- •Содержание
- •Введение
- •1 Надёжность электронной аппаратуры
- •1.1 Основные определения стандартов надежности
- •1.2 Обеспечение надёжности электронной аппаратуры на этапах проектирования
- •1.2.1 Этап аванпроекта
- •1.2.2 Этап эскизного проектирования
- •1.2.3 Этап технического проектирования
- •1.2.4 Этап изготовления опытных комплектов
- •1.2.5 Этап эксплуатации
- •1.2.6 Контрольные вопросы и задания
- •2 Основные показатели надежности
- •2.1.1 Интенсивность отказов
- •2.1.2 Частота отказов
- •2.1.3 Среднее время наработки на отказ
- •2.1.4 Среднее время между отказами
- •2.1.5 Вероятностные показатели надежности
- •2.1.5.1 Вероятность безотказной работы
- •2.1.5.2 Экспоненциальная модель вероятности безотказной работы
- •2.1.5.3 Модель вбр Вейбулла-Гнеденко
- •2.1.5.4 Модель Пуассона
- •2.1.5.5 Вероятность отказа изделия в работе
- •2.1.6 Поток отказов
- •2.1.7 Коэффициент готовности
- •2.1.7.1 Стационарный коэффициент готовности
- •2.1.7.2 Коэффициент оперативной готовности
- •2.1.8 Погрешность оценки показателей надежности
- •2.1.8.1 Погрешность оценки показателей
- •2.2 Применение показателей надежности
- •2.3 Надёжность невосстанавливаемых систем
- •2.4 Надежность дискретных элементов
- •2.5 Пример расчёта надёжности нерезервированных схем
- •3 Надежность резервированных вычислительных систем
- •3.1 Резервирование изделий
- •3.1.1 Резервирование на уровне эвм
- •3.1.2 Резервирование на уровне устройств
- •3.1.3 Резервирование с использованием к-кодов
- •3.1.4 Резервирование в специализированных эвм
- •3.2 Представление резервированных объектов
- •3.3 Параметры НаДёжносТи при нагруженном резерве
- •3.3.1 Расчет показателя безотказной работы
- •3.3.2 Определение средней наработки на отказ
- •3.4 Параметры надёжносТи при ненагруженном резерве.
- •3.5 Надёжность при сложной структуРе резервирования.
- •3.5.1 Скользящий нагруженный резерв
- •3.6 Скользящий ненагруженный резерв
- •4 Метод минимальных путей и минимальных сечений
- •4.1 Примерный расчет надежности методом мп & мс
- •5 Применение сложных структур резерва
- •5.1 Методы избыточного кодирования
- •5.2 Логика с переплетением
- •5.3 Мажоритарное резервирование
- •6 Надежность компьютерных сетей
- •6.1. Расчёт надёжности компьютерных систем
- •7 Надежность систем массового обслуживания
- •8. Контроль и диагностика систем
- •8.1 Основные положения
- •8.2 Контроль по модулю
- •8.3 Построение контрольных тестов
- •8.4 Системы с программным контролем
- •8.5 Встроенный оперативный контроль
- •8.5.1 Встроенный контроль счетчика
- •8.5.2 Встроенный контроль дешифратора
- •8.5.3 Показатели встроенного контроля
- •8.6 Методы диагностирования
- •8.6.1 Основные положения
- •8.6.2 Методы построения диагностических тестов
- •8.6.2.1 Квазиоптимальные тесты шеннона-фано
- •8.6.3 Метод декомпозиции диагностируемой системы
- •8.7 Системы диагностики при эксплуатации
- •8.7.1 Обнаружение отказов при эксплуатации
- •8.7.2 Диагностика периферийных устройств
- •8.7.3 Диагностика многопроцессорных систем
- •9 Надежность программного обеспечения
- •9.1 Классификация ошибок программирования
- •9.2 Способы повышения надежности по
- •9.3 Основные модели надежности по
- •9.3.1 Модель Литтлвуда - Вералла
- •9.3.2 Модель джелинского - моранды
- •9.3.3 Модель шумана
- •9.3.4 Модель шика-вольвертона
- •9.4 Прогнозирование надежности по
- •9.5 Методы структурной избыточности по
- •9.6 Избыточность операционной системы
- •9.7 Метод контрольных функций
- •9.8 Методы тестирования программ
- •9.9 Функциональные методы тестирования
- •10 Отказоустойчивые компьютерные системы
- •11 Обслуживание систем в эксплуатации
- •11.1 Элементы теории восстановления систем
- •11.2 Оптимальные правила предупредительных замен
- •11.3 Оптимальные правила проверок
- •Список литературы
3.3.2 Определение средней наработки на отказ
Средняя наработка на отказ определяется по формуле .
Рассмотрим случай, когда система имеет n параллельных нагруженных подсистем. При независимых отказах и экспоненциальной модели с одинаковым параметром λ. Подставляя p в получим
Когда система имеет n параллельных ненагруженных подсистем холодного резерва, то при независимых отказах, экспоненциальной модели с одинаковым параметром λ, и автоматическом (или автоматизированном) отключении отказавшего элемента и включении следующего резервного, суммарное среднее время наработки на отказ MTTFувеличивается вnраз.
График зависимости суммарного среднего времени наработки на отказот количестваnи вида резерва представлен на рисунке 3.3.
Среднее время безотказной работы в системе горячего резерва сначала растет, но дальнейшее увеличение после n=3 неэффективно. И, наоборот, при холодном резерве оно растет с каждым новым включением резерва.
3.4 Параметры надёжносТи при ненагруженном резерве.
Для систем с ненагруженным резервом может быть принято допущение о том, что интенсивность отказов резервных элементов равно λрез= 0.
В самом деле, выключенные запасные БИС или другие элементы почти не подвергаются старению, так как не являются работающими
Поэтому, методы анализа надежности ненагруженного резерва основаны на сложении интервалов времени от включения до отказа основного и резервного элемента системы.
Время безотказной работы системы tc, по аналогии с 3.6, состоящей из основной подсистемы и n-1 резервных подсистем определяется, где ti- время до отказа i-й подсистемы.
Вычисление надежности усложняется в случае учета, что tiслучайные величины и необходимо найти функцию плотности распределения слагаемых.
При ненагруженном резерве nодинаковыми подсистемами, весь процесс отказов можно представитьпуассоновским потоком.Тогда, вероятность безотказной работы системы, состоящей изnподсистем, находится на основании пуассоновского распределения, как аксиома того, что в системе произойдет 0, 1, 2, ... (n-1) отказов за время t. Возникновение n-го отказа означает уже отказ системы.
Тогда , .
Вывод:при прочих равных условиях, системы с ненагруженным резервом надежнее системы с нагруженным резервом.
Однако, ненагруженный резерв не может мгновенно включится и продолжить работу. Кроме того, возникают дополнительные трудности по сохранению результатов счета, и промежуточной информации. Поэтому, часто применяют резервирование, когда первая резервная подсистема нагружена, а вторая нет, и служит по сути ЗИПом.
Пусть устройство состоит из 3-х блоков. Количество элементов и соответствующие им интенсивности отказов даны в таблице 3.1.
Таблица 3.1.
Наиме- нование |
λi·105 |
Блок 1 |
Блок 2 |
Блок 3 | |||
Ni |
Ni·λi·105 |
Ni |
Ni·λi·105 |
Ni |
Ni·λi·105 | ||
Интегр. схемы |
0,1 |
1800 |
|
1200 |
|
1500 |
|
Транзис- торы |
0,3 |
150 |
|
200 |
|
300 |
|
Диоды |
0,2 |
350 |
|
180 |
|
--- |
|
Конден- саторы |
0,04 |
600 |
|
400 |
|
500 |
|
Сопро- тивления |
0,1 |
4200 |
|
1500 |
|
800 |
|
Пайка |
0,0001 |
6000 |
|
5000 |
|
5500 |
|
|
|
λ1 |
λ2 |
λ3 | |||
|
| ||||||
|
|
Р1(100) |
Р2(100) |
Р3(100) |
Определить вероятность безотказной работы не резервируемого и резервируемого устройства.