- •А.А. Шерченков, ю.И. Штерн Материалы электронной техники
- •Оглавление
- •Лабораторная работа № 1 Определение удельного сопротивления полупроводников
- •Теоретические сведения
- •Бесконтактные методы
- •Контактные методы
- •Температурный коэффициент сопротивления кремния
- •Контрольные вопросы
- •Порядок выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Собственный полупроводник
- •Примесный полупроводник
- •Вырожденный и невырожденный полупроводники
- •Концентрация электронов и дырок
- •Температурная зависимость концентрации носителей
- •Температурная зависимость подвижности носителей заряда
- •Температурная зависимость электропроводности
- •Описание лабораторной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Экспериментальные результаты
- •Контрольные вопросы
- •Теоретические сведения Эффект Холла
- •Температурная зависимость коэффициента Холла
- •Температурная зависимость удельного сопротивления
- •Расчет дрейфовой подвижности
- •Описание измерительной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Контрольные вопросы
- •Вычисление коэффициента термоЭдс
- •Температурная зависимость коэффициента термоЭдс
- •Зависимость коэффициента термоЭдс от концентрации свободных носителей
- •Измерительная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Требования и отчету
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 5 Исследование температурной зависимости подвижности электронов и дырок в полупроводниках
- •Теоретические сведения Определение подвижности
- •Температурная зависимость подвижности носителей заряда в полупроводнике
- •Порядок выполнения работы
- •Сущность методов икс
- •Техника выполнения анализа
- •Порядок выполнения работы
- •Порядок выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Дифференциальный сканирующий калориметр dsc-50
- •Порядок проведения измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Контрольные вопросы
Теоретические сведения Эффект Холла
Явление
возникновения в полупроводнике с текущим
по нему током
поперечного
электрического поля
н
под действием
магнитного поля
называют эффектом Холла (рис. 1).
Рис.1.
Отклонение носителей заряда под действием
магнитного поля в образцах с дырочной
(а) и электронной (б) проводимостью:
– ток;
– магнитное поле;
– сила Лоренца;
d
– дрейфовая скорость носителей;
н
– поле Холла.
Холл экспериментально установил, что
н
,
где
R
– коэффициент (или постоянная) Холла,
зависящий от свойств образца;
- вектор плотности тока.
Для полупроводниковых образцов нужно учитывать, что ток в них переносится электронами и дырками.
Вычисление постоянной Холла R методом кинетического уравнения приводит к выражению
,
(1)
где n, n и p, p – концентрации и дрейфовые подвижности соответственно электронов и дырок; е – модуль заряда электрона. Численный коэффициент s в (1) определяется преобладающим механизмом рассеяния (одинаковым для электронов и дырок). Например, известно, что
при
рассеянии на тепловых колебаниях
решетки;
при
рассеянии на ионах примеси.
Для металлов и вырожденных полупроводников s=1. Тогда, как и при классическом рассмотрении эффекта Холла, в полупроводнике n-типа
.
(2)
В собственном полупроводнике концентрации свободных электронов и дырок равны, т.е. n=p=ni. Поэтому знак коэффициента Холла Ri в области собственной проводимости
(3)
соответствует знаку носителей с большей подвижностью. Чаще всего знак Ri отрицателен (Ri0), так как обычно подвижность электронов выше подвижности дырок.
Температурная зависимость коэффициента Холла
Температурные
зависимости коэффициента Холла для
невырожденных примесных полупроводников
n-
и p-типа
различны. В электронном полупроводнике
знак коэффициента Холла R(T)
отрицателен во всем диапазоне температур
и растет с повышением температуры.
(Напомним, что
при этом убывает).
В дырочном полупроводнике знак R(T) положителен вплоть до температур, отвечающих переходу в область собственной проводимости, когда коэффициент Холла, продолжая уменьшаться, проходит через нуль и меняет знак. Поэтому по экспериментальной кривой R(T) в соответствующем интервале температур можно определить тип примесной проводимости полупроводника и без установления абсолютного значения знака R.
Температурная
зависимость R,
кроме того, определяется температурной
зависимостью n
и p.
Если показатели степенной зависимости
подвижности
близки для электронов и дырок, то
коэффициент Холла в области собственной
проводимости
Ri1/ni(T),
где
;
- ширина запрещенной зоны; Nc,
Nv
– эффективная плотность состояний
соответственно в зоне проводимости и
валентной зоне, NCT3/2,
NVT3/2.
Тогда
niT3/2 exp(-Eg/2kT),
Riexp(-Eg/2kT). (4)
Из (4) видно, что температурная зависимость коэффициента Холла в области собственной проводимости может быть использована для определения ширины запрещенной зоны исследуемого полупроводника.
