистор |
0,4∙10-6 |
|
Конденсатор |
0,2∙10-7 |
|
Резистор |
0,5∙10-7 |
|
Трансформатор |
0,2∙10-6 |
|
Пайка |
0,1∙10-9 |
|
Разъем |
0,3∙10-5 |
|
Сердечник |
0,1∙10-10 |
|
Выключатель |
0,3∙10-6 |
|
Лампочка |
0,5∙10-6 |
|
Вентилятор |
0,3∙10-5 |
|
Память на дисках |
0,25∙10-3 |
|
Контроллер |
0,15∙10-4 |
|
Печатающее устройство |
0,4∙10-3 |
Учебное издание
