- •Введение
- •Уравнение Шредингера для стационарного случая
- •Собственные волновые функции и собственные значения оператора Гамильтон
- •Уравнение Шредингера для свободной частицы, двигающейся в направлении оси
- •Моделирование движения микрочастицы в свободном пространстве с помощью интегрального пакета прикладных программ MathCad
- •Моделирование волнового пакета Определение волнового пакета
- •Волновая функция волнового пакета
- •Моделирование волнового пакета
- •Заключение
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа №2 движение микрочастиц в поле потенциальных сил. Движение микрочастиц через потенциальный барьер Определение потенциального барьера
- •Уравнение Шредингера для частицы двигающейся через потенциальный барьер
- •Коэффициенты отражения и прозрачности.
- •Туннельный эффект
- •Лабораторное задание
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа № 3
- •Исследование зонной структуры твердых тел
- •Строение вещества и коллективизированные электроны
- •В кристалле
- •Приближения при решении уравнения Шредингера для кристалла
- •Приближение слабосвязанных электронов.
- •Движение электрона в кристаллической решетке Модель Кронига-Пенни
- •Уравнение Шредингера для модели Кронига-Пенни
- •Решение уравнения Шредингера
- •Определение волнового числа
- •Зоны Бриллюэна. Модель приведенных зон
- •Заполнение зон электронами и классификация энергетическихзон
- •Зонная структура и электрические свойства твердых тел
- •Энергетическая структура алмазоподобных полупроводников.
- •Лабораторное задание
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа №4 исследование статистических свойств носителей заряда в полупроводниках и металлах Химический потенциал невырожденного идеального газа. Энергия Ферми.
- •Распределение Ферми-Дирака при абсолютном нуле
- •Вычисление энергии Ферми
- •Изменение энергии Ферми при изменении температуры
- •Собственные и примесные полупроводники
- •Ec ev δEg запрещенная зона валентная зона зона проводимости
- •Статистика носителей заряда в собственном полупроводнике
- •Статистика носителей заряда в примесных полупроводниках
- •Уровень Ферми носителей заряда в примесном полупроводнике n-типа
- •Статистика носителей заряда в примесном полупроводнике p-типа
- •Уровень Ферми носителей заряда в примесном полупроводнике p-типа
- •Лабораторное задание:
- •Контрольные вопросы
- •Расчет концентраций равновесных носителей заряда в приконтактной области
- •Расчет уровней Ферми электронов и дырок в приконтактной области
- •Расчет потенциального барьера контакта двух полупроводников
- •Расчет концентрации неравновесных носителей заряда контакта двух полупроводников.
- •Расчет ширины области обедненной носителями заряда.
- •Расчет барьерной емкости контакта двух полупроводников
- •Расчет диффузионной длины носителей зарядов контакта двух полупроводников
- •Расчет тока проводимости контакта двух полупроводников
- •Расчет диффузионной емкости контакта двух полупроводников
- •Лабораторное задание
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа №6 исследование электропроводности транзисторной структуры Физические процессы в транзисторной структуре
- •Расчет коэффициента передачи тока транзисторной структуры
- •Расчет концентрации неосновных носителей в области базы
- •Расчет плотности тока неосновных носителей в области базы
- •Расчет токов эмиттерного и коллекторного переходов
- •Эквивалентная схема биполярного транзистора
- •Эквивалентная схема биполярного транзистора в виде четырехполюсника
- •Эквивалентная схема биполярного транзистора
- •Расчет параметров элементов эквивалентной схемы транзисторной структуры
- •Математическая модель биполярного транзистора и расчет переходов
- •Расчет электрических параметров схемы с биполярным транзистором с использованием эквивалентной схемы
- •Лабораторное задание
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа №7 физические процессы в полевых транзисторах Конструктивные особенности полевых транзисторов с изолированным затвором
- •Физические процессы в транзисторе
- •Эффективная подвижность носителей заряда в канале
- •Концентрация подвижных носителей в области канала
- •Напряжение отсечки
- •Ширина канала полевого транзистора
- •Вольтамперная характеристика полевого транзистора
- •Входная и выходная характеристики полевого транзистора
- •Лабораторное задание
- •Содержание
Расчет диффузионной емкости контакта двух полупроводников
Приложение к контакту двух полупроводников прямого напряже-ния будет определять инжекцию дырок в n-область, а электронов в p-область. В результате этого в приконтактной области будет форми-роваться объемный заряд подвижных носителей, который будет образовывать диффузионную емкость.
Так как величина этой емкости будет зависеть от приложенного напряжения, то можно записать:
, (59)
где Cd – диффузионная емкость; Q – объемный заряд, образуемый из-быточными дырочными и электронными носителями; u – напряжение, приложенное к контакту двух полупроводников.
Величина объемного заряда определится:
, (60)
где S – площадь контакта двух полупроводников; и – избыточные концентрации электронов в p-области и дырок в n-области.
Избыточные концентрации определятся:
, (61)
. (62)
Подставляя значения избыточных концентраций в выражение объемного заряда в приконтактной области и интегрируя, получим:
, (63)
где exp – величина экспоненты, exp=2,71.
Дифференцируя это выражение по напряжению u, получим выра-жение для диффузионной емкости:
(64)
Лабораторное задание
1. По варианту лабораторной работы №4 выбрать значения концен-траций акцепторной и донорной примеси.
2. Рассчитать значения равновесных концентраций электронных и дырочных носителей заряда в приконтактной области.
3. Рассчитать значения энергии Ферми для носителей зарядов в при-контактной области.
4. Рассчитать значение контактной разности потенциалов и высоту потенциального барьера в приконтактной области.
5. Рассчитать и построить графики значений концентраций неравно-весных носителей заряда от приложенного напряжения к контакту двух полупроводников.
6. Рассчитать и построить график изменения значения ширины обед-ненной области от приложенного напряжения к контакту двух полу-проводников.
7. Рассчитать и построить график значения барьерной емкости от приложенного напряжения.
8. Рассчитать значения диффузионной длины носителей заряда в приконтактной области.
9. Рассчитать и построить графики изменения значения эквивалент-ной диффузионной длины дырочных и электронных носителей от при-ложенного напряжения.
10. Рассчитать и построить график вольтамперной характеристики контакта двух полупроводников.
11. Рассчитать и построить графики распределения в контактной об-ласти избыточных носителей заряда для различных значений прило-женного прямого напряжения.
12. Рассчитать и построить график изменения диффузионной емкос-ти контакта двух полупроводников от приложенного прямого напря-жения.
Контрольные вопросы
1. Физические процессы в контакте двух полупроводников в равно-весном состоянии.
2. Прямое и обратное напряжения в контакте двух полупроводников.
3. Физические процессы в контакте двух полупроводников при при-ложении прямого и обратного напряжений.
4. Что такое равновесные и неравновесные носители заряда?
5. Что является областью контакта и какова ее протяженность?
6. Диффузионная длина и эквивалентная диффузионная длина носи-телей заряда.
7. Виды токов в контакте двух полупроводников и механизмы дви-жения носителей заряда, обусловливающих эти токи.
8. Физика барьерной емкости.
9. Физика диффузионной емкости.
10. Контактная разность потенциалов и физика ее образования.