Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Светов Б.С. Теория, методика и интерпретация материалов низкочастотной индуктивной электроразведки

.pdf
Скачиваний:
2
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
11.24 Mб
Скачать

1,5

1,0

7

 

 

 

 

 

 

5

 

 

 

 

 

 

3

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

7О''

 

 

 

 

 

 

7

 

 

 

 

 

 

5

 

 

 

 

 

 

3

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

7

 

 

 

 

 

 

5

 

 

 

 

 

 

3

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

'" 70-' 2 3

57 1,0 2 3 5

110

2 3 5 710г

2

3

5Та,ф

Рис. 46.

Сопоставление

частотных и временных

характеристик:

 

 

 

 

 

/ — 1 т Я ' ;

2 - R e Я'; 3 — |Я'|;

4 — L(t/t);

5 -

AfA

 

Разную помехоустойчивость частотных и временных характе­ ристик вторичных полей в отношении геологических помех можно объяснить на основе теории информации. Теория информации ут­ верждает, что при функциональном преобразовании измеряемых параметров количество информации, содержащееся в них, не из­ меняется [82], если число независимых координат сигнала до и после его преобразования сохраняется одним и тем же.

Исследуемые в индуктивной электроразведке частотные и пере­ ходные характеристики определяются (2FT+X) независимыми отсчетами (координатами) на фиксированных частотах или време­ нах. Поэтому каждый такой отсчет в отдельности в пространстве частот (времен) является функцией ( 2 F 7 ' + l ) - r o отсчета в простран­ стве времени (частот). Происходит неизоморфное преобразование пространств. В этом случае количество информации (на один отсчет) может измениться и изменяется, хотя теория информации не позволяет пока предсказывать, в какую сторону. Возбуждаю­ щий сигнал в методе переходных процессов можно рассматривать как реально существующую сумму взятых с определенными весами сигналов (FT+1) частот. Выражение (VII . 2) преобразует конеч­ ную совокупность монохроматических сигналов в конечную сово­ купность временных отсчетов. При этом на определенным образом выбранных временах количество информации относительно объек­

тов с большими значениями

т увеличивается (а относительно

объ­

ектов с малыми т — уменьшается).

 

Обратное преобразование

( V I 1.9) не выражают одиночный

мо­

нохроматический сигнал. Как и

( V I I . 2 ) , оно предполагает одновре­

менное существование (FT+1)-TO

такого сигнала. Одиночный

сиг-

170

нал фиксированной частоты является «бедным» с точки зрения теории информации сигналом. Он характеризуется всего лишь двумя координатами (в частотном пространстве) —своей активной и реактивной частями. Поэтому на его основе нельзя существенно изменить количество информации относительно объектов с раз­ ными т. Для того чтобы это сделать, необходимо предварительно «обогатить» спектр возбуждающего поля.

в о з м о ж н о с т и ИСПОЛЬЗОВАНИЯ с л о ж н ы х ПЕРИОДИЧЕСКИХ ПОЛЕЙ В НИЗКОЧАСТОТНОЙ ЭЛЕКТРОРАЗВЕДКЕ

Для получения существенного положительного эффекта при не­ изоморфном преобразовании сигналов нужно в качестве исходного выбрать сигнал, характеризующийся по возможности большим чис­ лом независимых координат в каком-либо пространстве (частотном, временном, геометрическом и т. п.), и при преобразовании целе­ направленно редуцировать (сократить) их количество. С этой точки зрения в качестве возбуждающего поля целесообразно использо­ вать периодические поля, изменяющиеся по более сложному за­ кону, чем синусоидальный. Простейшим среди таких полей явля­ ется, например, поле двух частот.

Двухчастотное поле

Если над таким полем, следуя предложению А. А. Кауфмана, осуществить преобразование

AfA=-^-\mHf,-lmHf2, (VII.14)

то в результате будет исключена линейная зависимость мнимой ча­

сти поля от параметра р 2 =тсо . В этой

формуле fz>fu а Я/, выби­

рается в области малых параметров

р ( Я / и Я/ 2 следует считать

нормированными соответствующими значениями первичного поля). При таком преобразовании резко улучшается фильтрация вторич­ ных полей от объектов с малыми значениями т. Соответствующий

h

график при отношении частот - j — = 4 приведен на рис. 46. Он по-

/1

р 2 =

тсо. Левая ветвь этого гра­

строен в зависимости от параметра

фика изменяется пропорционально

(тш)

3 :

Из сопоставления этого графика с временной характеристикой сле­ дует, что даже такое простое преобразование двухчастотного поля делает избирательность соответствующих частотных и временных ха­ рактеристик весьма близкой. Заметим, что подобные преобразования

171

можно делать как аппаратурно, так и в процессе обработки ре­ зультатов измерений.

Геологическими помехами могут быть также объекты, харак­ теризующиеся большими постоянными времени т (хорошо прово­ дящие наносы, обводненные зоны и т. д.). Для подавления анома­ лий от таких объектов нужно увеличить крутизну правой ветви час­

тотной характеристики

1тН1, что также

можно

реализовать на

основе двухчастотного

поля.

 

 

Для этого достаточно измерять разность

 

Д i f A = ~|/ - ^ - Im Н-

Im H/t.

( V I I . 15)

В этом случае правая ветвь кривой будет изменяться обратно пропорционально р 2 = тсо. Используя три частоты, можно получить достаточно хорошую избирательность измеряемого сигнала в неко­ торой полосе изменения т.

Частотно-модулированное поле

Простейшее частотно-модулированное электромагнитное поле может быть записано в виде

 

E(t)=E0

cos ( V + P sin ^ 0 = £o Re e _ i

^ '

+

^

fl<>.

(VII.16)

Частота

этого

поля

изменяется по гармоническому

закону

 

 

 

 

ш = о ) 0 + c o e c o s 2 * ,

 

 

 

 

 

( V I I . 1

где сод = р£2 — девиация

частоты.

 

 

 

 

 

 

 

Нетрудно показать, что если амплитудно продектировать

сигнал

( V I I . 16), то при условии ( °° Ю д

спектр

выходного сигнала

не будет содержать ни частоты модуляции

Q, ни ее гармоник

вплоть до частоты

mQ. Иначе

будет обстоять

дело,

если

частотно

модулированный сигнал пройдет предварительно через какую-либо

линейную частотно-зависимую систему, которой является, напри­

мер,

Земля. Если

электромагнитное поле (VII.16)

 

распространя­

ется в случае проводящей среды

(например,

локального

провод­

ника), имеющей амплитудно-частотную характеристику вторичного

поля

F(xa>), ТО частотно-модулированное поле станет и амплитуд -

но-модулированным.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Будем

считать

(для простоты), что приемник

осуществляет

прием чисто вторичного поля, следовательно, его амплитуда

изме­

няется во времени по закону

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Е ( 0 = E 0

F ( т а ) = E 0

F [ х ( « 0 -J- сод

cos

Щ\.

 

 

( V I I . 18)

Разложив в ряд частотную

характеристику

вторичного

поля

•F(TG)) В окрестности точки со = соо,

получим:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

оо

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

_ ^> - ^(тсо ) = 2 EMixio^^-cosnQt.

 

 

 

 

 

(VII.19)

 

 

0

 

л =

0

 

 

 

 

 

 

 

172

Если параметр тсод достаточно мал

•til), « 1

то на выходе амплитудного детектора будет получена постоянная составляющая напряжения и гармоники частоты Q, амплитуды которых определяются разложением

E{t)

2

F{n)

(™о) g ^ r ( ^ - ) " c o s пШ.

(VII.20)

 

 

и = 0

 

 

 

Измеряя амплитуды гармоник, можно получить полное пред­ ставление о частотной характеристике вторичного поля F.

Р2/(р2)

pf'(P2>l OA

PB<f"'(p2)

1,0

 

20

рг

 

 

 

 

Рис. 47. Параметрические графики ча-

Рис. 48.

Параметрические

графики

ча­

стотно-модулированного поля

после

стотно-модулированного поля после

ча-

амплитудного

детектирования

 

стотного

детектирования

 

 

На рис. 47

представлены

графики функций pnF^n)(p),

где р = тсо,

характеризующих амплитуды соответствующих гармоник вплоть до

третьей. Левые ветви этих

графиков изменяются пропорционально

(тсо)™, а правые — обратно

пропорционально Утю. Чем выше

поря­

док исследуемой гармоники, тем сильнее

отфильтровываются

вто­

ричные поля от тел с малыми параметрами т.

 

 

Посмотрим теперь, что получается в результате частотного де­

тектирования частотно-модулированного поля.

 

 

Если возбуждающий сигнал ( V I I . 16)

будет подан на

идеальный

частотный детектор, то на его выходе будем иметь:

 

 

с / д = £ с о д « ^ ,

.

(VII.21)

173

т. е. при синусоидальной модуляции на выходе частотного детек­ тора будет колебание с частотой, равной частоте модуляции. Если частотно-модулированное поле распространяется через линейную частотно-зависимую среду (проводящую Землю), обладающую ком­ плексной параметрической характеристикой F (та>) t~i<f{-xa\ где ф(тсо)фазо-частотная характеристика среды, то после прохож­ дения сигнала через такую систему

U(t)=EQF(™)

Re е - '[ < °°' + р s i n 2 ' + ? ( т ш ) ) .

(VII.22)

Мгновенная частота на выходе линейной системы при наличии частотной зависимости фазовой характеристики изменяет свой закон:

« в Ы Х = ^ о + » д cos Ш+ а^™] .

(VII.23)

Разложим функцию <р(тсо) в ряд Тейлора в окрестности точки, соответствующей частоте со=шо:

со

<р(™)=2 9 ( " 4 ^ ) ^ # - ( - ? - ) " c o s / i S / .

(V1I.24)

п = 0

' ^ Ю° '

 

Тогда закон изменения частоты поля после того, как на него наложится вторичное поле от проводящей среды, может быть запи­ сан в следующем виде:

= ^ <?м (™о)

, (wo)*

c o s " _ 1 Q t s i n Ш-

(VII.25)

{^f-

2

п = 0

 

 

 

 

 

При условии

 

 

 

 

 

1

 

(хш0)

 

« 1 ,

 

п

f ( " - ! ) ( - o )

 

 

 

Д

 

которое может быть обеспечено выбором достаточно малого зна­ чения тшд :

со

« W = w o + ^ c o s Q * + 2 c p W ( x o ) 0 ) ^ - 2 f - ^ ) " s i n / i Q / . (VII.26)

Из выражения (VII.26) следует, что, изучая амплитуды гармоник частоты Q на выходе частотного детектора, можно получить све­ дения о производных фазо-частотной характеристики изучаемой среды, точнее — о произведениях вида p"<p( n '(p). Графики этих ве­ личин до третьего порядка включительно приведены на рис. 48. Они носят явно выраженный экстремальный характер и могут быть хорошо приспособлены для подавления геологических помех за пределами некоторого диапазона постоянных времени т.

Г Л А В А VIII

МЕТОДИКИ ИЗМЕРЕНИИ И АППАРАТУРА НИЗКОЧАСТОТНОЙ ИНДУКТИВНОЙ ЭЛЕКТРОРАЗВЕДКИ

МЕТОДИКИ ИЗМЕРЕНИЙ

Методики абсолютных и относительных измерений напряженности поля

Под методикой измерений понимается совокупность устройств и приемов, с помощью которых какие-либо характеристики иссле­ дуемого электромагнитного поля преобразуются в электрические напряжения, поступающие на вход измерительного прибора. С точки зрения основных особенностей измерительного процесса методики измерений могут быть разделены на два класса — абсо­ лютных и относительных измерений. В методиках первого класса измеряются декартовы компоненты напряженности поля или полу­ оси эллипса поляризации в различных точках пространства, в ме­ тодиках второго класса — отношение либо одноименных компонент напряженности поля в разных точках пространства, либо разнои­ менных компонент в одной и той же точке.

Спецификой измеряемых в переменном электромагнитном поле величин является их комплексный характер. Так, объектом абсо­ лютных измерений может быть либо амплитуда и фаза напряжен­ ности поля, либо ее действительная и мнимая части. Целесообразно рассматривать эти величины не независимо друг от друга, а как связанную совокупность двух частей одной и той же комплексной напряженности поля.

При таком подходе измерение действительной и мнимой ча­ стей напряженности поля соответствует ее изображению на комп­ лексной фазовой плоскости в декартовых временных координатах:

Н=ЪеН+ПтН.

(V11I.1)

Измерение амплитуды и фазы напряженности поля соответст­

вует ее изображению в полярных координатах:

 

H=Hel?.

(VI1I.2)

За нулевую фазу, определяющую положение оси абсцисс на фазо­ вой плоскости, обычно принимают фазу тока в возбудителе.

175

В методиках относительных измерений результат обычно пред­ ставляется в логарифмическом виде:

 

In А = 1п 4^-=1п Л + / Дср=1п - | г " Н (ср2 - <Pi).

(VIII.3)

v

v

 

где Hi и Я 2 — сравниваемые напряженности поля.

 

Такая система записи хорошо отражает характер относитель­ ных изменений комплексной величины, которые, как известно, ха­ рактеризуются относительными изменениями модуля этой величины и абсолютными изменениями аргумента. Действительная и мни­

мая части

In Л изображаются в виде

отдельных

графиков. Мас­

штабы этих

графиков целесообразно выбирать не

произвольными,

а равными друг другу, тогда они будут

одинаково

оценивать изме-

 

V

 

 

нения обеих компонент 1пЛ. Исходя из этого, следовало бы изоб­

ражать отношения амплитуд

в неперах,

а сдвиг фазы — в

радиа­

нах. Однако по традиции эти

величины выражаются в децибаллах

и градусах.

 

 

 

В таких единицах формулу ( V I I I . 3 )

можно записать в

виде

In А = In А + / Дер=-gL Лd 5 + / - J * i = I i £ . .

(VIII.3')

Относительными можно условно считать и измерения угла на­ клона эллипса поляризации магнитного поля. При не слишком большой поляризации поля ( Я 0 < с Я а ) этот угол близок отношению амплитуд вертикальной и горизонтальной составляющих поля (11.14).

Абсолютные измерения поля обычно производятся амплитуд­ ными или фазочувствительными микровольтметрами. Относитель­ ные измерения обычно осуществляются с помощью пассивных из­ мерительных элементов (потенциометрических устройств, фазо­ вращателей, угломерных шкал) и нуль-индикаторов. При таких из­ мерениях устраняются погрешности, связанные с нестабильностью генератора и приемника поля.

При абсолютных измерениях под аномалией понимается нор­

мированное первичным полем отклонение наблюдаемой

величины

от некоторого нормального уровня поля

[83]:

 

 

 

 

A ^ V 1

'

 

 

< V I 1 1 - 4 )

где Я с

наблюденная напряженность

поля

(суммарная); Я н и

Я0 напряженности

нормального и первичного полей в точке изме­

рения.

 

 

 

 

 

 

При

абсолютных

амплитудно-фазовых

измерениях

формула

( V I I I . 4 )

определяет

амплитудную

аномалию,

а фазовая

аномалия

представляет собой простую разность:

 

 

 

 

 

Т в = ? с - « Р н .

 

 

(VIII.4')

176

При относительных измерениях аномалию целесообразно опре­ делять формулой

In АА- ^ - + / (Дсрс -

AcpH )=-Jg- ( Л С -АХБ+4Г

( Д С Р С - А?н)°,

 

 

(VIII.5)

где индексы с и н имеют

то же значение, что и в методиках абсо­

лютных измерений.

 

 

Среди методик абсолютных измерений наиболее

распространены

измерения ортогональных компонент напряженности поля с мик­ ровольтметром любого типа и методика инвариантных измерений полуосей эллипса поляризации (ЭПП) . В первой из них обычно измеряется амплитуда напряженности поля по направлению, со­ впадающему с первичным полем. Достоинством этой методики яв­ ляется ее простота и высокая производительность, недостатком — невысокая точность измерений поля. Область ее основного приме­ нения— неглубинный (20—40 м) поиск хорошо проводящих руд­ ных месторождений в высокоомной вмещающей среде. При работе

на

достаточно высоких частотах она может применяться также

с

целью неглубинного геоэлектрического

картирования. Иногда

в

этой

методике

амплитудные измерения

дополняются фазовыми.

Такие

измерения

производятся обычными микровольтметрами

сфазовой приставкой, осуществляющей суммирование измеряемого

иопорного напряжений [27].

Вметодике ЭПП обычно измеряются большая и малая полуоси проекции эллипса поляризации на вертикальную плоскость, про­ ходящую через профиль наблюдений. Измерения производятся при помощи системы двух ортогональных рамок и специальной аппа­ ратуры (ЭПП-1,2). Достоинствами этой методики являются высо­ кая точность и высокая производительность работ, недостатками — некоторая сложность измерительной аппаратуры и сравнительно большой вес генераторного устройства. Область ее основного при­ менения — поиск хорошо проводящих рудных месторождений на средних (50—80 м) глубинах и геоэлектрическое картирование [58]. Нередко измерение этих же величин производится с помощью ори­ ентируемых в пространстве приемных рамок и микровольтметров: малой полуоси эллипса поляризации — при ориентации рамки по

минимуму приема поля, а большой полуоси — при повороте рамки на 90°.

Среди методик относительных измерений наиболее часто при дипольных индукционных исследованиях (как при поисках место­ рождений хорошо проводящих руд, так и при геоэлектрическом картировании) применяется методика измерения угла наклона эллипса поляризации. В этой методике обычно используется аппаратура ДЭМП, с помощью микровольтметра которой на­ ходят минимум напряженности поля при вращении приемной рамки.

12 Заказ № 271

177

В методе незаземленной петли могут применяться методики двух горизонтальных и скрещенных рамок. В первой из них изучается отношение амплитуд и сдвиг фазы вертикальной составляющей магнитного поля в двух точках на профиле и Дер), во второй — отношение амплитуд и сдвиг фазы двух компонент поля, ориенти­ рованных под углами +45° и —45° к горизонту в плоскости про­ филя (А* и Дф*). Измерения производятся с помощью аппаратуры типа АФИ. Эти методики обеспечивают более высокую точность, чем амплитудные измерения поля с микровольтметром, но менее высокую по сравнению с методикой ЭПП. Их недостатками яв­ ляются невысокая производительность работ и ограниченная об­ ласть применения.

Методика двух горизонтальных рамок может применяться в методе незаземленной петли при поисках месторождений хорошо проводящих руд, методика скрещенных рамок — в методах неза­ земленной петли и длинного кабеля при поисковых и геокартиро-

вочных работах. В случае

малых аномальных

эффектов

4 <^;Я0 )

и при слабых изменениях

первичного поля

результат

измерений

в методике двух горизонтальных рамок может быть выражен в виде

^ Я° + Я 2 г H\z H\z

ДИеЯ^

MmHl

1п7^Тн1^^--нТ^~^+1—7^'

( V I I L 6 )

где нижними индексами 1 и 2 отмечены напряженности поля, фик­ сируемые соответственно первой и второй рамками.

Из сопоставления этого выражения с ( V I I I . 5 ) следует связь амплитудной и фазовой аномалий в этой методике со вторичным полем:

1 Д Re Н\ 1 Д im Я'

(VIII.6')

При небольших расстояниях между рамками графики распре­ деления поля в этой методике близки к продифференцированным графикам Я2 . Если расстояние между рамками велико, то эта ме­ тодика сдваивает аномалию Нх, повторяя ее, когда рамка 2 прохо­ дит над аномальным объектом, и изменяя ее знак при прохожде­ нии рамки 1.

При том же условии малости аномалий в методике скрещенных

рамок будем иметь:

 

 

 

 

 

 

( Я 0

+ ЯГ) cos а + Я", sin a

Re Я '

п

 

Im Н\

„ „„ „ч

In ) .

' (

— £

» 2 t g a — g ^ + a t g a — n ^ i - ,

(VII .7)

( Я 0

+ H\) COS a — H\ Sin а

Я^

 

°

ЯО

'

где a — угол наклона рамок к горизонту.

178

Из сопоставления

с

( V I I I . 5 )

получим соответствующие выра­

жения для амплитудной и фазовой

аномалий:

 

Л *

^

{ л*

л*\

г»

 

a~~Vb^-

 

^ н ) а в ~

2 t g a — — ;

 

Д Т :

 

(Д=р: -

Дсрн)° *

2 tg a J 5 ^ L .

(VIII.8)

Формулы ( V I I I . 6 ) — ( V I I I . 8 )

составляют основу для

переноса

способов интерпретации результатов абсолютных измерений орто­ гональных компонент поля Hz и Нх на методики относительных из­ мерений.

Методики точечных и интегральных измерений

В методиках точечных измерений изучаются какие-либо пара­

метры,

характеризующие

напряженность электромагнитного поля

в точке

наблюдения, а в

методиках интегральных измерений —

либо циркуляция электрического поля вдоль некоторого незамкну­ того контура, либо поток магнитного поля через замкнутый контур. В обоих случаях размеры контуров нельзя считать точечными, так как они сравнимы с глубиной проводимых исследований.

Методика измерения потока магнитного поля через замкнутый контур первоначально была разработана и применена в методе пе­ реходных процессов [10, 61], где она получила название однопетлевого варианта метода (МППО) . Применение гармонических полей в таком варианте исследований позволяет повысить помехо­ устойчивость приемной аппаратуры и снять ограничения в отно­ шении максимальных размеров петель. Вместе с тем при измерении гармонических полей возникает необходимость в предваритель­ ной компенсации первичного поля. Для такой компенсации необхо­ димы раздельные генераторная и приемная петли. В связи с этим такой метод исследований получил название двухпетлевого.

Для компенсации э. д. с. первичного поля в измерительную петлю последовательно вводится напряжение, сдвинутое по фазе на 90° относительно тока в генераторной петле. Это напряжение по­ лучается с помощью изолир-трансформатора, первичная обмотка которого включена в генераторный контур. Обмотки трансформа­ тора подключаются таким образом, чтобы компенсирующее на­ пряжение и э. д. с. первичного поля были в противофазе. Изменяя коэффициент взаимной индукции между обмотками трансформа­ тора, можно добиться минимума показаний микровольтметра, из­ меряющего напряжение на приемном контуре. Оставшееся напря­

жение будет равно действительной

части э.д. с. вторичного поля

в приемной петле (ReS1 ), связанной

с потоком через контур мни­

мой части вторичного поля. Эту же

величину можно измерять и

с помощью фазочувствительных микровольтметров. Помимо нее измеряется либо э. д. с. первичного поля в приемном контуре S9,

12*

179

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ