Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Кузнецов, Р. А. Активационный анализ

.pdf
Скачиваний:
62
Добавлен:
22.10.2023
Размер:
15.42 Mб
Скачать

вием ионизирующего излучения. Энергия возбуждения испус­ кается затем в виде квантов света, которые регистрируются фотоэлектронным умножителем (ФЭУ). Последний преобразует световую вспышку в поток электронов и усиливает его, давая на сопротивлении нагрузки импульс напряжения.

Сцинтилляторами служат некоторые неорганические и орга­ нические вещества в газообразной, жидкой и твердой формах. Среди них наиболее широкое применение находят моно­ кристаллы йодистого натрия, активированные таллием Nal(Tl). Режеиспользуются органические монокристаллы (стильбен, антрацен и др.) и пластмассовые сцинтилляторы (терфенил в полистироле), а также жидкие сцинтилляторы (раствор терфенила в ксилоле).

Сцинтилляционные детекторы в той или иной степени чувст­ вительны ко всем видам излучений. Путем подбора сцинтилля­ тора и условий измерения можно получить систему, чувстви­ тельную преимущественно к одному виду излучения. Так, моно­ кристаллы Nal(Tl) реагируют на a-, (3- и у-излучение. Однако два первые из них можно отфильтровать, поместив между де­ тектором и источником подходящий поглотитель.

Г Полупроводниковые детекторы. Они работают на принципе, аналогичном газовым детекторам. В веществе детектора со сравнительно низкой проводимостью создается электрическое поле. Когда заряженная частица проникает в рабочий объем детектора, она затрачивает энергию на образование электронно­ дырочных пар. Под действием электрического поля образую­ щиеся заряды собираются на электродах, давая на нагрузке импульс, амплитуда которого пропорциональна энергии, поте­ рянной в рабочем объеме детектора. Если пробег частицы пол­ ностью укладывается в пределах рабочего объема, то амплитуда импульса пропорциональна полной энергии частицы.

Имеется несколько типов полупроводниковых детекторов, среди которых наибольший интерес представляют барьерные и диффузные. Глубина рабочего слоя барьерных детекторов не превышает 1 мм, поэтому их можно применять для регистрации тяжелых заряженных частиц и мягкого (3-излучения. Рабочий объем диффузных детекторов много больше, поэтому они при­ годны для измерения у- и жесткого |3-излучения.

Диффузные детекторы готовят из кремния или германия с дырочной проводимостью (p-типа), которую компенсируют путем диффузии лития (донор). Область с компенсированной плотностью примесей донорного и акцепторного типов представ­ ляет рабочий объем детектора. Наиболее эффективны к у-излу- чению Ge(Li)-детекторы. Однако их использование и хранение требуют охлаждения до температуры жидкого азота.

Основные характеристики детекторов: общая эффективностьГ мертвое время и энергетическое разрешение. Каждый детектор имеет определенное сочетание этих параметров, которые показы­

39

вают его возможности при регистрации ионизирующего излуче­ ния. Эффективность — это отношение числа импульсов регистра­ ции к числу частиц, попавших в рабочий объем детектора. Мертвое время отражает длительность процессов, происходящих в детекторе при одном акте регистрации. В пределах мертвого времени детектор не способен к нормальной реакции на появле­ ние в рабочем объеме новой частицы. Энергетическое разреше­ ние определяет способность детектора к раздельной регистрации частиц близких энергий (см. § 1 гл. 7). Некоторые параметры детекторов приведены в табл. 1.

203

 

 

Т а б л и ц а

1

 

Сводка основных параметров детекторов *

 

 

 

 

Энергетическое разрешение, %

 

Детектор

Мертвое вре­

а = 5 Мэе

Р=1 Мэе

7=0,66

мэв

 

мя, сек

Счетчик Гейгера—Мюлле­

2 -1 0 -4

ра (самогаеящийся)

Пропорциональный счет­

Около

10_ 4

чик

Органический сцинтилля­

ю

- °

тор

Кристалл Nal (Т1)

2,5-10—7

Полупроводниковый по­

10-»

верхностно-барьерный

Полупроводниковый

10—7

Ge (Li)

* Указаны предельные величины.

1,5

Около 6

~ 6

— — 7,5

0,2—0,5 0,5—1 __

— — 0,5

Измерительные установки. На выходе детекторов получается распределение импульсов, которое содержит всю полезную ин­ формацию о регистрируемом излучении. Для перевода этой ин­ формации в форму, пригодную для дальнейшей математической обработки, необходимы специальные устройства [44—46]. Наи­ более простое из них — счетная установка, которая служит для подсчета числа импульсов АД поступающих от детектора за время измерения.

В счетном режиме могут использоваться все детекторы, отме­ ченные выше. Однако у многих из них амплитуда импульсаУимп пропорциональна энергии £ Изл, потерянной зарегистриро­ ванной частицей (квантом) в рабочем объеме детектора,, т. е. имеет место зависимость Гпмп= &£изл, где k — коэффициент пропорциональности. Поэтому амплитудное распределение им­ пульсов от таких детекторов содержит в себе информацию об энергетическом спектре регистрируемого излучения. Анализ та­ ких распределений проводят с помощью дискриминаторов и ана­ лизаторов.

31

Интегральный дискриминатор представляет собой электрон­ ную систему, пропускающую на счетное устройство только те импульсы, амплитуда которых превышает порог дискриминации Уд. Это означает, что такой прибор фиксирует частицы с энер­ гией выше определенного значения. Изменяя порог дискрими­ нации, можно устанавливать нужную граничную энергию.

Дифференциальный анализатор позволяет регистрировать только те импульсы, амплитуда которых лежит в заданном интервале АУД, что в энергетических единицах соответствует разности энергий АЕИЗЛ. Если величину ДКд сделать достаточно малой и последовательно увеличивать нижний порог дискрими­

нации, то

получим

дифференциальный амплитудный спектр

А/';= / ( Уд) .

Из этого

спектра при соответствующей обработке

можно извлечь весьма ценную информацию о качественном и количественном составе зарегистрированного излучения.

Наиболее совершенные приборы — многоканальные ампли­ тудные анализаторы. Эти приборы обычно работают на прин­ ципе амплитудно-временного преобразования. Амплитуда посту­ пившего на вход анализатора импульса преобразуется в про­ порциональное ей число стандартных импульсов. Это число соответствует номеру канала анализатора, в котором происхо­

дит регистрация отсчета.

Эффективность регистрации. Из уравнений (2.15) и (2.23)

•вытекает возможность количественных определений по интенсив­ ности мгновенного излучения или активности радиоизотопа. Однако из-за действия ряда факторов только некоторая доля излучения может дать полезный сигнал на выходе измеритель­ ного устройства. Тогда при отсутствии помех будет справед­

ливо соотношение

 

 

 

 

nt = eAd,

(3.1)

где rii — скорость

счета прибора;

е — эффективность

регистра­

ции; Ad — активность радиоизотопа.

конкретную измерительную

Эффективность

характеризует

ситуацию и обусловливается несколькими факторами. Прежде всего на эффективность регистрации сильное влияние оказывают геометрические параметры системы детектор—источник: раз­ меры и форма детектора и источника, расстояние между ними, особенности их взаимного расположения. Большую роль могут играть и эффекты, связанные с поглощением и рассеянием иони­ зирующего излучения в веществе источника, упаковке детектора и других вспомогательных конструкционных материалах (покры­ тие детектора, подложка источника, поглотители и т. д.). Кроме того, надо знать параметры схемы распада радиоизотопа или возбужденного уровня, т. е. выход излучения, коэффициент кон­ версии и т. п. В заключение важно подчеркнуть большое значе­ ние эффективности детектора, которая обычно зависит от энер­

,32

гии излучения. В таких случаях требуется измерение спектраль­ ной чувствительности детектора.

Учет всех перечисленных факторов или уменьшение их влия­ ния до пренебрежимого уровня часто представляет сложную

проблему, которая не всегда может

быть

разрешена

быстро и

с необходимой точностью. Поэтому,

как

правило,

прибегают

к проведению измерений в фиксированных условиях, поддержи­ ваемых постоянными во всей серии проводимых определений. Тогда количественные оценки можно выполнять абсолютным или относительным методом. В первом из них калибруют прибор по эффективности с помощью препаратов, абсолютная актив­ ность которых известна. Во втором последовательно измеряют активности пробы и эталона.

Статистическая погрешность при измерениях радиоактив­ ности. В радиометрических методах сигнал, несущий полезную информацию, обладает следующими свойствами:

1)радиоактивный распад ядер, а следовательно, и регист­ рируемое излучение (сигнал) относятся к случайным явлениям, подчиняющимся статистическим закономерностям;

2)сигнал имеет дискретный характер и выражается в числе

отсчетов (импульсов) регистрирующего

устройства;

3) сигнал изменяется во времени в

соответствии с законом

радиоактивного распада.

Перечисленные свойства рассматриваемого сигнала приводят к особой форме распределения результатов измерения, которое только в определенных условиях переходит в нормальное [47]. Последнее, как известно, наиболее распространено в других (нерадиометрических) методах анализа [48, 49].

Пусть облучение дало Аво радиоактивных ядер с постоян­ ной распада X. Тогда вероятность распада определенного числа ядер Nd за время измерения t113м задается законом биномиаль­ ного распределения

(3.2)

(3.3)

Среднее квадратическое отклонение числа распадов от среднего рассчитывается из выражения

(3.4)

Анализ показывает, что биномиальное распределение, если его применять для статистической обработки числа отсчетов регист­ рирующего устройства, переходит в распределение Пуассона

2 Р. А. Кузнецов

33

при соблюдении хотя бы одного из следующих условий: а) ис­ ходное число радиоактивных ядер достаточно велико б)-длительность измерения мала по сравнению с периодом полу­ распада радиоизотопа i/2); в) эффективность регистра­ ции низка (e<Cl). Тогда закон распределения вероятности числа

отсчетов приобретает форму

[

 

(3.5)

Это распределение при малом

числе отсчетов несимметрично,

но с их ростом становится все более симметричным относительно среднего значения.

Для распределения Пуассона лучшим приближением к сред­

нему числу отсчетов является величина (jVj + l), а для

среднего

квадратического отклонения имеет место равенство sN=

V N i+ \.

Однако если /V, велико

(более 100), то соответствующие пре­

образования приводят к хорошо известному закону

Гаусса:

P(N t) =

e- (Ni~Ni)V2Ni

(3.6)

 

]/ 2nNi

 

Здесь наблюдается полная симметрия относительно N{=Ni. Наилучшим приближением к истинному среднему числу отсче­ тов ATi является сама измеренная величина Л^, а среднее квад­

ратическое

отклонение равно

s= V Ni. Тогда

относительная

погрешность

равна

s,.= l / j /

ЛД

Поскольку

для

долгоживущих

радиоизотопов

справедливо

соотношение

Ni =nits3M, где лг —

скорость счета,

то

получаем

sr= 1 / У -л^изм-

Следовательно,

уменьшение относительной погрешности требует набора доста­ точно большого числа отсчетов, что приводит к соответствую­ щему увеличению длительности измерения. Для короткоживущих изотопов такой способ повышения точности неприменим, и поэтому, чтобы достигнуть максимального эффекта, необхо­ димо должным образом планировать условия облучения и изме­ рения. Возможная альтернатива состоит также в цикличном способе облучения и измерения с суммированием числа отсчетов.

Поправка на фон. При радиометрических измерениях в по­ лучаемые результаты необходимо вводить поправку на число фоновых отсчетов, которые возникают в результате действия космического излучения и радиоактивных загрязнений окружаю­ щей среды. Фон прибора определяется в отдельном опыте в от­ сутствие исследуемого препарата. В результате скорость счета радиоизотопа лгполучается как разность между скоростью счета

суммарного эффекта щ +ф и скоростью счета

фона Яф:

t l t Л£Дф — Лф.

(3.7)

34

Среднее квадратическое отклонение скорости счета равно

s =

V ni+4) + пф ,

(3.8)

а относительная погрешность

 

sг

 

(3-9)

Поправка на мертвое

время. Используемые

измерительные

установки обладают ограниченной временной разрешающей способностью, т. е. они тоже имеют мертвое время. Поэтому временное разрешение регистрирующей системы в целом опре­ деляется параметрами основных элементов — детектора и элек­ тронных систем. О мертвом времени детекторов речь уже шла (см. табл. 1). Что касается электроники, то для простых счет­ ных устройств разработаны весьма быстродействующие элек­ тронные системы, мертвое время которых не превышает 10~8— 10~9 сек [46]. Правда, наибольшее распространение получили устройства с временным разрешением около 10~6 сек. В боль­ шинстве практических случаев этого вполне достаточно.

Хуже обстоит дело со сложными анализирующими устрой­ ствами типа многоканальных анализаторов, которые представ­ ляют важнейший элемент наиболее совершенных спектромет­ рических установок. Их мертвое время лежит в пределах 10~5—10_3 сек, что накладывает определенные ограничения на возможности практического применения.

При высокой интенсивности излучения истинную с к о р о с т ь счета, т. е. число частиц, попавших за единичный интервал вре­ мени в чувствительный объем детектора, следует рассчитывать по соотношению

где fii — зарегистрированная скорость счета; тм — мертвое вре­ мя установки.

Уравнение (3.10) справедливо только для источников с по­ стоянной интенсивностью. Если его интенсивность меняется в ходе измерения, т. е. в источнике содержатся короткоживущие изотопы, то поправка на просчеты может быть рассчитана толь­ ко при известном законе изменения интенсивности во времени. Поскольку во многих случаях активационных определений этот закон не известен и к тому же может быть достаточно сложным из-за наличия нескольких радиоизотопов в смеси, поправки на просчеты не могут быть корректно рассчитаны. Тогда остается единственный путь получения правильных результатов — подбор таких условий анализа, чтобы регистрируемая активность не превышала определенного уровня.

2 35

§ 2. Методы получения количественных результатов

Абсолютный метод. Конечным результатом всякого количе­ ственного метода анализа должны быть данные о содержании определяемого компонента в анализируемой пробе. При актива­ ционном анализе количественные определения возможны на ос­

новании соотношений (2.23) и (2.15). Ниже речь

пойдет в ос­

новном только о первом из них.

 

 

 

Исходя

из

уравнения

(2.23), по измеренной

абсолютной

активности

A di> известным

условиям

облучения

и измерения

(Ф, ^обл,

/расп)

и табличным

значениям ядерных

параметров

(Сакт,

0,

X)

можно рассчитать количество определяемого эле­

мента. Такой подход получил

название

абсолютного метода.

Несмотря на кажущуюся простоту, на практике абсолютный метод в строгом виде используется очень редко из-за трудности достижения точных результатов. Прежде всего далеко не всегда можно с требуемой точностью определить плотность потока ак­ тивирующих частиц в зоне облучения каким-либо прямым фи­ зическим методом.

Так, в случае заряженных частиц для этих целей можно использовать измерение тока пучка. Для нейтронных же пото­ ков приходится прибегать преимущественно к облучению мони­ тора, т. е. известного количества какого-либо элемента, имею­ щего благоприятные активационные характеристики, с после­ дующим расчетом Ф по уравнению (2.23).

ч В абсолютном методе весьма важным обстоятельством яв-

.ляется строгое постоянство потока активирующего излучения во 'времени и по объему облучаемой пробы. Желательно постоян-

•ство потока излучения в течение целой серии аналитических •*определений, тогда абсолютный метод имеет значительное пре­ имущество и может сэкономить массу времени. К сожалению, такая ситуация встречается крайне редко, и поэтому для кон­ троля за потоком активирующего излучения требуется облучение монитора при каждом определении. Но тогда имеется много оснований рассматривать этот вариант как частный случай метода мониторов. К тому же не всегда точно известны величи­ ны сечений ядерных реакций, которые сильно зависят от энер­ гии активирующего излучения, и поэтому даже небольшое из­ менение энергетического спектра может привести к значитель­

ной погрешности.

Достаточно сложную проблему представляет определение абсолютной активности, особенно если измерения проводятся по |3-излучепию. Для этого прибегают либо к помощи 4.тт-счетчиков, либо к введению большого числа поправок при измерениях с помощью счетчикоь других типов. Значительно более просто и точно абсолютную активность можно измерить с помощью гам­

ма-спектрометра, предварительно прокалиброванного по эф­ фективности.

36

Метод эталонов. Многие трудности, свойственные абсолют­ ному методу, отпадают, если одновременно с анализируемой пробой облучить точно известное количество определяемого элемента эталон. После облучения может быть использован инструментальный или радиохимический вариант. В обоих слу­ чаях активность эталона и исследуемого препарата (пробы) измеряют в одинаковых условиях. При необходимости вводят поправки на химический выход, радиоактивный распад и т. д.

Содержание

определяемого элемента

при этом рассчитывают

из простого соотношения

 

 

 

 

 

 

т х _

А х

 

 

(3.11)

 

 

т=

А*

 

 

 

 

 

 

 

где тх и

т-?, — количество элемента

соответственно

в пробе

и эталоне,

а

А х и Аа— соответствующие

активности

(скорости

счета).

 

 

 

 

 

 

Нетрудно

видеть, что в случае

метода

эталонов нет необхо­

димости точно знать плотность потока активирующего излуче­ ния, лишь бы она была постоянной по всему объему, занимае­ мому пробой и эталонами. Отпадает также требование к по­ стоянству интенсивности активирующего излучения во времени. Погрешность величины сечения активации и изменения в энер­ гетическом спектре активирующего излучения уже не оказы­ вают влияния на конечные результаты. Абсолютные измерения заменяются относительными, которые в целом много проще и часто точнее. Все это вместе взятое заметно облегчает прове­ дение активационного анализа и повышает точность опреде­ ления.

Метод мониторов. В последнее время значительное распро­ странение получил метод мониторов, который в конечном счете приобрел право на самостоятельное существование. Его сущ­ ность состоит в контроле за условиями облучения, главным образом за интенсивностью активирующего излучения, какимлибо подходящим способом. При этом важно, чтобы между

показаниями монитора _ЛМ и средней плотностью

потока

акти­

вирующего излучения Ф в пробе имела

место

определенная

функциональная связь типа

 

 

 

 

КФ.

 

 

(3.12)

где

— коэффициент пропорциональности.

 

опре­

 

Если кж можно с высокой точностью

рассчитать или

делить экспериментально в калибровочных опытах, то из вы­

ражения (3.12) рассчитывается Ф и открывается возможность применения абсолютного метода. Однако если kM оценить не­ возможно или сложно, и в то же время без затруднений можно обеспечить его постоянство в проводимой серии определений, то применяют следующую методику.

37

Облучают вместе монитор и эталон и получают величины А.ш и A.j в заданных условиях анализа. Затем с тем же мони­ тором (или аналогичным) облучают пробу и получают вели­ чины Лмж и Ах. Важно подчеркнуть, что Ах и Аэ определяют с теми же предосторожностями, что и з методе эталонов. Из уравнений (3.11) и (3.12) не представляет труда получить выражение для количественных расчетов:

т

Ах

— м -э-

т э

(3.13)

А э

 

А

3

 

Рассмотренный метод можно распространить на несколько определяемых элементов, и тогда при анализе проб отпадает необходимость каждый раз одновременно облучать и затем измерять соответствующее количество эталонов.

В качестве монитора обычно используют определенное ко­ личество элемента, обладающего благоприятными активацион­ ными характеристиками. Например, для активационного ана­ лиза на тепловых нейтронах часто используют мониторы из золота, марганца, кобальта, меди и других элементов, а также некоторые сплавы (например, сплав кобальта с алюминием). Исходный материал должен быть в такой форме, чтобы из него без труда можно было бы сделать необходимое количество стандартных мониторов (определенной массы и формы). Чаще всего для этого используется проволока или фольга. Не сле­ дует упускать из вида и возможность повторного использо­ вания монитора после выдержки.

Частный случай метода мониторирования — использование в качестве монитора одного из компонентов пробы (или добав­ ляемого к пробе). Последний поэтому носит название внутрен­ него монитора.

Для мониторирования могут быть использованы и другие методы. Например, в случае заряженных частиц можно изме­ рять ток пучка в ходе облучения. Иногда с помощью различ­ ных счетных устройств регистрируют интенсивность вторичного или рассеянного излучения, величина которой пропорциональ­ на основному потоку. Правда, можно отметить, что подобные методы мониторирования находят сравнительно ограниченное применение.

Метод мониторов имеет определенные преимущества в це­ лом ряде случаев и прежде всего тогда, когда интенсивность активирующего излучения (поток активирующих частиц или квантов) в данной серии анализов меняется от одного облуче­ ния к другому. Метод мониторирования заслуживает особого внимания при серийном определении большого числа элемен­ тов в одной пробе, когда эталоны в каждом анализе требуют ■больших затрат труда и времени на различные подготовитель­ ные операции и измерение активностей. Ограничивающим фак­ тором может быть и недостаток места в контейнере для облу­

38

чения. Иногда одновременное облучение и измерение пробы и эталона оказываются невозможными или трудными, как, на­ пример, при проведении анализа по короткоживущим изото­ пам или при использовании источников с сильным градиентом потока активирующих частиц.

Недостатки метода мониторов связаны с необходимостью строго выдерживать интервалы времени в ходе анализа и с зависимостью конечных результатов от нестабильности интен­ сивности и спектра активирующего излучения при облучении. Эти факторы оказывают влияние на величину kM. Однако тща­ тельное планирование невыполнение анализа позволяют в зна­ чительной степени уменьшить действие перечисленных фак­ торов;.

§ 3. Оценка пределов обнаружения

Под пределом обнаружения понимается минимальное коли­ чество элемента, которое еще может быть надежно обнаружено в данных условиях анализа. Таким образом, предел обнару­ жения ограничивает область применимости данного метода со стороны низких концентраций, т. е. задает чувствительность метода *. Поскольку в активационном анализе сигналом, несу­ щим количественную информацию, является ионизирующее из­ лучение радиоактивных ядер, нижняя граница определяемых концентраций зависит от минимального числа распадов, кото­ рое может быть зарегистрировано с достаточной надежностью.

В связи с важностью проблемы многие исследователи за­ нимались анализом факторов, влияющих на чувствительность активационного анализа, проводили теоретическую и экспери­ ментальную оценки пределов обнаружения элементов в различ­ ных условиях определения. Однако результаты этих исследова­ ний не всегда строго сопоставимы из-за отсутствия общеприня­ той терминологии и различий в выборе критериев для оценки пределов обнаружения. Критический разбор этой проблемы выполнили X. Э. Гунне, Л. Л. Пелекис [50] и Курри [51].

Для решения различных задач, связанных с оценкой воз­ можностей аналитического метода для определения минималь­ ных количеств вещества, вводятся три величины: 1) критиче­ ский предел обнаружения Lc, с помощью которого можно толь­ ко принять решение о том, указывает ли полученный результат на присутствие определяемого компонента; 2) предел обнару­

жения Ld — служит границей уверенной

регистрации элемента;

3) порог определения LQ— представляет

значение,

обеспечива­

* Вообще ■щшин «чувствительность» в значении предела

обнаружения

не рекомендуете к употреблению, и сделанное отступление

представляет

дань давней традиции.

 

 

39

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ