- •А.А. Шерченков, ю.И. Штерн Материалы электронной техники
- •Оглавление
- •Лабораторная работа № 1 Определение удельного сопротивления полупроводников
- •Теоретические сведения
- •Бесконтактные методы
- •Контактные методы
- •Температурный коэффициент сопротивления кремния
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Собственный полупроводник
- •Примесный полупроводник
- •Вырожденный и невырожденный полупроводники
- •Концентрация электронов и дырок
- •Температурная зависимость концентрации носителей
- •Температурная зависимость подвижности носителей заряда
- •Температурная зависимость электропроводности
- •Описание лабораторной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Экспериментальные результаты
- •Контрольные вопросы
- •Теоретические сведения Эффект Холла
- •Температурная зависимость коэффициента Холла
- •Температурная зависимость удельного сопротивления
- •Расчет дрейфовой подвижности
- •Описание измерительной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Контрольные вопросы
- •Вычисление коэффициента термоЭдс
- •Температурная зависимость коэффициента термоЭдс
- •Зависимость коэффициента термоЭдс от концентрации свободных носителей
- •Измерительная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Требования и отчету
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 5 Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках
- •Теоретические сведения Определение подвижности
- •Температурная зависимость подвижности носителей заряда в полупроводнике
- •Порядок выполнения работы
- •Сущность методов икс
- •Техника выполнения анализа
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Дифференциальный сканирующий калориметр dsc-50
- •Порядок проведения измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Контрольные вопросы
Вычисление коэффициента термоЭдс
Найдем выражение для коэффициента термоЭДС, используя кинетическое уравнение Больцмана в приближении времени релаксация.
(2)
где
.
Полагая, что производные от f1 являются величинами меньшего порядка малости, чем f1 уравнение (2) переписываем в виде
(3)
Используя выражение для плотности тока
и
определяя функцию
из уравнения (3), получаем
.
(4)
В
рассматриваемом случае сила
определяется напряженностью поля
,
обусловленного
возникновением термоЭДС
Переходя к интегрированию по энергии, преобразовываем выражение (4) к виду
(5)
где А – некоторая постоянная.
ТермоЭДС есть разность потенциалов на концах полупроводника при отсутствий в нем тока. Учитывая, что
и,
полагая в выражении (5)
,
получаем
(6)
Зависимость времени релаксации от энергии во многих случаях можно описать степенной функцией вида (E)=0E-1/2. Значение r определяется механизмом рассеяния. В частности, если основным механизмом рассеяния является рассеяние на фононах, то r=0.
Выражение (6) преобразуем к виду
.
(7)
Для невырожденного полупроводника
поэтому отношение интегралов в (7) равно kT(r+2). Отсюда
.
Пусть координатs концов полупроводника соответствуют x1 и x2, а температуры концов – T1 и T2. Тогда разность потенциалов между ними
.
Заменим интегрирование по x интегрированием по температуре
Для коэффициента термоЭДС получим
.
(8)
Температурная зависимость коэффициента термоЭдс
Для невырожденного полупроводника концентрация электронов и дырок определяются выражениями
(9)
(10)
где
и
- эффективные плотности состояний в
зоне проводимости
и валентной зоне,
,
.
Эффективные
массы плотности состояний
и
зависят от структуры энергетических
зон полупроводника. Выражение (8) с учетом
(9) и (10) для полупроводника n-типа
преобразуется к виду
(11)
и
для полупроводника p-типа
.
(12)
Таким образом, в области явно выраженной примесной проводимости коэффициент термЭДС определяется концентрацией основных носителей заряда и температурой и не зависит от подвижности. Знак совпадает со знаком основных носителей.
Формулы (11) и (12) были впервые выведены советским физиком Н.Л.Писаренко и носят его имя.
Выражение (8) для коэффициента термоЭДС было получено в предположении, что ток создается только одним типом носителей. В общем случае при смешанной проводимости термоЭДС выражается через "парциальные" термоЭДС, обусловленные носителями каждого знака
Знак минус между членами, определяющими вклад электронов и дырок, понятен: совместная диффузия тех и других от горячего конца к холодному уменьшает результирующую термоЭДС.
В
собственном полупроводнике, а также в
области собственной проводимости
примесного полупроводника (
)
найдём i,
используя выражения (8), (9) и (13)
.
Величина
термоЭДС в области собственной
проводимости определяется лишь шириной
запрещенной зоны и соотношением
подвижности электронов и дырок.
Следовательно, зависимость
может бить использована для определения
ширины запрещенной зоны Eg.
В большинстве полупроводниковых
материалов
,
поэтому знак i
в собственной области такой же, как в
примесном полупроводнике
-типа.
Для определения типа основной примеси
в полупроводнике важно то, что в
полупроводнике p-типа при повышении
температуры и переходе из области
примесной в область собственной
проводимости термоЭДС
меняет знак.
Для вырожденных полупроводников и металлов термоЭДС определяется формулой Мотта
.
(15)
Из
сравнения формул (15) и (8) видно, что
термоЭДС для металлов значительно
меньше, чем для полупроводников (величина
).
На рис. 2 представлены температурные зависимости коэффициента термоЭДС для электронного и дырочного полупроводников. При низких температурах (область I) уменьшается с ростом температуры за счет увеличения концентрации электронов, возбуждаемых с примесных центров. В области истощения примеси (область II) коэффициент термоЭДС возрастает при увеличении температуры в связи с увеличением величин NC и NV. В области собственной проводимости (область III) резко уменьшается, причем наклон зависимости i(1/T) определяется шириной запрещенной зоны Eg и соотношением подвижностей.
Исследуя зависимость i(T) в диапазоне температур, можно определить тип проводимости полупроводника. Действительно, термоЭДС в полупроводнике p-типа меняет знак при достаточно высоких температурах (рис. 2), знак термоЭДС в электронном полупроводнике остается неизменным.
Рис.2. Температурные зависимости коэффициента термоЭДС для электронного и дырочного полупроводников
