- •Лекция 1
- •Лекция 2
- •Отражение
- •Вращение
- •Инверсия
- •Отражение-вращение
- •Вращение-инверсия
- •Взаимодействие элементов симметрии (теоремы сложения).
- •Теорема №1
- •Обратная теорема
- •Виды симметрии кристаллов.
- •Виды симметрии кристаллов, обладающих единичным направлением.
- •Виды симметрии кристаллов без единичных направлений.
- •Лекция 4 Характеристика сингоний.
- •Обозначение плоскостей и направлений в кубических кристаллах.
- •Порядок нахождения индексов плоскостей.
- •Аспекты эквивалентности плоскостей.
- •Индексы направлений.
- •Алгоритм определения индексов направлений.
- •Определение кристаллографических индексов гексагональных кристаллов.
- •Индексы направлений
- •Лекция 5 Формулы геометрической кристаллографии.
- •Кристаллографические проекции.
- •I. Сферические координаты.
- •II. Стереографические проекции.
- •IV. Гномонические проекции.
- •Лекция 6 Решетки Бравэ
- •Теорема.
- •Симметрия внутреннего строения.
- •Плоскость скользящего отражения.
- •Винтовые оси
- •Тетрагональные кристаллы
- •Понятие о пространственной системе точек
- •Правила записи символа пространственной группы.
- •Распределение пространственных групп по классам симметрии, сингониям и категориям.
- •Лекция 8 Основы кристаллохимии.
- •Объемные характеристики кристаллического материала
- •Факторы, влияющие на кристаллическую структуру
- •Понятие о плотнейших упаковках
- •Лекция 9
- •Типичные структуры материалов используемых в микроэлектронике.
- •Структурный тип магния.
- •Основные кристаллохимические характеристики
- •Полупроводниковые соединения
- •Основные кристаллохимические характеристики
- •Лекция 11
- •Структурный тип поваренной соли (NaCl).
- •Структура цезий хлор (СsCl).
- •Структурный тип халькопирита (CuFeS2)
- •Лекция 12 Структурный тип перовскита
- •Кристаллическая структура SiO2.
- •Кристаллическая структура Al2o3.
- •Лекция 13 Полиморфизм, изоморфизм и политипия.
- •Неустойчивая устойчивая
- •Классификация полиморфных модификаций по Бюргеру
- •Классификация изоструктурных соединений пр Гримму.
- •Лекция 14 Кристаллофизика
- •Предельные группы симметрии (группы Кюри)
- •Принцип суперпозиции Кюри
- •Указательная поверхность
- •Системы координат
- •Лекция 15 Скалярные и векторные свойства кристаллов.
- •Физические свойства кристаллов, описываемых тензором второго ранга.
- •Геометрические свойства указательной поверхности.
- •Лекция 16 Оптические свойства кристаллов Двупреломление лучей
- •Дефекты в кристаллических материалах
- •Точечные дефекты
- •Межузельный атом
- •Примесные атомы
- •Комплексы точечных дефектов
- •Лекция 17
- •Дефект Френкеля (сложный).
- •Механизм Шотке или образование тепловых вакансий (при нагревании).
- •Термодинамика точечных дефектов.
- •Линейные дефекты.
- •Понятие о векторе Бюргерса.
- •Лекция 18
- •Взаимодействие дислокаций между собой
- •Метод селективного травления
- •Лекция 19
- •Методика прогнозирования формы ямки травления.
- •Двумерные дефекты (поверхностные).
- •Модели, объясняющие высокоугловые границы.
- •Дефекты упаковки (ду).
Взаимодействие дислокаций между собой
Если дислокации одного знака находятся в одной плоскости скольжения, они стремятся разойтись.


Если дислокации разного знака находятся в одной плоскости скольжения, то происходит их аннигиляция и уничтожение.





Если дислокации одного знака находятся в параллельных плоскостях скольжения, они могут выстраиваться друг под другом, образуя стенку дислокаций.


Е
сли
дислокации разного знака находятся в
параллельных плоскостях скольжения,
они могут выстраиваться под углом 450.

450
Дислокации взаимодействуют с точечными дефектами, являются их стоками.




З
















десь
действуют
упругие поля нап атмосфера Котрелла
ряжений, происх
о
дит
притягиван
ие
дислокация точечные дефекты
Точечные дефекты затрудняют движение дислокации (являются стопорами).
Дислокации (только сидячие) могут размножаться.
У сидячих дислокаций концы закреплены. Источник этих дислокаций предложен Франком Ридом в 1950 году.
Под действием приложенного однородного напряжения происходит изгибание линии дислокации, а линейное напряжение дислокации будет стремиться ее выпрямить.


b
D
D/
=Gb/r
r — радиус изгибания дуги дислокации
G — модуль сдвига



=0,51,0





D
D/
Штриховкой показана площадь, через которую постепенно продвигается линия дислокации.
r=l/2
l — длина дислокации
кр=Gb/l (при=1/2) — критическое значение
При <кр — дуга стабильна
При кр площадь растет:
b


















D
D/
Приложенная сила всегда перпендикулярна линии дислокации.

D D/

C
В конце концов на стыке образуются дислокации разного знака (красная линия), DD/C стремится выпрямиться и занять положение DD/, а петля уходит в кристалл.
Такой источник Франка Рида может генерировать неограниченное число петель дислокаций в одной плоскости скольжения и может создать в ней значительный сдвиг.
Метод селективного травления
NД — плотность дислокаций [1/см2]
Средняя NД=102 107 1/см2
Д
ля
каждого материала подбирается свой
травитель, так, чтобы скорость травления
по поверхности относилась к скорости
травления по дислокациям как10










VД/Vn10
Vn
VД
В местах выхода дислокаций на поверхность образуются ямки травления, они имеют правильную геометрическую форму и ограняются наиболее плотно упакованными плоскостями (d*max)















1 2 3 4
Тетрагональная пирамида, уходящая вглубь
Лодочка
Копье
Трапеция
Круглой формы быть не может, так как при травлении растворяются плоскости, у которых d*(hkl) минимальна.
Форма ямки травления зависит от двух факторов:
От вида и структуры кристаллического материала
От плоскости шлифа, по которой разрезают монокристалл
ПК, NaCl d*max{100}, в совокупность входит шесть плоскостей, значит это гексаэдр.
ГЦК, алмаз (сфалерит) d*max{111}, в совокупность входит восемь плоскостей, значит это октаэдр.
