
- •Пояснительная Записка
- •1 Введение 6
- •5.3 Расчет 117
- •Введение
- •Исследовательская часть
- •Структура подсистемы защиты информации в системе глобальной спутниковой связи и методы обеспечения средств мониторинга и управления объектами защиты информации
- •Описание среды комплекса спутниковой глобальной радиосвязи и выявление целей защиты информации
- •Состав и структура подсистемы защиты информации в комплексе спутниковой глобальной радиосвязи.
- •Прослушивание второго рода, как метод построения эффективных атак на систему связи.
- •Алгоритм массирования – как метод защиты от прослушивания второго рода.
- •Линейные кодовые последовательности.
- •Нелинейные кодовые последовательности.
- •Однократное гаммирование.
- •Требования к алгоритму маскирования.
- •Специальная часть
- •Основные требования.
- •Соответствие предъявляемому уровню безопастности.
- •Построение на основе использования криптографии симметричных ключей.
- •Описание.
- •Математическое описание.
- •Описание параметров.
- •Формирование ключа.
- •Разворачивание ключа.
- •Определение времени жизни сеансовых ключей
- •Программная и аппаратная гибкость реализации
- •Оценка сложности программной и аппаратной реализации
- •Вычислительная сложность (скорость) зашифрования/расшифрования
- •Оценочное время выполнения зашифрования/расшифрования блока данных
- •Оценочная скорость алгоритма в виде числа тактов работы процессора
- •Скорость выполнения зашифрования/расшифрования блока данных
- •Пакет тестов Национального института стандартов и технологий (nist)
- •Частотный тест.
- •Тест на самую длинную серию единиц в блоке.
- •Тест ранга двоичных матриц.
- •Тест с дискретным преобразованием Фурье (спектральный тест).
- •Универсальный статистический тест Маурэра.
- •Сжатие при помощи алгоритма Лемпела-Зива.
- •Тест линейной сложности.
- •Результаты тестирования
- •Результаты проведения тестов
- •Спектральный тест
- •Тест линейной сложности
- •Технологический раздел
- •Введение
- •Общие принципы тестирования
- •Общие методики оценки качества алгоритма маскирования данных
- •Графические тесты
- •Гистограмма распределения элементов
- •Распределение на плоскости
- •Проверка серий
- •Проверка на монотонность
- •Оценочные тесты
- •Методы тестирования алгоритма маскирования данных
- •Система оценки статистических свойств
- •Оценка результатов тестирования
- •Генерация последовательностей для тестирования
- •Исполнение набора статистических тестов
- •Анализ прохождения статистических тестов
- •Организационно-экономический раздел
- •Введение
- •Теоретическая часть
- •Оценка затрат на разработку по
- •Составляющие затрат на программный продукт
- •Составляющие затрат на разработку программ Ср.
- •Затраты на непосредственную разработку кп
- •Сложность комплекса программ
- •Применение современных методов разработки кп.
- •Факторы организации процесса разработки кп, влияющие на непосредственные затраты при создании сложных программ.
- •Затраты на изготовление опытного образца как продукции производственно-технического назначения.
- •Затраты на технологию и программные средства автоматизации разработки комплекса программ.
- •Составляющие затрат на эксплуатацию программ, влияющие на процесс их разработки.
- •Исходные данные
- •Расчёт затрат
- •1)Составляющие затрат на разработку программ:
- •2) Затраты на эксплуатацию программ:
- •3) Накладные расходы
- •Производственно-экологическая безопасность
- •Введение
- •Машинный зал и рабочее место программиста
- •Вредные факторы, присутствующие на рабочем месте и их классификация
- •Вредные производственные воздействия
- •Электрическая опасность
- •Нерациональность освещения
- •Расчет искусственного освещения методом коэффициента использования светового потока
- •Психофизические факторы
- •Микроклимат
- •Посторонние шумы
- •Постороннее электромагнитное излучение
- •Химические факторы
- •Эргономические требования
- •Эргономика окружающей среды
- •Экологическая безопасность
- •Заключение
- •Литература
- •Приложение 1
- •Приложение 2
- •Приложение 3
Спектральный тест
Для спектрального теста построены графики ДПФ последовательностей:
Преобразование Фурье последовательности, выработанной с помощью алгоритма маскирования (операция Xor), изображено на рис.3.8, где показаны первые 2000 отсчётов:
Рис. 3.8 ДПФ последовательности, выработанной с помощью алгоритма маскирования (операция Xor)
Преобразование Фурье последовательности, выработанной с помощью алгоритма маскирования (операция умножение) изображено на рис.3.9, где показаны первые 2000 отсчётов:
Рис. 3.9 ДПФ последовательности, выработанной с помощью алгоритма маскирования (операция умножение)
Преобразование Фурье последовательности, выработанной с помощью алгоритма маскирования (операция умножение (мод)) изображено на рис.3.10, где показаны первые 2000 отсчётов:
Рис. 3.10 ДПФ последовательности, выработанной с помощью модифицированного алгоритма маскирования (операция умножение)
Тест линейной сложности
Последовательность длиной 1000000 бит, выработанная с помощью алгоритма маскирования (операция Xor), была протестирована с помощью теста линейной сложности (The Linear Complexity Test) из пакета тестов национального института стандартов и технологий (НИСТ).
Линейная сложность последовательности – это минимальное число секций сдвигового регистра с линейной обратной связью (LFSR), который генерирует последовательность.
Для вычисления линейной сложности в тесте используется алгоритм Berlekamp-Massey.
Параметры тестирования:
n = 1000000 – длина последовательности в битах.
M = 1000 – длина одного блока в битах.
K = 6 – число степеней свободы.
Полученные результаты:
Рис. 3.11 Линейные сложности для 1000 блоков последовательности.
Как показывает рис. 3.11, большинство линейных сложностей имеют значения в окрестности 500, что говорит о том, что тестируемая последовательность очень близка к случайной, т.к. для случайной конечной последовательности длиной n линейная сложность близка к n/2.
Высокая линейная сложность не обязательно гарантирует стойкость генератора, но низкая линейная сложность явно указывает на недостаточную надёжность.
Тестовая статистика
.
Пропорциональность
Значение
v0 = 13; 0,013 0,01047
v1 = 23; 0,023 0,03125
v2 = 120; 0,120 0,125
v3 = 511; 0,511 0,5
v4 = 251; 0,251 0,25
v5 = 64; 0,064 0,0625
v6 = 18; 0,018 0,02078
Предполагается,
что распределение частоты Ti
(в
)
должно быть пропорционально
.
Р-значение = 0.7230.
Т.к. P-значение≥ 0.01, считаем последовательность случайной.
Для наиболее полного представления о характере генерируемой алгоритмом маскирования (операция Xor) последовательности, построимпрофиль линейной сложности.
Профиль линейной
сложности определяет линейную сложность
последовательности по мере её удлинения.
Для случайной конечной последовательности
длиной n
линейная сложность близка к n/2,
что можно видеть рис. 3.12.
Рис. 3.12 Профиль линейной сложности для алгоритма маскирования (операция Xor).
Аналогичный тест был проведен для последовательности, выработанной с помощью алгоритма маскирования (операция умножение).
Параметры тестирования:
n = 1000000 – длина последовательности в битах.
M = 1000 – длина одного блока в битах.
K = 6 – число степеней свободы.
Полученные результаты:
Рис.3.13 Линейные сложности для 1000 блоков последовательности.
Как показывает Рис. 3.13, большинство линейных сложностей также имеют значения в окрестности 500, что говорит о том, что тестируемая последовательность очень близка к случайной, т.к. для случайной конечной последовательности длиной n линейная сложность близка к n/2.
Тестовая статистика
.
Пропорциональность
Значение
v0 = 9; 0,009 0,01047
v1 = 29; 0,029 0,03125
v2 = 124; 0,124 0,125
v3 = 504; 0,504 0,5
v4 = 272; 0,272 0,25
v5 = 47; 0,047 0,0625
v6 = 15; 0,015 0,02078
Р-значение = 0.2515.
Т.к. P-значение≥ 0.01, считаем последовательность случайной.
Рис. 3.14 Профиль линейной сложности для алгоритма маскирования (операция умножение).
Аналогичный тест был проведен для последовательности, выработанной с помощью модифицированного алгоритма маскирования (операция умножение).
Параметры тестирования:
n = 1000000 – длина последовательности в битах.
M = 1000 – длина одного блока в битах.
K = 6 – число степеней свободы.
Полученные результаты:
Рис.3.15 Линейные сложности для 1000 блоков последовательности.
Как показывает Рис. 3.15, большинство линейных сложностей также имеют значения в окрестности 500, что говорит о том, что тестируемая последовательность очень близка к случайной, т.к. для случайной конечной последовательности длиной n линейная сложность близка к n/2.
Тестовая статистика
.
Пропорциональность
Значение
v0 = 6; 0,006 0,01047
v1 = 25; 0,025 0,03125
v2 = 116; 0,116 0,125
v3 = 508; 0,508 0,5
v4 = 260; 0,260 0,25
v5 = 60; 0,060 0,0625
v6 = 25; 0,025 0,02078
Р-значение = 0.5099.
Т.к. P-значение≥ 0.01, считаем последовательность случайной.
Рис. 3.16 Профиль линейной сложности для алгоритма маскирования (операция умножение).