- •Пояснительная Записка
- •1 Введение 6
- •5.3 Расчет 117
- •Введение
- •Исследовательская часть
- •Структура подсистемы защиты информации в системе глобальной спутниковой связи и методы обеспечения средств мониторинга и управления объектами защиты информации
- •Описание среды комплекса спутниковой глобальной радиосвязи и выявление целей защиты информации
- •Состав и структура подсистемы защиты информации в комплексе спутниковой глобальной радиосвязи.
- •Прослушивание второго рода, как метод построения эффективных атак на систему связи.
- •Алгоритм массирования – как метод защиты от прослушивания второго рода.
- •Линейные кодовые последовательности.
- •Нелинейные кодовые последовательности.
- •Однократное гаммирование.
- •Требования к алгоритму маскирования.
- •Специальная часть
- •Основные требования.
- •Соответствие предъявляемому уровню безопастности.
- •Построение на основе использования криптографии симметричных ключей.
- •Описание.
- •Математическое описание.
- •Описание параметров.
- •Формирование ключа.
- •Разворачивание ключа.
- •Определение времени жизни сеансовых ключей
- •Программная и аппаратная гибкость реализации
- •Оценка сложности программной и аппаратной реализации
- •Вычислительная сложность (скорость) зашифрования/расшифрования
- •Оценочное время выполнения зашифрования/расшифрования блока данных
- •Оценочная скорость алгоритма в виде числа тактов работы процессора
- •Скорость выполнения зашифрования/расшифрования блока данных
- •Пакет тестов Национального института стандартов и технологий (nist)
- •Частотный тест.
- •Тест на самую длинную серию единиц в блоке.
- •Тест ранга двоичных матриц.
- •Тест с дискретным преобразованием Фурье (спектральный тест).
- •Универсальный статистический тест Маурэра.
- •Сжатие при помощи алгоритма Лемпела-Зива.
- •Тест линейной сложности.
- •Результаты тестирования
- •Результаты проведения тестов
- •Спектральный тест
- •Тест линейной сложности
- •Технологический раздел
- •Введение
- •Общие принципы тестирования
- •Общие методики оценки качества алгоритма маскирования данных
- •Графические тесты
- •Гистограмма распределения элементов
- •Распределение на плоскости
- •Проверка серий
- •Проверка на монотонность
- •Оценочные тесты
- •Методы тестирования алгоритма маскирования данных
- •Система оценки статистических свойств
- •Оценка результатов тестирования
- •Генерация последовательностей для тестирования
- •Исполнение набора статистических тестов
- •Анализ прохождения статистических тестов
- •Организационно-экономический раздел
- •Введение
- •Теоретическая часть
- •Оценка затрат на разработку по
- •Составляющие затрат на программный продукт
- •Составляющие затрат на разработку программ Ср.
- •Затраты на непосредственную разработку кп
- •Сложность комплекса программ
- •Применение современных методов разработки кп.
- •Факторы организации процесса разработки кп, влияющие на непосредственные затраты при создании сложных программ.
- •Затраты на изготовление опытного образца как продукции производственно-технического назначения.
- •Затраты на технологию и программные средства автоматизации разработки комплекса программ.
- •Составляющие затрат на эксплуатацию программ, влияющие на процесс их разработки.
- •Исходные данные
- •Расчёт затрат
- •1)Составляющие затрат на разработку программ:
- •2) Затраты на эксплуатацию программ:
- •3) Накладные расходы
- •Производственно-экологическая безопасность
- •Введение
- •Машинный зал и рабочее место программиста
- •Вредные факторы, присутствующие на рабочем месте и их классификация
- •Вредные производственные воздействия
- •Электрическая опасность
- •Нерациональность освещения
- •Расчет искусственного освещения методом коэффициента использования светового потока
- •Психофизические факторы
- •Микроклимат
- •Посторонние шумы
- •Постороннее электромагнитное излучение
- •Химические факторы
- •Эргономические требования
- •Эргономика окружающей среды
- •Экологическая безопасность
- •Заключение
- •Литература
- •Приложение 1
- •Приложение 2
- •Приложение 3
Тест ранга двоичных матриц.
Цель теста
Суть теста – ранг отдельных подматриц всей последовательности. Цель этого теста – проверить на линейность зависимость среди подстрок постоянной длины исходной последовательности. Заметим, что этот тест также присутствует в серии тестов DIEHARD.
Вызов функции
Rank(n), где:
n Длина строки бит.
Последовательность бит, вырабатываемая генератором случайных чисел, который тестируется; = 1, 2, … , n.
M Число строк в каждой матрице. Для ряда тестов, M устанавливается равной 32. Если используются другие значения M, необходимо вычислять новые приближения.
Q Число столбцов в каждой матрице. Для ряда тестов, Q устанавливается равной 32. Если используются другие значения Q, необходимо вычислять новые приближения.
Тестовая статистика.
: Мера того, насколько хорошо исследуемое число рангов различных порядков соответствует ожидаемому числу рангов случайной последовательности.
Соответствующее распределение для тестовой статистики – это распределение .
Описание теста
(1) Последовательно делим последовательность на MQ-битные отдельные блоки; будет таких блоков. Отброшенные биты в дальнейших вычислениях не используются. ПредставляемMQ-битные сегменты в виде матриц M Q.
Каждая строка матрицы заполнена Q-битными блоками исходной последовательности ε.
Например, если n = 20, M = Q = 3, и ε = 01011001001010101101, то делим поток на N = матрицы размерностью MQ (33 = 9). Заметим, что последние два бита последовательности (0 и 1) отбрасываются. Получившиеся матрицы : и.
(2) Определяем двоичный ранг каждой матрицы, гдеl=1,…,N. Метод определения ранга описан в приложении А.
Для нашего примера, ранг первой матрицы равен 2 (R1 = 2), ранг второй матрицы равен 3 (R2 = 3).
(3) Обозначим FM = число матриц с рангом = M (max ранг),
FM-1 = число матриц с рангом = M-1 (max ранг - 1),
N – FM - FM-1 = число оставшихся матриц.
Для нашего примера, FM = F3 = 1 (R2 имеет max ранг 3), FM-1 = F2 = 1 (R1
имеет ранг 2), и нет матриц, имеющих любой меньший ранг.
(4) Вычисляется
.
Для нашего примера,
(5) Вычисляем Р-значение = . Т.к. в примере 3 класса, P-значение для примера равно igamc.
Для нашего примера, Р-значение = .
Правило принятия решения (1%- уровень)
Если вычисленное P-значение < 0.01, то считаем, что последовательность неслучайна. В противном случае, считаем, что последовательность случайна.
Выводы и интерпретация результатов.
Т.к. вычисленное на шаге 5 пункта 4 P-значение 0.01 (P-значениеe = 0.741948), делаем вывод, что последовательность случайна.
Заметим, что большие значения (и, следовательно, маленькие P-значения) указывают на отклонение распределения ранга от распределения ранга в случайной последовательности.
Рекомендации
Вероятности для M = Q = 32 были вычислены и введены в тесте. Могут быть выбраны и другие значения для M и Q, но необходимо будет вычислить новые вероятности. Минимальное число бит в тестируемой последовательности должно быть n ≥38MQ (т.е., должно быть по крайней мере 38 матриц). Для M = Q = 32, каждая тестируемая последовательность должна состоять минимум из 38912 бит.