- •А.А. Шерченков, ю.И. Штерн Материалы электронной техники
- •Оглавление
- •Лабораторная работа № 1 Определение удельного сопротивления полупроводников
- •Теоретические сведения
- •Бесконтактные методы
- •Контактные методы
- •Температурный коэффициент сопротивления кремния
- •Порядок выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Контрольные вопросы
- •Собственный полупроводник
- •Примесный полупроводник
- •Вырожденный и невырожденный полупроводники
- •Концентрация электронов и дырок
- •Температурная зависимость концентрации носителей
- •Температурная зависимость подвижности носителей заряда
- •Температурная зависимость электропроводности
- •Описание лабораторной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Экспериментальные результаты
- •Контрольные вопросы
- •Теоретические сведения Эффект Холла
- •Температурная зависимость коэффициента Холла
- •Температурная зависимость удельного сопротивления
- •Расчет дрейфовой подвижности
- •Описание измерительной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Контрольные вопросы
- •Вычисление коэффициента термоЭдс
- •Температурная зависимость коэффициента термоЭдс
- •Зависимость коэффициента термоЭдс от концентрации свободных носителей
- •Измерительная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Требования и отчету
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 5 Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках
- •Теоретические сведения Определение подвижности
- •Температурная зависимость подвижности носителей заряда в полупроводнике
- •Порядок выполнения работы
- •Сущность методов икс
- •Техника выполнения анализа
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Дифференциальный сканирующий калориметр dsc-50
- •Порядок проведения измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Контрольные вопросы
Зависимость коэффициента термоЭдс от концентрации свободных носителей
Изменение коэффициента термоЭДС в примесном полупроводнике в зависимости от концентрации свободных носителей показано на рис. 3. Для невырожденного полупроводника коэффициенты термоЭДС n и p определяются формулами (11) и (12). Зависимость n=f(lnn) линейна, тангенс угла наклона равен tg=k/e=86 мкВ/К. С ростом концентрации носителей зависимость n(n) приобретает более сложный характер и для вырожденного полупроводника определяется выражением (15).
Рис. 3. Зависимость коэффициента термоЭДС от концентрации носителей
В полупроводнике со смешанной проводимостью термоЭДС описывается соотношением (13). ТермоЭДС обращается в нуль при выполнении условия (рис.3). Уменьшение в области малых концентраций n и p связано с тем, что определяется разностью вкладов в термоЭДС электронов и дырок.
Измерительная установка
В полупроводниках коэффициент термоЭДС измеряется следующим образом. Вдоль образца поддерживается градиент температуры, а возникающая на концах образца разность потенциалов измеряется вольтметром.
Для измерения коэффициента термоЭДС используют два метода, почти равнозначных по применимости и точности, - интегральный и дифференциальный. При интегральном методе один из концов образца поддерживается при постоянной температуре, скажем, 0 °С, а термоЭДС измеряется в зависимости от температуры другого конца.
При дифференциальном методе изменяется температуре обоих концов образца, но между ними всегда остается малая разность температур (1-2 °С). При этом исследуется зависимость термоЭДС от средней температуры образца.
Более предпочтителен дифференциальный метод, так как на его результатах меньше сказывается нелинейная зависимость термоЭДС от температуры.
Температура концов образца измеряется с помощью термопар. Далее приведены значения термоЭДС некоторых металлов и сплавов по отношению к свинцу для интервала температур 0 - 100 °С:
-
Материал
, в мкВ/град
свинец
медь
константан
копель
алюмель
хромель
0,0
+3,2
-38
-38
-17,3
+24
ТермоЭДС термопары определяется алгебраической суммой термоЭДС каждого из материалов
, (16)
где - температура спая термопары; - температура холодных концов.
Из выражения (16) следует, что термоЭДС равна нулю, если спай термопары и его свободные концу находятся при одинаковой температуре.
В лабораторной работе изучение температурной зависимости термоЭДС германия проводится на монокристаллических образцах в диапазоне температур 300 - 500 К. На рис. 4 представлена общая схема измерения термоЭДС термопар VТП1(T1) и VТП3-ТП4(T) германия относительно меди VGe-Cu и германия относительно константана VGe-K. Спаи термопары ТП1 и ТП2 находятся в электрическом контакте с образцом. Поскольку термоЭДС металлов мала по сравнению с термоЭДС проводника, можно считать, что измеряемые значения VGe-Cu и VGe-K соответствуют термоЭДС германия. Образец германия находится в термокамере, температура T1в которой определяется термопарой ТП1. На другом конце образца закреплена малая печь, которая служит для создания градиента температур (T=1-2 0C) вдоль образца. Измерение градиента температур проводится с помощью термопар ТП3 и ТП4.
Рис.4. Общая схема измерения термоЭДС термопар VТП1(T1) и VТП3-ТП4(T) германия относительно меди VGe-Cu и германия относительно константана VGe-K
Спаи этих термопар прижаты к торцам образца, но электрически изолированы от него. Термопары включены навстречу друг другу, поэтому в их цепи действует термоЭДС VТП3-ТП4, пропорциональная разности температур между концами образца.
Температуре образца находится как среднеарифметическое Тобр=(Т1+Т)/2.