
- •Введение
- •Уравнение Шредингера для стационарного случая
- •Собственные волновые функции и собственные значения оператора Гамильтон
- •Уравнение Шредингера для свободной частицы, двигающейся в направлении оси
- •Моделирование движения микрочастицы в свободном пространстве с помощью интегрального пакета прикладных программ MathCad
- •Моделирование волнового пакета Определение волнового пакета
- •Волновая функция волнового пакета
- •Моделирование волнового пакета
- •Заключение
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа №2 движение микрочастиц в поле потенциальных сил. Движение микрочастиц через потенциальный барьер Определение потенциального барьера
- •Уравнение Шредингера для частицы двигающейся через потенциальный барьер
- •Коэффициенты отражения и прозрачности.
- •Туннельный эффект
- •Лабораторное задание
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа № 3
- •Исследование зонной структуры твердых тел
- •Строение вещества и коллективизированные электроны
- •В кристалле
- •Приближения при решении уравнения Шредингера для кристалла
- •Приближение слабосвязанных электронов.
- •Движение электрона в кристаллической решетке Модель Кронига-Пенни
- •Уравнение Шредингера для модели Кронига-Пенни
- •Решение уравнения Шредингера
- •Определение волнового числа
- •Зоны Бриллюэна. Модель приведенных зон
- •Заполнение зон электронами и классификация энергетическихзон
- •Зонная структура и электрические свойства твердых тел
- •Энергетическая структура алмазоподобных полупроводников.
- •Лабораторное задание
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа №4 исследование статистических свойств носителей заряда в полупроводниках и металлах Химический потенциал невырожденного идеального газа. Энергия Ферми.
- •Распределение Ферми-Дирака при абсолютном нуле
- •Вычисление энергии Ферми
- •Изменение энергии Ферми при изменении температуры
- •Собственные и примесные полупроводники
- •Ec ev δEg запрещенная зона валентная зона зона проводимости
- •Статистика носителей заряда в собственном полупроводнике
- •Статистика носителей заряда в примесных полупроводниках
- •Уровень Ферми носителей заряда в примесном полупроводнике n-типа
- •Статистика носителей заряда в примесном полупроводнике p-типа
- •Уровень Ферми носителей заряда в примесном полупроводнике p-типа
- •Лабораторное задание:
- •Контрольные вопросы
- •Расчет концентраций равновесных носителей заряда в приконтактной области
- •Расчет уровней Ферми электронов и дырок в приконтактной области
- •Расчет потенциального барьера контакта двух полупроводников
- •Расчет концентрации неравновесных носителей заряда контакта двух полупроводников.
- •Расчет ширины области обедненной носителями заряда.
- •Расчет барьерной емкости контакта двух полупроводников
- •Расчет диффузионной длины носителей зарядов контакта двух полупроводников
- •Расчет тока проводимости контакта двух полупроводников
- •Расчет диффузионной емкости контакта двух полупроводников
- •Лабораторное задание
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа №6 исследование электропроводности транзисторной структуры Физические процессы в транзисторной структуре
- •Расчет коэффициента передачи тока транзисторной структуры
- •Расчет концентрации неосновных носителей в области базы
- •Расчет плотности тока неосновных носителей в области базы
- •Расчет токов эмиттерного и коллекторного переходов
- •Эквивалентная схема биполярного транзистора
- •Эквивалентная схема биполярного транзистора в виде четырехполюсника
- •Эквивалентная схема биполярного транзистора
- •Расчет параметров элементов эквивалентной схемы транзисторной структуры
- •Математическая модель биполярного транзистора и расчет переходов
- •Расчет электрических параметров схемы с биполярным транзистором с использованием эквивалентной схемы
- •Лабораторное задание
- •Контрольные вопросы
- •Библиографический список
- •Лабораторная работа №7 физические процессы в полевых транзисторах Конструктивные особенности полевых транзисторов с изолированным затвором
- •Физические процессы в транзисторе
- •Эффективная подвижность носителей заряда в канале
- •Концентрация подвижных носителей в области канала
- •Напряжение отсечки
- •Ширина канала полевого транзистора
- •Вольтамперная характеристика полевого транзистора
- •Входная и выходная характеристики полевого транзистора
- •Лабораторное задание
- •Содержание
Эквивалентная схема биполярного транзистора
Эквивалентная схема биполярного транзистора может быть пред-ставлена эквивалентной схемой четырехполюсника с эквивалентным источником тока.
Рис. 10. Эквивалентная схема биполярного транзистора включенного по схеме с общей базой
На этой схеме
величина
является коэффициентом передачи по
току. Данная эквивалентная схема
является дифференциальной, так как
определяется через отклонения токов
,
от устойчивых со-стояний I1,
I2.
Данная эквивалентная схема не учитывает
такие режи-мы работы транзистора, как
насыщение и отсечка.
Для учета этих режимов в эмиттерную и коллекторную цепи эк-вивалентной схемы включают идеальные диоды. Эти диоды обладают в прямом направлении нулевым сопротивлением и бесконечно боль-шим в обратном направлении.
Рис. 11. Полная эквивалентная схема биполярного транзистора
Кроме диодов эквивалентная схема включает емкости эмиттер-ного CЭБ и коллекторного CКБ переходов, которые определяются барь-ерной и диффузионной емкостями переходов.
Эквивалентная схема позволяет аппроксимировать транзистор в пределах всего диапазона характеристик и может применяться как для расчета при большом сигнале, так и для нахождения устойчивой рабо-чей точки.
Расчет параметров элементов эквивалентной схемы транзисторной структуры
Резисторы эквивалентной схемы биполярного транзистора RЭ, RК, RБ определяются проводимостью соответственно эмиттерной, коллек-торной и базовой областями транзисторной структуры. Значения этих резисторов определяются:
,
(42)
,
(43)
,
(44)
где S – площадь транзисторной структуры;
lЭ, lК, lБ – протяженность эмиттерной, коллекторной и базовой облас-тей соответственно.
Резисторы RЭБ, RКБ определяются сопротивлениями утечки эмит-терного и коллекторного переходов. Величины этих резисторов зави-сят от собственной проводимости полупроводникового материала транзисторной структуры.
,
(45)
,
(46)
где lЭБ, lКБ – протяженности эмиттерного и коллекторного переходов соответственно.
Емкости CЭБ, CКБ – определяются диффузионными и барьерными емкостями эмиттерного и коллекторного переходов:
,
(47)
,
(48)
где
,
– барьерная и диффузионная емкости
эмиттерного пе-рехода;
,
– барьерная и диффузионная емкости
коллекторного пере-хода.
Математическая модель биполярного транзистора и расчет переходов
Рассматривая различные режимы работы транзисторной структу-ры, следует отметить, что в режиме усиления эмиттерный переход яв-ляется открытым, а коллекторный – закрытым.
При насыщении оба перехода являются открытыми, и транзистор представляет собой прибор с малым сопротивлением.
Полные характеристики биполярного транзистора могут быть со-ставлены из двух систем характеристик – характеристик эмиттерного перехода и характеристик коллекторного перехода. Эти характеристи-ки определяются следующими соотношениями:
.
(49)
. (50)
Эти соотношения совместно с выражениями для емкостей пере-ходов определяют математическую модель биполярного транзистора.
Соотношение, определяющее зависимость тока эмиттера IЭ от на-пряжения эмиттер-база uЭБ получило название входной характеристи-ки транзистора. Семейство входных характеристик обладает малым разбросом при изменении напряжения uКБ. Это определяется слабым влиянием напряжения коллектор-база на ток эмиттера, на что, и в свою очередь, влияет отрицательный показатель экспоненты.
Соотношение, определяющее зависимость тока коллектора IК от напряжения коллектор-база, является выходной характеристикой би-полярного транзистора. Эта характеристика в значительной степени зависит от напряжения эмиттер-база.