Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Физика полупроводниковых систем. Основные понятия

.pdf
Скачиваний:
0
Добавлен:
08.09.2026
Размер:
2 Мб
Скачать
☆
Делокализованные электронные состояния. Энергетические зоны 91
мов каждый атомный уровень расщепляется на N уровней, кото­рые образуют квазинепрерывную разрешенную зону или ее часть. Электроны заполняют разрешенные зоны энергий в соответствии с принципом Паули: на N уровнях зоны может находиться не бо- лее 2N электронов. Свойства кристалла зависят от числа электро­нов в зоне проводимости и/или от числа незаполненных уровней энергии (вакансий для электронов) в валентной зоне. Если энер­гетическая зона заполнена электронами частично, то под действи­ем внешнего электрического поля они перераспределяются по со­стояниям в зоне. При этом нарушается симметрия распределения электронов по скоростям — возникает электрический ток. Поэтому кристалл с частично заполненной c-зоной является проводником электричества — металлом. Электроны в полностью заполненной v-зоне из-за принципа Паули не могут перераспределяться по уров­ням энергии; кристалл с пустой c-зоной и полностью заполненной электронами v-зоной является диэлектриком (изолятором). Если тепловой энергии kBT достаточно для перевода части электронов из v-зоны в c-зону (при kBT ∼ Eg), электропроводность кристалла будет увеличиваться при его нагревании. Такой кристалл явля­ется полупроводником. Если c- и v-зоны слабо перекрываются, кристалл является полуметаллом (например, Bi), а если эти зоны смыкаются (Eg= 0) — бесщелевым полупроводником (α-Sn, гра­фен). Зонная теория — приближение к решению исходной задачи: вывести свойства кристалла из свойств составляющих его атомов.
# Эффект корреляции спинов в конденсированных системах: а) два электрона с противоположно направленными спинами стре­мятся подойти друг к другу (притягиваются), б) два электрона с одинаково направленными спинами стремятся держаться вдали друг от друга (отталкиваются).
# В одноэлектронной модели (по Хартри – Фоку) кристаллическо­го металла энергия, приходящаяся на один электрон проводи- мости (электрон c-зоны), есть
Ece= E
где E и электронов, E
— энергия кулоновского взаимодействия ионных остовов
cor
= 3EF/5 — средняя кинетическая энергия элек-
kin
трона вырожденного ферми-газа, EF— энергия Ферми, E
cor
+ E
kin
+ E
exc
,
— об-
exc
менная энергия взаимодействия между электронами. # Энергия обменного взаимодействия электронов c-зоны кри-
сталлического полупроводника E
< 0 обусловлена симметрией
exc
92 Глава 5
волновой функции электронов относительно их перестановок в пространстве координат. В квазиклассическом приближении кван­товой механики блоховские волновые функции электронов c-зо­ны полупроводника заменяются плоскими электронными волна­ми (приближение эффективной массы для электронов). При этих условиях одноэлектронная обменная энергия вырожденного газа электронов c-зоны (в пределе нулевой абсолютной температуры) есть E нового вектора kF= (3π2n/ν)
= −3e2kF/8π2εrε0, где величина фермиевского квазивол-
exc
1/3
, n — концентрация электронов во всех ν долинах c-зоны, εr— низкочастотная относительная диэлек­трическая проницаемость кристаллической матрицы, ε0— электри­ческая постоянная (Дж. Слэтер; 1951 г.).
# Теория перколяции (протекания) описывает возникновение и свойства бесконечных связных структур (кластеров), состоящих из отдельных элементов (С. Бродбент и Дж. Хаммерсли; 1957 г.). Теория перколяции оперирует с моделями физической реальности. Группы моделей теории перколяции, имеющие общие черты в ме­тодике своего построения и используемых при этом формулиров­ках, называются задачами теории перколяции. Система в теории перколяции включает: 1) элементы (часто такие элементы груп­пируются по двум взаимно исключающим признакам: черные и белые узлы, разорванные и целые ребра решеток); 2) связь между элементами; 3) расположение элементов в пространстве. В зави­симости от того, из каких элементов состоит система, в рамках теории перколяции выделяют: задачи узлов, задачи связей, задачи сфер, континуальные задачи. В задачах узлов такими элемента­ми являются узлы решетки, в задачах связей — ребра решеток. В задачах сфер кластеры формируются из сфер определенного радиуса, а в континуальных задачах — из точек пространства. Соответственно, континуальные задачи можно рассматривать как предельный случай задачи сфер, когда их число увеличивается, а радиус стремится к нулю. По способу расположения элементов системы в пространстве выделяют решеточные задачи и задачи на случайных узлах. В решеточных задачах теории перколяции ме­ста, занимаемые элементами системы, упорядочены, в задачах на случайных узлах — расположены произвольным образом. Вопро­сы, которые рассматриваются в рамках задач теории перколяции — это среднее число элементов в кластере; распределение кластеров по числу элементов, входящих в них; появление бесконечного кла­стера и доля входящих в него элементов. Доля элементов систе-
Делокализованные электронные состояния. Энергетические зоны 93
мы, обладающих определенным признаком (например, доля белых узлов), при которой в ограниченной системе впервые появляется кластер, связывающий “противоположные стороны макроскопиче­ской системы”, например электроды к ней, называется порогом протекания (или перколяции). Для ограниченной системы порог протекания является случайной величиной. Достоверное значение для порога протекания получается в результате предельного пере­хода к бесконечному числу элементов, т. е. при переходе от огра­ниченной системы к неограниченной. Таким образом, в неогра­ниченной системе на пороге протекания появляется бесконечный кластер. В окрестности порога протекания свойства системы в за­висимости от ее параметров описываются степенными законами. Показатели степеней называются критическими индексами. Чис­ленные значения порогов протекания существенно зависят от типа задач теории перколяции, однако критические индексы одинако­вы для различных задач и определяются лишь размерностью про­странства, в котором размещены элементы системы. Теория пер­коляции используется для изучения неоднородных сред со слу­чайными, но зафиксированными в пространстве и неизменными во времени свойствами. Например, на основе теории перколяции дано описание переходов парамагнетик–ферромагнетик (решеточ­ная задача узлов), переходов изолятор–металл в композиционных материалах (континуальная задача и решеточная задача связей) и прыжковой миграции электронов по неподвижным атомам водо­родоподобных примесей в кристаллических полупроводниках (за­дачи на случайных узлах). Вдали от порога протекания обычно пользуются приближением эффективной среды. Например, если характерные размеры структурных элементов каждой из фаз ге­теросистемы в конденсированном состоянии много меньше длины световой волны, то гетеросистема может быть представлена как однородная оптическая среда, а ее свойства описаны эффективной диэлектрической и магнитной проницаемостями. Различные моде­ли эффективной среды используют дополнительные предположе­ния относительно концентрации, формы и свойств каждой из ком­понент гетеросистемы. Так, в матричных гетеросистемах каждый элемент включения окружен со всех сторон средой (матрицей), и взаимодействием включений можно пренебречь.
94 Глава 5
# Энергетические зоны для электронов кристалла кремния
0
Полная энергия электрона
Расстояние между соседними атомами Si в решетке
4N состояний (sp3)
EA
E
E
E
0 электронов
c-зона
c
E
g
v
b
√
3/4
a
v-зона
4N состояний (sp3) 4N электронов
N = 8/a3= 5·1022атомов Si в 1 см
6N состояний (3p2) 2N электронов
2N состояний (3s2) 2N электронов
ext
3
int
Разрешенные энергетические зоны (полосы) электронов в кри­сталлическом кремнии образованы совокупностью уровней энер­гии атомов, “расщепившихся” в результате агломерации свободных атомов в кристаллическую структуру. Уровни энергии валентных электронов (еxt) атома расщепляются и сдвигаются сильнее, чем уровни внутренних электронов (int). Ширина запрещенной зоны
Eg— энергетическая щель между потолком валентной зоны и дном
зоны проводимости — определяется равновесным расстоянием a√3/4 между ядрами (атомными остатками), где a = 0.543 нм — постоянная кристаллической решетки (при лабораторных услови­ях). Схема расщепления уровней энергии изолированных атомов Si при уменьшении расстояния между ними (при образовании кри­сталла): Ec— дно зоны проводимости (c-зоны); Ev— потолок ва­лентной зоны (v-зоны); Eg= Ec− Ev≈ 1.1 эВ — ширина запре- щенной зоны (энергетической щели); EA ≈ 4.15 эВ — электронное сродство (энергия, выделяющаяся при захвате электрона с нуле­вой кинетической энергией из вакуума на дно c-зоны Ecкремния);
Eb≈ [ћ(12π2N)
1/3]2
/2m0≈ 12 эВ — ширина валентной зоны. Объ-
ем 1 моля кристаллического кремния — 12.04 см3.
Делокализованные электронные состояния. Энергетические зоны 95
# Закон дисперсии для электрона c-зоны кристалла
В приближении эффективной массы m для электрона волновая функция ψ, соответствующая энергии E электрона в образце, име­ющем форму куба с ребром длиной L, находится из стационарного уравнения Шредингера (УШ)
−(ћ2/2m)∂2/∂x2+ ∂2/∂y2+ ∂2/∂z
2
ψ(x, y, z) = Eψ(x, y, z).
Если принять ψ(0, y, z) = ψ(L, y, z) = 0 (и аналогично для ко­ординат y и z), то из стационарного УШ получаем волновую функ­цию ψ
ψ
lx,ly,l
где lx, ly, lz= 1, 2, 3, ...; l2= l
в виде стоячей волны и энергию Elэлектрона:
lx,ly,l
z
(x, y, z) =(2/L
z
El= (ћ2/2m)(π/L)2(l
3/2
sin(πlxx/L)sinπlyy/Lsin(πlzz/L);
)
2
2
+ l
x
2
+ l
x
2
+ l
) = (ћ2/2m)(πl/L)2,
y
z
2
2
+ l
.
y
z
Если принять ψ(x, y, z) = ψ(x + L, y, z) (и аналогично для ко- ординат y и z), то из нестационарного УШ получаем волновую
функцию ψk(x, y, z, t) = L
−3/2
exp[i(k·r −(Ek/ћ)t)] в виде бегущей
волны с квазиимпульсом p = ћk и энергию Ekэлектрона
2
2
Ek= Ek= (ћk)2/2m = (ћ2/2m)(k
x
+ k
y
+ k
2
),
z
где r — радиус-вектор, t — время, kx, ky, kz= 0, ±2π/L, ±4π/L, ... .
Если L a, где a — постоянная кристаллической решетки, то для электрона с тепловой энергией E = 3kBT/2 и m = m0получаем
l = L(2mE)
1/2
/πћ ≈ 106(при температуре T ≈ 300 К и L ≈ 1 см), при этом одноэлектронная энергия E квазинепрерывно зависит от l (или k). Каждому состоянию {kx, ky, kz} соответствует элемент объема (2π/L)3в k-пространстве, так что число состояний в сфере объемом 4πk3/3 равно (4πk3/3)/(2π/L)3. Число состояний g3dE в интервале энергий (E, E + dE) для E Ebс учетом двукратного вырождения каждого из них по спину есть:
d
4πk3/3
g3dE = 2
dk
(2π/L)
а) б)
E
E
b
dk
3
dE = L
dE
4π(2m)
3
g
(2πћ)
3
3/2
3
√
E dE.
−π/a
k
0
π/a
x
0
E
E
b
а), б) Закон дисперсии E(kx) и плотность одноэлектронных состо­яний g3в кристалле; Eb— энергетическая ширина c-зоны.
96 Глава 5
# Зависимости одноэлектронной энергии E от волнового вектора k и одноэлектронной плотности состояний g от E в пределах первой зоны Бриллюэна кристаллических материалов: непрямозонного по­лупроводника (а), бесщелевого прямозонного полупроводника (б), полуметалла (в) и металла (г). Обозначения: EF— химический потенциал (уровень Ферми), mnd, mpd— эффективная масса плот­ности состояний электрона c-зоны (e−) и дырки v-зоны (h+).
а)
б)
в)
c-зона
v-зона
−
e
Ec, E
E
gn∝ m
E
c
E
mnd= 6
F
E
v
c-Si
3/2
(E − Ec)
nd
2/3(m2
⊥
mk)
1/2
1/3
g
E
α-Sn
mpd m
E
F
v
gp∝ m
nd
3/2
(Ev− E)
pd
1/2
g
E
E
Ec(k)
E
F
E
g
k
E
Ec(k)
E
F
Ev(k)
k
E
Bi
+
+
h
h
E
F
−
e
E
F
mpd m
v-зона
nd
г)
k
E
E
F
Ev(k)
E
E
F
E
c
E
v
c-зона
Cu
mnd≈ m
k
g
0
g
Делокализованные электронные состояния. Энергетические зоны 97
Концентрация электронов в c-зоне — зоне разрешенных значе­ний энергии делокализованных (свободных) электронов — трех-
мерного кристаллического образца объемом V есть:
n =
(2π)
Z
2
fFD(Ek) dkxdkydkz=
3
BZ
V
Z
1
g(Ek)fFD(Ek) dEk,
BZ
где интегрирование проводится в пределах 1-й зоны Бриллюэна; fFD= 1/{1 + exp[(Ek− EF)/kBT]} — распределение Ферми – Ди- рака, EF— уровень Ферми, kBT — тепловая энергия, g(Ek) =
= V m
3/2
(2Ek)
1/2
/(π2ћ3) — одноэлектронная плотность состояний в расчете на две возможные ориентации спина электрона с ква­зиволновым вектором k, эффективной массой m и кинетической энергией Ek= E = (ћk)2/2m. Размерность n — (длина)−3.
а) Концентрация электронов niи дырок piв собственном (неле- гированном) полупроводнике с шириной запрещенной зоны (энер­гетической щели) Eg= Ec− Ev> 0 при температуре T равна
ni= pi= 2(mnmp)
3/4
2πkBT (2πћ)
3/2
2
exp
−E
2kBT
g
,
где mn(= mnd), mp(= mpd) — эффективные массы плотности состо­яний для электронов (n) и дырок (p); уровень Ферми EF= −Eg/2+
+ (3/4)kBT ln(mp/mn) отсчитывается от дна c-зоны Ec= 0.
б) В типичном бесщелевом полупроводнике (сером олове = = α-Sn) mn mpи уровень Ферми EF> 0 расположен в c-зоне:
m m
p
n
2πmpkBT
(2πћ)
#
3/2
3π2ћ
3/2
3
"
; pi≈ 2
(2mnEF)
ni≈
Из условия электрической нейтральности ni= piследует:
3√π
EF≈ kBT ln
4
3/2
2
exp
, так что ni∝ T
−E
kBT
3/2
F
.
.
в) В полуметаллах концентрация электронов c-зоны niравна концентрации дырок v-зоны pi. Число подвижных электронов и
дырок на атом по порядку величины составляет от 10−5до 10−3.
г) Концентрация электронов проводимости ni∝ E
3/2
F
в соб­ственном (нелегированном) металле равна концентрации ионных остовов матрицы и практически не зависит от температуры:
ni=
V
Z
∞
1
g(E)fFD(E, EF) dE ≈
0
V
Z
E
F
1
(2mnEF)
g(E) dE =
0
3π2ћ
3/2
.
3
98 Глава 5
PSfrag replacements
PSfrag replacements
PSfrag replacements
# Зависимость одноэлектронной энергии E от квазиимпульса p = (px, py) при pz=const в кристаллических полупроводниках:
приближение эффективной массы для электронов и дырок
а) Зонная диаграмма полупроводника с изотропной (сфериче-
ски симметричной) массой электрона mnу дна c-зоны Ec(0), где px= 0 соответствует центру зоны Бриллюэна.
p
E
Ec(px)
y
Ec=
1
2m
2
2
(p
+p
)
x
n
y
б) Полупроводник с изотропной массой дырки mpу потолка
v-зоны Ev(0) при px= 0.
в) Многодолинный полупроводник с поперечной (mt) и про-
дольной (ml) эффективными массами электрона c-зоны.
г) Полупроводник с вырожденным потолком v-зоны (1 и 2 —
подзоны тяжелых (hh) и легких (lh) дырок соответственно, 3 — подзона спин-орбитального расщепления ∆soпотолка v-зоны). По­казаны изоэнергетические контуры Ehh, Elhи E
∆
Ev=
Ec=
p
l
.
p
p
p
2m
p
E
x
2m
x
2
t
x
hh
E
p
1
2
2
(p
+p
)
x
p
2m
y
2
l
l
p
+
t
lh
x
0
Ec(px)
p
x
p
x
Ev(px)
p
y
0
p
y
p
t
0
E
0
E
0
0
E
0
p
x
soh
p
y
p
x
1
2
1
so
Ev(px)
3
0
2
3
E
soh
Делокализованные электронные состояния. Энергетические зоны 99
# Ионизационное равновесие в слабо легированном невырож­денном кристаллическом полупроводнике p-типа
1. Условие электрической нейтральности полупроводника:
p + KNa= N
где p — концентрация дырок v-зоны, Na= N
a,−1
,
a,0
+ N
— концен-
a,−1
трация водородоподобных акцепторов в зарядовых состояниях (0) и (−1); K = Nd/Na< 1 — отношение концентрации водородоподоб­ных доноров Nd= N
, полностью находящихся в зарядовом со-
d,+1
стоянии (+1), к концентрации акцепторов (основной примеси).
2. Концентрация дырок v-зоны для невырожденного полупро-
водника (уровень Ферми EF< 0 отсчитывается от потолка v-зоны):
p = pvexp
E
F
kBT
2(2πmpdkBT)
=
(2πћ)
3/2
3
exp
E
F
kBT
,
где kB— постоянная Больцмана, T — абсолютная температура,
mpd— эффективная масса плотности состояний дырки (при учете
тяжелых и легких дырок), |EF| > 3kBT, ћ — постоянная Планка.
3. Концентрация отрицательно заряженных акцепторов
N
N
a,−1
=
1 + γa(lt) exp[(Ea+ EF)/kBT]
где Ea> 0 — уровень энергии основного (невозбужденного) состо­яния акцептора, γa(lt) = γa(l =1)
a
P
l
t
l2exp[(1 − l2)Ia/l2kBT]; чис-
l=1
= Na− N
a,0
,
ло l нумерует возбужденные состояния акцепторов в зарядовом состоянии (0), lt= (Rim/aH)
денных состояний, Rim≈ 0.62[(1+K)Na]
1/2
> 1 — максимальное число возбуж-
−1/3
— радиус сферической области в кристаллической матрице, приходящейся на один атом примеси, aH= e2/8πεrε0Ia— боровский радиус дырки на акцепто­ре, εrε0— диэлектрическая проницаемость матрицы, Ia— энергия ионизации одиночного (уединенного) акцептора.
4. При низких температурах (когда p K(1 − K)Na) из условий
(1–3) имеем:
p = p
где pv= 2.5·1019(mpd/m0)
(1 −K)
v
γaK
3/2
(T/300)
exp−
3/2см−3
E
a
,
kBT
; γa= 4 (для основного состояния типичных акцепторов — атомов бора, галлия и алюми­ния, замещающих атомы кристаллической матрицы в кремнии и германии); Ea= (1 − aH/Rim)Ia— зависящая от концентрации всех примесей (Na+ Nd) энергия термической ионизации акцепторов.
Глава 6. Поверхность. Пленки, нити, наночастицы
# Идеальная поверхность кристалла представляет собой дву- мерное расположение атомов с тем же трансляционным периодом, что и внутри кристалла для параллельной поверхности атомной плоскости. Реальная поверхность кристалла представляет сверх­структуру, созданную перегруппировкой атомов поверхности. Сле­довательно, можно определить элементарные возбуждения, кото- рые локализованы в узкой области в направлении нормали к по­верхности, но распространяются вдоль поверхности. Эти элемен-
тарные возбуждения условно подразделяют на одночастичные возбуждения (электроны и/или дырки), локализованные в поверх-
ностных состояниях; коллективные возбуждения (поверхностные плазмоны, как коллективные возбуждения электронного (дыроч­ного) газа вблизи поверхности, поверхностные фононы и т. д.).
# Поверхностные (таммовские) состояния — двумерные состо- яния электронов и/или дырок, возникающие на чистой поверх­ности кристалла из-за обрыва кристаллической решетки. Уровни энергии этих состояний всегда попадают в энергетические зоны, запрещенные для электронов объема с тем же значением компо­ненты квазиволнового вектора вдоль поверхности kk(это, однако, не противоречит существованию в объеме кристалла разрешенных состояний с той же энергией, что и таммовские, но с другими значениями kk). Таммовские состояния образуют поверхностные энергетические зоны, состоящие из близко расположенных уров­ней энергии, соответствующих различным kk.
# Различают два вида адсорбции: 1) физсорбция, при которой отсутствует перенос электронов между адсорбатом и адсорбентом, и силы притяжения между ними являются поляризационными;
2) хемосорбция — при наличии электронного переноса, т. е. хи­мической реакции между адсорбатом и адсорбентом, и силы при­тяжения при этом имеют ту же природу, что и в соответствующей химической связи. Энергия связи (или энергия десорбции) при фи­зической адсорбции меньше, чем при химической.
# Пористость — отношение объема открытых пор (связанных с внешней средой даже на уровне отдельных молекул) к общему объему пористого материала. Поры отличаются от трещин тем,
100