книги из ГПНТБ / Кузнецов, Р. А. Активационный анализ
.pdfрис. 38 [187]. Для работы система устанавливается внутри уско рительной камеры источника ионов.
Ядерные реакции на заряженных частицах часто сопровож
даются вылетом вторичных заряженных частиц |
другого типа, |
||
чем исходные. Энергия вторичных |
частиц при |
определенной |
|
энергии |
облучения — это величина, |
характерная |
для данной |
ядерной |
реакции, которая допускает |
надежную идентификацию |
Рис. 38. Схема экспериментальной установки |
для |
||||
аналитических |
исследований по методу спектро |
||||
метрии |
мгновенных заряженных |
частиц: |
|
||
1 — цилиндр |
Фарадея; 2 — мишень; 3 — детектор; |
4 — |
|||
предусилитель; 5 — основной |
усилитель; 6 — одноканаль |
||||
ный анализатор; |
7 — счетное |
устройство; |
8 — многока |
||
нальный анализатор; 9 — интегратор тока. |
|
взаимодействующих ядер. Большая часть вторичных частиц вы летает в направлении, противоположном движению пучка ионов, поэтому детектор стремятся расположить должным образом. Однако конечные размеры детектора и необходимость пропу стить пучок ионов к мишени приводят к компромиссному реше
нию— детектор |
помещают под углом |
150—165° по отношению |
к направлению движения пучка ионов. |
рассеяние часть ионов |
|
От мишени |
претерпевает упругое |
первичного пучка, поэтому для их поглощения детектор закры вают тонкой пленкой из майлара. Чтобы подавление рассеян ных частиц было успешным, максимальная энергия пучка не должна превышать некоторого предела. С помощью такой уста новки измеряют спектры вторичного излучения мишени, по которым можно осуществить идентификацию ядер, вступающих в реакцию, и проводить количественные расчеты (рис. 39).
Таким способом можно получить разнообразную аналитиче скую информацию [179, 181, 187]. Процесс измерения очень прост и быстр. Учитывая, что в таких экспериментах энергия
150
активирующего излучения мала (0,5—1,5 Мэе), метод приго ден только к исследованию тонких поверхностных пленок на
содержание некоторых легких |
элементов. В результате появ |
|
ляется возможность |
изучения |
реакций и процессов в тонких |
поверхностных слоях. |
Это может быть кинетика окисления ме |
|
таллов, сорбция в парах, диффузия в твердом теле и т. д. |
||
2,7Изд |
ч,оизд |
|
|
|
Номер канала |
|
90 |
|
-100 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Рис. 39. Спектр |
мгновенных а-частиц реакций |
(d , |
а ) |
на |
||
|
мишени из АЬОз, обогащенной 180: |
|
|
|
|||
|
/ — реакция lsO(d, |
a)HN; 2 — реакция 180(d, a)16N. |
|
|
|||
Чувствительность метода очень высока. Например, при токе |
|||||||
пучка |
дейтронов 1 |
мка |
и энергии |
730 кэв |
по |
реакции |
|
180(р, |
a )15N может |
быть надежно обнаружено |
3,7-К)-12 г изо |
||||
топа |
180 при длительности |
облучения |
всего 3,5 |
мин. |
Столь вы |
сокая чувствительность обусловлена низким фоном полупровод никовых детекторов и высоким выходом заряженных частиц. При
изучении изотопных эффектов можно |
определить |
отношение |
|
180 /160 |
непосредственно из получившегося спектра |
по отноше |
|
нию площадей пиков (см. рис. 39). |
позволяет |
исследовать |
|
Для |
достаточно толстых слоев метод |
распределение концентрации изучаемого компонента по глуби не поверхностного слоя [179]. Так, четко выраженный резонанс ный характер реакции 180 (р, a )l5N (рис. 40) предоставляет очень удобную возможность для таких исследований.
Если энергия протонов равна 629 кэв, то имеет место мак симальный выход a-частиц. При повышении энергии пучка об ласть резонансной энергии протонов перемещается в глубь про бы. Следовательно, основной процесс генерации a -ча'стиц будет происходить уже в тонком слое на некоторой глубине. Интен сивность a -частиц дает количество искомого компонента на этой глубине. Меняя последовательно энергию излучения, можно
151
установить исследуемое распределение кислорода по глубине. Разрешение высокое и составляет ~320 А для окисной пленки на поверхности циркония.
§ 3. Спектрометрия р-излучения
Подавляющее большинство радиоизотопов, образующихся при всех методах активации, испытывает p-распад с испуска нием электронов или позитронов. Этот процесс, как правило, сопровождается у-излучением, и в общей массе радиоизотопов лишь небольшое число их являются чистыми р-излучателями. Поскольку спектроскопия у-излучения имеет значительное превосходство перед спектроскопией p-излучения, последняя получила незначительное распространение. Основные ее недо статки вытекают из сплошного энергетического распределения и небольшой проникающей способности р-частиц. Последнее свой ство требует приготовления для прецизионных измерений доста точно тонких источников.
Для идентификации р-излучателя необходимо определить максимальную энергию спектра. В практике активационного анализа для этой цели находят применение полупроводниковые и сцинтилляционные бета-спектрометры и метод поглощения. Идентификация и раздельное количественное определение не скольких компонентов в смеси любым из перечисленных выше методов представляют сложную проблему и практически реали зуются при числе компонентов не более 3—4. Возникающие при анализе сложных смесей р-излучателей затруднения обусловле
152
v
ны низкой характерностью p-спектров (сплошное распределе ние, несколько p-переходов у одного радиоизотопа, помехи со стороны у-излучения). Поэтому бета-спектрометрия в актива ционном анализе находит преимущественное применение для проверки радиохимической чистоты препаратов и идентифика ции (3-излучателей с простой схемой распада (без сопровож дающего у-излучения), а также для раздельного определения 2—3 компонентов в смеси, сильно различающихся по макси мальной энергии р-спектра.
Метод поглощения
Пробег |3-частиц в веществе пропорционален их начальной энергии. Поэтому, определив максимальный пробег р-частиц в нужном веществе путем последовательного увеличения тол-
Рис. 41. Зависимость между пробегом и энергией Р=частиц.
щины фильтра между источником и детектором до постоянной скорости счета, можно оценить максимальную энергию спектра по приближенному соотношению [43]:
|
Ер, „акс = 1,92 V |
R l макс + |
0,22% макс |
; |
|
||
|
|
0,05 < % |
макс < |
3,0 |
Мэе. |
|
(7.1) |
На рис. 41 |
связь |
между пробегом |
и Ер, макс представлена |
гра |
|||
фически. |
анализа |
кривых поглощения в своей |
наиболее |
про |
|||
Метод |
стой форме дает значение Ер, макс с относительной погрешностью 10—15%, причем для достижения такой точности требуется до статочно высокий начальный уровень скорости счета — более
153
3-103 имп/мин. Точность определения энергии методом погло щения можно повысить, используя более сложные и трудоемкие
методы [43, 184].
В настоящее время метод поглощения, как метод идентифи кации и анализа смесей [5-излучателей, по существу вытеснен более совершенными методами спектроскопии с помощью сцинтилляционных или полупроводниковых спектрометров. Сейчас практический интерес могут представлять лишь отдельные слу чаи, когда этот метод дает простое решение аналитической проблемы.
Например, Винчестер [188] использовал метод поглощения для избирательного определения К в силикатных минералах и породах. Поскольку радиоизотоп 42К (Ер, макс= 3,55 Мэе, Т1/2 — = 12,5 ч) обладает весьма жестким (5-излучением, то, используя алюминиевый фильтр толщиной 700 мг/см2, можно дискримини ровать p-излучение многих других элементов (кроме As, Ga, In) и определить К в интервале 0,1-4-5% с относительной погреш ностью 2%.
Сцинтилляционные и полупроводниковые бета-спектрометры
Для анализа сплошных p-спектров ни один тип спектромет ров не имеет особых преимуществ перед другим. Определение Ер, макс с помощью бета-спектрометров может производиться в дифференциальном или интегральном режиме как из тонких, так и из толстых источников. В зависимости от условий калиб ровка спектрометра производится по радиоизотопам с известной Ер, макс (сплошной спектр) или по электронам конверсии (моноэнергетический спектр). Бета-спектрометры позволяют доста точно точно определять Ер, Ма к с с препаратом сравнительно не большой активности.
Интегральные методы. Галлик и др. [189] показали, что зави симость числа отсчетов от положения порога интегрального дис криминатора при измерении [5-излучателя с простой схемой распада на сцинтилляционном спектрометре в основной своей части представляет прямую линию. Если эту прямолинейную часть продлить, то она пересечет ось абсцисс в точке, которая характеризует максимальную энергию излучения. Положение точки пересечения мало зависит от обратного отражения, тол щины препарата, расстояния источник — детектор.
Оценку энергии препарата осуществляют по калибровочно му графику с точностью до 2 отн. % для энергий выше 0,3 Мэе. Большое удобство интегрального метода заключается в возмож ности использования для определений не только сухих препа ратов, но и растворов, которые наливают в небольшую кювету.
В случае смеси двух [5-излучателей кривая зависимости чис ла отсчетов от уровня дискриминации сначала криволинейна и переходит в прямую линию, когда мягкий компонент полностью
154
дискриминируется. Суммарную кривую можно разложить на компоненты. Экстраполируя прямую до оси ординат и вычитая ее из общей кривой, получают кривую для мягкого компонен та. Такой подход позволяет проводить качественный и количе ственный анализ простой смеси (3-излучателей. Присутствие же сткого у-излучения может помешать анализу.
Другой подход к быстрой идентификации (3-излучателей ин тегральным методом развит Трусевичем и др. [] 90]. С помощью сцинтилляционного спектрометра измеряют число отсчетов ис следуемого препарата и эталоны (известный (3-излучатель) при нескольких фиксированных уровнях интегральной дискримина ции. Для каждого уровня находят отношение Ni/N0, где N0— число отсчетов для нижнего уровня дискриминации; Л/* — число отсчетов для г-го уровня дискриминации. • Аналогичную про цедуру выполняют для эталонного препарата. Затем строят сравнительную кривую, откладывая для каждого уровня дис криминации в логарифмическом масштабе по оси абсцисс зна чения NilN0 для исследуемого препарата, а по оси ординат — для эталонного. Угол наклона получившейся прямой (или одного из участков двухкомпонентной кривой) позволяет найти по ка либровочному графику энергию излучения радиоизотопа в ис следуемом препарате.
Для идентификации одного (3-излучателя с простой схемой распада достаточно выполнить измерения только при двух уров нях дискриминации. Область идентифицируемых активностей простирается до 10~9— 10_1° кюри. Для исследований пригодны толстые пробы. Этим методом возможен также анализ смеси (3-излучателей, но тогда число используемых уровней дискрими нации должно быть больше.
Дифференциальные методы. С тонким источником диффе ренциальный метод дает непосредственно спектр (3-излучения с его характерной формой (рис. 42). Если полученные данные представить в специальных координатах, то на графике полу чится прямая линия [183]. Удобство графика Ферми — Кюри (как называют эту систему построения) состоит в том, что точ ка пересечения прямой с осью ординат дает максимальную энер гию спектра. Если в анализируемом спектре присутствует не сколько (3-излучателей разной энергии, то получившуюся слож ную кривую можно разложить таким образом, чтобы была вы делена прямая линия для каждого компонента. Относительное содержание каждого (3-излучателя можно определить по площа ди под соответствующей прямой.
Однако при использовании метода встречается и ряд специ фических трудностей, которые обусловлены искажениями формы (3-спектра под действием некоторых факторов. Чаще всего силь ное искажение спектра происходит вследствие рассеяния (3-частиц в препарате и отражения от подложки. Поэтому их толщина должна быть меньше 1 мг/см2. Это значит, что подоб-
155
ный метод пригоден в основном для |
проверки |
радиохимической |
|
чистоты препаратов, |
не содержащих |
большой |
массы носителя. |
К значительному |
нарушению спектра может привести и об |
ратное рассеяние от сцинтиллятора. Для предотвращения рас сеяния электронов сцинтиллятору необходимо придать специаль ную форму. Поскольку фор-
|
|
/ |
|
хо |
/ |
|
|
ма |
спектра |
зависит |
также |
||||
|
|
|
|
|
|
от |
заряда |
ядра |
и степени |
||||||
I |
|
Оо |
■ |
|
|
|
запрещенное™ (3-перехода, |
||||||||
45 |
|
|
|
то для сохранения прямоли |
|||||||||||
|
|
. оэ } |
|
|
|
нейного характера графиков |
|||||||||
|
|
|
|
Ч |
|
|
|
Ферми — Кюри |
может |
по |
|||||
|
|
|
|
|
ч ч |
|
|
требоваться |
введение соот |
||||||
|
0,2 |
|
|
|
|
|
ветствующей поправки. |
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
Прево и Кейт [191] пред |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
ол |
0,8 |
1,2 |
и |
ложили |
более |
простой |
и |
||||
|
|
|
|
достаточно |
точный |
метод |
|||||||||
|
|
|
|
|
Знергия; тб |
|
определения |
максимальной |
|||||||
Рис. 42. |
Форма Р~-спектра радиоизото |
энергии (3-излучения. |
С |
по |
|||||||||||
|
|
|
|
па |
32Р: |
|
|
мощью |
полупроводникового |
||||||
/ — д и ф ф е р е н ц и а л ь н ы й |
с п е к т р ; |
2 |
— г р а ф и к |
бета-спектрометра |
получа |
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
Ф е р м и — К ю р и . |
|
|
ют спектр препарата. Затем |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
в верхней части спектра выбирают две точки с энергией |
соот |
||||||||||||||
§ |
|
|
|
ДДД^б/Ш Др.макс) И |
Д2(Д2^8/10 Др, макс) и под- |
||||||||||
ветственно |
|||||||||||||||
считывают число отсчетов |
(N\ и N2 ). Тогда Др.макс можно рас |
||||||||||||||
считать из приближенного соотношения |
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
л- |
|
[ Ez i NJ Nj ' / t - E, ] |
• |
|
|
|
(7.2) |
|||
|
|
|
|
|
-С Р, макс — |
|
, |
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
[(Л ц/Л /2) 1 / , - 1 ] |
|
|
|
|
|
|
||
Для |
однокомпонентного |
спектра |
погрешность |
в |
величине |
||||||||||
Др, макс |
не превышает 2 отн. %. |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
|
Сплошной спектр (3-излучения и широкая распространенность |
(3-излучателей обусловливают низкую избирательность спектро метрического инструментального анализа на этой основе. В ре зультате область применения такого метода сильно сужается, ограничиваясь определением макрокомпонентов в пробах про стого состава (2—3 компонента), к которым у-спектрометриче- ский анализ по каким-либо причинам неприменим. При этом для успешного определения необходимо значительное различие Др, м а к с - Для повышения избирательности часто приходится при бегать к помощи других параметров схем распада.
Примером может |
служить |
методика |
фотоактивационного |
анализа фосфорно-сурьмяного |
катионита |
[192], основные ком |
|
поненты которого (О, |
Р и Sb) |
при активации образуют чистые |
позитронные излучатели (см. табл. 12), причем 30Р имеет высо кую энергию Др, макс, a 120S b — значительно отличающийся пе риод полураспада. Поэтому в принятой методике проводили два измерения (3-спектра на сцинтилляционном спектрометре (через
156
1 и 21 |
мин после окончания |
облучения в |
течение 1 |
мин при |
|||||
£торм= 25 |
Мэе). Из |
первого спектра определяли число отсче |
|||||||
тов 30Р |
по |
жесткой |
области |
и |
суммарное |
число |
отсчетов |
||
30Р + i5q |
j_i2osb по мягкой. |
Второе |
измерение дает число отсче |
||||||
тов только |
120Sb (30Р |
и 150 |
распадаются). |
По |
этим |
данным, |
определив экспериментально необходимые коэффициенты в опы тах с элементарными Р и Sb, можно рассчитать число отсчетов для 150.
§ 4. Спектрометрия у-излучения
За небольшим исключением, любой процесс неупругого ядерного взаимодействия или радиоактивного распада сопровож дается испусканием у-квантов. Это излучение обусловлено пере ходами между разными энергетическими уровнями возбужден ного ядра, образовавшегося в результате ядерного взаимодейст вия или радиоактивного распада ядра-предшественника. Поэто му испускаемое у-излучение имеет строго определенное значе ние энергии и очень узкую естественную ширину линии. Эти свойства у-излучения составляют хорошую основу для иденти фикации и избирательного определения элементов. Благоприят ным моментом является также высокая проникающая способ ность у-излучения, что позволяет проводить у-спектрометриче- ский анализ с достаточно толстыми пробами. Сочетание перечис ленных свойств с широкой распространенностью процессов, со провождающихся у-излучением, обеспечивает у-спектрометриче- скому методу ведущее положение в инструментальном актива ционном анализе.
Однако, чтобы в полной мере реализовать возможности, за ложенные в этом методе, необходимы адекватные системы реги страции. Хотя в этом направлении достигнут значительный про гресс, многие ограничения у-спектрометрического анализа все же связаны с несовершенством существующих методов регист рации и анализирующей аппаратуры. Чтобы правильно подойти к оценке возможностей и.ограничений метода, необходимо крат ко рассмотреть взаимодействие у-излучения с веществом и ха рактеристики используемых гамма-спектрометров. Более под робное изложение этих вопросов можно найти в специальной литературе [41, 183, 184, 193].
Взаимодействие у-излучения с веществом
В практике активационного анализа наибольшее значение приобрели системы, основанные на ионизирующем действии регистрируемого излучения. Как известно, у-кванты непосред ственно не вызывают ионизацию вещества, и поэтому их реги страция осуществляется через ионизирующее действие вторич ных заряженных частиц, которые возникают при взаимодейст
157
f
вии у-квантов с электронными оболочками атомов, полем атом ного ядра, нуклонами и т. д. В этих процессах у-квант может передать заряженной частице (обычно электрону) всю или часть своей энергии. Механизм поглощения и рассеяния у-квантов в веществе можно представить тремя основными процессами: фотоэффектом, комптоновским рассеянием и образованием пар.
Фотоэффект. Этим термином обозначают происходящий под воздействием у-квантов процесс вырывания электрона из атома с передачей ему всей энергии. Кинетическая энергия образовав шихся фотоэлектронов £р, Кин равна энергии поглощенного у-кванта за вычетом энергии связи электрона:
£р.кин = ЕГ- £ с в . |
(7-3) |
Фотоэффект происходит только на связанных электронах, находящихся на К- или L-оболочке средних или тяжелых ядер. Сечение фотоэффекта на К-оболочке приблизительно следует зависимости
(Офк “ const |
(7.4) |
где Z — заряд ядер атомов среды.
Образовавшийся возбужденный атом теряет энергию путем испускания электронов Оже или характеристического рентгенов ского излучения. Если фотоэлектроны, рентгеновские кванты или электроны Оже полностью теряют свою энергию в рабочем объеме детектора, то сигнал на выходе будет соответствовать полной энергии зарегистрированного у-кванта.
Комптоновское рассеяние. При взаимодействии у-квантов со свободными или слабосвязанными электронами происходит процесс рассеяния с передачей электрону только части энергии, которая в зависимости от угла рассеяния может принимать различные значения в области от нуля до максимальной вели чины, определяемой соотношением
Емакс |
(7.5) |
1 |
|
где т 0— масса покоя электрона; с — скорость света |
(т0с2 = |
= 0,511 Мэе). |
|
Комптоновское рассеяние играет отрицательную роль в у-спектрометрических измерениях, так как создает непрерывное амплитудное распределение, которое является фоном для у-квантов .более низких энергий. В детекторе у-квант может претерпеть несколько последовательных актов рассеяния, в ре зультате чего он передаст всю свою энергию электронам отда чи. Тогда суммарный сигнал будет иметь амплитуду полного поглощения.
158
Образование пар. Если энергия у-кванта выше 1,02 Мэе, то при его взаимодействии с полем ядра становится возможным процесс образования пар, т. е. исчезновения у-кванта с одно временным образованием пары частиц — электрона и позитрона. Суммарная кинетическая энергия частиц равна Еу— 2т 0с2. После потери кинетической энергии на ионизацию атомов пози-
Рис. 43. Сечения различных процессов при взаимодействии у-излучения с веществом:
1— фотоэффект; 2— комптоновское рассеяние; 3— образование пар.
трон аннигилирует с образованием двух у-квантов, которые раз
летаются в противоположных направлениях, |
имея энергию |
0,511 Мэе каждый. |
взаимодействия |
Величины сечений различных процессов |
у-квантов с веществом детектора зависят от энергии регистри руемого излучения и материала детектора (рис. 43). Нетрудно видеть, что кристаллы Nal(Ti) более эффективны для регистра ции у-излучения из-за большей величины сечения фотоэффекта и меньшей роли комптоновского рассеяния. Однако Ge(Li)-де текторам свойственно более высокое разрешение.
Для обоих детекторов при малых энергиях преобладающую роль играет фотоэффект. Но с ростом энергии сечение фото эффекта резко уменьшается и на уровне в несколько сот кило электронвольт становится сравнимым с сечением комптонов-
159