Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Лодиз, Р. Рост монокристаллов

.pdf
Скачиваний:
29
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
35.03 Mб
Скачать

234 Р. ЛОДИЗ . РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

найти способы изоляции высокотемпературной плазмы для кон­ тролируемого термоядерного синтеза. Хотя магнитная стабили­ зация и весьма перспективна, при выращивании кристаллов она еще редко применяется. Стабилизация плазмы при выращива­ нии кристаллов осуществляется главным образом за счет регу­ лирования скорости и направления газового потока между элек­ тродами. Если потоку придать круговое движение так, чтобы в центре вонзикала область низкого давления, иными словами, образовался вихрь, то плазма должна быть устойчивой в этой области. Вихревая стабилизация особенно удобна в индукцион­ ных плазмах. В горелках же постоянного тока чаще всего при­ меняется стабилизация «газовым чехлом». В такой горелке элек­ трическую дугу зажигают между вольфрамовым катодом и по­

лым, охлаждаемым водой анодом. Дуговой разряд не

выходит

за пределы камеры, а «газовый чехол», протяженность

которого

значительно превышает диаметр камеры, препятствует

ее кон­

такту со стенками. На фиг. 5.22 показана именно такая

горелка.

Плазмы в горелках такой конструкции могут действовать

в атмо­

сфере Н2 , N 2 , Ar, Не и 0 2 , но, как показал опыт, в окислительной

обстановке довольно трудно поддерживать дугу длительное время. Следует признать, что до сих пор имеется мало сведений относительно получения кристаллов высокого качества с по­ мощью плазменных горелок постоянного тока в тех случаях, когда их нельзя было бы вырастить с большей легкостью дру­

гими методами. Тем не менее в принципе горелки

постоянного

тока, по-видимому, весьма перспективны.

 

 

 

В более поздней работе Рида [94] рассматривается

плазма

переменного тока. Особое

преимущество

такого

рода

горелок

в том, что они безэлектродные

и тем самым исключаются

загряз­

нения из электродов. Цилитинкевич [95]

и Кобин

с Вилбаром

[96] ранее использовали горелки переменного тока, которые тре­ бовали электродов, но они не были намного лучше горелок по­ стоянного тока. На фиг. 5.23 показана типичная индукционная безэлектродная плазменная горелка переменного тока. Рид [94] и Бауэр с Филдом [91] исследовали разные конструкции горе­ лок. По существу все горелки состоят из кварцевой трубки с одним открытым концом и с впуском для газа на другом и индук­ ционной спирали вокруг этой трубки для индукционной связи. Осуществить нагрев с одноатомными газами труднее, но в слу­ чае многоатомных газов или одноатомных с примесью много­ атомных большие количества тепла получить легко. Входные отверстия для газа нужно делать так, чтобы поток был направ­ лен по касательной к окружности трубы. В газе возникнет вихрь, который будет способствовать вихревой стабилизации. В области частот от 5 до 3000 МГц можно поддерживать плазму в 02 , N0,

5. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ РАСПЛАВА В ОДНОКОМПОНЕНТНОЙ СИСТЕМЕ 235

С 0 2 , Не, Ar, S02 и в воздухе. Чтобы зажечь плазму, в высоко­ частотное поле обычно приходится вводить заземленный уголь­

ный стержень или проволочную

петлю. При этом

образуются

ионы, необходимые,

чтобы газ

стал проводящим.

Возникает

плазма, и устройство

переходит

в режим самостоятельного

раз­

ряда. Бауэр и Филд [91] описали

различные конфигурации

горе­

лок, в том числе и с емкостной связью. Высокочастотным

плаз­

менным нагревом можно выращивать кристаллы сравнительно

тугоплавких

окислов, таких, как сапфир, но на сегодняшний день

по качеству они уступают кристаллам

сапфира, полученным бо­

лее распространенными ме­

 

 

 

 

тодами.

 

 

 

 

 

 

Латунная крышка и

трубка

Если

вещество

 

заметно

с тангенциальными

газовыми

 

 

соплами

 

 

поглощает

свет

на

длинах

 

 

 

 

волн,

на

которых

излучают

 

 

 

 

мощные

лампы,

то

 

образец

 

 

 

 

можно расплавить,

 

фокуси­

 

 

 

 

руя на него такое излучение.

 

 

 

 

Подобные

методы

 

обычно Индушор_

 

 

 

называют

световым

 

 

нагре­

 

а

 

 

вом.

До

недавнего

времени

 

 

 

лучшими

лампами

 

счита­

 

(X

 

 

лись

электродуговые

 

уголь­

 

.

Кварцевая

 

 

 

ные лампы

и главная

труд­

 

 

 

трубка

ность

метода заключалась в

 

 

 

 

нестабильности

и

коротком

 

Плазма

 

 

сроке

службы таких

тепло­

Ф и г . 5.23. Высокочастотная

плазмен­

вых источников. В работаю­

щей

электродуговой

 

лампе

 

ная горелка.

 

 

 

 

 

 

 

угольные

электроды

 

сгорают

со скоростью в несколько де­

сятков сантиметров

в

час. Из

имеющихся в настоящее

время

ламп

удобнее

всего,

по-видимому,

театральные

проекцион­

ные лампы типа используемых в проекторах в открытых кинотеатрах. В таких лампах предусмотрена автоматическая по­ дача угольных стержней, и ЛаРуе и Халден [97] успешно приме­ няли сфокусированный пучок света таких ламп при выращива­ нии кристаллов (фиг. 5.24). Однако угольные электроды в конце концов сгорают, и пока их заменяют новыми, выращивание пре­ рывается, в результате чего получаются кристаллы с сильными неоднородностями. Одно из решений проблемы — взять два ду­ говых источника для нагрева кристалла и на время замены электродов в одном из них включать другой. Это снижает не­ однородности, но не исключает их полностью, поскольку остают­ ся тепловые флуктуации в момент таких переключений. Удач­ ная геометрия для двух тепловых источников обеспечивается в так называемой двойной раковине, описанной Плотцем [91].

236

Р.

ЛОДИЗ . РОСТ

МОНОКРИСТАЛЛОВ

Типичная

система

состоит из

двух «раковин», установленных

так, чтобы фокусировать излучение на образец. Каждая «рако­ вина» состоит из двух параболических рефлекторов с отверстием в центре. Снаружи каждого из рефлекторов (близко к отвер­ стию) устанавливается источник света, а свет последнего фоку­ сируется на некотором расстоянии от другого рефлектора.

Недавно появились высокотемпературные вольфрамовые лам­ пы с большим сроком службы (например, мощностью 2,5 кВт и со сроком службы до 1500 ч). Применение таких ламп должно

Ф и г . 6.24. Метод светового нагрева с дуговым источником света [97].

устранить многие трудности, присущие обычным источникам, использующим электроды. Последние достижения в методах фо­ кусировки теплового излучения описаны в книге [98]. С лампами такого типа обе «раковины» могут работать одновременно, по­ скольку отпадает необходимость в переключении их при сгора­ нии угольных электродов. Свет двух «раковин», сфокусирован­ ный на образце, позволяет достичь температуры выше 2500°С. При этом, естественно, легко контролировать атмосферу вокруг образца, окружив его соответствующей прозрачной оболочкой. Такой способ, по-видимому, наиболее перспективен из всех ва­ риантов метода Вернейля с точки зрения обеспечения чистоты

кристаллизационного объема

при высоких

температурах, при­

чем экспериментально

это

достигается

довольно

просто.

В табл. 5.5 приведен

ряд кристаллов, выращенных

методом

светового нагрева.

 

 

 

 

При выращивании методом Вернейля и аналогичными мето­ дами кристаллы подвергаются влиянию высоких температурных градиентов. Отжиг выращенных кристаллов помогает сильно

5. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ РАСПЛАВА В ОДНОКОМПОНЕНТНОЙ СИСТЕМЕ 237

 

 

 

 

 

 

Таблица

5.5

 

Некоторые кристаллы, выращенные методом Вернейля

 

 

 

 

и

методом светового нагрева

 

 

 

 

 

 

 

 

Темпера­

 

 

Литера­

 

Материал

 

Формула

тура

Примечания

 

 

плавления,

тура

 

 

 

 

°C

 

 

 

 

Корунд,

сапфир

 

А 1 2 0 3

2040

В разных

[124-1 27]

 

 

 

 

 

направле­

 

 

 

 

 

 

 

ниях; луч­

 

 

 

 

 

 

 

ше

всего

 

 

 

 

 

 

 

под

углом

 

 

 

 

 

 

 

60° к оси с

 

 

Рубин

 

 

А 1 2 0 3 : Сг

 

Метод

 

 

 

 

 

 

 

Вернейля

 

 

Магний-алюминиевая

M g A l 2 0 4

2130

То

же

[128]

шпинель

 

3 A l 2 0 3 - 2 S i 0 2

1810

»

»

[129]

Муллит

 

 

Шеелит

 

 

CaWO,

1530

[130, 1ЗП

 

 

»

»

Рутил

циркония

 

T i 0 2

1830

»

»

[132,

133]

Окись

 

Z r 0 2

2700

»

»

[134

Окись иттрия

 

Y 2 0 3

2400

[135

(несте-

»

»

Магнезиальная

MgFe 2 0 4

Выше 1200

Метод

[136

хиометричная)

шпи­

 

 

светового

 

 

нель

 

 

 

 

нагрева

 

 

Никелевый феррит

№ F e 2 0 4

Выше 1200

То

же

[137]

уменьшить напряжения. Кристаллы1 ), выращиваемые в промы­ шленных условиях, напряжены и легко раскалываются еще до отжига в газовых печах. Напряжения уменьшаются, если ис­ пользовать такую систему нагревателей, которая позволила бы проводить отжиг без охлаждения кристалла до комнатной тем­ пературы. Если нагреватели расположить так, чтобы уменьшить градиенты в печи, напряжения уменьшатся еще больше. Есте­ ственно, для выращивания методом плавающей зоны могут быть приспособлены такие тепловые источники, как дуговые лампы и лампы накаливания.

5.7. ДРУГИЕ МЕТОДЫ ВЫРАЩИВАНИЯ ИЗ РАСПЛАВА

Метод дифференциального вытягивания можно рассматри­ вать как модификацию либо метода вытягивания, либо метода плавающей зоны, либо метода Вернейля. Принцип метода

*) Кристаллы, выращенные методом Вернейля и

аналогичными

спосо­

бами и не имеющие плоскогранной морфологии, часто

называются

булями

(что в переводе с французского означает шар).

 

 

ного вытягивания.
Ф и г . 5.25. Метод дифференциаль
„ Исходный материал
плавление
Энергия,

238

Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

 

 

показан на фиг. 5.25, и его целесообразно

применять,

когда

тре­

буется бестигельная

методика. При таком

методе телесный

угол

для

подвода энергии

больше, чем в методе

плавающей зоны, и

 

с

возможен

лучший

контроль,

 

 

чем в методах типа Вернейля ').

 

А у я / ш г а - - | ' J ^

5.8. ВЫРАЩИВАНИЕ Д Е Н Д Р И Т О В

В некоторых случаях тре­ буется специально выращивать кристаллы, морфология кото­

обеспечивающая Расплав рых характеризуется удлинен­ ными и ветвистыми выступа­ ми. Такие кристаллы обычно называются дендритами. В разд. 3.11—3.14 уже отмеча­ лось, что дендритный рост воз­ можен в условиях высокого концентрационного переохлаж­ дения. Как правило, всякий

раз, когда температура перед фронтом кристаллизации значи­ тельно ниже равновесной температуры, вероятен рост дендритов. Это может объясняться следующими причинами:

1. Важную роль играет диффузия, и расплав вблизи фронта роста сильно обогащен примесями, активаторами или раствори­

телем. Это — концентрационное

переохлаждение (разд. 3.11).

2. Скорость роста настолько

высока, теплота

кристаллизации

так велика или теплоотвод настолько слабый,

что кристалл не

в состоянии быстро рассеивать теплоту кристаллизации. В таких условиях межфазная граница будет значительно теплее приле­ гающей жидкости и в результате рост будет дендритным.

На фиг. 5.26, а показано распределение температуры при нормальном росте, а на фиг. 5.26,6 — распределение, когда об­ разуются дендриты по описанному механизму. На фиг. 5.26, а переохлаждение перед межфазной границей незначительно; на фиг. 5.26, б оно выше и соответственно этому боковые отростки в области межфазной границы могут расти легче, чем прилегаю­ щие к ней участки. В результате такие отростки, обусловленные ступенями роста, гранями, краевыми участками ячеек при ячеи­ стом росте и т. д., быстро врастают в расплав. Дендритный рост возможен не только для металлов и при равновесии ж и д к о с т ь - кристалл, но встречается при любых обстоятельствах, когда вы­ полняется условие 1 или 2. Для полноты картины на фиг. 5.26, в

') См. также хороший обзор Фишера [139] по вопросу выращивания из расплава под давлением электролюминесцентиых полупроводников.

5. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ РАСПЛАВА В ОДНОКОМПОНЕНТНОЙ СИСТЕМЕ 239

мы изобразили распределение температуры при концентрацион­ ном переохлаждении. Здесь концентрации примеси, активатора или растворителя вблизи межфазной границы выше, чем в объ­ еме расплава. Примеси сни­ жают температуру плавления, поэтому область перед фрон­ том кристаллизации оказыва­ ется сильно переохлажденной.

Вагнер [99], Боллинг иТиллер [100] иТемкин[101] деталь­ но рассмотрели условия обра­ зования дендритов, а Биллиг [45] и Беннет с Лонгини [102] впервые вырастили дендриты в контролируемых условиях.

Наиболее полно изучен, ве­ роятно, Ge. Кристаллы со структурой типа алмаза, такие, как Ge, выращивают следую­ щим образом:

 

1.

Обычно

берут

затравку

 

 

 

из

предварительно

выращен­

 

 

 

ного

дендритного

кристалла.

 

 

 

Затравка из

дендрита необхо­

 

 

 

дима потому, что такой кри­

 

 

 

сталл, будучи

 

правильно выра­

 

 

 

щен, всегда сдвойникован. При

 

 

 

правильной ориентировке плос­

 

 

 

кость

двойникования

обеспе­

 

 

Расстояние

чит

постоянную

ступенчатость

 

 

 

 

в

межфазной

границы,

при

ко­

 

 

торой

рост

будет

происходить

Ф и г.

6.26.

Распределение темпера­

с высокой

скоростью

(см.,

на­

туры

при

выращивании дендритов.

пример, работы

[103—105]).

 

 

 

 

 

2.

После

установления

теплового

равновесия температуру

расплава снижают

на

15—20 °С.

 

 

 

 

3. Через несколько секунд начинают вытягивание с высокой

скоростью

(10

см/с).

 

 

 

 

 

Типичным продуктом такого процесса является лентовидный кристалл с гладкими гранями и зубчатыми краями в несколько метров длиной, несколько десятых миллиметра толщиной и меньше сантиметра шириной. Такие кристаллы имеют опреде­ ленные преимущества в полупроводниковой технике (например, отпадает операция разрезания объемного кристалла), и в па­ тентной литературе этому вопросу уделяется большое внимание.

6

РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ ПАРОВ

6.1. ВВЕДЕНИЕ

Выращивание кристаллов из паров, или, как говорят иначе, из газовой фазы, в однокомпонентной системе имеет довольно ограниченное применение и в целом ряде способов настолько аналогично выращиванию в моногокомпонентной системе, что мы

в этой главе

будем

рассматривать сразу и то и другое. К зыра-

щиванию из газовой

фазы прибегают и для получения больших

кристаллов,

и для

получения тонких пленок на кристаллах,

выращенных

другими методами. Последний метод обычно на­

зывают эпитаксиальным выращиванием из газовой фазы (разд. 6.5). Одно из преимуществ методов выращивания из газо­ вой фазы заключается в том, что при таких методах очень часто оказывается возможным заранее рассчитать константы равно­

весия предполагаемых

реакций и их температурную

зависимость

(разд. 2.11). Методы

выращивания по механизму

пар — кри­

сталл можно систематизировать следующим образом:

1. Методы

выращивания в однокомпонентных системах.

а)

методы

сублимации — конденсации;

 

б)

методы

распыления;

 

в)

методы

ионного внедрения.

 

2. Методы выращивания в многокомпонентных системах. а) выращивание при обратимых реакциях; б) выращивание при необратимых реакциях.

Среди методов выращивания в однокомпонентных системах только методы распыления нашли широкое применение при вы­ ращивании кристаллов, но и их в основном используют для по­ лучения эпитаксиальных пленок. Методы сублимации — конден­ сации имеют ограниченное применение, поскольку довольно мало таких веществ, у которых упругость пара была бы доста­ точно высокой для роста. Вообще говоря, можно вводить допол­ нительные компоненты, связывающие нелетучие соединения в летучие комплексы; в этом случае рост осуществляется в про­ цессе реакции. Ионное внедрение, строго говоря, нельзя считать методом выращивания. Это скорее способ активации уже выра­ щенных кристаллов.

Росту кристаллов из газовой фазы посвящены работы Брен­ нера [1] (металлы), Бредли [2] (органические вещества), Рей-

6. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ ПАРОВ

241

нольдса [3] (сульфиды), Гленга и Вейжды [4] (кремний), О'Коннора [5] (SiC) 1 ), Мейсона [6] (образование льда) и Энтела [7] (соединения I I I — V групп). Кроме того, о выращивании из газо­ вой фазы кристаллов полупроводниковых соединений много го­ ворится в книге под редакцией Грабела [8] и о выращивании

кристаллов основных

соединений — в

книге

под редакцией

Па-

уэлла и др. [9]. Для ознакомления с общими

вопросами роста из

газовой фазы можно

рекомендовать

также

монографию

Ше-

фера [10]; в книге под редакцией Френкомба и Сато [11] много полезной информации по получению монокристаллических пле­ нок, а при написании этой главы автор в значительной степени пользовался обзором Эллиса [12]2 ).

При выращивании кристаллов из газовой фазы в однокомпонентных системах не возникает проблем, связанных с приме­

сями

и диффузией и

обусловленных дополнительными

компо­

нентами,

но обычно

требуются

более высокие

температуры.

В многокомпонентных

же системах кристаллы обычно растут

при

более

низких температурах,

и поэтому такой

метод

приго­

ден для получения кристаллов низкотемпературных полиморф­ ных модификаций и веществ, испаряющихся инконгруэнтно. Он применяется также там, где по условиям эксперимента невоз­ можно создать температуры, необходимые для роста кристаллов в однокомпонентных системах.

6.2. СУБЛИМАЦИЯ — КОНДЕНСАЦИЯ

При выращивании кристаллов методом сублимации — кон­ денсации обычно применяют два типа систем: замкнутые и про­ точные. В первом случае используют запаянную ампулу или установку для испарения в вакууме. В типичном варианте ме­ тода системы замкнутого типа (фиг. 6.1, а) транспортируемое вещество помещают в ампулу (обычно из плавленого кварца) и откачивают ее (если вещество инертно по отношению к воз­ духу, то откачка и не обязательны). Иногда ампулу после от­ качки заполняют до определенного давления газом, препят­ ствующим разложению, или инертным газом. Если реакция между газом и транспортируемым веществом существенна, то метод правильнее рассматривать как метод реактивного пере­ носа. Наличие инертного газа улучшает перенос, поскольку его конвекция способствует движению сублимированных частиц в направлении зоны роста. Но так как средняя длина свободного

') Кроме того, ряд глав, посвященных выращиванию кристаллов SiC из

газовой фазы, имеется в книге под редакцией О'Коннора и Смилтенсена

[13].

2 )

Хороший обзор физико-химической стороны процессов газового

пере­

носа

опубликован Джеффом [83].

 

242

Р. ЛОДИЗ . РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

пробега

частиц сублимата зависит от давления, в высоком ва­

кууме обычно обеспечивается лучший перенос. Эксперимен­ тально установлено, что иногда инертные газы-носители помо­

гают, а иногда и мешают процессам

роста. Газы-носители так­

же часто

изменяют морфологию образующихся кристаллов1 ).

В литературе имеется очень много

таблиц давления

насыщен­

ных паров разных веществ. В табл.

6.1 перечислены

некоторые

кристаллы,

выращенные методами

сублимации — конденсации

с использованием замкнутых и проточных систем. Для обеспе­ чения нужной температуры и градиента используют обычного

Горячая

Холодная

Нагреваемая

 

зона

зона

подложка

 

 

1/

Нагреваемый

 

 

V током испаоитель

Шахта

Зона роста

 

 

 

Вакуумный

 

 

 

мл па к

Г1рячая

Холодная

 

зона

зона

 

Инертный

~

—w

 

газ

.

К насосу

Шихта

Зона роста

 

Фиг. 6.1. Выращивание методом сублимации и конденсации.

о метод замкнутой системы; б— вакуумное испарение; в —метод проточной системы.

типа горизонтальные и вертикальные трубчатые печи и обычные регуляторы и регистрирующие приборы.

С точки зрения технологии наибольший интерес представ­ ляет, вероятно, выращивание кристаллов SiC методом переноса в однокомпонентной системе. Метод Лели [19, 20], которым по­ лучают кристаллы SiC, по существу основан на сублимации. Порошкообразный SiC нагревают в инертной атмосфере до температуры около 2500°С. В центре массы порошка образуются пластинчатые кристаллы a-SiC. Если исходный SiC имеет вид полого цилиндра [20], в который вставлен полый цилиндр из по-

4 ) Возможно, что некоторые из этих эффектов обусловлены процессами

вгазовой фазе, аналогичными концентрационному переохлаждению. При

выращивании из газовой фазы концентрационное переохлаждение может иметь место и в много- и в однокомпонентной системах. В однокомпонентных системах в силу того, что градиент концентрации обусловлен диффузией ИЛИ конвекцией, парциальное давление в некоторых частях системы может пре­ вышать равновесное парциальное давление над твердым веществом при тем­ пературах ниже рассматриваемых. Такую ситуацию в паре можно рассмат­ ривать как аналогичную концентрационному переохлаждению. Вопрос о кон­

центрационном переохлаждении при выращивании

кристаллов иода из газо­

вой фазы анализируется в работе Рида и Ляфлера

[14].

Таблица 6.1

Некоторые кристаллы и пленки, выращенные методом сублимации — конденсации и методом катодного распыления

Вещество Температура°Ссублимации,

320—330 (проточная или замкнутая систе­ ма)

375—475 (проточная или замкнутая систе­ ма)

1150—1200 (проточ­ ная или замкнутая си­ стема)

1550—1600 (проточ­ ная или замкнутая си­ стема)

> 2500 (проточная или замкнутая систе­ ма)

Электронно-лучевой нагрев (вакуумный ис­ паритель), вероятно, выше 2000

>1000 ( Г п л = 6 6 0 )

1100—1200 (иногда электронно-лучевой на­ грев)

>1500

Температура конденсации, °С

250-290

350- -380

1100

1476-1500

<2500

700 В основном

поликристал­ лические плен­ ки

<600

Ниже Тпч, главным обра­

зом поликри­ сталлические пленки

То же

Газ

Вакуум, Аг

Аг, Не

Аг

Аг

Инертная

атмосфера

10 - 6 м м рт. ст.

Вакуум

') Значительная диссоциация в паровой фазе; рост может происходить в понентной системе за счет обратимых реакций,

 

Напряжение

Ток, мА

Температура

Давление Аг,

 

Вещество

при распылении,

(диаметр

конденсации,

 

катода

мм рт. ст.

 

 

В

2,5 см)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1000

1000

В основном

-30- 10"

[23, 24]

 

 

 

поликри­

 

 

 

 

 

 

сталличе­

 

 

 

 

 

 

ские пленки

 

 

 

 

 

 

при —195

 

 

 

 

1500

2 - 1 0

- 195 ±300

(27 - 73) . 10"

[24]

 

1500

9,5

- 19 5

59-

10~S

[24]

 

2250

10,5

1000

100-

1 0 _ 3

[23, 24)

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ