Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Mikroskhemotekhnika_Mindeeva.pdf
Скачиваний:
697
Добавлен:
05.06.2015
Размер:
1.26 Mб
Скачать

Up-n

U0

ULR

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

LR

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Р

Рис.6.14. Зависимость Up–n-переход от длины резистивной области

езисторы большого номинала можно реализовать на транзисторах, работающих в НАР (рис.6.15):

 

IК

−1

U A

 

gКЭ =

 

; R = gКЭ

 

,

UКЭ

IК

 

 

 

где gКЭ - выходная дифференциальная проводимость коллектор - эмиттер; UА - напряжение Эрли; IК - ток коллектора.

IК

НАР

IК

 

 

UКЭ

 

UКЭ

Рис.6.15. Определение дифференциального сопротивления транзистора НАР по выходной ВАХ

6.4. Реализация интегральных конденсаторов

Кроме резисторов в ИС используют конденсаторы. Интегральные конденсаторы реализуют:

1) на обратно-смещенном p–n-переходе;

81

2)на МДП-структуре;

3)пленочный.

Конденсатор на обратно-смещенном p–n-переходе. Емкость та-

кого конденсатора определяется зарядной барьерной емкостью p– n-перехода, значение которой зависит от обратного смещения на переходе:

СБАР =

СБАР(0) × А

;

 

æ

 

U

pn

öm

 

ç

+

 

 

÷

 

 

 

 

 

ç1

 

 

 

÷

 

è

 

 

jК ø

 

jК = jT ln N A ND ni2 ,

где СБАР (0) - удельная емкость при нулевом напряжении на переходе; m = 1/2 или 1/3 соответственно для резкого и плав-

ного pn-перехода; А - площадь перехода; U pn - напряжение обратного смещения, приложенное к pn-переходу; jК - контактная

разность потенциалов;

jT - тепловой потенциал;

N A - концен-

трация акцепторов; ND

- концентрация доноров;

ni - собствен-

ная концентрация примеси.

 

 

 

 

 

 

Площадь перехода определяется как

 

 

 

A = AБОКОВАЯ + АДОННАЯ ,

 

 

 

 

где

A

 

 

 

 

 

 

 

 

 

АДОННАЯ

БОКОВАЯ - боковая площадь pn-перехода;

 

- донная площадь pn-перехода;

 

 

 

 

 

 

Для резкого перехода:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

СБАР

(0) =

 

q × e0 × eSi × N A × ND

 

 

 

 

 

 

2

× jК (N A + ND ) ;

 

для плавного перехода:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

CБАР (0) = 3

q × N /

(e0eSi )2

 

N / = grad N ,

 

 

12

× jK

 

 

;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

82

где q - заряд электрона; ε0 - диэлектрическая проницае-

мость вакуума; εSi

- относительная диэлектрическая проницае-

мость кремния;

N /

= grad N

- градиент концентраций.

 

 

В технологическом маршруте возможна реализация конденсаторов на переходе:

1) коллектор - база (рис.6.16);

C

 

Б

К

rБ CБК

rК

К

 

 

Б

 

 

 

p

n+

 

CКП

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

p+

n+

p+

 

rП

 

 

p

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

П

 

 

а

 

б

 

 

Рис.6.16. Конденсатор на обратно-смещенном переходе коллектор - база: а - структура; б - эквивалентная схема

2) эмиттер - база (рис.6.17);

Б

C

Э

CБЭ

rБ

 

 

Б

 

 

К

Э

 

p

n+

n

CБК

rК

К

 

 

n

CКП

 

 

p+

 

 

 

n+

 

p+

rП

 

 

p

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

П

 

 

а

 

 

б

 

Рис.6.17. Конденсатор на обратно-смещенном переходе эмиттер

-база: а - структура; б - эквивалентная схема

3)коллектор - подложка (рис.6.18).

83

К

 

 

 

К

 

n+

 

 

 

n+

 

n

p+

 

p+

n

p+

p+

 

n+

 

 

 

 

p

 

а

 

CКП

 

б

 

К

rК

rП

П

 

 

 

в

Рис.6.18. Конденсатор на обратно-смещенном переходе коллектор - подложка: а - структура без скрытого слоя; б - структура со скрытым слоем; в - эквивалентная схема

Недостатки конденсаторов, реализованных на обратносмещенном p–n-переходе:

1)определенная (отрицательная) полярность приложенного напряжения смещения p–n-перехода;

2)зависимость емкости от приложенного напряжения;

3) низкая добротность, которая определяется как

Q = (2πCrf )−1 , где С - эквивалентная емкость; r - эквивалентное сопротивление; f - частота.

МОП-конденсатор. Возможна реализация конденсатора на структуре металл - окисел - полупроводник (рис.6.19)

Me

dОК

Me

CМОП

 

 

 

n+

SiO2

 

n

 

 

p+

p+

CКП

 

p

 

 

а

б

Рис.6.19. Реализация МОП-конденсатора: а - структура; б - эквивалентная схема

84

Емкость такого конденсатора рассчитывается как емкость плоского конденсатора:

 

 

C =

ε0εОК

А = СУД А ,

 

 

 

 

ε0

 

dОК

где

- диэлектрическая проницаемость вакуума;

εОК = εSiO2

-

относительная диэлектрическая проницаемость

окисла; dОК - толщина подзатворного окисла; A - площадь; СУД - удельная емкость. Можно получить большие емкости за счет малой толщины подзатворного окисла.

Преимущества конденсатора, выполненного на МОП-структуре:

1)емкость практически не зависит от приложенного напряжения;

2)можно использовать любую полярность приложенного напряжения.

Недостаток такого конденсатора заключается в том, что требуется дополнительная операция - создание окисла определенных толщины и состава.

Пленочный конденсатор. При многоуровневой металлизации возможна реализация пленочного конденсатора (рис.6.20). Емкость такого конденсатора рассчитывается как емкость плоского конденсатора.

Me II

Me II

Me I

p

CMe I-Me II

CMe I-П/П

а

б

Рис.6.20. Реализация конденсатора пленочного типа: а - структура; б - эквивалентная схема

В табл.6.3 приведены основные параметры интегральных конденсаторов.

85

Таблица 6.3

Сводная таблица параметров интегральных конденсаторов

 

 

Удельная

емкость

Напряжение

Тип конденсатора

при U

= –5 В,

пробоя, В

 

 

пФ/мм2

 

 

Обратно-смещенный

 

 

 

pn-переход:

 

 

 

К–Б

 

125

50

Э–Б

 

1000

7

К–П

 

 

 

 

без n+-скрытого

60

 

50

слоя

n+-скрытым

90

 

50

с

 

 

 

слоем

 

 

 

 

МОП-конденсатор

 

 

 

(dОК = 50 нм)

70

 

60

Пленочные:

 

 

 

GaAs-SiO2-Si3N4

600

Me I-SiO2-Me II

20

 

86

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]