- •Тема 1. Комплексная микроминиатюризация и автоматизированные
- •Цели и задачи микроэлектронной аппаратуры
- •Основные пути выбора конструктивно-компоновочной схемы и методов монтажа мэа
- •Элементная база и ее влияние на конструкцию мэа
- •Корпусированная элементная база
- •Динамика развития основных исходных конструкторских
- •Бескорпусная элементная база
- •Исходные данные задания
- •Порядок выполнения задания
- •Пример выполнения задания практического занятия
- •Результаты, полученные при выполнении задания
- •Тема 2. Конструктивные исполнения и современные технологии сборки элементной базы.
- •Микросхемы, элементы, компоненты
- •Классификация микросхем
- •Современные корпуса дискретных полупроводниковых приборов или их сборок
- •Современные корпуса дискретных полупроводниковых приборов или их сборок
- •Бескорпусная элементная база
- •Имс с проволочными выводами
- •Термокомпрессионная сварка
- •Сварка с косвенным импульсным нагревом
- •Кристаллы с балочными выводами
- •Имс с организованными шариковыми выводами
- •Имс с организованными выводами на гибком носителе
- •Классификация типов ленточных носителей
- •Одноточечная автоматизированная сборка на ленту-носитель
- •Резисторы
- •Основные сведения об объемных резисторах
- •Конденсаторы
- •Относительные диэлектрические проницаемости
- •Катушки индуктивности
- •Технология монтажа пассивных компонентов
- •Практическое занятие оптимизация технологических режимов процесса микроконтактирования бескорпусных кристаллов сбис в электронных устройствах с высокоплотным монтажом
- •Теоретические сведения Элементная база для сборки и монтажа мэу
- •Оценка и анализ качества микроконтактирования
- •Порядок выполнения заданий
- •Примеры выполнения заданий практического занятия Задание 1
- •Задание 2
- •Тема 3. Многоуровневые коммутационные системы.
- •Монтаж микросборок и ячеек мэа
- •Сводные характеристики многослойных керамических плат
- •Типы печатных плат
- •Двухсторонние печатные платы
- •Многослойные печатные платы
- •Гибкие печатные платы
- •Рельефные печатные платы (рпп)
- •Характеристики рельефных плат
- •Сравнение технологических и стоимостных характеристик рельефной и многослойной печатной платы
- •Гибкие печатные платы
- •Основные элементы конструкции гибких печатных плат
- •Полиимидные пленки
- •Адгезивы
- •Гибко-жёсткие печатные платы
- •Миниатюрные охлаждающие агрегаты
- •Радиаторы
- •Теплопроводящие трубки
- •Углеродные нанотрубки
- •Охлаждение элементом Пельтье
- •Плоские теплоотводы
- •Охлаждение микросхем распылением на них жидкости
- •Капиллярная система теплоотвода ibm
- •Особенности обеспечения теплоотвода в теплонапряженных модулях
- •Обеспечение теплоотвода при монтаже высокоскоростных модулей на основе бескорпусных бис
- •Конструкции и компоновочные схемы радиоэлектронных ячеек
- •Особенности конструктивно-технологических принципов построения мэа свч диапазона и источников вторичного электропитания.
- •Особенности монтажа микросборок и ячеек свч диапазона.
- •Теоретические сведения
- •Сравнительные параметры мкп, выполненных по различным технологиям
- •Исходные данные заданий
- •Пример выполнения задания практического занятия
- •Тема 4. Технологии внутриячеечного монтажа.
- •Лекция 18. Паяные соединения. Особенности и способы пайки. Бесфлюсовая пайка. Контроль качества. Бессвинцовая технология пайки. Общее понятие процесса пайки и паяных швов.
- •Технология пайки
- •Основный виды пайки.
- •Способы пайки.
- •Типы паяных соединений.
- •Подготовка деталей к пайке и пайка.
- •Дефекты паяных соединений и контроль качества. Типы дефектов паяных соединений.
- •Контроль качества.
- •Возможные дефекты
- •Выбор припойной пасты.
- •Состав припойных паст.
- •Характеристики частиц в припойных пастах.
- •Свойства флюсов.
- •Трафаретный метод нанесения припойной пасты.
- •Диспенсорный метод нанесения припойной пасты
- •Нанесение припойной пасты.
- •Результаты выполнения задания
- •Тема 5. Конструкторско-технологические особенности
- •Лекция 24,25. Герметизация компонентов рэа. Способы контроля герметичности.
- •Структура процесса герметизации
- •Входной контроль
- •Приготовление герметизирующего состава
- •Подготовка герметизируемого изделия
- •Герметизация изделий
- •Сварка.
- •Пропитка
- •Обволакивание
- •Заливка
- •Опрессовка
- •Герметизация капсулированием
- •Герметизация в вакуум-плотных корпусах
- •Практическое занятие герметизация эвс и их конструктивов
- •Теоретические сведения
- •Исходные данные задания
- •Пример выполнения задания практического занятия
- •Порядок выполнения задания
- •Пример выполнения задания практического занятия
Основные пути выбора конструктивно-компоновочной схемы и методов монтажа мэа
Выбор рационального конструктивного исполнения конкретной аппаратуры зависит от решения множества вопросов, связанных с поиском оптимального варианта конструктивно-технологического обеспечения комплекса технических, экономических, эксплуатационных, производственных и организационных требований. Поиск оптимального конкретного конструктивно-технологического варианта должен проводиться за минимальное время при минимальных затратах и с учетом современных тенденций развития МЭА, прежде всего элементной базы и техники монтажа. В соответствии с техническим заданием на конкретный вид МЭА должны быть последовательно рассмотрены следующие вопросы, связанные с процессами монтажа: общая компоновка; компоновочная совместимость принятой элементной базы и межсоединений; проектирование всех иерархических уровней изделий с учетом полной автоматизации процессов проектирования; обеспечение защиты изделия от дестабилизирующих факторов окружающей среды; обеспечение технологичности, удобства эксплуатации и ремонта.
Компоновка — сложный и ответственный процесс конструирования, так как размещение всех заданных элементов схемы в заданном объеме конструкции с установлением основных геометрических форм и размеров между ними, с одновременным обеспечением нормальной работы схемы в соответствии с техническим заданием по существу определяет в дальнейшем все остальные этапы разработки.
К основным этапам разработки компоновочных схем относятся: определение особенностей функциональных параметров электрической схемы устройства и выбор основной конструктивно-законченной единицы; выбор элементной базы и способа монтажа; отработка вопросов межсоединений, теплопередачи, прочности и жесткости конструкции и т. п., разработка общей компоновки блоков и ячеек устройств.
Первые два этапа проводятся на стадии технического предложения разработки МЭА и некоторым образом являются исходными данными для проведения собственно компоновочных работ на этапах эскизного и технического проекта. Конструктивно-технологическое исполнение межсоединений определяет выбор той или иной компоновочной схемы, устройства, организации функционального узла (ячейки) и коммутации их между собой.
Организация компоновочной схемы ячейки является одним из основных вопросов оптимальной компоновки МЭА. На разных этапах развития МЭА этот вопрос решался по-разному с учетом конструктивно-технологических возможностей межсоединений и степени интеграции элементной базы, на которой проектируется аппаратура. Параллельно с повышением степени интеграции элементной базы развивается и техника ее компоновки в функционально законченные узлы. Принятие решения в выборе конструкции и ее элементной базы при создании конкретного устройства или прибора является одним из самых ответственных шагов. В связи с тем, что за время проектирования и изготовления первых образцов изделий существенно изменяются и методы монтажа, и уровень производства, и элементная база, сложность выбора состоит и в том, что нужно оценить степень важности множества взаимосвязанных факторов: назначение (вычислительная техника, техника связи, космическая электроника и т. д.); заданные электрические характеристики (быстродействие, мощность, информативность); условия эксплуатации (пределы изменения температур, влажности, величины механических воздействий); требования к конструкции (надежность, масла, габаритные размеры, тепловые режимы, допуски и т. д.); технико-экономические, показатели (стоимость, сроки морального износа, степень унификации); организационно-производственные факторы (сроки разработки прибора, размер выпускаемой партии, серийность, оснащенность предприятия-изготовителя прибора и т. д.); уровень развития элементной базы на данный момент (степень отработки, метод поставки и т. д.) и ее перспективы.
Наиболее жесткие требования предъявляются к управляющим системам на тех объектах, где управление происходит практически без участия человека, особенно там, где постоянная потребность в усложнении функций МЭА лимитируется возможностями объектов либо по массогабаритным характеристикам (бортовая аппаратура), либо по потребляемой мощности при обязательном сохранении высоких показателей надежности аппаратуры. Если при управлении подобными объектами требуется еще и очень высокий темп управления в реальном масштабе времени, то становится ясно, что подобные системы управления требуют специальной разработки под каждый такой сложный объект. К этому надо прибавить и то, что часто такие системы требуются в небольшом количестве (малосерийны).
Проблема принятия решения в какой-то степени затруднена значительным разнообразием существующих методов и приемов микромонтажа, включая создание различных коммутационных систем на различных уровнях иерархии далее в рамках одного комплекса процессов (например, тонкопленочной технологии, технологии печатных плат и т. п.), применение широкого спектра сборочных операций и переходов, начиная от установки кристаллов и кончая компоновкой завершенных устройств. К этому надо прибавить и два принципиальных подхода к методам монтажа связанных с использованием корпусных или бескорпусных ИМС (БИС и СБИС).
Указанное разнообразие вызвано рядом субъективных и объективных факторов. К первым можно отнести наличие традиционного подхода к конструированию МЭА, вызванного консерватизмом мышления; к факторам второго вида, очевидно, следует отнести как трудности перестройки сложного производства, так и то, что в силу весьма широких требований к современной МЭА и крайне острой нужды в ее изделиях еще находится определенная область более или менее оптимального применения для различных, даже устаревших методов монтажа. В этой связи необходимы объективные методы оценки существующих и развиваемых конструктивно-технологических направлений микроэлектроники, прежде всего по критериям массы, габаритных размеров, стоимости и надежности в зависимости от функциональной сложности устройств.
В
качестве одного из возможных методов
оценки будем оценивать функциональную
сложность исходным числом комплектующих
элементов (N0),
а также коэффициентом сложности (Ксл),
характеризующим насыщенность
коммутационных связей в устройствах и
эффективность проектирования (Ксл=1
в том случае,
когда полностью используются все
возможные коммутационные связи,
определяемые разрешающей способностью
рисунка). Учтем также число выводов
от комплектующего элемента (т),
надежность
элемента, выраженную интенсивностью
отказов (
),
и среднюю
мощность, выделяемую на каждом элементе
(
).
Под
комплектующим элементом для простоты
анализа в дальнейшем будем понимать
ИМС (БИС или СБИС).
Себестоимость изготовления МЭА может быть выражена следующей формулой:
,
(1)
где
;
Npeз
— число
резервных комплектующих элементов,
создающих избыточность для обеспечения
требуемой надежности устройства,
выраженной вероятностью безотказной
работы изделия (Р)
и средним временем наработки на отказ
(t);
Sk,
Sm,
Sc6,
Sc,
Smc,
Skoh
—
соответственно средние удельные
стоимостные характеристики
комплектующих кристаллов, их монтажа
на плату, процессов соединения одного
вывода от кристалла на контактную
площадку платы, изготовления коммутационных
элементов на плате, межъячеечной
коммутации и конструктивных элементов
(корпус, металлические прокладки, рамки
жесткости и т. п.); k
— число
сварных соединений в изделии МЭА,
приходящихся на одну контактную площадку
кристалла; Nab
— число
комплектующих кристаллов, размещаемых
на одной плате:
,
(2)
a, b —линейные размеры коммутационной платы; nуд— число контактных площадок кристаллов, размещенных (и разведенных) на единице поверхности платы; N/Nab—число коммутационных плат в изделии МЭА; h0 — толщина слоя коммутации вместе с диэлектрической прослойкой; L — средняя длина коммутации на одной плате:
,
(3)
xi,
yi
— координаты i-й
контактной площадки;
— вероятность соединения i-й
и j-й
контактной площадки (равно 0 или 1).
Окончательно из формулы (3)
,
(4)
— коэффициент
эффективности проектирования;
— число слоев коммутации на плате,
требующийся для соединения комплектующих
элементов:
,
(5)
l
— разрешающая
способность коммутации на плате;
— коэффициент,
учитывающий невозможность полного
использования платы для коммутационных
элементов, определяемый как
=
1,46—0,06
.
Значение Nрез определяем из заданных величин Р и t. В случае поэлементного резервирования вероятность безотказной работы i-то элемента и его резервных элементов
,
(6)
Pi(t) —вероятность безотказной работы i-гo элемента.
Вероятность безотказной работы изделия, содержащего N0 комплектующих, вычисляется с учетом (6):
(7)
В
то же время
,
— интенсивность отказов изделия в
пересчете на один комплектующий элемент:
,
(8)
где
— средняя
интенсивность отказов комплектующих
кристаллов;
— интенсивность
отказов коммутации (послойная);
- интенсивность отказов межъячеечной
коммутации (на один переход между
ячейками);
—
средняя интенсивность отказов одного
сварного (или паяного) соединения.
Тогда из (7) с учетом (8)
(9)
Массу изделия МЭА определяем следующим образом:
(10)
где тк, тс, тmc — соответственно удельные характеристики по массе комплектующих кристаллов, коммутации (на единицу объема), межъячеечной коммутации (на единицу длины).
