Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Лодиз, Р. Рост монокристаллов

.pdf
Скачиваний:
42
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
35.03 Mб
Скачать

90

Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

стандартном состоянии, полезная реакция должна обычно ха­ рактеризоваться малыми значениями AG0 . Поскольку такие зна­ чения по большей части протабулированы и поскольку активно­ сти можно неплохо аппроксимировать давлениями, при выра­ щивании из газовой фазы посредством химической реакции часто можно заранее выбрать систему на основе термодинамических соображений1 ).

При росте посредством химического взаимодействия соблю­ дается уравнение (2.36), где Q определяется выражением

ист

в котором символ [ ]ист означает истинную активность. Хорошим приближением к уравнению (2.42) служит соотношение

*=(ЛИЬ* '

(2-4з)

\РА)ЖТ

^В^ист

 

где вместо активностей взяты

истинные давления. При росте

кристаллов посредством химической реакции уравнение (2.37) преобразуется к виду

AG = - Я Г In (-£-),

(2.44)

где AG — движущая сила реакции, а отношение K/Q есть

аналог

относительного пересыщения

или его степени. Температурная

зависимость Л" определяется

уравнением (2.32). При

А Я > 0

(эндотермические реакции) можно добиться, чтобы испарение происходило в горячей области системы, а кристаллизация в более холодной. Если Д Я < 0 , то реакция будет смещаться из холодной зоны в горячую. Изменение АЯ определяет темпера­ турную зависимость К и требующийся для выращивания темпе­ ратурный перепад между зонами испарения и кристаллизации. При больших перепадах температуры можно достичь заметных скоростей роста при малых значениях |АЯ| , но в случае слиш­ ком больших значений |АЯ| требуются столь малые перепады температуры для подавления избыточного зародышеобразования, что контроль за температурой трудно осуществить. Если константа К довольно велика, то реакция, приводящая к росту

кристалла, практически необратима, так что процессы

переноса

мало что дают, но выращивание посредством реакции

в паровой

фазе, как это показано в гл. 6, довольно часто используется на практике.

') По вопросу стехиометрии, областей ее существования и ее роли в процессах роста кристаллов см. [24].

2. РАВНОВЕСИЕ ПРИ РОСТЕ КРИСТАЛЛОВ

91

Если реакция протекает в жидкой или твердой фазе, то урав­ нение (2.39) преобразуется к виду

(хн)к

К ~ ~Ш¥Ж^

( 2 , 4 5 )

при условии, что система близка к идеальной и вместо актив­ ностей можно пользоваться мольными долями X. Существуют немногие реакции в жидкой фазе с константой К, близкой к еди­ нице, которые пригодны для выращивания кристаллов, так что рост посредством химических реакций чаще всего проводится в газовой ф а з е 1 ) . Известен ряд рекомендаций по использованию реакций с большими значениями константы К, которые, однако, рассматриваются не здесь, а в гл. 7. Для реакций же в твердом состоянии требуется много времени для установления равнове­ сия, поскольку такие реакции проходят с участием твердофазной диффузии.

Иногда кристаллы выращивают посредством особых реакций электрохимического характера. Общая форма константы равно­ весия будет такой же, как в уравнении (2.45). Однако анализ электродных процессов обнаруживает ряд характерных преиму­ ществ, присущих выращиванию кристаллов посредством электро­ химической реакции (см. разд. 7.2). В случае осаждения металла типичная реакция на катоде имеет вид

Мп+ + пе~-*М.

(2.46)

Если реагенты и продукты реакции находятся в стандартном со­ стоянии, то сумма потенциалов электродных реакций дает стан­ дартный электродный потенциал Е°, связанный с константой рав­ новесия соотношением

E^JflnK

= ^ - l g K ,

(2.47)

где п — число участвующих в реакции электронов, $~— число Фарадея, R — газовая постоянная, а Т—абсолютная температура.

Легко показать, что

AG°=-n^~E°.

 

(2.48)

Обычно одна из главных трудностей при выращивании кри­

сталлов посредством химического

взаимодействия

заключается

в том, что контроль пересыщения

должен устранять

спонтанное

зарождение. Если не прибегать к помощи транспортных реакций,

то компоненты приходится брать в таком количестве, при кото­

ром не возникает большого пересыщения, способного

привести

к спонтанному зародышеобразованию. Если

константа К зна­

чительно отличается от единицы, то этого

трудно

добиться,

') Пожалуй,

точности

ради

следовало бы сказать, что при

в жид-

кофазной системе

процесс

роста

обычно считают выращиванием

из раствора.

92

Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

особенно в жидкофазных системах, где диффузия протекает мед­ ленно, а времена смешения значительны. При выращивании же посредством электрохимической реакции электроны можно счи­ тать существенными реагентами, концентрация которых высока лишь на электроде, где и требуется осаждение и где происходит рост кристалла. Поэтому с точки зрения контроля за образова­ нием зародышей электрохимические реакции выгоднее.

Если нужно создать большой градиент концентрации того или иного активатора (например, в полупроводниковых диодах), то определенные преимущества дает проведение низкотемпера­ турного процесса, поскольку при низких температурах твердо­ фазная диффузия пренебрежимо мала. Если взять затравку (подложку), содержащую примесь, и проводить выращивание в низкотемпературных условиях, то активатор станет диффун­ дировать медленно, что приведет к значительному снижению его концентрации там, где начался рост. Большие концентрацион­ ные градиенты можно также создавать, вводя активатор в паро­ вую фазу в процессе роста. Таким образом, парофазные про­ цессы особенно полезны тогда, когда стоит задача наращивания тонких слоев с заданными свойствами. Этот способ носит назва­ ние эпитаксиального1) роста кристаллов.

Выращивание посредством реакции может быть как консер­ вативным, так и неконсервативным процессом, но, как правило, применяют неконсервативные процессы, особенно когда нужны крупные кристаллы.

2.12. РОСТ МЕТАСТАБИЛЬНЫХ ФАЗ

Иногда можно вырастить кристаллы вещества в условиях его термодинамической неустойчивости. Пока достигнуты незна­ чительные успехи по выращиванию крупных кристаллов тех или иных материалов в метастабильных условиях, но если такую методику довести до практической целесообразности, то она сулит так много преимуществ, что заслуживает того, чтобы здесь хотя бы в общих чертах остановиться на ней. Если высо­ котемпературную полиморфную модификацию можно вырастить непосредственно в условиях, когда она метастабильна, то при­

обретают силу

все преимущества

низкотемпературного роста,

перечисленные

в разд. 2.1. Разумеется,

процесс

значительно

легче провести

экспериментально

тогда,

когда

полиморфную

модификацию высокого давления удается выращивать при низ­ ких давлениях, при которых она неустойчива. Если при темпера­ туре выращивания скорость фазового перехода

метастабильная ф а з а — у стабильная фаза

(2.49)

1 ) Полнее эпитакеия определена в разд. 3.9.

2. РАВНОВЕСИЕ ПРИ РОСТЕ КРИСТАЛЛОВ

93

мала, то иногда удается получить неустойчивую фазу

в процес­

се роста, чтобы перевести ее быстрой закалкой до обычных ус­ ловий в метастабильное состояние, скорость реакции (2.49) в котором практически равна нулю. Иногда фазовые переходы в более устойчивое состояние проходят ступенчато, через после­ довательность все менее метастабильных фаз (правило ступеней

Освальда).

Это

позволяет

 

 

 

 

«замораживать»

ту

или

 

 

 

 

иную

метастабильную

про­

 

 

 

 

межуточную

фазу.

 

Если

в

 

 

 

 

насыщенный

раствор

ввести

 

 

 

 

затравку

 

метастабильной

 

 

 

 

формы, то она может ока­

 

 

 

 

зать столь сильное ориента-

 

 

 

 

ционное влияние на

процесс

 

 

 

 

роста, что в результате ста­

 

 

 

 

нет

расти

метастабильная

 

 

 

 

модификация.

На

фиг.

2.12

 

 

 

 

иллюстрируется

 

 

взаимо­

 

 

 

 

связь между

растворимостя-

 

Температура •

ми полиморфных модифика­

 

ций

при

фазовом

переходе.

Ф и г . 2.12. Растворимость

полиморфных

На

этом

графике

кривая

модификаций в окрестности

температуры

ABC

характеризует

раство­

 

фазового перехода.

римость одной

полиморфной

 

 

 

 

модификации

(а),

а

крияая DBE — растворимость другой фор­

мы (р). Точка В при температуре Т\

и растворимость S\ харак­

теризуют

точку

перехода

при

данном

давлении.

Растворимость

р-формы в области ее неустойчивости

DB больше

растворимости

а-модификации при тех же температурах. Подобным же обра­ зом в области ВС растворимость а-модификации больше рас­ творимости р-формы. Таким образом, если в области устойчи­ вости а-формы раствор насыщен этой формой, то он не насыщен

р-формой. Однако

раствор, который характеризуется составом

и температурой, отвечающими точке F, будет пересыщен обеими

модификациями. В

этом случае можно вырастить р-форму на

р-затравке в области ос-фазы1 ), если создать пересыщение, до­ статочное для роста р-фазы на р-затравке, без спонтанного за­ рождения а-модификации. Если р-фаза осаждается первой (по правилу ступеней Освальда), то можно даже вызвать зарожде­

ние р-фазы в

области стабильности а-фазы

без

затравки.

В разд. 7.3 рассматривается интересный пример

роста

метаста­

бильной фазы

этилендиаминтартрата.

 

 

') В гл. 3 показано, что для спонтанного зарождения требуется более высокое пересыщение, чем для выращивания на затравке.

8

КИНЕТИКА РОСТА КРИСТАЛЛОВ

3.1.Л И М И Т И Р У Ю Щ А Я СТАДИЯ ПРОЦЕССА

Вгл. 2 нами были рассмотрены ростовые равновесия. В на­ стоящей главе мы рассмотрим скорость, с которой происходит рост кристаллов. Кинетика изучает скорость процесса или реак­

ции, в том

числе все влияющие на нее факторы, в тесной связи

с путями

реакции, или ее механизмом1 ). Химическая реакция

и процесс роста кристалла состоят из нескольких стадий. Если скорость одной из них гораздо меньше скорости других, то такая

лимитирующая

стадия и определит

полную скорость

процесса.

Если же скорости нескольких стадий

почти одинакоры.

то резуль­

тирующая скорость процесса определяется всеми ими. Такая реакция называется последовательной. Лимитирующая стадия и механизм кристаллизации зависят от условий в процессе вы­ ращивания' и от способа кристаллизации.

3.2.

ДИФФУЗИЯ

 

Диффузия часто играет

важную роль при росте

кристаллов

из многокомпонентных систем. Диффундирующий

к растущей

кристаллической грани материал может быть усвоен ею или отторгнут. Ясно, что растущая поверхность служит стоком для компонента, образующего кристалл. Она захватывает или от­

тесняет примесь или активатор в зависимости от

того, больше

или меньше единицы эффективный коэффициент

распределения

&ЭФФ- При выращивании из раствора или посредством химиче­ ской реакции растворитель и продукты реакции, не участвую­ щие в построении кристалла, отталкиваются поверхностью. В обоих случаях, как показано на фиг. 3.1, у поверхности раз­ дела возникает такой градиент концентрации, что с удалением от границы раздела концентрация возрастает для вещества, ус­ ваивающегося растущим кристаллом, и убывает для отталкивае­ мых компонентов. Особенности распределения примеси или ак­ тиватора в непосредственной близости от растущей поверхности зависят от наличия адсорбированного слоя и ряда других фак­ торов и здесь нами не затрагиваются. Скорость диффузии опи-

') По вопросу кинетики роста кристаллов см. книгу [32].

 

 

 

 

 

8. КИНЕТИКА РОСТА

КРИСТАЛЛОВ

 

95

сывается законами Фика. Первый

закон

Фика гласит,

что

 

 

 

 

 

 

 

 

 

дс.i

*

 

 

(3.1)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

дх

 

 

 

где Ji есть поток 1-го компонента,

Dt

— коэффициент

диффузии

(который здесь

предполагается не

зависящим от

направления)

и dci/dx

— градиент

концентрации

в

направлении

диффузии (в

данном

случае

в

направле­

 

 

 

Направление

 

 

нии х). Такими же уравне­

 

 

 

 

 

 

 

 

роста

 

 

ниями

описывается

диффу­

 

 

 

 

 

 

зия в направлениях у и z.

 

 

 

к3фф< 1 (отталкивание)

Знак

минус

показывает,

что

 

 

 

диффузия направлена в сто­

 

 

 

Кристаллизационная

рону

убывания

концентра­

 

 

 

среда

 

ции.

Площадь

при

опреде­

 

 

 

 

 

 

лении

 

потока

i-ro

компо­

 

 

 

 

"зфр >1 (захват)

нента

 

предполагается

пер­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

пендикулярной

направлению

 

 

 

Концентрация

 

диффузии. Поскольку Ji

есть

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

векторная

величина,

для

 

 

 

 

 

 

вычисления

 

в

любом

на­

 

 

 

Расстояние

правлении,

отличном

от

на­

Ф и т .

3.1. Концентрационные градиенты

правления

избранной

оси,

 

вблизи

растущего

кристалла.

можно

пользоваться

зако­

 

 

 

 

 

 

нами сложения векторов. Первый закон Фика обычно справед­ лив для стационарных условий, когда концентрация 1-го компо­ нента не меняется во времени.

Если стационарности не существует, то диффузию удобнее описывать вторым законом Фика, гласящим, что

 

dct _

д2с.

д2с

 

 

d2ct

 

(3.2)

 

~ W ~ D i

дх2

ду Г

+

дг2

 

где Di не зависит от концентрации,

t — время. В случае

диффу­

зии только

вдоль одного

направления

уравнение (3.2)

сводится

к виду

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

дс,

d2ci

 

 

 

 

 

 

dt±=Dtlff.

 

 

 

 

 

(3-3)

Решение

уравнений

(3.1) — (3.3)

для

наиболее

распростра­

ненных геометрических

конфигураций

приведено

в ряде книг

(см., например, [1,2]). В большей части задач по росту кристал­ лов коэффициент диффузии считается не зависящим от направ­ ления, если речь не идет о диффузии в твердом состоянии, когда

среда

часто

бывает анизотропной. В связи с ростом

кристаллов

чаще

всего

рассматривают две задачи практического

значения:

о диффузии

к шару, который служит моделью кристаллика или

96

р. лодиз. рост МОНОКРИСТАЛЛОВ

зародыша, и о диффузии к плоской поверхности при описании выращивания на плоской затравке. Очень часто затравка рас­ сматривается как бесконечная плоскость, а краевая диффузия в направлениях не по нормали к этой плоскости не учитывается.

3.3. ПОВЕРХНОСТИ КРИСТАЛЛОВ

Важную стадию процессов выращивания кристаллов как из

моно-,

так и из

многокомпонентных

систем образует

поверхно­

стная

реакция.

Она может состоять

из целого ряда подреакций,

но даже безотносительно к особенностям последних геометрия растущей поверхности будет играть важную роль.

Ф и г . 8.2. Частично укомплектованная атомарно-гладкая поверхность кри­ сталла.

Рассмотрим сначала частично укомплектованную атомарногладкую поверхность (фиг. 3.2), представляющую собой идеа­ лизацию в том смысле, что кристалл предполагается свободным от внутренних дефектов, а атомы представляются в виде куби­ ков. Все атомы одинаковы и плотно упакованы, так что у всякого атома есть шесть ближайших соседей. Последние соприка­

саются с центральным

атомом

по граням

куба. Кроме

того,

каждый атом имеет во

второй

координационной сфере 12

сосе­

дей, соприкасающихся с ним по ребрам куба

и в третьей

сфере

8 соседей, соприкасающихся с ним по углам куба. Новый

атом

присоединяется к кристаллу в энергетически

наиболее выгодной

позиции. Если учесть, что при образовании «связей» в рассмат­ риваемой нами идеализированной модели высвобождается энер­ гия, то энергетически наиболее выгодной позицией следует счи­ тать ту, где присоединившийся атом образует наибольшее число

3. КИНЕТИКА РОСТА КРИСТАЛЛОВ

97

связей. Здесь мы подразумеваем ковалентные или вандерваальсовы связи. В случае же ионных гетерополярных связей необ­ ходимо, как мы увидим дальше, учитывать еще и силы отталки­

вания. Ряд атомов, составляющих плоскость

ABCD (фиг.

3.2),

образует ступень. Таким образом, последняя

возникает при

ча­

стичной укомплектованности атомарно-гладкой грани. Атомы

ABCDEFGH

образуют излом

на ступени, который,

таким

обра­

зом, возникает при частичной укомплектованности

ряда

ато­

мов. Если

учитывать только

число ближайших соседей, то

наи­

более благоприятной позицией для присоединения нового атома

служит именно излом на ступени

(атом 1 на фиг. 3.2),

так

как

здесь образуются связи с тремя ближайшими

атомами

(по

гра­

ням куба на расстоянии а от его

центра, где

а — ребро

куба).

Следующей по энергетической выгодности позицией для присое­ динения атома является торец ступени (атом 2), поскольку здесь образуются связи с двумя ближайшими атомами. Нако­ нец, наименее благоприятным положением для присоединения атомов при учете только первых ближайших соседей является одиночный атом на гладкой поверхности (атом 3). Учет атомов во второй координационной сфере приводит к некоторым энер­ гетическим различиям для эквивалентных в остальном атомов. В изображенном на фиг. 3.2 «кристалле» атом 3 имеет 4 вторых

ближайших соседа (по граням куба

на

расстоянии а У2

от

центра

куба); атом 4 — три таких

соседа

и атом 5 — два соседа.

Таким

образом, хотя атомы 3, 4

и 5

все

имеют по одному

бли­

жайшему соседу, число образуемых ими связей уменьшается в последовательности атомов 3, 4, 5. Поскольку при образовании связей выделяется энергия, легкость присоединения атомов уменьшается в той же последовательности 3, 4, 5. Подобным же образом можно рассмотреть влияние атомов второй коорди­

национной сферы на такие атомы, как атом 1, который

имеет

трех первых ближайших соседей, или атом 2, имеющий

двух

таких соседей. Влияние атомов третьей координационной сферы (соприкасающихся с центральным атомом по углам куба на удалениях а УЪ от его центра) и атомов более удаленных коор­ динационных сфер проявляется не столь заметно, но в общих чертах аналогично рассмотренному выше случаю. Предполагая, что силы связи обратно пропорциональны квадрату расстояния от центра куба, и считая, что ребро куба имеет длину а, силы связи можно записать в следующем виде:

для атома в первой координацибнной сфере ~ 1/а; для атома во второй координационной сфере ~ 1/2а; для атома в третьей координационной сфере ~ 1/За.

Все сказанное выше относится к кристаллам с положи­ тельной энергией связи. Однако в случае гетерополярных или

4 Зак. 718

98

Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

 

ионных

кристаллов типа А+В~ возникают осложнения, ибо

при ...

приближении заряженного иона к поверхности кристалла

он

может притягиваться ионами противоположного знака и одно­ временно отталкиваться ионами того же знака. Рассмотрим присоединение атома А+ к гладкой поверкности А*В'. Атом А+ будет присоединяться к ней в позиции над атомом В' с выиг­ рышем энергии, пропорциональным 1/а. Однако теперь все атомы А+ из второй координационной сферы станут отталкивать присоединенный атом с силой, пропорциональной п/2а (п — чис­ ло соседних атомов во второй координационной сфере). Подоб­

ным же

образом его ближними

соседями

в третьей

координа­

ционной

сфере окажутся только атомы В',

которые станут

при­

тягивать

наш атом А+ с

силой,

пропорциональной

т/За,

где

т — число таких соседних

атомов

в третьей сфере. Таким обра­

зом, при

адсорбции атома Л + на

гладкой

поверхности

А+В~

ос­

вобождается энергия (без учета взаимодействия А+ с атомами, расположенными за третьей координационной сферой)

 

* - т ( ' - т + т ) .

<">

где а — коэффициент

пропорциональности. Для

атомов 3, 4 и

5 (фиг. 3.2) получим

соответственно

 

Отсюда

видно, что вероятность присоединения ')

атомов 3 и 5

больше,

чем

атома 4. Коссель [3] и Ван

Хук

[4]

вычислили

(в предположении, что молекулярные силы

убывают быстрее,

чем

как

квадрат расстояния), что в гетерополярном

кристалле

£ 5 >

Е4

> Е3.

Аналогичные вычисления для

разного

числа ато­

мов во второй и третьей координационных сферах можно сде­ лать и для атомов / и 2. При этом позиция атома / останется энергетически наиболее выгодной, а атом 2 по-прежнему оста­ нется на втором месте. Важным следствием таких вычислений будет вывод о том, что зарождение всякого нового слоя должно начинаться с присоединения атома в позиции 5. Для иных струк­ тур, очевидно, потребуются новые расчеты.

Изложенные выше рассуждения проще всего провести для атомарно-гладкой поверхности. Но часто грани кристаллов, осо-

1 ) Без последующего отрыва, ибо присоединение само по себе часто проис­ ходит неизбирательно, а частота отрывов из разных положений действительно определяется прочностями связей (3.5) — (3.7). Прим. ред.

3. КИНЕТИКА РОСТА КРИСТАЛЛОВ

99

бенно с большими индексами, бывают шероховатыми или сту­ пенчатыми. Качественно неизбежность образования шерохова­ тых граней можно пояснить с помощью фиг. 3.3. Сетка атомов здесь изображает плоскость (001) кубического кристалла АВ.

Атомы /—3—5—7—9—11

—13 лежат на линии пересечения плос­

кости (111) с плоскостью

(001). Эта линия

целиком составлена

из атомов В, как и вся грань (111). Такая

грань характеризует­

ся высокой поверхностной энергией, поскольку каждый атом В имеет две ненасыщенные связи. Но если кристалл ограняется шероховатой поверхностью, линия пересечения которой с плос­ костью (001) составлена из атомов /—2—3—4—5—6—7—8—

Ф и г . 3.3. Грань (001) кубического кристалла АВ.

9—10—И—12—13, то поверхностная энергия такой грани иног­ да уменьшается. Отсюда легко понять (перейдя к трехмерной решетке), что в рассматриваемом примере грань (111) будет стремиться стать шероховатой. На атомарно-шероховатой по­ верхности постоянно присутствует много ступеней, благоприят­ ствующих росту. Регулярная ступенчатая структура на поверх­ ности реального кристалла, видимо, не сохраняется, но шерохо­ ватость обеспечивает наличие многих мест, способствующих росту.

Проблема зарождения новой ступени на атомарно-гладкой поверхности кристалла относится к числу тех, которые при­ влекли к себе большое внимание. Как уже отмечалось, на такой поверхности зарождение новой ступени энергетически менее вы­ годно, чем рост на уже существующей ступени или изломе. Тем не менее всякий раз, когда предыдущая ступень «дорастает» до края кристалла, должна зарождаться новая ступень. Количе­ ственные расчеты показывают, что для зарождения новой сту­ пени на атомарно-гладкой поверхности требуются большие пересыщения или переохлаждения. С другой стороны, кристал­ лы растут уже при низких пересыщениях или переохлаждениях

4*

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ