- •1. Основы микросхемотехники ИС
- •1.1. Основные термины и определения
- •1.2. Этапы и направления развития ИС
- •1.3. Классификация ИС
- •1.3.4. Классификация по степени интеграции
- •1.4. Последовательность разработки ИС
- •2. Основы цифровой техники
- •2.3. Основные логические операции
- •2.4. Формы представления логической функции
- •2.5. Структурное проектирование цифровых схем комбинационного типа
- •3. Основные параметры и характеристики ЦИС
- •3.1. Основные параметры ЦИС
- •3.2. Характеристики ЦИС
- •3.3. Определение измеряемых параметров по характеристикам
- •4.1. Формирование биполярных транзисторов
- •4.3. Эквивалентная модель интегрального n–p–n биполярного транзистора
- •4.4. Режимы работы биполярного транзистора
- •4.6. Статические ВАХ транзистора
- •5. Диоды в интегральных схемах
- •5.1. Модель идеального диода
- •5.2. Эквивалентная схема интегрального диода
- •5.3. Аппроксимации ВАХ диода
- •5.4. Варианты реализации интегральных диодов
- •6. Пассивные элементы ИС
- •6.1. Основные параметры резисторов
- •6.2. Реализация интегральных резисторов
- •6.4. Реализация интегральных конденсаторов
- •7. Элементная база статических ЦИС на биполярных транзисторах
- •7.1. Резисторно-транзисторная логика (РТЛ)
- •7.1.1. Характеристики РТЛ
- •7.2. Эмиттерно-связанная логика (ЭСЛ)
- •7.2.1. Принцип работы
- •7.2.2. Входная характеристика
- •7.2.3. Передаточная характеристика
- •7.2.4. Выходная характеристика
- •7.2.6. Многоярусные ЭСЛ (МяЭСЛ)
- •7.3. Диодно-транзисторная логика
- •7.3.1. Расчет передаточной и входной характеристик
- •7.3.2. Выходная характеристика
- •7.3.3. Влияние нагрузки на логические уровни
- •7.4. Транзисторно-транзисторная логика
- •7.4.1. ТТЛ-элемент с простым инвертором
- •7.4.2. Передаточная характеристика
- •7.4.3. Входная характеристика
- •7.4.4. Выходная характеристика
- •7.4.6. Основные параметры
- •7.4.7. Многоэмиттерный транзистор
- •7.4.8. ТТЛ-элемент со сложным выходным каскадом
- •7.4.9. Модификация логического элемента
- •7.5. Интегральная инжекционная логика
- •7.5.2. Реализация логических функций
- •8. Полевые транзисторы
- •8.1. Типы полевых транзисторов
- •8.2. Определение физических параметров
- •8.3. модель полевого транзистора
- •8.4. Режимы работы и уравнения ВАХ полевого транзистора
- •9. Элементная база на полевых транзисторах
- •9.2. Передаточная характеристика и параметры инвертора с линейной нагрузкой
- •9.3. Передаточная характеристика и параметры инвертора с нелинейной нагрузкой
- •9.4. Передаточная характеристика и параметры инвертора с квазилинейной нагрузкой
- •9.5. Передаточная характеристика и параметры инвертора с токостабилизирующей нагрузкой
- •9.6. Передаточная характеристика и параметры комплементарного инвертора
- •9.8. Логические элементы на МОП-транзисторах
- •9.9. Определение эквивалентной крутизны группы переключающих транзисторов
- •9.11. Влияние параметров транзисторов на характеристики логического элемента
- •9.12. Сопряжение ТТЛ- и КМОП-схем
Up-n
U0
ULR |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
LR |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Р
Рис.6.14. Зависимость Up–n-переход от длины резистивной области
езисторы большого номинала можно реализовать на транзисторах, работающих в НАР (рис.6.15):
|
IК |
−1 |
U A |
|
|
gКЭ = |
|
; R = gКЭ ≈ |
|
, |
|
UКЭ |
IК |
||||
|
|
|
где gКЭ - выходная дифференциальная проводимость коллектор - эмиттер; UА - напряжение Эрли; IК - ток коллектора.
IК |
НАР |
IК |
|
|
UКЭ |
|
UКЭ |
Рис.6.15. Определение дифференциального сопротивления транзистора НАР по выходной ВАХ
6.4. Реализация интегральных конденсаторов
Кроме резисторов в ИС используют конденсаторы. Интегральные конденсаторы реализуют:
1) на обратно-смещенном p–n-переходе;
81
2)на МДП-структуре;
3)пленочный.
Конденсатор на обратно-смещенном p–n-переходе. Емкость та-
кого конденсатора определяется зарядной барьерной емкостью p– n-перехода, значение которой зависит от обратного смещения на переходе:
СБАР = |
СБАР(0) × А |
; |
|||||
|
|||||||
æ |
|
U |
pn |
öm |
|
||
ç |
+ |
|
|
÷ |
|
||
|
|
|
|
||||
ç1 |
|
|
|
÷ |
|
||
è |
|
|
jК ø |
|
jК = jT ln N A ND ni2 ,
где СБАР (0) - удельная емкость при нулевом напряжении на переходе; m = 1/2 или 1/3 соответственно для резкого и плав-
ного p–n-перехода; А - площадь перехода; U pn - напряжение обратного смещения, приложенное к p–n-переходу; jК - контактная
разность потенциалов; |
jT - тепловой потенциал; |
N A - концен- |
||||||||||
трация акцепторов; ND |
- концентрация доноров; |
ni - собствен- |
||||||||||
ная концентрация примеси. |
|
|
|
|
|
|
||||||
Площадь перехода определяется как |
|
|
|
|||||||||
A = AБОКОВАЯ + АДОННАЯ , |
|
|
|
|
||||||||
где |
A |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
АДОННАЯ |
|
БОКОВАЯ - боковая площадь p–n-перехода; |
|
|||||||||||
- донная площадь p–n-перехода; |
|
|
|
|
|
|
||||||
Для резкого перехода: |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
СБАР |
(0) = |
|
q × e0 × eSi × N A × ND |
|
|
||||
|
|
|
|
2 |
× jК (N A + ND ) ; |
|
||||||
для плавного перехода: |
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
CБАР (0) = 3 |
q × N / |
(e0eSi )2 |
|
N / = grad N , |
|
|
||||||
12 |
× jK |
|
|
; |
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
82
где q - заряд электрона; ε0 - диэлектрическая проницае-
мость вакуума; εSi |
- относительная диэлектрическая проницае- |
||
мость кремния; |
N / |
= grad N |
- градиент концентраций. |
|
|
В технологическом маршруте возможна реализация конденсаторов на переходе:
1) коллектор - база (рис.6.16);
C
|
Б |
К |
rБ CБК |
rК |
К |
|
|
Б |
|
|
|
|
p |
n+ |
|
CКП |
|
|
n |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
p+ |
n+ |
p+ |
|
rП |
|
|
p |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
П |
|
|
а |
|
б |
|
|
Рис.6.16. Конденсатор на обратно-смещенном переходе коллектор - база: а - структура; б - эквивалентная схема
2) эмиттер - база (рис.6.17);
Б |
C |
Э |
CБЭ |
rБ |
|
|
Б |
||||
|
|
К |
Э |
|
|
p |
n+ |
n |
CБК |
rК |
К |
|
|||||
|
n |
CКП |
|
|
|
p+ |
|
|
|
||
n+ |
|
p+ |
rП |
|
|
|
p |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
П |
|
|
а |
|
|
б |
|
Рис.6.17. Конденсатор на обратно-смещенном переходе эмиттер
-база: а - структура; б - эквивалентная схема
3)коллектор - подложка (рис.6.18).
83
К |
|
|
|
К |
|
n+ |
|
|
|
n+ |
|
n |
p+ |
|
p+ |
n |
p+ |
p+ |
|
n+ |
|||
|
|
|
|
p |
|
а |
|
CКП |
|
б |
|
К |
rК |
rП |
П |
|
|
|
|
в
Рис.6.18. Конденсатор на обратно-смещенном переходе коллектор - подложка: а - структура без скрытого слоя; б - структура со скрытым слоем; в - эквивалентная схема
Недостатки конденсаторов, реализованных на обратносмещенном p–n-переходе:
1)определенная (отрицательная) полярность приложенного напряжения смещения p–n-перехода;
2)зависимость емкости от приложенного напряжения;
3) низкая добротность, которая определяется как
Q = (2πCrf )−1 , где С - эквивалентная емкость; r - эквивалентное сопротивление; f - частота.
МОП-конденсатор. Возможна реализация конденсатора на структуре металл - окисел - полупроводник (рис.6.19)
Me |
dОК |
Me |
CМОП |
|
|
|
n+ |
SiO2 |
|
n |
|
|
|
|
p+ |
p+ |
CКП |
|
p |
|
|
а |
б |
Рис.6.19. Реализация МОП-конденсатора: а - структура; б - эквивалентная схема
84
Емкость такого конденсатора рассчитывается как емкость плоского конденсатора:
|
|
C = |
ε0εОК |
А = СУД А , |
|
|
|
||
|
ε0 |
|
dОК |
|
где |
- диэлектрическая проницаемость вакуума; |
|||
εОК = εSiO2 |
- |
относительная диэлектрическая проницаемость |
окисла; dОК - толщина подзатворного окисла; A - площадь; СУД - удельная емкость. Можно получить большие емкости за счет малой толщины подзатворного окисла.
Преимущества конденсатора, выполненного на МОП-структуре:
1)емкость практически не зависит от приложенного напряжения;
2)можно использовать любую полярность приложенного напряжения.
Недостаток такого конденсатора заключается в том, что требуется дополнительная операция - создание окисла определенных толщины и состава.
Пленочный конденсатор. При многоуровневой металлизации возможна реализация пленочного конденсатора (рис.6.20). Емкость такого конденсатора рассчитывается как емкость плоского конденсатора.
Me II
Me II
Me I
p |
CMe I-Me II
CMe I-П/П
а |
б |
Рис.6.20. Реализация конденсатора пленочного типа: а - структура; б - эквивалентная схема
В табл.6.3 приведены основные параметры интегральных конденсаторов.
85
Таблица 6.3
Сводная таблица параметров интегральных конденсаторов
|
|
Удельная |
емкость |
Напряжение |
Тип конденсатора |
при U |
= –5 В, |
пробоя, В |
|
|
|
пФ/мм2 |
|
|
Обратно-смещенный |
|
|
|
|
p–n-переход: |
|
|
|
|
К–Б |
|
125 |
50 |
|
Э–Б |
|
1000 |
7 |
|
К–П |
|
|
|
|
без n+-скрытого |
60 |
|
50 |
|
слоя |
n+-скрытым |
90 |
|
50 |
с |
|
|
|
|
слоем |
|
|
|
|
МОП-конденсатор |
|
|
|
|
(dОК = 50 нм) |
70 |
|
60 |
|
Пленочные: |
|
|
|
|
GaAs-SiO2-Si3N4 |
600 |
– |
||
Me I-SiO2-Me II |
20 |
|
– |
86