§ 49. Проектирование схемы высокоточного геометрического нивелирования

На копии схемы размещения проводят линии нивелирных ходов, охватывающие все осадочные марки и глубинные реперы. При этом проектируемая схема должна состоять из нескольких замкнутых полигонов малых размеров. Иногда вместо одной общей схемы нивелирных ходов на данном объекте проектируют две и более микролокальных схем, не связанных друг с другом секциями и опира­ ющихся либо на самостоятельный, либо на один общий глубинный репер С. В случае проектирования локальных схем необходимо обосновать принятое решение.

На схему измерений (рис. 75) выписывают номера глубинных реперов и всех узловых точек, взятые со схемы размещения и подписы-

(нивелирные ходы между смежными узлами и глубинными реперами). Величины Пн, выраженные в принятых единицах веса, рекомендуется определять, исходя из следующего соображения. Нивелирование— это процесс непосредственного измерения высоты 3 или П прибора над точкой, отметка которой известна или определяется и на которой отвесно установлен или подвешен линейный мерный прибор (нивелир­

т. е.

Вследствие этого непосредственно измеренные высоты Зр П,-, 31+ь П/+1 прибора относительно точки, на которой отвесно установлена или подвешена рейка (эти высоты еще называют «взглядами»), оказываются неравноточными, т. е.

Неравноточными будут и вычисляемые на станциях превышения по основным и дополнительным шкалам реек

Для совместной обработки неравноточных измерений /, а также для оценки качества проекта схемы нивелирных ходов необходимо установить их веса Pf . За вес измерения / принимают положительное число, обратно пропорциональное квадрату среднего квадратического отклонения mf , т. е.

а соответствующее ему число Ilf измерений с весом, равным единице, находят по формуле

среднее квадратическое отклонение тъгг= те непосредственно измерен­

ренной высоты прибора над точкой, на которой отвесно установлена или подвешена нивелирная рейка.

Отклонение т взг при применении современных высокоточных нивелиров и метода нивелирования коротким лучом по шкаловым маркам и нивелирным рейкам, оборудованным подпятнихами конст­ рукции МИИГАиК, зависит в основном от приборных источников ошибок. При незначительном влиянии систематических ошибок на

196

вь1 числяемые превышения (359) отклонение тВ2Г. (в мм) может быть

проектируемой схемы измерений (табл. 43). Эти длины графическим

На одной из станций проектируемого нивелирного хода опреде­

высокоточного геометрического нивелирования коротким лучом, т. е.

вкачестве единицы веса рекомендуется принять непосредственно

измеренную высоту е = 3 (или е = П) прибора на станции при Д = 20 м. В силу справедливости равенства

в качестве единицы веса при проектировании нивелирных ходов

Известно, что отклонение Af e любого элемента ir0=i схемы нивелирных ходов, в которые включены превышения /г0=1 только лишь из одного (0=1) приема, определяется по формуле

(367)

197

полученного из 0 приемов угловых измерений.

На стадии проектирования схемы инженерно-геодезических измере­ ний класс или разряд точности нивелирования не известен и его требуется обосновать. Для установления необходимого числа 0 при­ емов определения превышений вида (359) рекомендуется восполь­ зоваться способом аналогии. Для этого в качестве аналога примем инструктивные значения средних квадратических отклонений (тек)ъ= = {mKv)cr превышений (Ае)е= (ЛсР)ст из 0 приемов (табл. 44), для соответствующих классов точности государственной нивелирной сети.

Примечание. L— число километров.