книги из ГПНТБ / Верещагин, И. К. Электролюминесценция кристаллов
.pdfв предыдущий полупериод. В этой схеме предполагается, что большинство освобожденных дырок имеют возможность вернуться к центрам свечения.
Небольшие световые пики, появляющиеся после вы ключения каждого импульса, могут быть связаны с воз вращением к центрам свечения электронов, освобожден ных теплом и перемещаемых полем поляризации, которое присутствует в промежутках между импульсами.
Форма световых пиков определяется временной зави симостью электронного тока от противоположного края кристалла и изменением со временем числа дырок на уров нях центров свечения. Поток электронов может состоять, очевидно, как из электронов, освобожденных полем из ловушек (малые напряжения), так и образовавшихся вследствие ионизации (более высокие напряжения). Тог да по мере роста напряжения в пределах фронта импуль са в область скопления дырок устремятся сначала элект роны, освобожденные из ловушек, а позже — преимущест венно появившиеся вследствие ионизации. В веществах с большой концентрацией глубоких ловушек и большим се чением захвата электронов первые приходящие в область скопления дырок электроны будут захвачены ловушками, причем за короткое время импульса (менее мсек) ловушки глубиной в несколько десятых электрон-вольт не будут освобождены теплом при комнатной температуре. Тогда основная часть рекомбинаций в левой части образца на рис. 15.2, в произойдет только после начала ионизации в правой части кристалла. Подобные условия рекомбина ции осуществляются в обычных ZnS-люминофорах, что вытекает из ряда наблюдений (§ 32).
Мгновенная яркость свечения L (t) будет пропорцио нальна как числу оставшихся к моменту t ионизованных центров свечения р (t), так и концентрации электронов п (t) в той же области кристалла, причем п изменяется независимо от р и определяется напряжением на кристал ле и величиной G (t). Если р убывает только вследствие рекомбинации, то
о
о
110
где L выражено в числах квантов за секунду, у — коэф фициент, а р 0 — концентрация дырок в момент начала рекомбинации, когда t — 0. Если рекомбинация происхо дит у самой границы кристалла с двумя одинаковыми барьерами, то концентрация электронов п у вершины то го барьера, который включен в прямом направлении
L,G,B
Рис. 15.3. Изменение скорости генерации G и мгновенной яркости свечения
L в пределах прямоугольного импульса напряжения длительностью |
I. 1,2, |
2 — L (1) при напряжении У = 60, 70 и 80 в соответственно; 4 , 5 , 6 |
— G (О |
при тех же V; 7, s — зависимости средней яркости В от длительности разно полярных импульсов t (V = 60 и 70 в), с помощью которых получены соответ ствующие кривые G. Все величины — в относительных единицах. Образец — сульфид цинка с зеленым свечением.
(у анода), пропорциональна / 0 (М + 1), где / 0 — ток насыщения, выраженный в числах электронов за се кунду, а М — коэффициент умножения. Скорость иони
зации G = I — / 0 = / 0 (М — 1), т. е. при |
М |
1 п ~ |
~ / л ( ? и при больших напряжениях L ~ |
Gp. В началь |
ные моменты прямоугольного импульса напряжения, ког да р еще постоянно, a G растет из-за установления напря жения на барьере, возрастание L определяется увеличе нием G. В последующие моменты обе величины (р и G) падают, поэтому их произведение и L проходят через мак симум. На рис. 15.3 сравнивается форма опытных зависи мостей L (t) и G (t), которая в целом оказывается одинако вой [83]. Различия между кривыми L и G можно оценить
111
следующим образом:
L |
h ( M + l) |
м + l |
(15.2) |
|
G |
h { M — 1) p ~~ M - l p ‘ |
|||
|
Это отношение не зависит от / 0, который может изменять ся со временем как вследствие истощения источника элек тронов, так и из-за зависимости / 0 (F0). После установле ния F0 и М (F 0) эти величины начинают уменьшаться со временем, а дробь (М + 1)/(М — 1) — увеличиваться. Одновременный спад р (t) ослабляет изменения L/G со
временем. При высоких напряжениях, когда М |
1, |
отношение (М + 1)/(М — 1) изменяется медленнее |
и |
более ясно проявляется уменьшение р (t) (см. рис. 15.3).
Небольшое запаздывание максимума |
Ь по отношению |
к максимуму G может происходить как |
из-за продолжаю |
щегося вначале захвата электронов ловушками, так и вследствие конечного времени подвода дырок к центрам свечения.
Таким образом, наблюдающееся соответствие кривых L и G согласуется с предположением о том, что в сульфиде цинка рекомбинация контролируется ионизацией, про текающей одновременно в другой области кристалла (прикатодной).
Уравнение (15.1) можно использовать для вычисления кривой L (t), если известна зависимость п (t) или / (t) =
= / 0 М (F0), |
т. е. |
зависимость |
F 0 (t). |
Эту |
зависимость |
(для того барьера, |
в котором в данный |
полупериод идет |
|||
ионизация) |
можно |
получить из |
опытных |
кривых G = |
= / 0 (М — 1) либо с помощью опытов с малыми допол нительными импульсами, перемещающимися вдоль ос новного [81]. Более простой задачей является определение положения максимума яркости в условиях, когда он до стигается во время продолжающегося с постоянной ско ростью роста напряжения, т. е. в случае возбуждения люминофора треугольными или трапециевидными импуль
сами (рис. 15.4). Условие максимума яркости^- = 0 при
водит к следующему выражению:
(15.3)
которое относится ко времени tm, прошедшему от начала импульса до максимума светового пика (рис. 15.4, а).
При линейном росте напряжения от нуля до амплитуд ного значения Vа в течение времени t a (рис. 15.4, а)
V
V = -р £ . Так как максимум света достигается в преде-
а
лах фронта импульса только при достаточно высоком F a,
tm,мксек
Рис. 15.4. Положение основного светового пика на переднем фронте трапецие
видного импульса напряжения, а) — кривые напряжения V, тока I |
и света |
|||||
L (штриховые линии — тож е при более крутом |
фронте импульса), t |
— вре |
||||
мя роста |
V, 1 |
— время и |
V m — напряжение, |
соответствующие максимуму |
||
яркости, |
б) — зависимость |
t |
от t при Va = |
const. Сплошная кривая — |
||
расчетная: t |
~ 3/ . Светлые |
точки — экспериментальные данные |
работы |
[85], темные — работы [84].
то п ~ I и, если воспользоваться степенной аппроксима цией зависимости тока от напряжения, / ~ Vх, то из (15.3) будет следовать, что
у.
/ ' \ ~ 1
•
( , 5 ' 4 )
При Va = const для образцов сульфида цинка с зеленым свечением, у которых и ж 3, должна, таким образом, на
блюдаться зависимость tm ~ ta\ Рис. |
15.4, б показывает, |
что ожидаемая зависимость довольно |
хорошо согласует |
ся с измеренной [84]. Вместе с увеличением ta уменьшает ся напряжение Vm, соответствующее максимуму света,
так как
а
При синусоидальном возбуждении максимум L также появляется в условиях продолжающегося роста напряже ния и тока. Используя исходное уравнение вида (15.3), можно при некоторых упрощениях получить зависимо сти tm (или соtm = cpm) от частоты и других факторов, ко торые также согласуются с результатами измерений. При вычислении tm и срт в общем случае следует учитывать присутствие как излучательных, так и безызлучательных рекомбинаций, соотношение между которыми отражается величиной квантового выхода рекомбинации [86]. Так как величина Р влияет одновременно и на усредненные по времени характеристики свечения (средняя яркость, энер гетический выход), то значения фт оказываются связанными с этими характеристиками. Случай синусоидального на пряжения более подробно рассмотрен в разделе VI, по священном сульфиду цинка, на котором проделано боль шинство подобных измерений (§ 32). Там же обсуждает ся происхождение других световых пиков, в том числе возникающих при возбуждении люминофоров однополяр ными импульсами.
IV. КАРБИД КРЕМНИЯ
§ 16. Общие сведения
Карбид кремния был первым веществом, на котором наблюдалась электролюминесценция. В технических крис таллах со случайными р — п-переходами О. В. Лосев наблюдал оба основных вида свечения: рекомбинационное излучение р —«-переходов, включенных в прямом направ лении («свечение II»), и излучение, возникающее под действием сильного поля в обратно смещенных переходах («свечение I») [1]. Позже было выполнено большое число работ, относящихся к физико-химическим, электрическим и оптическим свойствам как технических, так и специаль но выращенных, более чистых кристаллов SiC. Результа ты этих исследований подробно изложены в [2].
Карбид кремния может иметь как кубическую решетку (^-модификация) с шириной запрещенной зоны АЕ = 2,33 эв
при Т = |
293 °К, так и гексагональную (а-модификация), |
|
которая |
образуется при Т |
2400 °С. Последняя имеет бо |
лее 30 политипных форм, АЕ у которых изменяется от 4,1 эв для формы 2Н до 2,74 эв для 8Н при комнатной температу ре [2—4]. Самой изученной из них является форма 6Н (АЕ = 2,96 эв), так как она получается в наибольших ко личествах при обычно используемом способе выращи вания кристаллов (конденсация из паров; см. [5—8]).
Типичной донорной примесью (обычно неизбежно при сутствующей) является азот с глубиной уровня, завися щей от политипа и равной примерно 0,1 эв для кристал лов 6Н [9]. Акцепторные уровни создают бор (0,39 эв), алюминий (0,29 эв), бериллий (0,4 и 0,6 эв) и другие эле менты [9—12]. Указанные глубины уровней относятся
кобразцам с относительно малым содержанием примеси;
сувеличением ее концентрации энергия ионизации
115
уменьшается [9, 10J. Глубина акцепторов не изменяется при переходе от одного политипа к другому [9].
Присутствие и количество примесей, как обычно, силь но влияет на процессы излучательной рекомбинации. В кристаллах с электронной проводимостью, обусловлен ной азотом, при низких температурах проявляется го лубая полоса свечения с энергией квантов для середины полосы hv = 2,65 эв [13, 14]. Голубая полоса является сложной и связана, по-видимому, как с переходами элек тронов с уровней азота в валентную зону, так и с перехода ми из зоны проводимости на уровни акцепторов [15]. При Т = 300 °К синяя полоса почти потушена, т. е. если тушение внешнее, в кристаллах существуют другие пути для рекомбинации без излучения.
Яркая даже при комнатной температуре люминесцен ция возникает только в том случае, когда в кристаллах одновременно присутствуют доноры и акцепторы. Наиболее интенсивное свечение дают кристаллы с примесями азота и бора [13, 16—19]. Так как в этом случае для образцов всех форм ДЕ — hv ^ 0,9 эв, а глубина уровня бора не изменна (0,4 эв), можно допустить, что излучение возникает при переходе электрона на уровень бора с донорного уров ня глубиной около 0,5 эв [15]. То, что азот способствует образованию центров свечения и в этом случае, следует из отсутствия свечения образцов с бором, в которых азот имеет малую концентрацию [16], и возрастания свечения вместе с увеличением содержания азота вплоть до пример но 3-1018 еж-3, когда наступает концентрационное тушение. Таким образом, донорный уровень 0,5 эв может принад лежать азоту.
В гексагональной решетке 6Н, в которой ближайшие соседи данного атома расположены по вершинам тетраэдра (каждый атом углерода окружен четырьмя атомами крем ния, и наоборот), возможно три различных состояния как для С, так и для Si. В частности три состояния С различа ются расстояниями до ближайшего атома Si вдоль опреде ленного направления (например, гексагональной оси). Если атомы N и В замещают углерод, то им также соот ветствуют три состояния в решетке, которые проявля ются при изучении электронного резонанса [20] и спек тров синего свечения, связанного с азотом [14]. Различия в энергии этих состояний для N составляют около 0,03 эв, поэтому в синей области спектра наблюдается три близкие полосы. Таким же образом растроение уровней акцепто
116
ров может сказаться на спектрах свечения донорно-ак цепторных пар.
Происхождение некоторых полос, наблюдавшихся в
кристаллах 6Н без бора |
(например, полос 1,4, 1,75 и |
2,3 эв [17]), остается не |
ясным. Другие сочетания азот — |
скцептор также приводят к межпримесной рекомбинации, сопровождающейся излучением (алюминий в кристаллах 6Н вызывает зеленую полосу при низкой температуре [12], бериллий — полосы с энергией в максимуме 1,8 и 2,1 эв [7, 21, 22]). В последнее время были получены дан ные, свидетельствующие о возможной роли кислорода в образовании центров голубого и желтого излучения [70, 71]. Кислород увеличивает, в частности, интенсивность полосы 2,05 эв при комнатной температуре у кристаллов ОН с примесью бора.
Вид спектров собственного поглощения, а также спек тров голубой фотолюминесценции при низкой температуре является характерным для непрямых переходов. Энергия фононов, проявляющихся при этих переходах, лежит в пределах от 0,03 до 0,12 эв [14, 23, 24], а спектр свечения может быть связан с азотно-экситонными комплексами [25]. Подвижность электронов в образцах с малой степенью компенсации при Т = 300 °К достигает 300 см21(в-сек) и увеличивается при понижении Т, а у образцов с силь ной компенсацией может снизиться примерно в 10 раз. Эффективная масса электронов и их подвижность сильно различаются у разных политипов, в то время как под вижность дырок слабо зависит от типа кристалла.
§17. Электролюминесценция в поверхностных барьерах
Контакт с металлом однородного кристалла карбида кремния, имеющего электронную проводимость, облада ет выпрямляющими свойствами [26—28]. Подобный кон такт может быть осуществлен, например, с помощью сталь ной иглы, которая поджимается к кристаллу с определен ной силой. Выпрямляющий эффект связан с присутствием барьера на поверхности кристаллов, в пользу чего говорят следующие наблюдения. При помещении диодов в откачи ваемый сосуд обратный ток (при неизменном прямом) ра стет вместе с уменьшением давления воздуха 128]. После длительного нахождения образца в вакууме повышенные значения обратного тока сохраняются в течение многих
117
часов и при увеличении давления воздуха до атмосфер ного. Вместе с изменением выпрямляющих свойств про исходит и изменение интенсивности электролюминесцен ции, возникающей при достаточных обратных напряжени ях и связанной с действием сильного поля в поверхностном барьерном слое. Если кристалл с травленой поверхностью подвергнут ионной бомбардировке, то выпрямляющие свойства исчезают практически полностью. Одновременно пропадает и свечение.
Эти явления указывают на существенную роль адсорб ции газов в процессе образования области объемного за ряда у поверхности SiC. Так как на кристаллах SLG п-типа наблюдалась адсорбция кислорода [29], которая увеличи вала работу выхода [30], можно полагать, что образование барьера, ответственного за выпрямление, связано преж де всего с адсорбцией кислорода. При относительно сла бом поджиме к кристаллу игольчатого электрода, когда выпрямление определяется поверхностными состояния ми, изменение материала иглы практически не влияет на коэффициент выпрямления [28]. То же, как известно, ха рактерно для германия и кремния 131, 32].
Свечение в поверхностных барьерах однородного кар бида кремния исследовалось на прозрачных светло-зе леных кристаллах с электронной проводимостью, содержа щих в качестве основной примеси азот и имевших удель
ное сопротивление р0 = |
0,1 —0,4 ом-см [27]. На |
рис. 17.1 |
|
представлены |
типичные |
характеристики такого |
образца |
с точечным |
контактом |
(второй контакт — омический). |
|
При напряжениях F < |
3 б на кривой фототока /ф во мно |
гих случаях наблюдается горизонтальный участок, в дру гих случаях этот участок имеет небольшой наклон, свя занный с расширением барьера или токами утечки. Начи ная примерно с V = 4 в, становится заметным голубое свечение, исходящее из области кристалла под точечным контактом, причем начало роста I ф и появление свечения соответствуют примерно одинаковому напряжению.
Из прямой ветви вольт-амперной характеристики мо жет быть найдено сопротивление объема кристалла (вме сте с сопротивлением растекания) и далее подсчитано на пряжение F0, падающее только на барьерной области. По мере увеличения числа ионизаций и уменьшения «со противления» барьера кривая V0 (V) стремится к насыще нию, так как падение напряжения в толще кристалла ра стет вместе с увеличением тока. Если при дальнейшем
118
увеличении напряжения кристалл нагревается, то F0 вновь уменьшается (тепловой пробой барьера).
Аналогичные явления (рост фототока с увеличением F, сопровождающийся излучением света) наблюдались и на технических кристаллах. Увеличение темнового обрат ного тока может ускоряться нагреванием кристаллов. При
В,отн.ед.
Рис. 17.1. Характеристика выпрямляющего |
контакта на карбиде |
кремния. |
|
I •— темновой ток, I ф — фототок, |
V — напряжение на кристалле, В — ин |
||
тенсивность свечения области у |
контакта, |
V0 — напряжение на |
барьерной |
области. Левая (обратная) ветвь характеристики соответствует отрицательно му потенциалу на стальной игле. Удельное сопротивление кристалла р0 =
= 0,34 ом-см, температура 20 °С.
двух неомических контактах с металлом обе ветви вольт-ам- перных характеристик часто вполне симметричны. Сход ными свойствами обладает контакт двух кристаллов, имеющих по одному омическому контакту.
Из кривых /ф (F0) может быть определен коэффициент умножения фотоносителей М как отношение фототока при данном F0 к фототоку при F0 — 1 2 в, поскольку при этих напряжениях умножение носителей еще не может
происходить (М = 1). В |
тех случаях, когда при V0 < Зв |
I ф медленно возрастал, |
участок насыщения линейно |
экстраполировался в область более высоких F0 и коэффи циент умножения подсчитывался по отношению к значе нию тока на этой прямой. Умножение фотоносителей в области высокого поля у катода является характерным
119