
- •Лекция 1
- •Лекция 2
- •Отражение
- •Вращение
- •Инверсия
- •Отражение-вращение
- •Вращение-инверсия
- •Взаимодействие элементов симметрии (теоремы сложения).
- •Теорема №1
- •Обратная теорема
- •Виды симметрии кристаллов.
- •Виды симметрии кристаллов, обладающих единичным направлением.
- •Виды симметрии кристаллов без единичных направлений.
- •Лекция 4 Характеристика сингоний.
- •Обозначение плоскостей и направлений в кубических кристаллах.
- •Порядок нахождения индексов плоскостей.
- •Аспекты эквивалентности плоскостей.
- •Индексы направлений.
- •Алгоритм определения индексов направлений.
- •Определение кристаллографических индексов гексагональных кристаллов.
- •Индексы направлений
- •Лекция 5 Формулы геометрической кристаллографии.
- •Кристаллографические проекции.
- •I. Сферические координаты.
- •II. Стереографические проекции.
- •IV. Гномонические проекции.
- •Лекция 6 Решетки Бравэ
- •Теорема.
- •Симметрия внутреннего строения.
- •Плоскость скользящего отражения.
- •Винтовые оси
- •Тетрагональные кристаллы
- •Понятие о пространственной системе точек
- •Правила записи символа пространственной группы.
- •Распределение пространственных групп по классам симметрии, сингониям и категориям.
- •Лекция 8 Основы кристаллохимии.
- •Объемные характеристики кристаллического материала
- •Факторы, влияющие на кристаллическую структуру
- •Понятие о плотнейших упаковках
- •Лекция 9
- •Типичные структуры материалов используемых в микроэлектронике.
- •Структурный тип магния.
- •Основные кристаллохимические характеристики
- •Полупроводниковые соединения
- •Основные кристаллохимические характеристики
- •Лекция 11
- •Структурный тип поваренной соли (NaCl).
- •Структура цезий хлор (СsCl).
- •Структурный тип халькопирита (CuFeS2)
- •Лекция 12 Структурный тип перовскита
- •Кристаллическая структура SiO2.
- •Кристаллическая структура Al2o3.
- •Лекция 13 Полиморфизм, изоморфизм и политипия.
- •Неустойчивая устойчивая
- •Классификация полиморфных модификаций по Бюргеру
- •Классификация изоструктурных соединений пр Гримму.
- •Лекция 14 Кристаллофизика
- •Предельные группы симметрии (группы Кюри)
- •Принцип суперпозиции Кюри
- •Указательная поверхность
- •Системы координат
- •Лекция 15 Скалярные и векторные свойства кристаллов.
- •Физические свойства кристаллов, описываемых тензором второго ранга.
- •Геометрические свойства указательной поверхности.
- •Лекция 16 Оптические свойства кристаллов Двупреломление лучей
- •Дефекты в кристаллических материалах
- •Точечные дефекты
- •Межузельный атом
- •Примесные атомы
- •Комплексы точечных дефектов
- •Лекция 17
- •Дефект Френкеля (сложный).
- •Механизм Шотке или образование тепловых вакансий (при нагревании).
- •Термодинамика точечных дефектов.
- •Линейные дефекты.
- •Понятие о векторе Бюргерса.
- •Лекция 18
- •Взаимодействие дислокаций между собой
- •Метод селективного травления
- •Лекция 19
- •Методика прогнозирования формы ямки травления.
- •Двумерные дефекты (поверхностные).
- •Модели, объясняющие высокоугловые границы.
- •Дефекты упаковки (ду).
Какую работу нужно написать?
Факторы, влияющие на кристаллическую структуру
Химическая природа связей между атомами
Число структурных единиц в элементарной ячейке
Для кристаллов из разных атомов большое значение имеет соотношение размеров радиусов атомов
Понятие о плотнейших упаковках
Плотнейшая упаковка— максимальное сближение структурных единиц.
Первые 2 слоя образуют плотнейшую упаковку АВ, если добавить третий слой — АВС, четвертый слой повторяет первый и так далее. Получается мотив …АВСАВС… Это мотив чередования слоев для ГЦК плотнейшей упаковки (=0,74, К12). Для ГПУ …АВАВ…(=0,74, Г12)
Лекция 9
Отличия плотнейших упаковак.
Разный мотив чередования слоев;
Отличие в симметрии.
ГПЦ – ось 6 порядка (L6)
ГЦК – 4L3
Общее плотнейших упаковок:
одинаковый коэффициент заполнения пространства (=0,74)
одинаковое координационное число ГЦК12 и К12
на определенное число n атомов плотнейшей упаковки приходится n октаэдрических пустот и 2n тетраэдрических пустот.
Тетраэдрическая
пустота образуется, когда в плоскости
3 атома.
Октаэдррическая пустота:
ГЦК – плотнейшая упаковка.
n=4;
8 тетраэдрических пустот ( )
4 октаэдрические пустоты.
(1/4,1/4,1/4)
(3/4,3/4,3/4)
Центр тетраэдрической пустоты находится на
¼ пространственной диагонали <111> от узла
8 вершин => 8 тетраэдрических пустот.
12 ребер * ¼ + 1(целая внутри)= 4
на каждом ребре находится
¼ окраэдрической пустоты.
Посчитаем
атомы какого размера могут занимать
пустоты.
ГЦК а2
(100)
а2=4R<110>
a=2R+2r
Для ГЦК наиболее плотно упакованное направление <100>
r=0,41R – максимальное соотношение радиусов.
Тетраэдрическая пустота: r=0,225R.
ГПУ
– плотнейшая упаковка.(не решетка
Бравэ).
Рассмотрим ромбическую призму.
ca
с/2
Делим
ромбическую призму на 2 тригональные
призмы. Из цетра нажнего основания одной
тригональной призмы (из точки пересечения
медиан, биссектрис) восстанавливаем
ось Z; на с/2 находится атом ( )
рядом тригональная призма пустая.
Такую структуру имеют CdSe (кадмий-селен) – загрязнены, т. к. есть место для диффундирования.
Различают 4 типа тетраэдрических пустот:
j
пустоты имеют координаты |[0,0,3/8]|
пустоты имеют координаты |[0,0,5/8]|
j пустоты имеют координаты |[2/3,1/3,1/8]|
пустоты имеют координаты |[2/3,1/3,7/8]|
Суммарное количество пустот :4, т. к.
4*1/3
+ 4*1/6 +2(целиком)=4 пустоты
вырезается
угол в 1200
Число
атомов, приходящихся на эту упаковку
n=2.
две октаэдрические пустоты.
Чередование
слоев может быть и другим. Слои будут
укладываться также, но чередование
АВАСАВАС
четырехслойная плотнейшая упаковка
Типичные структуры материалов используемых в микроэлектронике.
Рассматриваться будут кристаллы, относящиеся к кубическим и гексагональным сингониям.
ПК
- -Ро(полоний)
–полиморфизм (состоит в разных
кристаллических состояниях).
n=1
K6
=0,52
Наиболее плотно упакованная плоскость {100}
Наиболее плотно упакованное направление <100>
ОЦКW– вольфрам, молибден,Na,K,Li.
-Fe
хром, ванадий.
n=2; =0,68 К8 <111>
{110}
Чем больше атомов приходится на элементарную ячейку, тем более пластичен материал (хорошая тепло- и электропроводность, ковкость).
ГЦК
Cu Au;Ag;Pd;Al;Pt.
n=4 {111}
K12 <110>
=0,74