- •Введение
- •Уравнение Шредингера для стационарного случая
- •Собственные волновые функции и собственные значения оператора Гамильтон
- •Уравнение Шредингера для свободной частицы, двигающейся в направлении оси
- •Моделирование движения микрочастицы в свободном пространстве с помощью интегрального пакета прикладных программ MathCad
- •Моделирование волнового пакета Определение волнового пакета
- •Волновая функция волнового пакета
- •Моделирование волнового пакета
- •Заключение
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа №2 движение микрочастиц в поле потенциальных сил. Движение микрочастиц через потенциальный барьер Определение потенциального барьера
- •Уравнение Шредингера для частицы двигающейся через потенциальный барьер
- •Коэффициенты отражения и прозрачности.
- •Туннельный эффект
- •Лабораторное задание
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа № 3
- •Исследование зонной структуры твердых тел
- •Строение вещества и коллективизированные электроны
- •В кристалле
- •Приближения при решении уравнения Шредингера для кристалла
- •Приближение слабосвязанных электронов.
- •Движение электрона в кристаллической решетке Модель Кронига-Пенни
- •Уравнение Шредингера для модели Кронига-Пенни
- •Решение уравнения Шредингера
- •Определение волнового числа
- •Зоны Бриллюэна. Модель приведенных зон
- •Заполнение зон электронами и классификация энергетическихзон
- •Зонная структура и электрические свойства твердых тел
- •Энергетическая структура алмазоподобных полупроводников.
- •Лабораторное задание
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа №4 исследование статистических свойств носителей заряда в полупроводниках и металлах Химический потенциал невырожденного идеального газа. Энергия Ферми.
- •Распределение Ферми-Дирака при абсолютном нуле
- •Вычисление энергии Ферми
- •Изменение энергии Ферми при изменении температуры
- •Собственные и примесные полупроводники
- •Ec ev δEg запрещенная зона валентная зона зона проводимости
- •Статистика носителей заряда в собственном полупроводнике
- •Статистика носителей заряда в примесных полупроводниках
- •Уровень Ферми носителей заряда в примесном полупроводнике n-типа
- •Статистика носителей заряда в примесном полупроводнике p-типа
- •Уровень Ферми носителей заряда в примесном полупроводнике p-типа
- •Лабораторное задание:
- •Контрольные вопросы
- •Расчет концентраций равновесных носителей заряда в приконтактной области
- •Расчет уровней Ферми электронов и дырок в приконтактной области
- •Расчет потенциального барьера контакта двух полупроводников
- •Расчет концентрации неравновесных носителей заряда контакта двух полупроводников.
- •Расчет ширины области обедненной носителями заряда.
- •Расчет барьерной емкости контакта двух полупроводников
- •Расчет диффузионной длины носителей зарядов контакта двух полупроводников
- •Расчет тока проводимости контакта двух полупроводников
- •Расчет диффузионной емкости контакта двух полупроводников
- •Лабораторное задание
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа №6 исследование электропроводности транзисторной структуры Физические процессы в транзисторной структуре
- •Расчет коэффициента передачи тока транзисторной структуры
- •Расчет концентрации неосновных носителей в области базы
- •Расчет плотности тока неосновных носителей в области базы
- •Расчет токов эмиттерного и коллекторного переходов
- •Эквивалентная схема биполярного транзистора
- •Эквивалентная схема биполярного транзистора в виде четырехполюсника
- •Эквивалентная схема биполярного транзистора
- •Расчет параметров элементов эквивалентной схемы транзисторной структуры
- •Математическая модель биполярного транзистора и расчет переходов
- •Расчет электрических параметров схемы с биполярным транзистором с использованием эквивалентной схемы
- •Лабораторное задание
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа №7 физические процессы в полевых транзисторах Конструктивные особенности полевых транзисторов с изолированным затвором
- •Физические процессы в транзисторе
- •Эффективная подвижность носителей заряда в канале
- •Концентрация подвижных носителей в области канала
- •Напряжение отсечки
- •Ширина канала полевого транзистора
- •Вольтамперная характеристика полевого транзистора
- •Входная и выходная характеристики полевого транзистора
- •Лабораторное задание
- •Содержание
Напряжение отсечки
Напряжение отсечки – напряжение в любой точке окисла затво-ра, при котором концентрация подвижных носителей заряда снижается до нуля. В зависимости от типа транзистора оно может быть положитель-ным, отрицательным или равным нулю.
Напряжение отсечки также является функцией длины канала и будет отрицательным для транзисторов с каналом n-типа с обеднением и положительным для транзисторов с каналом n-типа с обогащением.
Ширина канала полевого транзистора
Для определения ширины канала полевого транзистора с изолированным затвором воспользуемся уравнением Пуассона, которое устанавливает связь между распределением потенциала в области канала и объемным зарядом , концентрирующимся в канале:
. (8)
Располагая систему координат в соответствии с рис. 3 и ограничи-ваясь рассмотрением одномерного случая, уравнение Пуассона запи-шется:
. (9)
Выражая потенциал через напряженность электрического поля, по-лучим:
; . (10)
Подставляя эти выражения в уравнение Пуассона, получим:
. (11)
Интегрируя это выражение, получим:
, (12)
. (13)
При положительном значении потенциала на затворе вблизи затвора будет формироваться канал с электронной проводи-мостью. Поэтому для канала n-типа это выражение перепишется:
. (14)
При комнатной температуре в полупроводнике p-типа все атомы легирующей примеси ионизированы р0≈Na . Поэтому можно записать:
. (15)
Подставляя эти выражения, получим:
. (16)
Интегрируя это выражение, получим:
, (17)
. (18)
Вольтамперная характеристика полевого транзистора
Поверхностная проводимость бесконечно малого сечения канала шириной w и длиной будет определяться:
. (19)
Ток в бесконечно малом участке канала, на котором падает напря-жение , определится:
. (20)
Переходя к дифференциалам получим:
, . (21)
Интегрируя это выражение по длине какала l и напряжениям стока и истока, получим:
, (22)
. (23)
Это выражение определяет вольтамперную характеристику полевого транзистора с изолированным затвором.
Входная и выходная характеристики полевого транзистора
Входная характеристика полевого транзистора определяется зави-симостью тока стока от напряжения затвора при постоян-ном напряжении между истоком и стоком .
Выходная характеристика определяется зависимостью тока стока от напряжения между истоком и стоком при постоянном напряжении на затворе . Эту характеристику можно разделить на три участка.
Начальный участок характеристики при низком напряжении между истоком и стоком представляет область переменного сопротивления.
При дальнейшем увеличении напряжения между истоком и стоком ток стока становится постоянным и не зависит от напряжения между истоком и стоком. Этот участок получил название область насыщения.
При больших напряжениях между истоком и стоком ток стока резко возрастает. Этот участок получил название область лавинного пробоя.