Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Лабник_МЭТ.doc
Скачиваний:
104
Добавлен:
12.11.2019
Размер:
5.06 Mб
Скачать

Порядок выполнения работы

1. Измерить температурные зависимости удельного сопротивления  и коэффициента Холла R для образца германия в диапазоне температур 20 – 150 0С. В исследуемом диапазоне температур измерить падение напряжения между контактами 2 – 3 (см. рис.3) при противоположных направлениях тока и рассчитать U и  по формулам соответственно (13) и (14). Измерить падение напряжения между контактами 1 – 2 при отсутствии магнитного поля U0 и при противоположных направлениях магнитного поля, рассчитать Uн по формуле (10) или (11), R – по формуле (12).

Все результаты измерений и расчетов записать в табл.1 – 3. Результаты сравнить с известными параметрами германия при комнатной температуре: =0,67 эВ; n=3800 см2/Вс, p=1800 см2/Вс; b=n/p=2,1; ni=2,51013 см-3.

Таблица 1

Экспериментальные результаты

Т, К

I, мА

, мВ

, мВ

U, мВ

, мВ

,мВ

Uн, мВ

Таблица 2

Экспериментальные результаты

Т, К

, К-1

, Омсм

lg

R, см3/Кл

lgR

Таблица 3

Экспериментальные результаты

Тип проводимости

, эВ

Концентрация основных носителей, см-3

Концентрация неосновных носителей, см-3

ni,

см-3

n,

см2/Вс

p,

см2/Вс

2. Построить зависимость R(T), проанализировать поведение R в области перехода от примесной к собственной проводимости. Определить тип примесной проводимости в исследуемом образце.

3. Построить зависимости и . Для наглядности обе зависимости строить на одном графике и в одном относительном масштабе, при этом абсолютные значения по оси ординат для  и R необходимо выбрать так, чтобы соответствующие кривые были достаточно близко расположены (см. рис.2).

4. Отметить области примесной и собственной проводимостей на обеих кривых. Обратить внимание на отличие зависимостей lg и lgR от 103/Т в области примесной проводимости и объяснить его. Определить концентрацию основных носителей при комнатной температуре.

5. Определить ширину запрещенной зоны при Т=300 К. Ширина запрещенной зоны в полупроводниках изменяется с температурой. Для германия при Т  200 К зависимость (Т) подчиняется линейному закону вида

, где Ge=410-4 эВ/град.

Величины Ri(T) и I(T) определяются значениями (Т), а наклон логарифмических кривых , в области собственной проводимости – значением ширины запрещенной зоны при 0 К

,

,

где k=1,3810-23 Дж/к = 8,6210-5 эВ/К.

Сравнить полученные результаты.

6. Определить подвижность неосновных носителей при Т=300 К. Для этого экстраполировать зависимости

и

Рис.4. Температурная зависимость удельного сопротивления

из области собственной в область примесной проводимости и определить I и Ri при 300 К (см. рис.2). Используя эти значения и значения  и R, измеренные при 300 К, определить подвижность неосновных носителей при 300 К по формуле (8) и (9).

7. Определить подвижность основных носителей. Для этого экстраполировать зависимость из области примесной проводимости в область собственной проводимости до пересечения с экстраполированной кривой из области собственной проводимости в область примесной проводимости (рис.4). Определить отношение подвижностей b=n/p

для p-типа

,

для n-типа

,

где а=е/0; е – удельное сопротивление в точке пересечения прямых экстраполяции зависимости (Т) для областей примесной и собственной проводимостей; 0 – удельное сопротивление данного образца при той же температуре.

Зная подвижность неосновных носителей и отношение b=n/p, определить подвижность основных носителей.

8. По найденным значениям Ri, n, p вычислить собственную концентрацию ni носителей заряда при 300 К по формуле (3).

9. Используя найденные значения собственной концентрации, концентрации основных носителей заряда (см. п.4) и закон действия масс , оценить концентрацию неосновных носителей в образце.

Необходимо иметь в виду, что все предлагаемые в пп. 6-9 оценки не претендуют на высокую точность из-за недостаточной точности самого метода экстраполяции. Однако они позволяют судить о порядке отношений n/p, n/ni, np в исследуемом образце.