книги из ГПНТБ / Гласкер, Дж. Анализ кристаллической структуры

ния 1924 г.). Гл. 1. История. Описание эксперимента Лауэ, впер­ вые опубликованное в 1915 г.

21. [17]. Lonsdale К., 1949. Гл. 1. Исторический очерк экспе­ риментов фон Лауэ и Брэггов, стр. 7— 18. Подчеркнуто значение эксперимента фон Лауэ как примера оригинального и фундамен­ тального исследования. Приведены лауэграммы сульфата меди.

Физика дифракции

22. Jenkins F. A., White Н. Е. Fundamentals of Optics. McGraw-Hill Book Co., New York, Ch. 11, 12, 13, pp. 191—260; Ch. 15, 16, 17, pp. 288—352, 1957. Изложение физических основ дифракции света. Рассмотрены: свет как волновое движение, су­ перпозиция волн, интерференция двух пучков света; дифракция Фраунгофера от одного отверстия, двойной щели и дифракцион­

ной решетки.

23. Фейнман Р., Лейтон Р., Сэндс М., Фейнмановские лекции по физике, т. 1, вып. 3, гл. 29, 30, 31, стр. 47— 100, «Мир», М., 1967. Обсжудение интерференции, дифракции и рефракции. Пока­ зано, что при дифракции небольшое отверстие можно рассматри­ вать как набор источников, расположенных в определенном порядке.

Рентгеновские лучи

действия с материей.

25. Azdroff L. V., Elements of X-ray Crystallography.

новских лучей. Эмиссия рентгеновских лучей, стр. 103— 130. По­ дробно обсуждено получение рентгеновских лучей и их свойства.

Дифракция в кристаллах

26. Холден А., Что такое ФТТ? Основы современной физики твердого тела. «Мир», М., 1971. Гл. 4. Порядок, стр. 54—73. В главе обсуждены волновая теория рентгеновских лучей и атом­ ная теория кристаллов,

27. [17] Lonsdale К., 1949. Гл. 5. Рассеяние рентгеновских лу­ чей атомами, стр. 104— 108. Гл. 6. Формулы интенсивности, стр. 116— 119. Приведены формулы интенсивностей дифрагирован­ ных пучков.

28.Джеймс Р. Оптические принципы дифракции рентгенов­ ских лучей. М., ИЛ, 1950. Гл. 1. Теория дифракции, стр. 7—29. Математический анализ геометрической картины дифракции на простой пространственной решетке, основанный на использовании векторов.

29.[24]. Azaroff L. V., 1968. Гл. 8. Рассеяние рентгеновских

лучей атомами, стр. 155— 184; Гл. 9. Дифракция рентгеновских лучей в идеальных кристаллах, стр. 186—226. Рассмотрены коэф­ фициенты в формуле для интенсивностей.

6*. [1*]. Китайгородский А. И., 1950. Гл. 3. Дифракция,

стр. 203—388. Обсуждены вопросы дифракции рентгеновских лу­ чей в кристаллах, атомные и структурные факторы, поглощение и другие вопросы.

7*. [2*]. Бокий Г. Б., Порай-Кошиц М. А., 1964, Гл. 9. Ди­ фракция, стр. 175— 191.

8*. Шишаков Н. А., Основные понятия структурного анализа, изд. АН СССР, 1961, Гл. 2. Основы теории рассеяния рентгенов­ ских лучей, стр. 31—98.

9*. Вустер У., Диффузное рассеяние рентгеновских лучей п кристаллах. ИЛ, М., 1963. Гл. 1. Общее рассмотрение, стр. 19—98.

Дифракция и обратная решетка

30. Klug Н. Р., Alexander L. Е., X-ray Diffraction Procedure for Polycrystalline and Amorphous Materials. John Wiley and Sons, New York, 1954. Гл. 3. Фундаментальные принципы дифрак­ ции рентгеновских лучей, стр. 111— 125. При выводе условий дифракции использовано понятие сферы отражения на обратной решетке.

31. [17]. Lonsdale К., 1949. Гл. 4. Что такое обратная решет­ ка? стр. 84—94. Описаны сфера отражения и обратная решетка.

10*. Гинье А., Рентгенография кристаллов. Физматгиз, М. 1961. Гл. 3. Теория дифракции, стр. 75— 143. Подробно обсуждены обратная решетка, сфера Эвальда и условия дифракции рентге­ новских лучей в кристаллах.

11*. [5*]. Жданов Г. С., 1940. Часть II. Теория интерференции рентгеновских лучей, стр. 133— 165.

Фурье-преобразование и его обращение

32. Taylor С. A., Lipson Н., Optical Transforms. Their Prepa­ ration and Application to X-ray Diffraction Problems, G. Bell and Sons, London, 1964. Эти книгу стоит по меньшей мере полностью просмотреть. Одна из лучших иллюстраций, по которой модечр

получить представление, каким проблемам посвящена книга, —

вкниге рис. 9.

33.Amoros J., Amoros М., Molecular Crystals, Their Trans­

показано, каким образом можно получить дифракционную кар­ тину двумерной решетки, если «размножить» дифракционную кар­ тину от одного маленького диска, помещенного в какой-либо точке обратной решетки; на втором рисунке показана дифрак­

Приготовление кристаллов

35. Holden A., Singer Р., Crystals and Crystal Growing, An­ chor Books, Doubleday and Co., Garden City, New York, 1960.

их свойства, стр. 62—82. Некоторые методы выращивания кри­ сталлов, выбора кристаллов, подходящих для рентгеновских ис­ следований; механическая обработка монокристалла с целью по­ лучения простых поправок на поглощение; установка кристалла

вкамере.

37.[2]. Holmes К. С., Blow D. М., 1966. Приготовление кри­

сталлических образцов, стр. 174— 179. Методы получения кри­ сталлов белков и способы их укрепления в капиллярах, так чтобы они находились в контакте .с маточным раствором.

38.Strickland-Constable R. F., Kinetics and Mechanism of Crystallization. Academic Press, New York, 1968. Гл. 1. Общее введение в предмет, стр. 7—38. Обсуждение принципов роста кристаллов из расплавов, паров и растворов.

39.Rydman R., Topics in Chemical Instrumentation X-ray

Diffraction Analysis. J. of Chemical Education, Vol. 44, 1967. I. Безопасность и источники, стр. А7—А43. II. Рентгеновские трубки и монохроматизация, стр. А99—А122. III. Детекторы, стр. А187—А212. IV. Порошковые камеры и техника, стр. А289— А313. V. Техника монокристалла, стр. А399—А436. VI. Метод монокристалла и другие методы, стр. А499—А530. Исчерпываю­ щий обзор экспериментальных методов и приборов, используе­ мых на различных этапах рентгеноструктурного анализа.В связи с различными экспериментальными методами обсуждены и неко­ торые теоретические положения.

40. Woolfson М. М., X-ray Crystallography. Cambridge Univ. Press, Cambridge, 1970. Гл. 5. Экспериментальное получение ди­ фракционных данных, стр. 125—166. Описаны методы регистрадии дифракционной картины.

451, 1968. Рассмотрены периодические функции, а затем некото­ рые одномерные кристаллы. Показано сложение синусоидальных

ных факторов, стр. 66—82. Гл. 5. Суммирование рядов Фурье; стр. 83— 108. Приведены детали вычислении структурных факто­ ров и рядов Фурье.

Симметрия

51.[5]. Интернациональные таблицы. Т. 1. 1952.

52.Phillips F. С., Introduction to Crystallography, Longsman,

Green and Co. London, 1946. Изложена. симметрия кристаллов-— от семи кристаллических систем до пространственных групп.

53. White J. £., J. of Chem. Educ., vol. 44, pp. 128— 135 (1967). В статье рассказано, как некий солдат выполняет опре­ деленные комбинации движении, образующих группу. Затем об­ суждаются точечные группы и их представление.

54. Orchin М. М., Jaffe Я. Я. Симметрия, точечные группы и таблицы характеров, J. Chem. Educ., vol. 47 (1970). 1. Симмет­

их значение, стр. 372—377. Краткий, понятный и нематематиче­ ский обзор симметрии и ее приложений в химии, включая моле­ кулярные орбитали, нормальные колебания, правила отбора и кристаллы.

55.[26]. Холден А., 1971. Гл. 5. Симметрия, стр. 74—90. Хоро­ ший обзор, иллюстрирующий идею симметрии.

56.Уитли Я., Определение молекулярной структуры. «Мир», М., 1970. Гл. I. Симметрия, стр. 9—28. Некоторые очень полезные иллюстрации точечной симметрии.

57.[4]. Lipson Я., Cochran W., 1966. Гл. 2. Представления

пространственных групп, стр. 33—36. Подробно рассмотрен при­ мер обозначений для пространственной группы ф 64 Стса, с вы­ водом эквивалентных позиций.

15*. Нокс Р., Голд А., Симметрия в твердом теле. Физматгиз, М., 1970. Гл. 9. Точечные группы, стр. 73—83. Определение и примеры точечных групп; кристаллографические точечные

группы.

16*. Шубников А. В., Копцик В. А., Симметрия в науке и

218 Список рекомендуемой литературы

кристаллографической группы 2/т ; свойства групп; простран­ ственные (федоровские) группы.

17*. Джаффе Г., Орчин М., Симметрия в химии. «Мир», М., 1967. Гл. 2. Элементы симметрии и операции симметрии, стр. 19— 43. Гл. 4. Теория групп, стр. 80— 124. Гл. 6. Симметрия кристал­ лов, стр. 173—204. В данной книге содержатся почти все сведе­ ния по симметрии и симметрическим преобразованиям, необходи­ мые студентам, аспирантам и начинающим кристаллографам.

Структурный анализ методами проб и ошибок

58. [3]. Stout G. Я., Jensen L. Н., 1968. Гл. 12. Методы проб и ошибок,, стр. 300—314. В данной главе обсуждены методы опре­ деления пробных структур для соединений, не содержащих тяже­ лого атома.

59.[1]. Bunn С. 117., 1961. Гл. 7. Определение положений атомов методом проб и ошибок, стр. 204—303. Изложены общие методы интерпретации дифракции в терминах симметрии кри­ сталла. Гл. 9. Некоторые примеры определения кристаллической структуры методом проб, стр. 323—367. Приведены некоторые примеры определения «пробной структуры» с привлечением пред­ ставлений о симметрии пространственных групп и анализа опре­ деленных сильных рефлексов и упаковки.

60.[4]. Lipson Н., Cochran W., 1966. Гл. 6. Методы проб и

ошибок, стр. 109— 143. Некоторые примеры применения этих ме­ тодов показывают большое значение пространственного анализа, учета 'физических свойств и использования кривых структурных факторов.

Функция Паттерсона

61. [19]. Patterson A. L., Experiences in Crystallography — 1924 to 1961, pp. 612—622, 1962. Краткий автобиографический очерк, показывающий настойчивость исследователя, убежденного в том, что «фурье-методы могут оказать пользу структурному анализу». Этот очерк передает радость открытия суммирования, которое теперь носит имя Паттерсона — человека, так много сделавшего для рентгеноструктурного анализа.

62.[1]. Bunn С. W., 1961. Гл. 10. Межатомные векторы, стр. 409—421. Приведены примеры вывода структур по паттерсоновским картам. Подчеркивается различие между векторным пространством и кристаллическим пространством.

63.[4]. Lipson Я., Cochran W., 1966. Гл. 1. Приложения рядов

при определении пробной структуры.

18*. Бюргер М., Структура кристаллов и векторное простран­ ство. ИЛ, М., 1961. Гл. 2. Функция Паттерсона, стр. 17—41. Дано

определение функций Паттерсона и показана их роль в рентге­ ноструктурном анализе. В дальнейших главах рассказано об ис­ пользовании функций Паттерсона в расшифровке структуры, о харкеровских сечениях и пр.

Метод изоморфного замещения

64.[2]. Holmes К. S., Blow D. М., 1966. Метод изоморфного замещения, стр. 190— 198. Дано изложение основ метода, а также технических деталей получения изоморфных кристаллов.

65.[3]. Stout G. Я., Jensen L. Я., 1968. Гл. 11. Методы тя­

желого атома, стр. 288—292. Приведены диаграммы для опреде­ ления фаз центросимметричных и нецентросимметричных структур.

Прямые методы

66. Woolfson М. М. Direct Methods in Crystallography. Oxford and Clarendon Press, 1961. Превосходная монография, включаю­ щая некоторые численные примеры. Предсказывается большое будущее «прямым методам», и эти достижения действительно

Structure Research, 1, pp. 55—89, 1964. Обзор различных подходов к проблеме аналитического вывода фазовых углов.

19*. Китайгородский А. Я., Теория структурного анализа, изд. АН СССР, М., 1957. Строгое и вполне фундаментальное изложение теории методов нахождения структуры. Большое вни­ мание уделено прямым методам и, в частности, установлению связей между знаками структурных амплитуд. Несмотря на боль­ шой прогресс, достигнутый в шестидесятых годах, эта книга не утратила теоретического значения.

Фурье-методы

68. [4]. Lipson Я., Cochran W., 1966. Гл. 12. Разностный син­ тез, стр. 331—340. Введено понятие о разностных картах элек­ тронной плотности, приведены примеры таких карт и математи­ ческие методы, применяемые для их анализа.

Ошибки

69. [3]. Stout G. Я., Jensen L. Я., 1968. Гл. 17. Случайные и систематические ошибки, стр. 399—414. Обсуждение способов определения стандартных отклонений таких величин, как элек­ тронная плотность и атомные параметры, найденные из экспери­ ментальных измерений. Рассмотрены также возможные причины систематических ошибок.

Метод наименьших квадратов

70. [4]. Lipson Н., Cochran U7., 1966. Гл. 12. Метод наимень­ ших квадратов, стр. 340—351. Дано краткое описание с число­ выми примерами и обсуждением его приложении к уточнению

структуры и интерпретации результатов.

71. [3]. Stout G. /■/., Jensen L. # ., 1968. Гл. 16. Айетод наи­ меньших квадратов, стр. 385—397. Обсуждение уравнений этого метода в матричных обозначениях, весовых функций и других практических деталей.

Аномальное рассеяние

72.[1]. Bunn С. W., 1961. Гл. 10. Абсолютная конфигурация энантиоморфных молекул, стр. 400—409. Показано различие меж­ ду энантиоморфными молекулами и объяснена причина возмож­ ности использования аномального рассеяния для установления абсолютной конфигурации таких молекул.

73.[4]. Lipson Н., Cochran W., 1966. Гл. 14. Аномальное рас­

сеяние и определение структуры, стр. 382—394. Некоторые по­ дробности использования аномального рассеяния для определе­ ния структуры.

74. [3]. Stout G. Н., Jensen L. # ., 1968. Гл. 8. Аномальная дисперсия и ее следствия, стр. 234—237. Гл. 11. Метод аномаль­ ной дисперсии, стр. 292—299. Применение аномальной дисперсии для определения фазовых углов.

Атомное и молекулярное движения

75.[4]. Lipson Н., Cochran W., 1966. Гл. 11. Эффекты тепло­ вого колебания, стр. 300—310. Обсуждается эллипсоидальный анизотропный температурный фактор и приведены числовые при­ меры, показывающие, каким образом можно определить средне­ квадратичные смещения атомов в направлениях главных осей эллипсоида. Кроме того, можно оценить и углы, образуемые этими осями и ребрами элементарной ячейки. Приведены также отно­ сительные ориентации осей эллипсоидов в различных молекулах, связанных внутри элементарной ячейки симметрическими опера­ циями пространственной группы.

76.Trueblood К. N., Diffraction Studies of Molecular Dyna­

mics in Organic Crystals. In «Molecular Dynamics and the Struc­ ture of Solids», 1969. R. S. Carter, JJ. Rush. eds. National Bureau Stand. Special Publication 301, Washington, D. C., pp. 355—379.

Краткое описание анизотропных температурных факторов, а так­ же движения молекул как целого, с обсуждением эксперимен­ тальных данных. Обсуждены также химические реакции в орга­ нических кристаллах,