Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Светов Б.С. Теория, методика и интерпретация материалов низкочастотной индуктивной электроразведки

.pdf
Скачиваний:
2
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
11.24 Mб
Скачать

аномалии

интерпретируются так же, как в

магниторазведке при

строго вертикальном намагничении тела.

 

 

 

 

Дополнительные геологические сведения (по сравнению с маг­

ниторазведкой)

могут

быть

получены по

методу

незаземленной

петли

в

тех случаях,

когда

вектор остаточной намагниченности

тела

не

равен

нулю.

С этой точки зрения интересно вернуться

к рис. 50, на котором

изображены результаты сопоставления маг­

ниторазведки и метода НП над пластом железистых

кварцитов и

над обогащенными магнетитом диопсидовыми сланцами

(Алдан­

ское месторождение флогопита).

 

 

 

 

На рис. 50, а наблюдается полное совпадение

формы

и вели­

чины

отношении к

своему

нормальному

полю)

наблюдаемых

значений

Нх и AZ, что свидетельствует об

отсутствии

остаточной

намагниченности: результаты интерпретации обоих методов иден­

тичны

[21]. На рис. 50, б при общем

совпадении формы аномалий

по Hz

и A Z их отношение не равно

единице и изменяется по про­

филю

[22]. Интерпретация данных

метода НП

позволяет

в этом

случае

получить более правильные

сведения о

магнитной

прони­

цаемости объекта. Наконец, графики рис. 50, в свидетельствуют о резком преобладании влияния вектора остаточной намагничен­ ности 1п по сравнению с вектором индукционной намагниченности h в магниторазведке и их противоположном направлении. Интер­ претация данных магниторазведки в этом случае практически не­ возможна.

Что касается наблюдений по методу НП, то они и в этом случае могут быть проинтерпретированы обычными для магниторазведки методами. Сопоставление результатов этой интерпретации с дан­ ными магниторазведки позволяет найти величину (а в общем слу­ чае и направление) вектора остаточной намагниченности 1п-

Количественная интерпретация графиков распределения поля в методе НП производится в предположении близости формы ано-^ мального объекта к одной из простых геометрических форм — шару, цилиндру или тонкой пластине.

Графики распределения поля на съемочном планшете позво­ ляют судить о степени вытянутости проводника. Если его форма близка к изометрической, то интерпретация полученной анома­ лии производится по профилю, проходящему через эпицентр про­

водника, на основе отождествления аномального объекта с

прово­

дящим шаром.

 

 

Как следует из гл. IV , ортогональные компоненты поля над ша­

ром i , возбуждаемым однородным магнитным полем,

могут

быть

записаны в виде

 

 

Л , в = А л - 1 = - 4 - £ > - ^ - ( З с о 8 » в - 1 ) = - 4 - £ > а 3 ^ ^ - ;

hx= - 4 D'-7Г s i n 2 6 = - 4 D a Z -7Г

<IX-4>

1 Интерпретация графиков распределения других элементов поля произво­ дится в соответствии с табл. 4.

200

Рис. 54. Графики распределения вторичного поля в методе НП над шаром (а) и над цилиндром (б)

Использованные

 

в

этих

формулах обозначения и вид

соответствующих

графиков

для

шара

следуют

из

рис. ~^

54, а.

Положение эпицентра

залежи может

быть

найде­

но по экстремуму

аномалии

Нг или по переходу через

ноль аномалии Нх.

Глубина

шара

(расстояние

 

до

его

центра) определяется из со­

отношения

h = Ax,

где

Ах —

расстояние

между

точками,

в которых аномалия по Нг

уменьшается

вдвое,

или

между экстремумами

кривой

Нх- Магнитная проницае­ мость шара и его параметр находятся описанными вы­ ше способами на основе

г-Н°.НЛ

(Hz-H°. НЛ

\~Ж>1Г>) 'та2

рис. 21 и 22, с помощью ко-

 

 

^

 

торых

можно

определить

 

 

 

 

значение функции D на ра­

 

 

 

 

бочей

частоте.

 

 

 

 

 

После этого по экстремальным значениям аномалии на основе

соотношений

 

 

 

 

 

 

^za

max ' D •а3

,

3 ^

а3

(IX.5)

 

 

~Цг~>

"~х max

2jT

—jfi

 

может быть получен радиус шара (а). В (IX.5) берется соответст­

вующая

методике измерений, составляющая функции D (Re D,

I m D или

\D\). Наконец, возвращаясь к параметру

1

р2=—а^а2

и подставляя в него ранее определенные значения р и а, можно найти электропроводность шара а. Таким образом, в рассматри­ ваемом случае обратная геофизическая задача решается до конца [91].

Интерпретация аномалии от вытянутого проводника произво­ дится по профилю, идущему вкрест аномалии, на основе отождеств­ ления проводящего объекта с круговым цилиндром или тонкой пла­ стиной. Предпочтительную форму модели в этом случае можно выбрать путем сопоставления формы графиков поля над такими объ­ ектами. Для тел в виде пластин аномалии по Нг и Нх характери-

201

зуются величинами, несимметрично переходящими с положитель­ ных значений на отрицательные, или наоборот (см. рис. 37 и 38); для цилиндрического проводника аномалия по Hz — простой мини­ мум поля, а по Нх — симметричный переход с положительных зна­ чений на отрицательные (рис. 54, б).

В случае близости аномального объекта к цилиндрическому проводнику интерпретация наблюденных значений поля произво­ дится на основе формул

К а = — Тcos2cp

=

- 7 a 2

^ — ;

fix=-T^-sin2<?=-Ta2^.

 

(IX.6)

В этих формулах функция Т приближенно совпадает с обоб­

щенной частотной характеристикой

вторичного поля, показанного

на рис. 22, а остальные обозначения

и вид графиков распределения

следуют из рис. 54, б. Проекция оси цилиндра на дневную поверх­

ность определяется, как и в случае шара, по экстремуму

аномалии

Hz или по переходу

через

нуль

графика

Нх,

а глубина

залегания

его оси — из соотношения

h~S.xz,

где Axz

расстояние между точ­

ками, в которых аномалия по

Hz убывает вдвое, или

h~0,9S.xx,

где Дхж — расстояние между экстремумами кривой

Нх.

 

Радиус цилиндра находится на основе соотношений

 

^za m a x "

Т

^2 ,

Л^щах—

161^3 ^

h2 '

0^*7)

Последующая интерпретация не отличается от уже рассмотрен­ ной применительно к сферическому проводнику.

Если форма аномалии указывает на близость аномального объ­ екта к тонкой пластине, вытянутой по падению, обратная геофизи­ ческая задача решается не полностью. В этом случае обычными

приемами может быть найден параметр аномального

объекта р 2 =

ml

 

 

 

 

= а р — 2 _ ю ' 3

и з графиков поля относительно

просто

можно

опре­

делить только

направление и угол падения

проводящего

пласта.

В некоторых случаях дополнительно удается найти глубину зале­

гания (h)

верхней кромки

и длину пластины по падению (/). Если

/ становится известным, то можно по параметру проводника

р 2

вычислить

его продольную

проводимость

S = am (и. можно найти

на низких

частотах).

 

 

 

 

Необходимые сведения

по конкретным приемам

интерпретации

аномалий

над тонкими проводящими

пластинами

содержатся

в гл. V . Пользуясь этими приемами, можно, например, на основе

графиков

рис. 49 уверенно

говорить о восточном падении рудного

тела, а, используя графики

поля внутри

петли (см. рис. 49, в),

по

расстоянию между точками, в которых аномалия равна нулю

=

= 0), оценить глубину залегания верхней кромки (25—30 м) . Ввиду того, что графики абсолютных измерений Hz и Нх затушеваны

202

резкими изменениями первичного поля, угол падения может быть найден по методике скрещенных рамок. Проведя условное нормаль­ ное поле на рис. 51,с по соотношению между экстремумами ано-

hx6

малий на основе формулы 6 = 70 l g — - — получим оценку угла па-

дения (50 ч-60°).

Отметим попутно одно важное в практическом отношении об­ стоятельство, связанное с интерпретацией горизонтальной состав­ ляющей поля незаземленной петли. Ввиду того что эта компонента поля (или величины, эквивалентные ей) определяется с точностью до поворота фазы на 180°, форма наблюденных и палеточных гра­ фиков может различаться по знаку. Так обстоит дело и в данном случае: на графиках Л*, интерпретируемых в соответствии с рис. 38, необходимо изменить знак.

МЕТОД НЕЗАЗЕМЛЕННОЙ ПЕТЛИ С ИНТЕГРАЛЬНЫМИ ИЗМЕРЕНИЯМИ

Интегральные измерения позволяют улучшить соотношение ме­ жду величинами аномалий от поверхностных и глубинных локаль­ ных геоэлектрических неоднородностей. Как известно, именно это соотношение определяет глубинность геофизических исследований и именно на его улучшении базируется основное целевое назначе­ ние двухпетлевого метода •— глубинные поиски месторождений хо­ рошо проводящих руд. Общее уменьшение аномальных эффектов, которым может сопровождаться переход к интегральным измере­ ниям,— это уже техническая проблема, решение которой зависит от уровня измерительной техники.

Сделанная выше оговорка о локальности аномальных объектов не случайна, причем локальность понимается в смысле малости размеров объектов по сравнению с размерами генераторной и приемной петель. Проводящие среды, которые нельзя в этом смысле считать локальными (слой наносов, проводящее полупространство и т. д.), могут при таких измерениях увеличить свой относительный вклад в измеряемое поле. Следует заметить, что в тех случаях, когда эти среды на достаточно больших площадях сохраняют свои электрические параметры, их исключение не составляет большей сложности, чем исключение первичного поля, и основным препят­ ствием при увеличении глубинности поисков хорошо проводящих рудных тел является изменение этих параметров в пространстве. Только в этом смысле наносы и вмещающая среда могут рассмат­ риваться как геоэлектрические помехи в строгом понимании этого термина.

Поясним высказанные соображения некоторыми расчетами. Рас­ смотрим для простоты сферический проводник радиуса а, располо­ женный на общей оси концентрических генераторной и приемной петель радиусов Ri и Rz-

203

Тогда э. д. с. индукции

$, наводимая в приемной петле

вторич­

ным полем шара при

Ri~R2~Ro,

 

 

 

 

 

 

 

1

 

аз

 

hzlRl

 

 

 

 

*' « " Г

 

- З г

( 1 +

^

2

) 3

.

(IX.8)

а э. д. с. первичного поля

Ъ° определяется

приближенным выра­

жением

[63]

 

 

 

 

 

 

 

 

 

8 o « t f _ / a ) ^ 0 ^ l n _ 8 ^ . _ 2 ) >

 

 

( I X . 9 )

где AR=

\Ri — R2\.

 

 

 

 

 

 

 

 

Составляя отношение i>'/^° > получим,

 

 

 

 

 

 

 

 

~

аз (

Л3//?3,

1

 

 

. (,„ _ »*> . _ 2)

• Д 4 г 1 / ,

, ;

2 ^

з 1-

(1х.ю>

 

 

* 3 \ ( i +

/

w y

 

Для сравнения приведем отношение Н1/Н°

 

для

случая

измере­

ния вертикальной составляющей магнитного поля

в центре петли

(H° = I/2R0—напряженность

первичного поля в центре петли):

 

 

Ж ( ^ 4 - J//tfY/.

) *

 

( 1 Х Л 0 , >

При выводе этих формул предполагалось, что

a<^Ro,

поэтому

возбуждающее поле в месте расположения

шара (IX . 1) можно счи­

тать однородным. Графики функций стоящих в фигурных скобках формул (IX.10) — (IX.10') и выражающих зависимость вторичного поля от глубины залегания шара, приведены на рис. 55. Из них видно, что в двухпетлевом варианте метода вторичные поля от

поверхностных

проводников резко уменьшаются при h<Ro.

Так

как аномалии

быстро убывают и при h>Ro, то размеры

петель

должны быть сравнимы с глубиной залегания искомых изометри­ ческих объектов. Именно при этом условии улучшается отношение аномалий от искомых объектов к аномалиям от поверхностных неоднородностей. Что касается абсолютной величины аномальных

эффектов, то

из сравнения

формул (IX.10) и (IX.10')

следует,

что

при

прочих равных

условиях она

дополнительно

занижается

 

 

 

21.

8R0

А

 

 

 

 

в двухпетлевом методе в —

I

In —

2) раз.

 

 

 

 

 

 

я \

AR

I

 

 

 

 

Оценим влияние горизонтально-слоистой среды на результаты

измерений в двухпетлевом

методе.

 

 

 

 

 

На основе

интегрирования

по <р напряженности

электрического

поля

круглой

петли

(111.94)

при р«*/?о и

2 = /г = 0

нетрудно полу­

чить

выражение для

э. д. с.

вторичного

поля в двухпетлевом

ме­

тоде:

со

 

SWco^/? 2 , \ У? № ) * iv) d\.

(IX. 11)

204

Рис. 55. Графики зависимости вели­ чины аномалии от hjR0 в методе НП с точечными и интегральными измере­ ниями:

, - J L .

J L - 2 - J L J L v

Я°

' Da3'

g° ' Da3

Для

простоты

рассмотрим

частный

случай

двухслойной

среды — случай

S-проводимо-

сти,

для

которого

(при

p i =

 

= Р2 = ро)

функция

отражения

а (р.)

записывается

в

виде

0,01

(111.52).

 

 

 

7

В области малых парамет­ ров для рассматриваемого слу­ чая интеграл (IX . 11) может быть выражен в элементарных функциях:

Ъп=ир-^- IR0ps(\

- f Зтс4

1

0,1 15 2 3 5 7 70 15 2 3 5 7h//?0

 

 

(IX.12)

 

где pl^jiaOihiRo,

а ft =

° i h * .

 

Выпишем для сравнения вторичное магнитное поле в центре петли в тех же условиях. На основе формул (111.95") и (111.65) будем соответственно иметь:

(IX. 13)

Выясним соотношение между вторичными полями от локаль­ ного проводника и от двухслойной проводящей среды в методе незаземленной петли с точечными и интегральными измерениями.

На основе выражений (IX.7) — ( I X . 1 0 ) , (IX.12), (IX.13) полу­ чим:

-21D

--2Ю

" о

 

ЛЗ

( 1 + л Ю 3

1

(IX.14)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

аЗ

 

1

 

(IX. 15)

 

 

 

 

(1 + тН

Из сравнения этих формул следует, что если изометрический проводник залегает на глубине, оптимальной для двухпетлевого

205

2 3 5 7 70-' 7,5Z 3

5 7 7,0 7,5Z 3 5 7 10рг,

 

a

0,6

Рис. 56.

Графики

Re g 1

двухпетлевого метода

электроразведки над двухслойной средой

а

4

-=-- • Re &1;

б — Д

Re Р1

 

Щ— . Шифр кривых — 3 =

_ ч, Й|

метода (h~Ro), то с учетом того, что радиус петель в этом методе примерно в 5—10 раз меньше, чем в обычном методе незаземлен­ ной петли, отношения Н10 и &7&0 оказываются приблизительно одинаковыми. Наибольшей величины эти отношения достигают на предельно низких частотах, где они стремятся к некоторой посто­ янной величине.

Проанализируем поле от горизонтально-слоистой среды, не огра­ ничивая рассмотрение областью малых параметров. Результаты

численных расчетов поля по формуле

(IX.11)

для конечных

(но не

очень

больших) значений параметра

pz}=ps

( ^ + " ^ ~ ~ ^ _ )

п Р и в е _

 

 

 

Re pi

 

дены

на рис. 56, а. Построенная величина

тс/4a®R / характери­

зует составляющую э. д. с. вторичного поля, сдвинутую по фазе на 90° относительно э. д. с. первичного поля и измеряемую в двухпетлевом варианте метода НП. Из рисунка следует, что величина ReS1 и характер ее частотной зависимости слабо зависят от значения

206

p = -

jz—, дающего

оценку относительной

роли тонкого слоя

про-

 

О"2Л0

заданной продольной

проводимостью S =

 

водящих наносов с

oihi

и подстилающего эти наносы однородного

полупространства.

 

Графики рис. 56, а могут служить

палеткой для определения

параметров двухслойной

среды. Для

 

этого надо измеренную

ча-

стотную характеристику

величины

4Re gi

л

 

 

£

j • наложить без сдвига

по вертикали на эту палетку и по совмещенной палеточной кривой найти индекс р\ а на оси абсцисс — значение параметра р 2 . Затем можно определить отдельно S = Oihi и ог. При построениях и вы­ числениях можно, по-видимому, полагать Яо = У RiR2, где Ri и Rz — радиусы окружностей, вписанной и описанной относительно приме­ няемой квадратной петли. Однако ввиду плохой разрешающей спо­

собности кривых Re I»1 относительно

Р практическим

результатом

такой

интерпретации

может

явиться

величина 5 =

- — р 2

=

 

 

 

 

 

сорко

'

 

= s ( l - | — = S - \ ~ - G 2 R o -

По палетке на рис. 56,

а можно

ин-

\

Зяр /

оя

 

 

 

 

 

терпретировать и экспериментально полученные графики

 

^

 

Re Pi

 

 

 

 

 

 

или

— ^ у - , их совмещение с палеточными кривыми производится

при

выполнении единственного условия — параллельности осей ко­

ординат. Естественно, что при этом точность интерпретации не­ сколько снижается.

Методика полевых работ двухпетлевым методом несложна и в принципе не отличается от методики работ в МППО. Генератор­ ная и приемная петли обычно раскладываются вплотную одна к другой. Однако с целью уменьшения э. д. с. первичного поля или э. д. с. от вмещающей среды и покровных отложений возможно их расположение с перекрытием или рядом друг с другом. Обычно петли делаются квадратной формы, а их размеры выбираются рав­ ными желаемой глубине исследования. При каждом расположе­

нии петель

измеряется активная

часть э. д. с. вторичного поля

( R e l 1 ) на

ряде фиксированных

частот. После того как цикл из­

мерений на всех частотах закончен, петли перекладываются на другое место, как правило, рядом с местом их предыдущего рас­

положения.

 

 

 

По результатам измерений строятся графики приведенных зна­

ке Si

й

% e B l

тт„„

чении э. д. с. вторичного поля е = - ^

либо ei—

. Для

 

 

4- о>с R 0

/

более сильного подавления геологических помех от объектов с не­ высокой проводимостью производится их двухчастотная обработка

с вычислением AfA=~-efi~ef,.

В случае, если параметр р 2 = т с о

h

 

207

E E ] / I—\ff I—eft)/j ЕЕЗ/ EEhEELrEEhe-

у искомых рудных тел в несколько раз превышает параметр вме­ щающей среды и покровных отложений р2 ,, присутствие хорошо

проводящего оруденения

будет

отмечаться повышением значения

AfA на низких частотах.

Если

влияние вмещающей среды и по­

кровных отложений велико, то производится интерпретация на­ блюденных частотных характеристик по палеткам рис. 56.

С целью более точного определения параметра слоистого раз­ реза целесообразно использовать палетку рис. 56, б, на которой

изображены графики

 

 

= _ 1

_ д л >

A R e g ' L _ ( R e g ' \

/ Re g' \

So

\

/ д

^ &о Уд

(So/i°)/2

 

С этой палеткой

 

нужно

совместить,

соблюдая

параллельность

МЛ А

осей, частотную характеристику — = — , где AfA отнесена к средней

208

Рис. 57. Сопоставление результатов измерений двухпетлевым методом и МП ПО на медноколчеданном месторождении Южного Урала

а:

1—78—312 Гц,

б:

1 1 мс. I I — 2

V I

— 10 мс.

I I 312—1250

Гц,

I I I 78—1250

Гц;

мс, I I I — 3

мс,

I V 4 мс, V 6

мс,

/ — пески (а), глины (б); 2— диабазы; 3 — туфы порфиритов; 4 — порфириты; 5 — гранодиориты; 6 — интрузии гранитов; 7 медноколчеданные руды

частоте, а / 2 = 4fi, и по найденным значениям р2 и р определить S

и а2 . Присутствие проводящих рудных тел может привести к уве­ личению значений о2. Палетка на рис. 56, б обладает более высо­ кой разрешающей способностью в отношении (3 по сравнению с па­ леткой на рис. 56, а. Анализ кривых этой палетки позволяет сде­ лать вывод, что двухчастотная обработка результатов измерений над горизонтально-слоистой средой уменьшает влияние верхнего слоя разреза (наносов) в области низких частот и подчеркивает поле, обусловленное подстилающей средой (коренными породами). Этот эффект проявляется и при дипольных индукционных исследо­ ваниях.

Однако из сопоставления рис. 56, б и 46 следует, что при сниже­ нии частоты величина Д/Л в случае горизонтально-слоистого раз­ реза убывает медленнее, чем для локальных проводников (как

1

1

 

у однородного полупространства и как

у тонкого

слоя

наносов по сравнению с —^- у локального

проводника).

Это

14 Заказ № 271

209

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ