Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Лодиз, Р. Рост монокристаллов

.pdf
Скачиваний:
25
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
35.03 Mб
Скачать

по

Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

теплота

«утекает» от растущей поверхности. При выращивании

из расплава совершенство кристалла во многом определяется формой поверхности роста. Последняя в свою очередь контро­ лируется распределением тепловых потоков в кристалле, рас­ плаве и окружающем пространстве. Поэтому знание процессов теплопередачи обязательно при выборе оптимальных условий кристаллизации в конкретной установке.

Строго говоря, кристаллизацию в присутствии воздуха или инертного газа следовало бы рассматривать как рост в много­ компонентной системе, но на практике система считается однокомпонентной, если газ не взаимодействует с выращиваемым кристаллом. В случае выращивания в однокомпонентной системе из собственного пара (система газ — кристалл) диффузии при­ надлежит важная роль. Газовая среда по сравнению с кристал­ лом столь сильно разрежена, что для поддержания постоян­ ного роста необходим приток строительных частиц к растущей поверхности из большого объема вокруг кристалла. Средняя длина свободного пробега, или среднее расстояние, которое молекула в газе преодолевает до столкновения с другой моле­ кулой, определяет скорость движения частиц в газе к растущей поверхности. Средняя длина свободного пробега достаточно точно дается выражением

где % — средняя длина свободного

пробега, р — общее

давление,

а •— константа,

d — диаметр атома

или молекулы. Из

формулы

видно, что чем

выше давление, тем

меньше X. Поток

частиц ср.

приходящийся на поверхность растущей кристаллической грани единичной площади, есть функция длины X и парциального дав­ ления частиц. При выращивании из газовой фазы трудно обеспе­ чить столь же высокие скорости роста, как в других однокомпонентных системах, поскольку этому препятствует диффузия, так что высокие значения ф оказываются недостижимыми. Повы­ шение парциального давления не решает задачи, поскольку при этом уменьшается длина X. Лимитирующей стадией при кристал­ лизации рассматриваемого характера могут быть только та­ кие процессы из числа PI—Р16, в которых не участвуют ни рас­ творитель, ни минерализатор. Растворение при этом следует за­ менить испарением. В атмосфере нереакционного газа в число возможных лимитирующих факторов следует включить и диф­ фузию последнего от поверхности растущего кристалла. К на­ стоящему времени, как мы увидим ниже, наилучшее соответ­ ствие между экспериментальными данными и теориями роста кристаллов достигнуто в случае их выращивания из газовой фазы.

3. КИНЕТИКА РОСТА КРИСТАЛЛОВ

111

В многокомпонентных системах связанные с диффузией

ста­

дии PI —Р16 способны

играть важную роль при росте по меха­

низмам превращения

всех фаз (твердой, жидкой и газовой) в

твердую фазу. Таким образом, каждая из стадий PI—Р16 может

оказаться существенной во всех случаях. При твердофазной

кри­

сталлизации диффузия протекает медленно и часто имеет пер­ востепенное значение. Контролировать рост в таком случае труд­ но, так как в твердой фазе всегда найдется много мест для спон­ танного зарождения.

При росте из многокомпонентной системы в условиях равно­ весия между жидкостью или газом и твердой фазой скорость диффузии уже не столь мала, но она все еще, как правило, как-

то участвует в стадии, лимитирующей скорость

кристаллизации.

К тому

же почти всегда важную роль играют

реакции на

межфазной границе. Если бы диффузия в объеме

была

един­

ственным

таким

л имитирующем

фактором, то

скорость

роста

кристалла во всех направлениях должна была

бы быть

одина­

ковой и кристалл

приобретал бы сферическую форму.

 

 

Ясно, что особенности

стадий

PI—Р16 и Д1—Д13 зависят от

системы,

в которой идет

рост. Так, стадии, связанные

с раство­

рителем

или минерализатором при выращивании из

раствора,

уступают

место стадиям, связанным с реагентами, при росте по­

средством химической реакции. Вместо теплоты

кристаллизации

или растворения

(рост из раствора) при твердофазном

одно-

компонентном росте приходится рассматривать теплоту превра­ щения или расстекловывания, а при росте из расплава или пара — теплоту плавления или сублимации. При росте посред­ ством химической реакции в многокомпонентных системах теп­ лоту кристаллизации заменяет теплота реакции.

Обычно применительно к однокомпонентным или почти однокомпонентным системам пользуются понятием «переохлаж­

дение»,

а к

многокомпонентным — «пересыщение».

Переохла­

ждение

AT

определяется

соотношением

Д7" =

ГИ С т — Тратт,

где ТИСТ

есть

действительная температура,

а

Г р а

в н равновес­

ная температура (температура плавления).

Пересыщение As

определяют как As = с и с т

— sP A B H, где с и с т

есть действительная

концентрация,

a sp a B H — равновесная

растворимость. В газовых

системах As = /?и с т — р р а в н

(Рист действительное давление пара

в системе, а

/9 р а в н — равновесное давление). Определить пере­

сыщение

при химических

реакциях

гораздо

сложнее

(это де­

лается с учетом конкретных условий

эксперимента). Для одно­

значного определения движущей силы роста при химической

реакции

часто пользуются относительным пересыщением, как

оно было

определено в

разд. 2.10 и 2.11. Оно играет важную

роль и в теориях роста

кристаллов.

112

Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

3.6. РОСТ КРИСТАЛЛА КАК ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНАЯ РЕАКЦИЯ

Рост кристаллов охватывает много промежуточных стадий, и почти всегда некоторые из них протекают с сопоставимыми ско­ ростями. Это значит, что конечная скорость роста определяется всеми такими стадиями. Если слить воедино все стадии на гра­ ницах раздела и предположить, что наблюдаемая скорость роста определяется только объемной диффузией и реакциями на меж­ фазных границах, то можно вывести уравнение скорости кри­ сталлизации.

Если равновесие на межфазной границе устанавливается быстро и поверхностные процессы не лимитируют скорости рос­ та, то последняя определяется только объемной диффузией, ско­ рость которой описывается первым законом Фика:

где dm/dt — диффузионное

приращение массы

растущей поверх­

ности за единицу времени, dc/dx

— градиент

концентрации

в

перпендикулярном к поверхности

направлении,

D — коэффи­

циент диффузии. А — площадь растущей

поверхности.

 

 

Обозначив через а толщину диффузионного слоя, через св

концентрацию в объеме раствора и через

с п о в

— концентрацию

непосредственно

у растущей поверхности, уравнение (3.10)

мож­

но переписать в

виде

 

 

 

 

 

 

 

 

dm

DA ,

,

 

 

11 \

 

dt

- — ( с в

- с п о в ) .

 

 

(3.11)

 

 

 

 

 

 

 

 

Обозначив далее через 91 линейную

скорость кристаллизации

на

поверхности и учтя, что

 

 

 

 

 

 

 

 

 

- ~ = ЙАр,

 

 

(3.12)

где р — плотность кристалла, перепишем уравнение

(3.11) в виде

 

Я = - ^ - ( с в - с п о в ) .

 

 

(3.13)

При постоянной толщине а отношение D/a удобно заменить кон­ стантой скорости диффузии kd, после чего уравнение (3.13) за­ пишется в виде

® = -~-(cB-cnJ.

(3.14)

Это уравнение справедливо даже в том случае, когда .скорость реакции на межфазной границе не столь велика, как скорость диффузии. Если же поверхностная реакция протекает гораздо

 

3.

КИНЕТИКА РОСТА КРИСТАЛЛОВ

113

быстрее диффузии,

то с п о в =

с р а в н ,

где с р а в в

равновесная

кон­

центрация.

 

 

 

 

 

 

Если скорости химического взаимодействия на межфазной

границе принадлежит решающая

роль, то для гетерогенной

ре­

акции

первого порядка

справедливо соотношение

 

 

 

£1

= = kiA

( с п о в

с р а в н ) ,

(3.15)

где kt

— «константа

скорости

поверхностных

процессов». Произ­

ведя

соответствующую

подстановку, получим

 

 

 

 

=

( с пов

Сравн)-

(3.16)

Константа kt в общем случае зависит от кристаллографического-

направления роста. Уравнение (3.16) справедливо

и в том слу­

чае, когда скорость диффузии

сопоставима со скоростью поверх­

ностных процессов. Если же скорость диффузии

значительно

превышает скорость таких

процессов, то с п о в

= Св.

 

В случае последовательных реакций концентрацию с„ о в мож­

но исключить при

переходе

от уравнения

(3.12)

к уравнению

(3.14); тогда

*

 

 

 

 

g i =

Tl(Ukd)

+

(Ukl)] ( С В Сравн).

(3.17)

Уравнение (3.17) справедливо, когда диффузия и поверхностные процессы протекают как две последовательные стадии с сопо­

ставимыми скоростями. В уравнении

(3.17) скорость 31 зависит,

разумеется, от направления. При больших значениях k{

это урав­

нение сводится к

уравнению

(3.14),

а при больших

значениях

kd к уравнению

(3.16). Если

k{ и kd

имеют постоянные значе­

ния при всех условиях конкретного эксперимента, то

 

±.

+ ± = 1 ,

(3.18)

^ =

^(свравн).

(3.19)

Можно допустить, что kfi и ki не зависят ни от концентрации, ни от давления в широких пределах изменения последних, но изменяются с температурой. Их температурная зависимость, по крайней мере в первом приближении, выражается уравнениями Аррениуса

k d =

a d e - < h \

(3.20)

*, =

« , в - А / * г ,

(3.21)

114

Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

где ad и я, суть в первом

приближении константы, не зависящие

от температуры,

a

AEd

и

АЕ*С энергии

активации соответ­

ственно диффузии и гетерогенной реакции

(поверхностных про­

цессов). Поскольку

АЕа

обычно составляет около 10 кДж/моль,

а величина АЕ\

значительно

больше, kt зависит от температуры

сильнее. Очень часто к подчиняется уравнению Аррениуса в широкой области экспериментальных условий.

3.7. ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТЬ РЕАКЦИЙ НА М Е Ж Ф А З Н О Й ГРАНИЦЕ

Одна из основных трудностей при анализе кинетики роста кристаллов связана с решением дифференциальных уравнений, описывающих последовательный рост. Решение такой задачи весьма сложно при одновременном анализе более чем двух ста­ дий, но особенно большие трудности возникают при рассмотре­ нии процессов на межфазной границе, где стадии реакции труд­ но поддаются экспериментальному изучению').

Подробный исторический анализ идей в области исследова­ ния кинетики реакций здесь, по-видимому, не уместен. Кабрера и Франк первыми сформулировали теорию, объясняющую непре­ рывность роста — даже при низких пересыщениях. Они рассмат­ ривают дислокации как источник невырождающихся ступеней спиральной формы. Их работы [6, 15—19] учитывают и более ранние теоретические исследования Странского и Фольмера. Этим представлениям наиболее близко соответствует рост плотноупакованных граней с малыми индексами при выращивании кристалла из собственного пара при температурах гораздо ниже температуры плавления. Диффузия при этом не учитывается. Многие положения теории можно распространить и на более сложные системы, но основные концепции наиболее полно раз­ работаны именно для подобных условий. Грань с малыми индек­ сами при температуре существенно ниже температуры плавления остается атомарно-гладкой. Рост таких граней из собственного пара в однокомпонентной системе можно представить содержа­ щим следующие стадии:

1)присоединение атома к поверхности (адсорбция или хемосорбция);

2)двумерная диффузия атома к ступени;

3)

присоединение

атома к ступени;

4)

одномерная диффузия вдоль ступени к излому;

5)

присоединение

у излома.

') Современные

представления о

стабильности

межфазной границы и

о форме кристалла

(морфологической

стабильности)

в значительной мере

базируются на работе Маллинса и Секерки [39].

 

3. КИНЕТИКА РОСТА КРИСТАЛЛОВ

115

При испарении эти стадии следуют в обратном порядке. При равновесии скорость испарения равна скорости конденсации. Ясно, что рост возможен лишь в том случае, когда скорость кон­ денсации превосходит скорость испарения.

Если плотность изломов превосходит плотность ступеней, а скорость двумерной диффузии атома по поверхности соизмерима со скоростью его одномерной диффузии вдоль ступени, то чет­ вертую и пятую стадии можно исключить из, числа лимитирую­ щих факторов. Полагая, что энергия образования излома на ступени равна приблизительно '/ю энергии испарения1 ), Франк вычислил, что при минимальных температурах, обеспечивающих достаточное для роста кристалла давление пара, изломы на сту­ пени образуются через три-четыре атома.

Двумерная диффузия атома по поверхности и, вероятно, его одномерная диффузия вдоль ступени должны идти с большими и сопоставимыми скоростями. По оценке Франка, энергия акти­ вации двумерной диффузии на плоской грани составляет оксло V20 энергии, необходимой для перевода атома из излома в поло­ жение изолированного атома на поверхности. Таким образом, одномерная диффузия вдоль ступени и присоединение атома в изломе обычно не сдерживают скорости роста. Можно показать, что при давлении пара около Ю^1 1 МПа ( Ю - 1 0 кгс/см2 ) среднее расстояние, которое атом успевает преодолеть в процессе дву­ мерной диффузии до испарения с поверхности, составляет не­ сколько сотен атомных диаметров. Следовательно, атомы посту­ пают к изломам главным образом благодаря поверхностной диф­ фузии, а не прямо из пара.

Таким образом, можно сделать вывод, что при наличии по­ стоянно действующего источника ступеней скорость роста сдер­ живается адсорбцией атомов из пара и их диффузией к ступеням по поверхности. Когда ступень достигнет края кристалла, необ­ ходима новая ступень. Ее образование начинается с адсорбции или хемосорбции одиночного атома на поверхности и разви­ вается путем присоединения к нему соседних атомов как к «ост­

рову» на кристаллической грани. Средний «радиус»

зародыша

г,

с достижением которого такой островок начинает

разрастаться,

находят из условия, что вероятность присоединения

атома равна

вероятности его отрыва. Это

дает

 

 

r =

_ i 2 L ,

(3.22)

'

 

kT In а '

4

') Эта оценка вытекает из сравнения общей энергии связей атомов на ступени и в изломе с энергией атомов внутри кристалла. Энергии связей вычисляют исходя из числа атомов и расстояний до них в первой, второй и третьей координационных сферах по методу, аналогичному изложенному в разд. 3.3.

116

Р. ЛОДЙЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

где So площадь, занимаемая

атомом в слое, у — удельная сво­

бодная краевая

энергия зародыша (зависит от его ориентации);

k — постоянная

Больцмана;

а — относительное пересыщение,

равное отношению давления пара р в системе к его равновес­

ному давлению р

0

= р/ро)- Островок радиусом больше г ста­

нет разрастаться,

 

а при меньших размерах сокращаться.

Уравнение (3.22) представляет собой разновидность уравне­ ний, выводимых для критического размера жидких капель при их зарождении в паровой фазе. Формирование нового слоя за­ висит от флуктуации адсо£шщоьтньии.л£куд, образующих зародыш критического размера. Скорость образования таких

зародышей Г выражается

формулой

 

1

£± е - A,/kT

(3.23)

 

s0

 

где Z — скорость поступления молекул в узлы кристаллической решетки на поверхности, S — площадь поверхности при условиях эксперимента, До — половина полной краевой свободной энергии зародыша (энергия активации зародышеобразования). Вели­ чину А0 вычисляют по формуле

где ф удвоенная

энергия края,

приходящаяся на

один атом.

Если ограничиться

рассмотрением только ближайших

соседей,

то ф составляет

приблизительно

7б атомной энергии

испарения.

Из уравнений

(3.23) и (3.24)

можно определить

то

значение

а, которое необходимо для образования островков со скоростью Г, составляющей несколько микрометров в месяц. Как следует из кинетической теории газов, даже при заметных давлениях ско­ рость Z не может значительно превышать 1013 с - 1 . Для кристал­ ла миллиметровых размеров отношение S/s0 не может быть больше 10й , составляя, как правило, 109. Отсюда легко вычис­ лить, что предэкспоненциальный множитель в уравнении (3.23) должен быть порядка 1027 —102 2 ; следовательно, чтобы скорость

роста Г составляла около

1 мкм/мес, lnoc должен быть

равен

хотя бы (ф/А7, )2 /90. Отсюда

видно, что при разумных значениях

kT

отношение р/ро должно

быть не менее 25—50% ') • Фольмер

и

Шульце [5] показали, что при пересыщениях выше 1%

ско­

рость роста иода возрастает пропорционально пересыщению и измеряется десятыми долями миллиметра в час. Такие же высо­ кие скорости роста с их линейной зависимостью от пересыщения

*) Образование зародышей на посторонних адсорбированных частицах или поверхностных дефектах структуры кристалла может происходить при существенно меньших пересыщениях. — Прим. ред.

3. КИНЕТИКА РОСТА КРИСТАЛЛОВ

П7

*1 '

-—

наблюдались и для других веществ. Подобный же расчет был проведен еще в 1935 г. Беккером и Дёрингом [20], а затем и дру­ гими авторами. Однако именно Кабрера и Франк первыми по­ казали, что при наличии на грани с малыми индексами спираль­ ной дислокации необходимость в образовании зародыша отпа­ дает, причем при низких пересыщениях такая скорость роста может достигать конечного значения и должна быть пропорцио­ нальной пересыщению.

При наличии винтовой дислокации процесс роста протекает как вращение ступени вокруг точки ее соединения с дислока­ цией. Таким образом, кристалл представляет собой как бы одинединственный геликоидальный слой (фиг. 3.4). Естественно, что на поверхность кристалла могут выходить несколько винтовых дислокаций; рост на них может происходить Независимо или в условиях их взаимодействия, что зависит от их векторов Бюргерса и расстояний между ними.

Ступень на грани с выходом одной дислокации будет прямой в условиях равновесия между кристаллом и средой и почти пря­ мой при низких пересыщениях. В пересыщенной среде ступень продвигается вперед со скоростью VQ. При условии, что ступень остается практически прямой, скорость v0 можно вычислить по формуле

v0 = 2(a-

1) XSZ$,

(3.25)

где Xs — средняя длина свободного пробега

атома но поверх­

ности до момента его испарения;

р — коэффициент, обычно рав­

ный приблизительно единице1 );

Z — частота

соударения атомов

с узлами решетки на поверхности при равновесии пара с кри­ сталлом.

Справедливость уравнения (3.25) можно доказать следую­ щими рассуждениями. Лишь половина всех атомов, которые падают на поверхность в примыкающей к данной ступени диф­ фузионной зоне протяженностью Xs, достигает этой ступени за счет диффузии. Точно так же половина атомов из примыкающей к ступени зоны протяженностью 2XS попадает в зону протяжен­ ностью Xs, так что ступени достигнет только lU их числа. Следо­ вательно, общее число всех атомов, достигающих ступени с одной стороны, определится как сумма

% ^

= ZXS.

(3.26)

л=1

 

 

') При росте из растворов, при росте в ходе

химических реакций и во­

обще в многокомпонентных системах,

а также в

системах из крупных не­

сферических молекул коэффициент Р может быть очень малой величиной, лимитирующей скорость роста [41—44]. — Прим. ред.

118

Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

Это число необходимо удвоить, так как атомы диффундируют к ступени с двух сторон. При равновесии с поверхности испарится тоже 2ZXS атомов. Если давление пара в системе превышает равновесное, то скорость продвижения ступени будет опреде­ ляться избытком «поступающих» атомов по сравнению с испа­ ряющимися. Этот избыток учитывается в уравнении (3.25) мно­ жителем ( а — 1 ) . Множитель |3 отличается от единицы в том случае, когда изломы значительно удалены друг от друга или когда вероятность удержания атома у излома существенно от­ личается от единицы.

а

б

Ф и г . 3.8. Развитие

спирали.

Прямая ступень со временем искривляется, как это схемати­ чески изображено на фиг. 3.8. На этом рисунке (б) показан вид на дислокацию сверху на разных стадиях роста. Линия 1 отве­ чает началу роста конфигурации, изображенной на фиг. 3.8, а, причем буквой а указан излом. В процессе роста ступень дви­ жется в направлении, показанном стрелкой, и приобретает кон­ фигурацию, обозначенную линией 2. На последующих стадиях появляются конфигурации 3, 4 и 5. В конечном счете образуется спираль, по форме близкая к Архимедовой спирали. Атомы при­ соединяются по всей длине ступени с одинаковой скоростью, но угловая скорость спирали у центра больше. Скорость продвиже­ ния ступени с радиусом закругления р А по Франку равна

(3.27)

где р к р —радиус закругления зародыша критического размера. Скорость роста 32 рассматриваемой поверхности определяет­ ся как произведение числа витков спирали, проходящих через

данную точку поверхности за единичное время, на высоту сту­ пени d.

3.

КИНЕТИКА РОСТА КРИСТАЛЛОВ

119

Франк показал,

что при

незначительном

пересыщении

 

& =

р dZ

,

(3.28)

где

о = а—

1

(3.29)

и

 

 

 

 

 

ст, =

Ю у ^ - б Г .

(3.30)

 

 

s

 

 

При значительном

пересыщении

 

 

 

M = $dZo.

 

(3.31)

Таким образом, при низком пересыщении зависимость скорости роста от пересыщения — параболическая, а при высоком — ли­ нейная.

Переход от параболической к линейной зависимости проис­ ходит тогда, когда расстояние между витками спирали стано­ вится меньше 2XS и между ними возникает конкуренция из-за молекул, поступающих из пара. Вычисления показывают, что в случае иода такой переход должен совершаться приблизительно при 10%-ном пересыщении. Это хорошо согласуется с экспери­ ментальными данными Фольмера и Шульце.

3.8. Д В И Ж Е Н И Е СТУПЕНЕЙ

Все вышесказанное относится к росту в стационарном ре­ жиме. Рост кристалла до установления стационарного режима и устойчивость скорости роста при небольших возмущениях рас­ сматриваются в так называемой «кинематической» теории роста кристаллов [18].

Кабрера создал кинематическую

теорию движения ступени

на основе представлений Лайтхилла

и Уайтхэма [21], сформули­

рованных ими при анализе транспортного потока по магистра­ лям. Когда скорость роста зависит от плотности ступеней, теория описывает профиль кристалла и скорость изменения расстояний между ступенями в процессе роста. Подобно тому как на пере­ груженной магистрали возникают транспортные пробки, на рас­ тущей поверхности возникают скопления ступеней. Такими скоп­

лениями ступеней объясняются

видимые (иногда

невооружен­

ным глазом) высокие ступени

на выращенных

кристаллах

(фиг. 3.9). Предпринимались попытки проанализировать другие

возможные ситуации,

когда скорость

роста зависит не только

от плотности ступеней,

но и от других

факторов, например ад­

сорбции примесей, но количественный анализ таких ситуаций очень сложен. На фиг.. 3.10, а изображено поперечное сечение кристалла со ступенями и скоплениями ступеней. Обычно высота

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ