книги из ГПНТБ / Лодиз, Р. Рост монокристаллов
.pdfпо |
Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ |
теплота |
«утекает» от растущей поверхности. При выращивании |
из расплава совершенство кристалла во многом определяется формой поверхности роста. Последняя в свою очередь контро лируется распределением тепловых потоков в кристалле, рас плаве и окружающем пространстве. Поэтому знание процессов теплопередачи обязательно при выборе оптимальных условий кристаллизации в конкретной установке.
Строго говоря, кристаллизацию в присутствии воздуха или инертного газа следовало бы рассматривать как рост в много компонентной системе, но на практике система считается однокомпонентной, если газ не взаимодействует с выращиваемым кристаллом. В случае выращивания в однокомпонентной системе из собственного пара (система газ — кристалл) диффузии при надлежит важная роль. Газовая среда по сравнению с кристал лом столь сильно разрежена, что для поддержания постоян ного роста необходим приток строительных частиц к растущей поверхности из большого объема вокруг кристалла. Средняя длина свободного пробега, или среднее расстояние, которое молекула в газе преодолевает до столкновения с другой моле кулой, определяет скорость движения частиц в газе к растущей поверхности. Средняя длина свободного пробега достаточно точно дается выражением
где % — средняя длина свободного |
пробега, р — общее |
давление, |
|
а •— константа, |
d — диаметр атома |
или молекулы. Из |
формулы |
видно, что чем |
выше давление, тем |
меньше X. Поток |
частиц ср. |
приходящийся на поверхность растущей кристаллической грани единичной площади, есть функция длины X и парциального дав ления частиц. При выращивании из газовой фазы трудно обеспе чить столь же высокие скорости роста, как в других однокомпонентных системах, поскольку этому препятствует диффузия, так что высокие значения ф оказываются недостижимыми. Повы шение парциального давления не решает задачи, поскольку при этом уменьшается длина X. Лимитирующей стадией при кристал лизации рассматриваемого характера могут быть только та кие процессы из числа PI—Р16, в которых не участвуют ни рас творитель, ни минерализатор. Растворение при этом следует за менить испарением. В атмосфере нереакционного газа в число возможных лимитирующих факторов следует включить и диф фузию последнего от поверхности растущего кристалла. К на стоящему времени, как мы увидим ниже, наилучшее соответ ствие между экспериментальными данными и теориями роста кристаллов достигнуто в случае их выращивания из газовой фазы.
3. КИНЕТИКА РОСТА КРИСТАЛЛОВ |
111 |
|
В многокомпонентных системах связанные с диффузией |
ста |
|
дии PI —Р16 способны |
играть важную роль при росте по меха |
|
низмам превращения |
всех фаз (твердой, жидкой и газовой) в |
|
твердую фазу. Таким образом, каждая из стадий PI—Р16 может |
||
оказаться существенной во всех случаях. При твердофазной |
кри |
сталлизации диффузия протекает медленно и часто имеет пер востепенное значение. Контролировать рост в таком случае труд но, так как в твердой фазе всегда найдется много мест для спон танного зарождения.
При росте из многокомпонентной системы в условиях равно весия между жидкостью или газом и твердой фазой скорость диффузии уже не столь мала, но она все еще, как правило, как-
то участвует в стадии, лимитирующей скорость |
кристаллизации. |
|||||||
К тому |
же почти всегда важную роль играют |
реакции на |
||||||
межфазной границе. Если бы диффузия в объеме |
была |
един |
||||||
ственным |
таким |
л имитирующем |
фактором, то |
скорость |
роста |
|||
кристалла во всех направлениях должна была |
бы быть |
одина |
||||||
ковой и кристалл |
приобретал бы сферическую форму. |
|
|
|||||
Ясно, что особенности |
стадий |
PI—Р16 и Д1—Д13 зависят от |
||||||
системы, |
в которой идет |
рост. Так, стадии, связанные |
с раство |
|||||
рителем |
или минерализатором при выращивании из |
раствора, |
||||||
уступают |
место стадиям, связанным с реагентами, при росте по |
|||||||
средством химической реакции. Вместо теплоты |
кристаллизации |
|||||||
или растворения |
(рост из раствора) при твердофазном |
одно- |
компонентном росте приходится рассматривать теплоту превра щения или расстекловывания, а при росте из расплава или пара — теплоту плавления или сублимации. При росте посред ством химической реакции в многокомпонентных системах теп лоту кристаллизации заменяет теплота реакции.
Обычно применительно к однокомпонентным или почти однокомпонентным системам пользуются понятием «переохлаж
дение», |
а к |
многокомпонентным — «пересыщение». |
Переохла |
|||||
ждение |
AT |
определяется |
соотношением |
Д7" = |
ГИ С т — Тратт, |
|||
где ТИСТ |
есть |
действительная температура, |
а |
Г р а |
в н — равновес |
|||
ная температура (температура плавления). |
Пересыщение As |
|||||||
определяют как As = с и с т |
— sP A B H, где с и с т |
есть действительная |
||||||
концентрация, |
a sp a B H — равновесная |
растворимость. В газовых |
||||||
системах As = /?и с т — р р а в н |
(Рист — действительное давление пара |
|||||||
в системе, а |
/9 р а в н — равновесное давление). Определить пере |
|||||||
сыщение |
при химических |
реакциях |
гораздо |
сложнее |
(это де |
|||
лается с учетом конкретных условий |
эксперимента). Для одно |
значного определения движущей силы роста при химической
реакции |
часто пользуются относительным пересыщением, как |
|
оно было |
определено в |
разд. 2.10 и 2.11. Оно играет важную |
роль и в теориях роста |
кристаллов. |
112 |
Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ |
3.6. РОСТ КРИСТАЛЛА КАК ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНАЯ РЕАКЦИЯ
Рост кристаллов охватывает много промежуточных стадий, и почти всегда некоторые из них протекают с сопоставимыми ско ростями. Это значит, что конечная скорость роста определяется всеми такими стадиями. Если слить воедино все стадии на гра ницах раздела и предположить, что наблюдаемая скорость роста определяется только объемной диффузией и реакциями на меж фазных границах, то можно вывести уравнение скорости кри сталлизации.
Если равновесие на межфазной границе устанавливается быстро и поверхностные процессы не лимитируют скорости рос та, то последняя определяется только объемной диффузией, ско рость которой описывается первым законом Фика:
где dm/dt — диффузионное |
приращение массы |
растущей поверх |
||||||
ности за единицу времени, dc/dx |
— градиент |
концентрации |
в |
|||||
перпендикулярном к поверхности |
направлении, |
D — коэффи |
||||||
циент диффузии. А — площадь растущей |
поверхности. |
|
|
|||||
Обозначив через а толщину диффузионного слоя, через св — |
||||||||
концентрацию в объеме раствора и через |
с п о в |
— концентрацию |
||||||
непосредственно |
у растущей поверхности, уравнение (3.10) |
мож |
||||||
но переписать в |
виде |
|
|
|
|
|
|
|
|
dm |
DA , |
, |
|
|
/о |
11 \ |
|
|
dt |
- — ( с в |
- с п о в ) . |
|
|
(3.11) |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Обозначив далее через 91 линейную |
скорость кристаллизации |
на |
||||||
поверхности и учтя, что |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
- ~ = ЙАр, |
|
|
(3.12) |
|||
где р — плотность кристалла, перепишем уравнение |
(3.11) в виде |
|||||||
|
Я = - ^ - ( с в - с п о в ) . |
|
|
(3.13) |
При постоянной толщине а отношение D/a удобно заменить кон стантой скорости диффузии kd, после чего уравнение (3.13) за пишется в виде
® = -~-(cB-cnJ. |
(3.14) |
Это уравнение справедливо даже в том случае, когда .скорость реакции на межфазной границе не столь велика, как скорость диффузии. Если же поверхностная реакция протекает гораздо
|
3. |
КИНЕТИКА РОСТА КРИСТАЛЛОВ |
113 |
||||
быстрее диффузии, |
то с п о в = |
с р а в н , |
где с р а в в |
— равновесная |
кон |
||
центрация. |
|
|
|
|
|
|
|
Если скорости химического взаимодействия на межфазной |
|||||||
границе принадлежит решающая |
роль, то для гетерогенной |
ре |
|||||
акции |
первого порядка |
справедливо соотношение |
|
||||
|
|
£1 |
= = kiA |
( с п о в |
с р а в н ) , |
(3.15) |
|
где kt |
— «константа |
скорости |
поверхностных |
процессов». Произ |
|||
ведя |
соответствующую |
подстановку, получим |
|
||||
|
|
|
= |
( с пов |
Сравн)- |
(3.16) |
Константа kt в общем случае зависит от кристаллографического-
направления роста. Уравнение (3.16) справедливо |
и в том слу |
||||
чае, когда скорость диффузии |
сопоставима со скоростью поверх |
||||
ностных процессов. Если же скорость диффузии |
значительно |
||||
превышает скорость таких |
процессов, то с п о в |
= Св. |
|
||
В случае последовательных реакций концентрацию с„ о в мож |
|||||
но исключить при |
переходе |
от уравнения |
(3.12) |
к уравнению |
|
(3.14); тогда |
* |
|
|
|
|
g i = |
Tl(Ukd) |
+ |
(Ukl)] ( С В — Сравн). |
(3.17) |
Уравнение (3.17) справедливо, когда диффузия и поверхностные процессы протекают как две последовательные стадии с сопо
ставимыми скоростями. В уравнении |
(3.17) скорость 31 зависит, |
|||
разумеется, от направления. При больших значениях k{ |
это урав |
|||
нение сводится к |
уравнению |
(3.14), |
а при больших |
значениях |
kd — к уравнению |
(3.16). Если |
k{ и kd |
имеют постоянные значе |
ния при всех условиях конкретного эксперимента, то |
|
|
±. |
+ ± = 1 , |
(3.18) |
^ = |
^(св-сравн). |
(3.19) |
Можно допустить, что kfi и ki не зависят ни от концентрации, ни от давления в широких пределах изменения последних, но изменяются с температурой. Их температурная зависимость, по крайней мере в первом приближении, выражается уравнениями Аррениуса
k d = |
a d e - < h \ |
(3.20) |
*, = |
« , в - А / * г , |
(3.21) |
114 |
Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ |
||||
где ad и я, суть в первом |
приближении константы, не зависящие |
||||
от температуры, |
a |
AEd |
и |
АЕ*С — энергии |
активации соответ |
ственно диффузии и гетерогенной реакции |
(поверхностных про |
||||
цессов). Поскольку |
АЕа |
обычно составляет около 10 кДж/моль, |
|||
а величина АЕ\ |
значительно |
больше, kt зависит от температуры |
сильнее. Очень часто к подчиняется уравнению Аррениуса в широкой области экспериментальных условий.
3.7. ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТЬ РЕАКЦИЙ НА М Е Ж Ф А З Н О Й ГРАНИЦЕ
Одна из основных трудностей при анализе кинетики роста кристаллов связана с решением дифференциальных уравнений, описывающих последовательный рост. Решение такой задачи весьма сложно при одновременном анализе более чем двух ста дий, но особенно большие трудности возникают при рассмотре нии процессов на межфазной границе, где стадии реакции труд но поддаются экспериментальному изучению').
Подробный исторический анализ идей в области исследова ния кинетики реакций здесь, по-видимому, не уместен. Кабрера и Франк первыми сформулировали теорию, объясняющую непре рывность роста — даже при низких пересыщениях. Они рассмат ривают дислокации как источник невырождающихся ступеней спиральной формы. Их работы [6, 15—19] учитывают и более ранние теоретические исследования Странского и Фольмера. Этим представлениям наиболее близко соответствует рост плотноупакованных граней с малыми индексами при выращивании кристалла из собственного пара при температурах гораздо ниже температуры плавления. Диффузия при этом не учитывается. Многие положения теории можно распространить и на более сложные системы, но основные концепции наиболее полно раз работаны именно для подобных условий. Грань с малыми индек сами при температуре существенно ниже температуры плавления остается атомарно-гладкой. Рост таких граней из собственного пара в однокомпонентной системе можно представить содержа щим следующие стадии:
1)присоединение атома к поверхности (адсорбция или хемосорбция);
2)двумерная диффузия атома к ступени;
3) |
присоединение |
атома к ступени; |
4) |
одномерная диффузия вдоль ступени к излому; |
|
5) |
присоединение |
у излома. |
') Современные |
представления о |
стабильности |
межфазной границы и |
о форме кристалла |
(морфологической |
стабильности) |
в значительной мере |
базируются на работе Маллинса и Секерки [39]. |
|
3. КИНЕТИКА РОСТА КРИСТАЛЛОВ |
115 |
При испарении эти стадии следуют в обратном порядке. При равновесии скорость испарения равна скорости конденсации. Ясно, что рост возможен лишь в том случае, когда скорость кон денсации превосходит скорость испарения.
Если плотность изломов превосходит плотность ступеней, а скорость двумерной диффузии атома по поверхности соизмерима со скоростью его одномерной диффузии вдоль ступени, то чет вертую и пятую стадии можно исключить из, числа лимитирую щих факторов. Полагая, что энергия образования излома на ступени равна приблизительно '/ю энергии испарения1 ), Франк вычислил, что при минимальных температурах, обеспечивающих достаточное для роста кристалла давление пара, изломы на сту пени образуются через три-четыре атома.
Двумерная диффузия атома по поверхности и, вероятно, его одномерная диффузия вдоль ступени должны идти с большими и сопоставимыми скоростями. По оценке Франка, энергия акти вации двумерной диффузии на плоской грани составляет оксло V20 энергии, необходимой для перевода атома из излома в поло жение изолированного атома на поверхности. Таким образом, одномерная диффузия вдоль ступени и присоединение атома в изломе обычно не сдерживают скорости роста. Можно показать, что при давлении пара около Ю^1 1 МПа ( Ю - 1 0 кгс/см2 ) среднее расстояние, которое атом успевает преодолеть в процессе дву мерной диффузии до испарения с поверхности, составляет не сколько сотен атомных диаметров. Следовательно, атомы посту пают к изломам главным образом благодаря поверхностной диф фузии, а не прямо из пара.
Таким образом, можно сделать вывод, что при наличии по стоянно действующего источника ступеней скорость роста сдер живается адсорбцией атомов из пара и их диффузией к ступеням по поверхности. Когда ступень достигнет края кристалла, необ ходима новая ступень. Ее образование начинается с адсорбции или хемосорбции одиночного атома на поверхности и разви вается путем присоединения к нему соседних атомов как к «ост
рову» на кристаллической грани. Средний «радиус» |
зародыша |
г, |
|
с достижением которого такой островок начинает |
разрастаться, |
||
находят из условия, что вероятность присоединения |
атома равна |
||
вероятности его отрыва. Это |
дает |
|
|
r = |
_ i 2 L , |
(3.22) |
' |
|
kT In а ' |
4 |
') Эта оценка вытекает из сравнения общей энергии связей атомов на ступени и в изломе с энергией атомов внутри кристалла. Энергии связей вычисляют исходя из числа атомов и расстояний до них в первой, второй и третьей координационных сферах по методу, аналогичному изложенному в разд. 3.3.
116 |
Р. ЛОДЙЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ |
|
где So — площадь, занимаемая |
атомом в слое, у — удельная сво |
|
бодная краевая |
энергия зародыша (зависит от его ориентации); |
|
k — постоянная |
Больцмана; |
а — относительное пересыщение, |
равное отношению давления пара р в системе к его равновес
ному давлению р |
0 |
(а = р/ро)- Островок радиусом больше г ста |
нет разрастаться, |
|
а при меньших размерах сокращаться. |
Уравнение (3.22) представляет собой разновидность уравне ний, выводимых для критического размера жидких капель при их зарождении в паровой фазе. Формирование нового слоя за висит от флуктуации адсо£шщоьтньии.л^Д£куд, образующих зародыш критического размера. Скорость образования таких
зародышей Г выражается |
формулой |
|
1 |
£± е - A,/kT |
(3.23) |
|
s0 |
|
где Z — скорость поступления молекул в узлы кристаллической решетки на поверхности, S — площадь поверхности при условиях эксперимента, До — половина полной краевой свободной энергии зародыша (энергия активации зародышеобразования). Вели чину А0 вычисляют по формуле
где ф — удвоенная |
энергия края, |
приходящаяся на |
один атом. |
||
Если ограничиться |
рассмотрением только ближайших |
соседей, |
|||
то ф составляет |
приблизительно |
7б атомной энергии |
испарения. |
||
Из уравнений |
(3.23) и (3.24) |
можно определить |
то |
значение |
а, которое необходимо для образования островков со скоростью Г, составляющей несколько микрометров в месяц. Как следует из кинетической теории газов, даже при заметных давлениях ско рость Z не может значительно превышать 1013 с - 1 . Для кристал ла миллиметровых размеров отношение S/s0 не может быть больше 10й , составляя, как правило, 109. Отсюда легко вычис лить, что предэкспоненциальный множитель в уравнении (3.23) должен быть порядка 1027 —102 2 ; следовательно, чтобы скорость
роста Г составляла около |
1 мкм/мес, lnoc должен быть |
равен |
|
хотя бы (ф/А7, )2 /90. Отсюда |
видно, что при разумных значениях |
||
kT |
отношение р/ро должно |
быть не менее 25—50% ') • Фольмер |
|
и |
Шульце [5] показали, что при пересыщениях выше 1% |
ско |
рость роста иода возрастает пропорционально пересыщению и измеряется десятыми долями миллиметра в час. Такие же высо кие скорости роста с их линейной зависимостью от пересыщения
*) Образование зародышей на посторонних адсорбированных частицах или поверхностных дефектах структуры кристалла может происходить при существенно меньших пересыщениях. — Прим. ред.
3. КИНЕТИКА РОСТА КРИСТАЛЛОВ |
П7 |
*1 ' |
-— |
наблюдались и для других веществ. Подобный же расчет был проведен еще в 1935 г. Беккером и Дёрингом [20], а затем и дру гими авторами. Однако именно Кабрера и Франк первыми по казали, что при наличии на грани с малыми индексами спираль ной дислокации необходимость в образовании зародыша отпа дает, причем при низких пересыщениях такая скорость роста может достигать конечного значения и должна быть пропорцио нальной пересыщению.
При наличии винтовой дислокации процесс роста протекает как вращение ступени вокруг точки ее соединения с дислока цией. Таким образом, кристалл представляет собой как бы одинединственный геликоидальный слой (фиг. 3.4). Естественно, что на поверхность кристалла могут выходить несколько винтовых дислокаций; рост на них может происходить Независимо или в условиях их взаимодействия, что зависит от их векторов Бюргерса и расстояний между ними.
Ступень на грани с выходом одной дислокации будет прямой в условиях равновесия между кристаллом и средой и почти пря мой при низких пересыщениях. В пересыщенной среде ступень продвигается вперед со скоростью VQ. При условии, что ступень остается практически прямой, скорость v0 можно вычислить по формуле
v0 = 2(a- |
1) XSZ$, |
(3.25) |
где Xs — средняя длина свободного пробега |
атома но поверх |
|
ности до момента его испарения; |
р — коэффициент, обычно рав |
|
ный приблизительно единице1 ); |
Z — частота |
соударения атомов |
с узлами решетки на поверхности при равновесии пара с кри сталлом.
Справедливость уравнения (3.25) можно доказать следую щими рассуждениями. Лишь половина всех атомов, которые падают на поверхность в примыкающей к данной ступени диф фузионной зоне протяженностью Xs, достигает этой ступени за счет диффузии. Точно так же половина атомов из примыкающей к ступени зоны протяженностью 2XS попадает в зону протяжен ностью Xs, так что ступени достигнет только lU их числа. Следо вательно, общее число всех атомов, достигающих ступени с одной стороны, определится как сумма
% ^ |
= ZXS. |
(3.26) |
л=1 |
|
|
') При росте из растворов, при росте в ходе |
химических реакций и во |
|
обще в многокомпонентных системах, |
а также в |
системах из крупных не |
сферических молекул коэффициент Р может быть очень малой величиной, лимитирующей скорость роста [41—44]. — Прим. ред.
118 |
Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ |
Это число необходимо удвоить, так как атомы диффундируют к ступени с двух сторон. При равновесии с поверхности испарится тоже 2ZXS атомов. Если давление пара в системе превышает равновесное, то скорость продвижения ступени будет опреде ляться избытком «поступающих» атомов по сравнению с испа ряющимися. Этот избыток учитывается в уравнении (3.25) мно жителем ( а — 1 ) . Множитель |3 отличается от единицы в том случае, когда изломы значительно удалены друг от друга или когда вероятность удержания атома у излома существенно от личается от единицы.
а |
б |
Ф и г . 3.8. Развитие |
спирали. |
Прямая ступень со временем искривляется, как это схемати чески изображено на фиг. 3.8. На этом рисунке (б) показан вид на дислокацию сверху на разных стадиях роста. Линия 1 отве чает началу роста конфигурации, изображенной на фиг. 3.8, а, причем буквой а указан излом. В процессе роста ступень дви жется в направлении, показанном стрелкой, и приобретает кон фигурацию, обозначенную линией 2. На последующих стадиях появляются конфигурации 3, 4 и 5. В конечном счете образуется спираль, по форме близкая к Архимедовой спирали. Атомы при соединяются по всей длине ступени с одинаковой скоростью, но угловая скорость спирали у центра больше. Скорость продвиже ния ступени с радиусом закругления р А по Франку равна
(3.27)
где р к р —радиус закругления зародыша критического размера. Скорость роста 32 рассматриваемой поверхности определяет ся как произведение числа витков спирали, проходящих через
данную точку поверхности за единичное время, на высоту сту пени d.
3. |
КИНЕТИКА РОСТА КРИСТАЛЛОВ |
119 |
|||
Франк показал, |
что при |
незначительном |
пересыщении |
||
|
& = |
р dZ |
, |
(3.28) |
|
где |
о = а— |
1 |
(3.29) |
||
и |
|||||
|
|
|
|
||
|
ст, = |
Ю у ^ - б Г . |
(3.30) |
||
|
|
s |
|
|
|
При значительном |
пересыщении |
|
|
||
|
M = $dZo. |
|
(3.31) |
Таким образом, при низком пересыщении зависимость скорости роста от пересыщения — параболическая, а при высоком — ли нейная.
Переход от параболической к линейной зависимости проис ходит тогда, когда расстояние между витками спирали стано вится меньше 2XS и между ними возникает конкуренция из-за молекул, поступающих из пара. Вычисления показывают, что в случае иода такой переход должен совершаться приблизительно при 10%-ном пересыщении. Это хорошо согласуется с экспери ментальными данными Фольмера и Шульце.
3.8. Д В И Ж Е Н И Е СТУПЕНЕЙ
Все вышесказанное относится к росту в стационарном ре жиме. Рост кристалла до установления стационарного режима и устойчивость скорости роста при небольших возмущениях рас сматриваются в так называемой «кинематической» теории роста кристаллов [18].
Кабрера создал кинематическую |
теорию движения ступени |
на основе представлений Лайтхилла |
и Уайтхэма [21], сформули |
рованных ими при анализе транспортного потока по магистра лям. Когда скорость роста зависит от плотности ступеней, теория описывает профиль кристалла и скорость изменения расстояний между ступенями в процессе роста. Подобно тому как на пере груженной магистрали возникают транспортные пробки, на рас тущей поверхности возникают скопления ступеней. Такими скоп
лениями ступеней объясняются |
видимые (иногда |
невооружен |
ным глазом) высокие ступени |
на выращенных |
кристаллах |
(фиг. 3.9). Предпринимались попытки проанализировать другие
возможные ситуации, |
когда скорость |
роста зависит не только |
от плотности ступеней, |
но и от других |
факторов, например ад |
сорбции примесей, но количественный анализ таких ситуаций очень сложен. На фиг.. 3.10, а изображено поперечное сечение кристалла со ступенями и скоплениями ступеней. Обычно высота