Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Все / - ПР / Multisim_Руководство пользователя_2007_1 / Multisim_Руководство пользователя_2007.pdf
Скачиваний:
702
Добавлен:
22.03.2015
Размер:
11.35 Mб
Скачать

Установите Output scaling в Absolute.

Установите Analysis type в AC Sensitivity.

4.Щелкните по Simulate. Grapher нарисует чувствительность для всех резисторов в разработке.

Из графика мы можем определить, что если любой из резисторов меняется на 1 Ом, результат не изменится существенно. Однако R7 будет оказывать большее влияние на выход схемы.

9.12 Анализ качания параметров

С Parameter Sweep Analysis вы можете проверить работу схемы, симулируя ее при изменении значений параметров компонент в заданном диапазоне. Эффект тот же, что и при симуляции схемы несколько раз, по разу для каждого значения. Вы управляете значениями параметра, выбирая начальное значение, конечное значение, тип «качания», который вы хотите симулировать, и нужное значение приращения в диалоговом окне Parameter Sweep. Есть три типа анализа, которые могут быть выполнены с меняющимся компонентом: DC Operating Point, Transient Analysis и AC Analysis.

Некоторые компоненты имеют больше параметров, которые могут меняться, чем другие. Это будет зависеть от модели компонента. Активные компоненты, такие как операционные усилители, транзисторы, диоды и другие, будут иметь больше доступных для выполнения «качания» параметров, чем пассивные компоненты, такие как резисторы, индуктивности и конденсаторы. Например, индуктивность — единственный доступный параметр для катушки индуктивности, тогда как модель диода имеет приблизительно 15-25 параметров.

9.12.1 Установка параметров Parameter Sweep Analysis

Поведение схемы может меняться, когда меняются некоторые параметры отдельных компонентов. Перед выполнением анализа, просмотрите схему и определитесь с выбором компонентов и параметров для «качания» и узлов для анализа.

Параметры Parameter Sweep Analysis устанавливаются в следующем диалоговом окне:

National Instruments Corporation

444

Multisim User Guide

Анализ качания параметров рисует соответствующие кривые последовательно. Количество кривых зависит от типа качания, как показано ниже:

Linear — Количество кривых эквивалентно разнице между начальным и конечным значениями, деленной на размер шага приращения.

Decade — Количество кривых эквивалентно количеству раз, когда начальное значение может быть умножено на десять до достижения конечного значения.

Octave — Количество кривых эквивалентно количеству раз, когда начальное значение может быть удвоено до достижения конечного значения.

Установка параметров Parameter Sweep Analysis

Чтобы установить параметры анализа:

1.Выберите параметр качания выбором типа параметра (Device или Model) из выпадающего списка Sweep Parameter, затем введите информацию в поля Device, Name и Parameter.

Краткое описание параметра появится в поле Description и представленное значение параметра появится в поле Present Value.

2.Установите тип изменения при качании выбором linear, decade или octave из выпадающего списка Sweep Variation Type.

3.Выберите анализ для качания из выпадающего списка Analysis to sweep.

4.Если вы хотите, чтобы данные при качании не были из списка, введите нужные значения параметра, разделяя их пробелом, в поле Values.

5.Дополнительно вы можете установить параметры анализа, щелкнув по Edit Analysis. Доступные параметры анализа зависят от выбранного анализа. Отыщите подходящий анализ где-нибудь в главе об этом анализе, чтобы посмотреть детали установки этих параметров.

National Instruments Corporation

445

Multisim User Guide

Примечание: Если анализ не редактируемый, будут использованы последние установки анализа. Если анализ не был запущен ранее, применяются значения по умолчанию.

Примечание: Вы можете также выполнить вложенное качание, комбинируя разные уровни параметров качания device/model (см. «Вложенные анализы качания»).

912.2 Parameter Sweep Analysis — Пример

Схема, представленная выше, это осциллятор Коплица. На выходе схемы генерируется прямоугольный сигнал. Анализ этой схемы меняет значение индуктивности и симулирует работу схемы. При симуляции вы заметите, что уменьшении индуктивности частота сигнала уменьшается.

Перед проведением анализа мы рассчитаем ожидаемые результаты. Когда индуктивность L0 варьируется, частота на узле 3 (эмиттер транзистора) будет меняться соответственно:

National Instruments Corporation

446

Multisim User Guide

Чтобы настроить и запустить анализ:

1.Выберите Simulate/Analyses/Parameter Sweep.

2.Выберите закладку Analysis Parameters и введите параметры, как показано ниже:

3. Щелкните по Edit Analysis и установите значения, как ниже:

4.Щелкните по ОК.

5.Выберите закладку Output.

6.Для этой схемы выходная переменная — узел 3. Под Variables in circuit подсветите variable 3 и щелкните по Add. После выбора вы заметите, что переменная есть в

National Instruments Corporation

447

Multisim User Guide

колонке Selected variable for analysis.

7. Щелкните по Simulate, чтобы получить результат:

Чтобы просмотреть результаты:

1.В окне графики выберите View/Show/Hide Cursors.

2.Чтобы проверить частоту сигнала, когда L0 = 120uH, переместите куросор 1 к первому переднему фронту сигнала, а курсор 2 к следующему фронту, как показано на графике выше. Чтобы проверить результаты, используйте значения X1 и X2 в таблице Device Parameter Sweep.

3.Чтобы проверить частоту при L0 = 500uH, переместите курсор 1 к переднему фронту

National Instruments Corporation

448

Multisim User Guide

следующего сигнала, а курсор 2 к следующему фронту, как показано ниже.

4.Чтобы проверить при L0 = 900uH, переместите курсор 1 к следующему сигналу, а курсор 2 к следующему фронту, как показано ниже.

Результаты симуляции похожи на ожидаемые.

National Instruments Corporation

449

Multisim User Guide