книги из ГПНТБ / Лодиз, Р. Рост монокристаллов
.pdf234 Р. ЛОДИЗ . РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ
найти способы изоляции высокотемпературной плазмы для кон тролируемого термоядерного синтеза. Хотя магнитная стабили зация и весьма перспективна, при выращивании кристаллов она еще редко применяется. Стабилизация плазмы при выращива нии кристаллов осуществляется главным образом за счет регу лирования скорости и направления газового потока между элек тродами. Если потоку придать круговое движение так, чтобы в центре вонзикала область низкого давления, иными словами, образовался вихрь, то плазма должна быть устойчивой в этой области. Вихревая стабилизация особенно удобна в индукцион ных плазмах. В горелках же постоянного тока чаще всего при меняется стабилизация «газовым чехлом». В такой горелке элек трическую дугу зажигают между вольфрамовым катодом и по
лым, охлаждаемым водой анодом. Дуговой разряд не |
выходит |
за пределы камеры, а «газовый чехол», протяженность |
которого |
значительно превышает диаметр камеры, препятствует |
ее кон |
такту со стенками. На фиг. 5.22 показана именно такая |
горелка. |
Плазмы в горелках такой конструкции могут действовать |
в атмо |
сфере Н2 , N 2 , Ar, Не и 0 2 , но, как показал опыт, в окислительной |
обстановке довольно трудно поддерживать дугу длительное время. Следует признать, что до сих пор имеется мало сведений относительно получения кристаллов высокого качества с по мощью плазменных горелок постоянного тока в тех случаях, когда их нельзя было бы вырастить с большей легкостью дру
гими методами. Тем не менее в принципе горелки |
постоянного |
|||
тока, по-видимому, весьма перспективны. |
|
|
|
|
В более поздней работе Рида [94] рассматривается |
плазма |
|||
переменного тока. Особое |
преимущество |
такого |
рода |
горелок |
в том, что они безэлектродные |
и тем самым исключаются |
загряз |
||
нения из электродов. Цилитинкевич [95] |
и Кобин |
с Вилбаром |
[96] ранее использовали горелки переменного тока, которые тре бовали электродов, но они не были намного лучше горелок по стоянного тока. На фиг. 5.23 показана типичная индукционная безэлектродная плазменная горелка переменного тока. Рид [94] и Бауэр с Филдом [91] исследовали разные конструкции горе лок. По существу все горелки состоят из кварцевой трубки с одним открытым концом и с впуском для газа на другом и индук ционной спирали вокруг этой трубки для индукционной связи. Осуществить нагрев с одноатомными газами труднее, но в слу чае многоатомных газов или одноатомных с примесью много атомных большие количества тепла получить легко. Входные отверстия для газа нужно делать так, чтобы поток был направ лен по касательной к окружности трубы. В газе возникнет вихрь, который будет способствовать вихревой стабилизации. В области частот от 5 до 3000 МГц можно поддерживать плазму в 02 , N0,
5. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ РАСПЛАВА В ОДНОКОМПОНЕНТНОЙ СИСТЕМЕ 235
С 0 2 , Не, Ar, S02 и в воздухе. Чтобы зажечь плазму, в высоко частотное поле обычно приходится вводить заземленный уголь
ный стержень или проволочную |
петлю. При этом |
образуются |
||
ионы, необходимые, |
чтобы газ |
стал проводящим. |
Возникает |
|
плазма, и устройство |
переходит |
в режим самостоятельного |
раз |
|
ряда. Бауэр и Филд [91] описали |
различные конфигурации |
горе |
||
лок, в том числе и с емкостной связью. Высокочастотным |
плаз |
менным нагревом можно выращивать кристаллы сравнительно
тугоплавких |
окислов, таких, как сапфир, но на сегодняшний день |
||||||||||
по качеству они уступают кристаллам |
сапфира, полученным бо |
||||||||||
лее распространенными ме |
|
|
|
|
|||||||
тодами. |
|
|
|
|
|
|
Латунная крышка и |
трубка |
|||
Если |
вещество |
|
заметно |
с тангенциальными |
газовыми |
||||||
|
|
соплами |
|
|
|||||||
поглощает |
свет |
на |
длинах |
|
|
|
|
||||
волн, |
на |
которых |
излучают |
|
|
|
|
||||
мощные |
лампы, |
то |
|
образец |
|
|
|
|
|||
можно расплавить, |
|
фокуси |
|
|
|
|
|||||
руя на него такое излучение. |
|
|
|
|
|||||||
Подобные |
методы |
|
обычно Индушор_ |
|
|
|
|||||
называют |
световым |
|
|
нагре |
|
а |
|
|
|||
вом. |
До |
недавнего |
времени |
|
|
|
|||||
лучшими |
лампами |
|
счита |
|
(X |
|
|
||||
лись |
электродуговые |
|
уголь |
|
. |
Кварцевая |
|||||
|
|
|
|||||||||
ные лампы |
и главная |
труд |
|
|
|
трубка |
|||||
ность |
метода заключалась в |
|
|
|
|
||||||
нестабильности |
и |
коротком |
|
Плазма |
|
|
|||||
сроке |
службы таких |
тепло |
Ф и г . 5.23. Высокочастотная |
плазмен |
|||||||
вых источников. В работаю |
|||||||||||
щей |
электродуговой |
|
лампе |
|
ная горелка. |
|
|
||||
|
|
|
|
|
|||||||
угольные |
электроды |
|
сгорают |
со скоростью в несколько де |
|||||||
сятков сантиметров |
в |
час. Из |
имеющихся в настоящее |
время |
|||||||
ламп |
удобнее |
всего, |
по-видимому, |
театральные |
проекцион |
ные лампы типа используемых в проекторах в открытых кинотеатрах. В таких лампах предусмотрена автоматическая по дача угольных стержней, и ЛаРуе и Халден [97] успешно приме няли сфокусированный пучок света таких ламп при выращива нии кристаллов (фиг. 5.24). Однако угольные электроды в конце концов сгорают, и пока их заменяют новыми, выращивание пре рывается, в результате чего получаются кристаллы с сильными неоднородностями. Одно из решений проблемы — взять два ду говых источника для нагрева кристалла и на время замены электродов в одном из них включать другой. Это снижает не однородности, но не исключает их полностью, поскольку остают ся тепловые флуктуации в момент таких переключений. Удач ная геометрия для двух тепловых источников обеспечивается в так называемой двойной раковине, описанной Плотцем [91].
236 |
Р. |
ЛОДИЗ . РОСТ |
МОНОКРИСТАЛЛОВ |
Типичная |
система |
состоит из |
двух «раковин», установленных |
так, чтобы фокусировать излучение на образец. Каждая «рако вина» состоит из двух параболических рефлекторов с отверстием в центре. Снаружи каждого из рефлекторов (близко к отвер стию) устанавливается источник света, а свет последнего фоку сируется на некотором расстоянии от другого рефлектора.
Недавно появились высокотемпературные вольфрамовые лам пы с большим сроком службы (например, мощностью 2,5 кВт и со сроком службы до 1500 ч). Применение таких ламп должно
Ф и г . 6.24. Метод светового нагрева с дуговым источником света [97].
устранить многие трудности, присущие обычным источникам, использующим электроды. Последние достижения в методах фо кусировки теплового излучения описаны в книге [98]. С лампами такого типа обе «раковины» могут работать одновременно, по скольку отпадает необходимость в переключении их при сгора нии угольных электродов. Свет двух «раковин», сфокусирован ный на образце, позволяет достичь температуры выше 2500°С. При этом, естественно, легко контролировать атмосферу вокруг образца, окружив его соответствующей прозрачной оболочкой. Такой способ, по-видимому, наиболее перспективен из всех ва риантов метода Вернейля с точки зрения обеспечения чистоты
кристаллизационного объема |
при высоких |
температурах, при |
||
чем экспериментально |
это |
достигается |
довольно |
просто. |
В табл. 5.5 приведен |
ряд кристаллов, выращенных |
методом |
||
светового нагрева. |
|
|
|
|
При выращивании методом Вернейля и аналогичными мето дами кристаллы подвергаются влиянию высоких температурных градиентов. Отжиг выращенных кристаллов помогает сильно
5. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ РАСПЛАВА В ОДНОКОМПОНЕНТНОЙ СИСТЕМЕ 237
|
|
|
|
|
|
Таблица |
5.5 |
|
|
Некоторые кристаллы, выращенные методом Вернейля |
|
|
|||||
|
|
и |
методом светового нагрева |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Темпера |
|
|
Литера |
|
|
Материал |
|
Формула |
тура |
Примечания |
|||
|
|
плавления, |
тура |
|||||
|
|
|
|
°C |
|
|
|
|
Корунд, |
сапфир |
|
А 1 2 0 3 |
2040 |
В разных |
[124-1 27] |
||
|
|
|
|
|
направле |
|
|
|
|
|
|
|
|
ниях; луч |
|
|
|
|
|
|
|
|
ше |
всего |
|
|
|
|
|
|
|
под |
углом |
|
|
|
|
|
|
|
60° к оси с |
|
|
|
Рубин |
|
|
А 1 2 0 3 : Сг |
|
Метод |
|
|
|
|
|
|
|
|
Вернейля |
|
|
|
Магний-алюминиевая |
M g A l 2 0 4 |
2130 |
То |
же |
[128] |
|||
шпинель |
|
3 A l 2 0 3 - 2 S i 0 2 |
1810 |
» |
» |
[129] |
||
Муллит |
|
|
||||||
Шеелит |
|
|
CaWO, |
1530 |
[130, 1ЗП |
|||
|
|
» |
» |
|||||
Рутил |
циркония |
|
T i 0 2 |
1830 |
» |
» |
[132, |
133] |
Окись |
|
Z r 0 2 |
2700 |
» |
» |
[134 |
||
Окись иттрия |
|
Y 2 0 3 |
2400 |
[135 |
||||
(несте- |
» |
» |
||||||
Магнезиальная |
MgFe 2 0 4 |
Выше 1200 |
Метод |
[136 |
||||
хиометричная) |
шпи |
|
|
светового |
|
|
||
нель |
|
|
|
|
нагрева |
|
|
|
Никелевый феррит |
№ F e 2 0 4 |
Выше 1200 |
То |
же |
[137] |
уменьшить напряжения. Кристаллы1 ), выращиваемые в промы шленных условиях, напряжены и легко раскалываются еще до отжига в газовых печах. Напряжения уменьшаются, если ис пользовать такую систему нагревателей, которая позволила бы проводить отжиг без охлаждения кристалла до комнатной тем пературы. Если нагреватели расположить так, чтобы уменьшить градиенты в печи, напряжения уменьшатся еще больше. Есте ственно, для выращивания методом плавающей зоны могут быть приспособлены такие тепловые источники, как дуговые лампы и лампы накаливания.
5.7. ДРУГИЕ МЕТОДЫ ВЫРАЩИВАНИЯ ИЗ РАСПЛАВА
Метод дифференциального вытягивания можно рассматри вать как модификацию либо метода вытягивания, либо метода плавающей зоны, либо метода Вернейля. Принцип метода
*) Кристаллы, выращенные методом Вернейля и |
аналогичными |
спосо |
бами и не имеющие плоскогранной морфологии, часто |
называются |
булями |
(что в переводе с французского означает шар). |
|
|
238 |
Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ |
|
|
|||
показан на фиг. 5.25, и его целесообразно |
применять, |
когда |
тре |
|||
буется бестигельная |
методика. При таком |
методе телесный |
угол |
|||
для |
подвода энергии |
больше, чем в методе |
плавающей зоны, и |
|||
|
с |
возможен |
лучший |
контроль, |
||
|
|
чем в методах типа Вернейля '). |
||||
|
А у я / ш г а - - | ' J ^ |
5.8. ВЫРАЩИВАНИЕ Д Е Н Д Р И Т О В |
В некоторых случаях тре буется специально выращивать кристаллы, морфология кото
обеспечивающая Расплав рых характеризуется удлинен ными и ветвистыми выступа ми. Такие кристаллы обычно называются дендритами. В разд. 3.11—3.14 уже отмеча лось, что дендритный рост воз можен в условиях высокого концентрационного переохлаж дения. Как правило, всякий
раз, когда температура перед фронтом кристаллизации значи тельно ниже равновесной температуры, вероятен рост дендритов. Это может объясняться следующими причинами:
1. Важную роль играет диффузия, и расплав вблизи фронта роста сильно обогащен примесями, активаторами или раствори
телем. Это — концентрационное |
переохлаждение (разд. 3.11). |
|
2. Скорость роста настолько |
высока, теплота |
кристаллизации |
так велика или теплоотвод настолько слабый, |
что кристалл не |
в состоянии быстро рассеивать теплоту кристаллизации. В таких условиях межфазная граница будет значительно теплее приле гающей жидкости и в результате рост будет дендритным.
На фиг. 5.26, а показано распределение температуры при нормальном росте, а на фиг. 5.26,6 — распределение, когда об разуются дендриты по описанному механизму. На фиг. 5.26, а переохлаждение перед межфазной границей незначительно; на фиг. 5.26, б оно выше и соответственно этому боковые отростки в области межфазной границы могут расти легче, чем прилегаю щие к ней участки. В результате такие отростки, обусловленные ступенями роста, гранями, краевыми участками ячеек при ячеи стом росте и т. д., быстро врастают в расплав. Дендритный рост возможен не только для металлов и при равновесии ж и д к о с т ь - кристалл, но встречается при любых обстоятельствах, когда вы полняется условие 1 или 2. Для полноты картины на фиг. 5.26, в
') См. также хороший обзор Фишера [139] по вопросу выращивания из расплава под давлением электролюминесцентиых полупроводников.
5. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ РАСПЛАВА В ОДНОКОМПОНЕНТНОЙ СИСТЕМЕ 239
мы изобразили распределение температуры при концентрацион ном переохлаждении. Здесь концентрации примеси, активатора или растворителя вблизи межфазной границы выше, чем в объ еме расплава. Примеси сни жают температуру плавления, поэтому область перед фрон том кристаллизации оказыва ется сильно переохлажденной.
Вагнер [99], Боллинг иТиллер [100] иТемкин[101] деталь но рассмотрели условия обра зования дендритов, а Биллиг [45] и Беннет с Лонгини [102] впервые вырастили дендриты в контролируемых условиях.
Наиболее полно изучен, ве роятно, Ge. Кристаллы со структурой типа алмаза, такие, как Ge, выращивают следую щим образом:
|
1. |
Обычно |
берут |
затравку |
|
|
|
|||||
из |
предварительно |
выращен |
|
|
|
|||||||
ного |
дендритного |
кристалла. |
|
|
|
|||||||
Затравка из |
дендрита необхо |
|
|
|
||||||||
дима потому, что такой кри |
|
|
|
|||||||||
сталл, будучи |
|
правильно выра |
|
|
|
|||||||
щен, всегда сдвойникован. При |
|
|
|
|||||||||
правильной ориентировке плос |
|
|
|
|||||||||
кость |
двойникования |
обеспе |
|
|
Расстояние |
|||||||
чит |
постоянную |
ступенчатость |
|
|
||||||||
|
|
в |
||||||||||
межфазной |
границы, |
при |
ко |
|
|
|||||||
торой |
рост |
будет |
происходить |
Ф и г. |
6.26. |
Распределение темпера |
||||||
с высокой |
скоростью |
(см., |
на |
туры |
при |
выращивании дендритов. |
||||||
пример, работы |
[103—105]). |
|
|
|
|
|||||||
|
2. |
После |
установления |
теплового |
равновесия температуру |
|||||||
расплава снижают |
на |
15—20 °С. |
|
|
|
|||||||
|
3. Через несколько секунд начинают вытягивание с высокой |
|||||||||||
скоростью |
(10 |
см/с). |
|
|
|
|
|
Типичным продуктом такого процесса является лентовидный кристалл с гладкими гранями и зубчатыми краями в несколько метров длиной, несколько десятых миллиметра толщиной и меньше сантиметра шириной. Такие кристаллы имеют опреде ленные преимущества в полупроводниковой технике (например, отпадает операция разрезания объемного кристалла), и в па тентной литературе этому вопросу уделяется большое внимание.
6
РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ ПАРОВ
6.1. ВВЕДЕНИЕ
Выращивание кристаллов из паров, или, как говорят иначе, из газовой фазы, в однокомпонентной системе имеет довольно ограниченное применение и в целом ряде способов настолько аналогично выращиванию в моногокомпонентной системе, что мы
в этой главе |
будем |
рассматривать сразу и то и другое. К зыра- |
щиванию из газовой |
фазы прибегают и для получения больших |
|
кристаллов, |
и для |
получения тонких пленок на кристаллах, |
выращенных |
другими методами. Последний метод обычно на |
зывают эпитаксиальным выращиванием из газовой фазы (разд. 6.5). Одно из преимуществ методов выращивания из газо вой фазы заключается в том, что при таких методах очень часто оказывается возможным заранее рассчитать константы равно
весия предполагаемых |
реакций и их температурную |
зависимость |
|
(разд. 2.11). Методы |
выращивания по механизму |
пар — кри |
|
сталл можно систематизировать следующим образом: |
|||
1. Методы |
выращивания в однокомпонентных системах. |
||
а) |
методы |
сублимации — конденсации; |
|
б) |
методы |
распыления; |
|
в) |
методы |
ионного внедрения. |
|
2. Методы выращивания в многокомпонентных системах. а) выращивание при обратимых реакциях; б) выращивание при необратимых реакциях.
Среди методов выращивания в однокомпонентных системах только методы распыления нашли широкое применение при вы ращивании кристаллов, но и их в основном используют для по лучения эпитаксиальных пленок. Методы сублимации — конден сации имеют ограниченное применение, поскольку довольно мало таких веществ, у которых упругость пара была бы доста точно высокой для роста. Вообще говоря, можно вводить допол нительные компоненты, связывающие нелетучие соединения в летучие комплексы; в этом случае рост осуществляется в про цессе реакции. Ионное внедрение, строго говоря, нельзя считать методом выращивания. Это скорее способ активации уже выра щенных кристаллов.
Росту кристаллов из газовой фазы посвящены работы Брен нера [1] (металлы), Бредли [2] (органические вещества), Рей-
6. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ ПАРОВ |
241 |
нольдса [3] (сульфиды), Гленга и Вейжды [4] (кремний), О'Коннора [5] (SiC) 1 ), Мейсона [6] (образование льда) и Энтела [7] (соединения I I I — V групп). Кроме того, о выращивании из газо вой фазы кристаллов полупроводниковых соединений много го ворится в книге под редакцией Грабела [8] и о выращивании
кристаллов основных |
соединений — в |
книге |
под редакцией |
Па- |
уэлла и др. [9]. Для ознакомления с общими |
вопросами роста из |
|||
газовой фазы можно |
рекомендовать |
также |
монографию |
Ше- |
фера [10]; в книге под редакцией Френкомба и Сато [11] много полезной информации по получению монокристаллических пле нок, а при написании этой главы автор в значительной степени пользовался обзором Эллиса [12]2 ).
При выращивании кристаллов из газовой фазы в однокомпонентных системах не возникает проблем, связанных с приме
сями |
и диффузией и |
обусловленных дополнительными |
компо |
|||
нентами, |
но обычно |
требуются |
более высокие |
температуры. |
||
В многокомпонентных |
же системах кристаллы обычно растут |
|||||
при |
более |
низких температурах, |
и поэтому такой |
метод |
приго |
ден для получения кристаллов низкотемпературных полиморф ных модификаций и веществ, испаряющихся инконгруэнтно. Он применяется также там, где по условиям эксперимента невоз можно создать температуры, необходимые для роста кристаллов в однокомпонентных системах.
6.2. СУБЛИМАЦИЯ — КОНДЕНСАЦИЯ
При выращивании кристаллов методом сублимации — кон денсации обычно применяют два типа систем: замкнутые и про точные. В первом случае используют запаянную ампулу или установку для испарения в вакууме. В типичном варианте ме тода системы замкнутого типа (фиг. 6.1, а) транспортируемое вещество помещают в ампулу (обычно из плавленого кварца) и откачивают ее (если вещество инертно по отношению к воз духу, то откачка и не обязательны). Иногда ампулу после от качки заполняют до определенного давления газом, препят ствующим разложению, или инертным газом. Если реакция между газом и транспортируемым веществом существенна, то метод правильнее рассматривать как метод реактивного пере носа. Наличие инертного газа улучшает перенос, поскольку его конвекция способствует движению сублимированных частиц в направлении зоны роста. Но так как средняя длина свободного
') Кроме того, ряд глав, посвященных выращиванию кристаллов SiC из
газовой фазы, имеется в книге под редакцией О'Коннора и Смилтенсена |
[13]. |
|
2 ) |
Хороший обзор физико-химической стороны процессов газового |
пере |
носа |
опубликован Джеффом [83]. |
|
242 |
Р. ЛОДИЗ . РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ |
пробега |
частиц сублимата зависит от давления, в высоком ва |
кууме обычно обеспечивается лучший перенос. Эксперимен тально установлено, что иногда инертные газы-носители помо
гают, а иногда и мешают процессам |
роста. Газы-носители так |
||
же часто |
изменяют морфологию образующихся кристаллов1 ). |
||
В литературе имеется очень много |
таблиц давления |
насыщен |
|
ных паров разных веществ. В табл. |
6.1 перечислены |
некоторые |
|
кристаллы, |
выращенные методами |
сублимации — конденсации |
с использованием замкнутых и проточных систем. Для обеспе чения нужной температуры и градиента используют обычного
Горячая |
Холодная |
Нагреваемая |
|
|
зона |
зона |
подложка |
|
|
1/ |
Нагреваемый |
|
|
V током испаоитель |
|
Шахта |
Зона роста |
||
|
|
|
Вакуумный |
|
|
|
мл па к |
Г1рячая |
Холодная |
|
|
зона |
зона |
|
|
Инертный |
~ |
—w |
|
газ |
. |
К насосу |
|
Шихта |
Зона роста |
|
Фиг. 6.1. Выращивание методом сублимации и конденсации.
о — метод замкнутой системы; б— вакуумное испарение; в —метод проточной системы.
типа горизонтальные и вертикальные трубчатые печи и обычные регуляторы и регистрирующие приборы.
С точки зрения технологии наибольший интерес представ ляет, вероятно, выращивание кристаллов SiC методом переноса в однокомпонентной системе. Метод Лели [19, 20], которым по лучают кристаллы SiC, по существу основан на сублимации. Порошкообразный SiC нагревают в инертной атмосфере до температуры около 2500°С. В центре массы порошка образуются пластинчатые кристаллы a-SiC. Если исходный SiC имеет вид полого цилиндра [20], в который вставлен полый цилиндр из по-
4 ) Возможно, что некоторые из этих эффектов обусловлены процессами
вгазовой фазе, аналогичными концентрационному переохлаждению. При
выращивании из газовой фазы концентрационное переохлаждение может иметь место и в много- и в однокомпонентной системах. В однокомпонентных системах в силу того, что градиент концентрации обусловлен диффузией ИЛИ конвекцией, парциальное давление в некоторых частях системы может пре вышать равновесное парциальное давление над твердым веществом при тем пературах ниже рассматриваемых. Такую ситуацию в паре можно рассмат ривать как аналогичную концентрационному переохлаждению. Вопрос о кон
центрационном переохлаждении при выращивании |
кристаллов иода из газо |
вой фазы анализируется в работе Рида и Ляфлера |
[14]. |
Таблица 6.1
Некоторые кристаллы и пленки, выращенные методом сублимации — конденсации и методом катодного распыления
Вещество Температура°Ссублимации,
320—330 (проточная или замкнутая систе ма)
375—475 (проточная или замкнутая систе ма)
1150—1200 (проточ ная или замкнутая си стема)
1550—1600 (проточ ная или замкнутая си стема)
> 2500 (проточная или замкнутая систе ма)
Электронно-лучевой нагрев (вакуумный ис паритель), вероятно, выше 2000
>1000 ( Г п л = 6 6 0 )
1100—1200 (иногда электронно-лучевой на грев)
>1500
Температура конденсации, °С
250-290
350- -380
1100
1476-1500
<2500
700 В основном
поликристал лические плен ки
<600
Ниже Тпч, главным обра
зом поликри сталлические пленки
То же
Газ
Вакуум, Аг
Аг, Не
Аг
Аг
Инертная
атмосфера
10 - 6 м м рт. ст.
Вакуум
') Значительная диссоциация в паровой фазе; рост может происходить в понентной системе за счет обратимых реакций,
|
Напряжение |
Ток, мА |
Температура |
Давление Аг, |
|
|
Вещество |
при распылении, |
(диаметр |
конденсации, |
|
||
катода |
мм рт. ст. |
|
||||
|
В |
2,5 см) |
"С |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1000 |
1000 |
В основном |
-30- 10" |
[23, 24] |
|
|
|
|
поликри |
|
|
|
|
|
|
сталличе |
|
|
|
|
|
|
ские пленки |
|
|
|
|
|
|
при —195 |
|
|
|
|
1500 |
2 - 1 0 |
- 195 ±300 |
(27 - 73) . 10" |
[24] |
|
|
1500 |
9,5 |
- 19 5 |
59- |
10~S |
[24] |
|
2250 |
10,5 |
1000 |
100- |
1 0 _ 3 |
[23, 24) |