- •Содержание
- •Введение
- •1 Надёжность электронной аппаратуры
- •1.1 Основные определения стандартов надежности
- •1.2 Обеспечение надёжности электронной аппаратуры на этапах проектирования
- •1.2.1 Этап аванпроекта
- •1.2.2 Этап эскизного проектирования
- •1.2.3 Этап технического проектирования
- •1.2.4 Этап изготовления опытных комплектов
- •1.2.5 Этап эксплуатации
- •1.2.6 Контрольные вопросы и задания
- •2 Основные показатели надежности
- •2.1.1 Интенсивность отказов
- •2.1.2 Частота отказов
- •2.1.3 Среднее время наработки на отказ
- •2.1.4 Среднее время между отказами
- •2.1.5 Вероятностные показатели надежности
- •2.1.5.1 Вероятность безотказной работы
- •2.1.5.2 Экспоненциальная модель вероятности безотказной работы
- •2.1.5.3 Модель вбр Вейбулла-Гнеденко
- •2.1.5.4 Модель Пуассона
- •2.1.5.5 Вероятность отказа изделия в работе
- •2.1.6 Поток отказов
- •2.1.7 Коэффициент готовности
- •2.1.7.1 Стационарный коэффициент готовности
- •2.1.7.2 Коэффициент оперативной готовности
- •2.1.8 Погрешность оценки показателей надежности
- •2.1.8.1 Погрешность оценки показателей
- •2.2 Применение показателей надежности
- •2.3 Надёжность невосстанавливаемых систем
- •2.4 Надежность дискретных элементов
- •2.5 Пример расчёта надёжности нерезервированных схем
- •3 Надежность резервированных вычислительных систем
- •3.1 Резервирование изделий
- •3.1.1 Резервирование на уровне эвм
- •3.1.2 Резервирование на уровне устройств
- •3.1.3 Резервирование с использованием к-кодов
- •3.1.4 Резервирование в специализированных эвм
- •3.2 Представление резервированных объектов
- •3.3 Параметры НаДёжносТи при нагруженном резерве
- •3.3.1 Расчет показателя безотказной работы
- •3.3.2 Определение средней наработки на отказ
- •3.4 Параметры надёжносТи при ненагруженном резерве.
- •3.5 Надёжность при сложной структуРе резервирования.
- •3.5.1 Скользящий нагруженный резерв
- •3.6 Скользящий ненагруженный резерв
- •4 Метод минимальных путей и минимальных сечений
- •4.1 Примерный расчет надежности методом мп & мс
- •5 Применение сложных структур резерва
- •5.1 Методы избыточного кодирования
- •5.2 Логика с переплетением
- •5.3 Мажоритарное резервирование
- •6 Надежность компьютерных сетей
- •6.1. Расчёт надёжности компьютерных систем
- •7 Надежность систем массового обслуживания
- •8. Контроль и диагностика систем
- •8.1 Основные положения
- •8.2 Контроль по модулю
- •8.3 Построение контрольных тестов
- •8.4 Системы с программным контролем
- •8.5 Встроенный оперативный контроль
- •8.5.1 Встроенный контроль счетчика
- •8.5.2 Встроенный контроль дешифратора
- •8.5.3 Показатели встроенного контроля
- •8.6 Методы диагностирования
- •8.6.1 Основные положения
- •8.6.2 Методы построения диагностических тестов
- •8.6.2.1 Квазиоптимальные тесты шеннона-фано
- •8.6.3 Метод декомпозиции диагностируемой системы
- •8.7 Системы диагностики при эксплуатации
- •8.7.1 Обнаружение отказов при эксплуатации
- •8.7.2 Диагностика периферийных устройств
- •8.7.3 Диагностика многопроцессорных систем
- •9 Надежность программного обеспечения
- •9.1 Классификация ошибок программирования
- •9.2 Способы повышения надежности по
- •9.3 Основные модели надежности по
- •9.3.1 Модель Литтлвуда - Вералла
- •9.3.2 Модель джелинского - моранды
- •9.3.3 Модель шумана
- •9.3.4 Модель шика-вольвертона
- •9.4 Прогнозирование надежности по
- •9.5 Методы структурной избыточности по
- •9.6 Избыточность операционной системы
- •9.7 Метод контрольных функций
- •9.8 Методы тестирования программ
- •9.9 Функциональные методы тестирования
- •10 Отказоустойчивые компьютерные системы
- •11 Обслуживание систем в эксплуатации
- •11.1 Элементы теории восстановления систем
- •11.2 Оптимальные правила предупредительных замен
- •11.3 Оптимальные правила проверок
- •Список литературы
8.6 Методы диагностирования
8.6.1 Основные положения
Под диагностированием или технической диагностикой подразумевается процесс поиска и локализация неисправности объекта.
Формально задача ставится следующим образом. Пусть имеется система изN произвольным образом соединенных элементов с априорным отказом . Тогда
Известно, что система может иметь один неисправный элемент, вызвавший отказ всей системы.
Пусть имеется множество возможных проверок достаточных для отыскания неисправности. Требуется найти оптимальную стратегию, которая минимизирует средние потери на поиск неисправности [6].
Техническая диагностика отличается от контроля тем, что отыскание и установление неисправности производиться на более низком иерархическом уровне. Контроль можно рассматривать как частный случай технической диагностики. Ее первым этапом..
Мерой проникновения, при поиске неисправности, в глубину системы является глубина диагностированияна уровне элементов, плат, блоков и т.д.
Требование большой глубины диагностирования, например, до уровня дискретного элемента, увеличивает стоимость, сложность и продолжительность процесса. При наличии устройств холодного резервирования и в целях быстрого восстановления систем, задачи диагностики решаются на уровнеаппаратного контроля и тестирования устройств. Далее неисправная плата, блок может подвергаться автономному диагностированию на более глубоком уровне вплоть до дискретного элемента, отдельной цепи и т.д. Процедура испытаниязаканчивается, как только полученная информация окажется достаточной, для локализации неисправности.
Последовательное тестирование может быть упорядоченным,когда элементарные тесты используются в некоторой заранее фиксированной последовательности, и условным, когда выбор каждой следующей проверки завис от исхода предыдущей. Такой подход является более экономным, но требует промежуточного анализа. Задачей отыскания оптимальных проверок, оптимальных объемов тестов, минимизации времени поиска и стоимости и является задача отыскания оптимальной стратегии или иначе стоимости диагностирования.Очень часто в качестве обобщенного критерия F0 принимают отношение замещения энтропии к стоимости полученной информации [ КУЗЬМИН].
8.6.2 Методы построения диагностических тестов
Диагностические тесты строят такими же методами, как и контрольные: логические методы ЭДНФ и ЭКНФ, булевы производные; вероятностные методы.
Задача построения оптимального диагностического теста имеет множество решений. Для нахождения этих тестов удобно исходить из таблиц покрытий.
Таблицей покрытий в случае диагностических тестов называется таблица, строки которой соответствуют возможным элементарным тестам, а столбцыпарам возможных состояний объекта, различаемых данным тестом. Построение минимального покрытия осуществляется так же, как для контрольных тестов. Диагностические тесты должны различать любое неисправное состояние от исправного, т.е. определять принадлежность элементов объекта одному из двух подмножеств - исправных и неисправных состояний.
Большую практическую ценность имеют методы условного тестирования, когда каждый последующий тест выбирается в зависимости от результатапроведения предыдущего теста.
Поиск неисправностей при условном тестировании может быть представлен в виде дерева, корнем которого является первый тест. Остальные вершины дерева изображают другие вершины теста, а дуги дерева - переходы от теста ктесту.
Назовем рангом вершины дерева число дуг пути, начинающегося от корня дерева и заканчивающегося данной вершиной.
Таким образом, первый тест изображается вершиной нулевого ранга, второй тест - вершиной первого ранга и т.д.
Если дерево дихотомическое, т.е. степень по выходу каждой вершины дерева равна двум, и если каждый тест разделит множество подозреваемых неисправностей на два подмножества, то в общем случае число различимыхсостояний объекта после n тестов равно , а поиск необходимо осуществлять до.
Обычно элементарные тесты не могут быть равноценны и поэтому, возникает вопрос о целесообразности отбора наиболее информационных тестов.