Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Беляев А.И. Физико-химические основы очистки металлов и полупроводниковых материалов учеб. пособие

.pdf
Скачиваний:
27
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
10.89 Mб
Скачать

Повышение концентрации марганца в исходном металле также приводит к переходу его в дистиллированный алюминий. Так как во внешнем электронном слое атома марганца два 45-электрона, то, вероятно, происходит образование субфторида MnF2. Это же можно сказать и о титане.

При наличии в исходном металле магния и цинка дистиллиро­ ванный алюминий загрязняется ими за счет большого давления паров этих металлов в вакууме. Поэтому для получения чистого алюминия из металла, содержащего примеси магния и цинка, их необходимо предварительно удалить из этого металла отгонкой в вакууме.

Условиями для получения чистого алюминия дистилляцией его через субгалогениды являются следующие: 1) применение исходного металла с минимальным содержанием примесей; 2) тщательная очистка (например, 2—3-кратной сублимацией) исходных галоге­ нидов; 3) применение чистейших материалов для деталей аппаратов, с которыми соприкасается очищенный металл.

Рассмотренные здесь закономерности дистилляции алюминия через субгалогениды, а также условия получения его с минимальным содержанием примесей полностью относятся и к очистке других

металлов и элементов этим способом, например к очистке

кремния

возгонкой

его через субхлорид путем взаимодействия

кремния

с SiCl4:

SiCl4 (nap)^2SiCl2 (пар)

 

Si (тв) +

(91)

или титана путем взаимодействия с ТіС14;

 

Ті (тв) + ТіС14 (пар) ^ 2ТІС12 (пар),

(92)

а также к другим аналогичным процессам.

 

§59. Перегонка с помощью синтеза

иразложения летучих соединений.

Иодидное рафинирование

В 1925 г. Ван Аркелем и Де Буром был предложен так назы­ ваемый и о д и д н ы й п р о ц е с с для глубокой очистки от при­ месей металлов, имеющих достаточно высокую температуру плав­ ления.

Сущность процесса заключается в следующем. Летучий иодид металла нагревается и испаряется в сосуде 6 из тугоплавкого стекла {рис. 70), в котором подвешена тонкая вольфрамовая нить 4, за­ крепленная в точках 5 и <3между вольфрамовыми стержнями 1 и 2, впаянными в сосуд. При пропускании электрического тока через вольфрамовую нить она нагревается до высокой температуры и на ней происходит диссоциация иодида, в результате которой металл ' юсаждается на поверхности нити в чистом виде. Иодид металла получается в самом сосуде. Для этого порошкообразный металл и иод вводят в сосуд через трубку 7, которую потом запаивают. Через трубу 3 сосуд эвакуируют, а трубу также затем запаивают.

1 5 0

Весь аппарат нагревают в электрической печи до температуры,- при которой металл и иод связываются в тетраиодид и испаряются. Эта температура ниже той, до которой нагрета вольфрамовая нить и при которой происходит термическая диссоциация иодида-

Таким образом, реакция перегонки с помощью

 

I

г

синтеза и термической

диссоциации химического

 

соединения (иодида) может быть представлена

 

 

 

следующим

уравнением:

 

 

 

 

Me (тв) +

212 (газ) ^

МеІ4 (газ),

(93)

 

 

 

 

Л

 

 

 

 

причем tа <| 11- Схематически этот процесс

пред­

 

 

 

ставлен на рис. 71.

 

 

 

 

 

В данном случае металл перегоняется из более

 

 

 

холодной зоны в более горячуюПоследнее, как

 

 

 

мы отмечали

ранее, определяется тем, что

реак­

 

 

 

ция образования летучего продукта-переносчика

ныйсосуддля нодид-

{Me І4) сопровождается положительным тепловым

ного

рафинирования

эффектом.

 

 

 

(по

Ван

Аркелго и.

В настоящее время термической диссоциацией

 

Де Буру)

иодидов получено довольно много чистых элемен­ тов, среди которых цирконий, титан, гафний, тантал, ниобий, крем­

ний, ванадий. В табл. 5 приведен примерный перечень этих эле­ ментов с указанием температуры их осаждения на нити (т. е. температуры диссоциации иодида) и температуры колбы (т. е. тем­ пературы синтеза и испарения иодида).

Ие(конд)

Ме(конд)

Рис.71.Схемаперегонимпутемсинтезаитермическогоразложенияиодида металла(переносегорячуюзону; Г»> Г,):

Т 2

Me (тв)+ 4А'< М еХ, (пар)

Т,

Иодидный метод позволяет осуществить очистку металлов от при­ месей кислорода, азота, углерода, а также некоторых металли­ ческих примесей, которые дают иодиды менее летучие, чем основной металл (элемент). Этот процесс неприменим, однако, к металлам,, температура плавления которых ниже температуры диссоциации их тетраиодидов, что не позволяет удерживать такие металлы на нити.

1 5 t

 

 

 

 

 

Таблица 5

 

ЭЛЕМЕНТЫ,

ПОЛУЧЕННЫЕ (ОЧИЩЕННЫЕ)

 

 

ТЕРМИЧЕСКОЙ ДИССОЦИАЦИЕЙ ИХ

ИОДИДОВ

 

Элемент

Температура Температура

Элемент

Температура

Температура

колбы

нити

колбы

нити

 

°C

°C

 

°C

°C

Be

400

800

Si

200

1000

Cr

800

1100

Та

500

1100

Cu

400

1100

Ti

200

1400

Hf

800

1600

Cr

850

1150

Nb

360

900

V

900

1300

Fe

500

1100

Zr

200

1400

Как мы указывали выше, синтез иодида перегоняемого металла

•(элемента)

осуществляется

обычно в реакционном сосуде. Молено,

однако, исходить из предварительно очищенного иодида того эле­

мента, который хотят получить термической диссоциацией. Иодид

 

в этом случае вводят в реакционный

 

сосуд.

 

 

 

очистка иодида

 

Предварительная

 

может

быть

осуществлена

различ­

 

ными

способами,

например

очистка

 

иодида кремния (Sil4)

методом пере­

 

кристаллизации

и

ректификации.

 

Для синтеза Sil4 служит техничес­

 

кий кремний

чистотой 99,9%, кото­

 

рый

нагревается

с

 

парообразным

 

иодом

при

500° С.

Получающийся

Температура, °К

таким образом Sil4 дважды пере-

кристаллизовывается

 

в Н-гептане.

:Р»с. 72. Давление паров различных

Далее следует ректификация жидко­

иодидов

го Sil4 при

315° С. Здесь

происхо­

 

дит разделение

Sil4

на

кубовый

■остаток, содержащий менее летучие примеси, первый погон, содер­ жащий легко летучие, примеси и второй погон, представляющий собой очищенный Sil4. Можно полагать, что в Sil4, поступа­ ющем на ректификацию, все примеси находятся в виде иодидов.

Давление паров различных иодидов представлено на рис. 72. Как видно на этом рисунке, давления паров иодидов ниобия, магния, галлия, серебра, алюминия и сурьмы лежат в области, которая находится между давлениями паров иодидов олова и тантала. Давление паров большинства металлов меньше давления пара Sil4, благодаря чему эти примеси при ректификации иодида кремния будут оставаться в кубовом остатке. Йодиды фосфора и бора обла­ дают большим давлением паров и должны удаляться в головную фракцию (легкий погон) ректификационной колонны еще до тех пор, пока начнется отбор ректификационной чистой фракции Sil4.

152 .

Очищенный Sil4 поступает в реактор с накаливаемым прутком из чистого кремния. Испарение производится при 200° С.

Таким образом, иодидный процесс основан на получении в самом реакторе или введении извне паров иодида при низкой температуре- и диссоциации его при высокой температуре и том же давлении.

При получении

иодида металла

(элемента) в самом реакторе

мы имеем дело с

з а м к н у т ы м ,

а при введении его извне—

с о т к р ы т ы м

иодидным процессом.

 

Термодинамика

процесса

Наиболее важным термодинамическим фактором, определяющим протекание иодидного процесса, является малая величина энергии образования иодидов. В . соответствии с этим энергия, требуемая для диссоциации иодидов, меньше, чем бромидов и хлоридов, а по­ этому иодиды термически разлагаются легче, чем другие галогениды. Далее, если рассмотрим реакцию

Ме14 (газ)ДТЛІе (тв) -j- 41 (газ),

(94)

то в выражении константы равновесия этой реакции

к= - ü i 4-

р[ / W e l j ]

величина давления атомарного иода входит в четвертой степени,, в связи с чем равновесное давление паров иода над металлом должно быть значительным. Уменьшение степени диссоциации молекулы иодида приведет к снижению давления и, следовательно, умень­ шению величины константы равновесия. Отсюда процесс будет менее эффективен для три-, ди- и моноиодидов.

При любой заданной температуре существует нижний пределдавления Me І4, ниже которого осаждение металла (за счет терми­ ческой диссоциации) невозможно. Таким нижним пределом давления является точка, где скорость осаждения металла равна скорости

его испарения, т. е. определяется собственным давлением пара осаждаемого элемента.

С другой стороны, существует и верхний предел давления, при котором термическая диссоциация иодида будет равна нулю, и в этой точке осаждения металла на нити также не будет. Снижение давления паров Ме14 против той величины приводит к осаждению металла, а повышение давления — к его «разъеданию». Точка верх­ него предела давления наблюдается при осаждении титана из ТіІ4 при 1500° С и давлении паров ТіІ4 38 мм рт. ст.; такая же точка обнаружена для системы Si — Sil4 при давлении паров Sil4 15 мм рт. ст. и 1160° С; для системы Sn — Snl4 — при 4 мм рт. ст. и 1300° С и т. д.

Указанные явления можно объяснить тем, что повышение дав­ ления паров Meli (при данной температуре) обусловливает соот­ ветственно и повышение концентрации Ме1Л, находящегося в сопри­ косновении с металлом, отложенным на нити. По мере же повы­ шения концентрации Л4еІ4 (т. е. давления его паров) усиливается

153.

обратное взаимодействие металла с MeІ4

с образованием низших

.иодидов, например

 

MeU + M e ^ 2 M e l 2.

(95)

Поэтому, если построить график зависимости степени диссоциа­ ции иодида от давления его паров, то кривая выхода металла начи­ нается от нуля при давлении, соответствующем началу осаждения

 

(нижний предел давления), подни­

 

мается до максимума, затем вновь

 

падает до

нуля (верхний предел

 

давления)

и,

наконец,

переходит

 

в область «разъедания» или «отри­

 

цательного» разложения (рис. 73).

 

 

Кинетика иодидново процесса

 

 

С кинетической точки

зрения

 

процесс иодидного рафинирования

 

можно

рассматривать

состоящим

 

из

стадий:

1) синтеза

иодида

Вис.73. Кривые равновеснойдиссоциации

в

результате

взаимодействия па­

Sil4при 1300°С

ров иода с металлом;

2) переноса

 

иодида

к

горячей нити; 3)терми­

ческого разложения иодида на горячей нити и 4) переноса осво­ бождающегося иода от нити обратно к исходному металлу. Меха­ низм стадий второй и четвертой почти одинаков (диффузия и кон­ векция), разница лишь в том, что скорость молекул свободного иода больше скорости молекул иодида. Поэтому при некотором упрощении можно объединить эти стадии и считать их просто стадией переноса газа.

Важно знать, какая из указанных стадий определяет скорость процесса. Как показали исследования^, стадией, определяющей кинетику иодидного процесса в целом (т. е. характеризующейся наименьшей-скоростью), является стадия транспорта газовых состав­

ляющих. Поэтому иодидный процесс

можно в принципе ускорить

путем принудительной циркуляции газов в реакционной колбе.

На кинетику же разложения летучего иодида (скорость осажде­

ния металла) на раскаленной нити

влияет также ряд

факторов,

из которых укажем следующие: 1)

количество йода,

введенного

в реактор (колбу); 2) температура колбы; 3) температура раскален­ ной нити; 4) образование низших иодидов. Кратко рассмотрим эти факторы на примере термического разложения тетраиодмда кремния.

На рис. 74 графически представлено влияние первых трех факторов на скорость осаждения кремния в иодидном процессе. Видно, что ■кривая зависимости скорости осаждения кремния от количества введенного в колбу иода (рис. 74, а) имеет ярко выраженный макси­

мум, отвечающий скорости осаждения

примерно

0,08 г/(см-ч).

Это связано, вероятно, с максимальной

концентрацией Sil4 около

поверхности раскаленной нити. Пары

избыточного

иода как бы

1 5 4

«разубоживают» содержание Sil4 в газовой фазе, что может умень­ шить скорость разложения.

Влияние температуры колбы (исходного материала) на скорость осаждения кремния при постоянном количестве иода и постоянной температуре нити (рис. 74, б) показывает, что скорость максимальна при 460° С. Эта температура является оптимальной для образования

Рис. 74. Влияние различных фак­ торов на скоростьосаждения кре­ мния:

а — количество иода, введенного, вколбу; б — температура колбы; в — температура нити

иодида, но ее влияние на скорость осаждения кремния не столь, велико, как влияние количества введенного иода.

Влияние температуры нити на скорость осаждения кремния (рис. 74, в) при постоянном количестве иода и постоянной темпе­ ратуре колбы таково, что скорость осаждения непрерывно растет- с повышением температуры нити до максимальной (достигнутая при опытах 1040° С). Это обусловливается тем, что разложениететраиодида происходит с поглощением тепла.

Влияние низших иодидов на скорость осаждения металла на раскаленной нити рассмотрим на примере термического разложения Zrl4. На рис. 75 представлена зависимость скорости осаждения циркония из Zrl4 в зависимости от температуры колбы (tK) и тем­ пературы накала нити (£„). Видно, что крутой подъем скорости роста слоя циркония на нити начинается при низких температурах колбы, равных 170—180° С. Затем следует ярко выраженный макси­ мум, положение которого сдвигается приблизительно от 225 к 250° С с возрастанием температуры нитипримерно от 1180 до 1500° С. После этого скорость роста слоя циркония быстро уменьшается и сохраняет очень низкое значение почти до 500° С. При дальнейшем

155.

■повышении температуры колбы вновь наблюдается быстрый подъем кривой скорости роста, как и при низких температурах колбы.

Таким образом, зависимость скорости осаждения циркония от температуры колбы (tK) выражается сложной кривой, на которой имеются два максимума и плоский минимум между ними. Исследо­ вания показывают, что такой ход кривой объясняется образованием в интервале температур 300—500° С нодпда циркония пониженной валентности (Zrl3).

150

200

250

300

350

400

450

500

550

 

 

 

Температура

иол5ы

, °С

 

 

Рис. 75. Влияние низших иодпдов на скорость осаждения циркония

 

Если от наинизшей температуры

150° С и примерно до 300° С,

в паровой фазе присутствуют только молекулы Znl4 и создаются, таким образом, наиболее благоприятные условия для роста кристал­ лов циркония на нити, то после 320° С наступает резкий спад ско­

рости, которая в

пределах 350—450° С

остается

крайне

низкой.

Это связано с тем,

что после 300° С взаимодействие циркония с I,

происходит с частичным образованием

твердого

Zrls,

который

быстро покрывает поверхность частиц порошка или кусочков цир­ кония блокирующим слоем. При этом совершенно нет надобности в том, чтобы этот слой был сплошным. Для замедления реакции взаимодействия иода с порошком циркония достаточно блокирова­ ния трииодидом сравнительно небольшого количества активных структурных элементов поверхности циркония (углов, граней, над­ ломленных плоскостей кристаллической решетки). Иод не может активно взаимодействовать с цирконием в колбе, и скорость роста кристаллов циркония на нити снижается благодаря возрастающему

-J56

давлению І 2, пар которого за короткое время насыщает рабочее пространство колбы. Благодаря этому число ударов молекул о нака­ ленную нить становится сравнимым с числом ударов молекул Zrl4.

Но столкновение молекул І 2 с циркониевой

нитью

приводит

к образованию молекул Zrl4 за счет

циркония,

осажденного за

нити. Процесс обратного образования

молекул

Zrl4 на

поверх­

ности нити и процесс осаждения циркония на ней в результате диссоциации наслаиваются одни на другой и приводят к резкому уменьшению скорости осаждения циркония на нити.

При температуре выше 420° С Zrl3 становится, как твердая фаза, неустойчивым, превращаясь в Zrl, по реакции

2ZrI3^ Z r I 4 + Zrl2.

Вследствие этого пленка Zrl3 на поверхности циркониевого порошка разрушается и взаимодействие иода с порошком Zr снова может протекать беспрепятственно. Парциальное давление Zrl4 при этом резко возрастает и соответственно увеличивается скорость его разложения на раскаленной нити. При температуре выше 460° С Zrl2 превращается в цирконий и Zrl4:

2ZrI3^Z! Zrl4 ~Ь Zr,

(96)

что в еще большей степени способствует повышению парциального давления Zrl4 в колбе и увеличению скорости роста кристаллов циркония на нити.

Удаление примесей при иодидном процессе

Целью иодидного процесса является получение продукта высокой степени чистоты. Эту очистку можно осуществить двояким путем: получить предварительно глубоко очищенный от примеси иодид и затем подвергнуть его диссоциации (выше нами приведен пример очистки Zrl4) или осуществить селективное выделение нужного иодида в процессе синтеза.

К числу элементов, легко рафинируемых по способу Ван Аркеля, когда все операции осуществляются в одном реакторе, принадлежат титан, цирконий, гафний.. При низких температурах исходного (чернового) металла, когда процесс осуществляется через летучие тетраиодиды, такие соединения, как нитриды, карбонитриды, сили­ циды и другие интерметаллические соединения, а также окислы и карбиды в реакциях не участвуют; иоднды двухвалентных метал­ лов, если они образуются, имеют ничтожное давление пара и по­ этому не принимают участия в переносе.

Чтобы осуществить разделение циркония и титана, необходимо поддерживать в реакторе низкую температуру и осуществлять тщательный ее контроль. Например, при температуре колбы 100° С осаждения металла из Zrl4 (вследствие низкого давления его пара) не происходит. Однако термической диссоциацией ТіІ4 был получен уже значительный осадок титана при температуре колбы 50° С. Вероятно, цирконий и гафний могут быть разделены подобным же образом.

157

Предлагается также

для предупреждения

переноса алюминия

и других металлов при

получении титана в

аппарат вводить KI.

Такое разделение можно осуществить для металлов четвертой группы. КІ не образует комплексных соединений с ТіІ4, но образует их с Zrl^ и ТШ4, что снижает давление их паров.

Применение иодидного процесса в ряде случаев представляет известные трудности, поскольку для получения достаточного давле­ ния, например йодидов урана и тория, необходима высокая темпе­ ратура, при которой все нодиды имеют заметные давления паров, что и затрудняет их разделение. Однако при этом процессе очистки результаты получаются все же лучшими, чем при любом другом пирометаллургическом процессе.

С другой стороны, иодидным способом могут быть получены и сплавы, если в реактор загружать порошкообразные смеси металлов. Важнейшими факторами при получении сплавов являются относи­ тельная летучесть иодидов и относительная летучесть металлов. Таким образом были получены сплавы Zr—Sn, Zr—Al, Ti—Zr, Zr—Hf, Zr—Cr, Zr—Ni, Zr—Те с различными концентрациями компонентов.

Применимость иодидного процесса к различным группам металлов

В заключение сделаем краткий обзор применимости иодидного процесса к различным группам металлов.

Для щ е л о ч н ы х м е т а л л о в , находящихся в I группе элементов таблицы Менделеева, нет легко испаряющихся соедине­ ний (в том числе и иодидов), которые заметно диссоциировали бы ниже точки плавления металлов. Это же относится к щ е л о ч н о ­

з е м е л ь н ы м м е т а л л а м , входящим во II

группу. Исклю­

чением

из элементов II группы

является бериллий,

который

осаж­

дается,

если металлическая

нить накаливается

в парах

ВеІ2.

Но процесс затрудняется тем, что иодид бериллия разрушает стекло, и металл загрязняется поэтому кремнием и бором.

Из элементов III группы наиболее благоприятны условия для получения бора. Однако для бора не удалось достигнуть осаждения из иодида, но оно легко осуществимо из бромида. Такой металл, как алюминий, не может быть получен диссоциацией иодида из-за низкой температуры плавления этого металла.

К III группе можно отнести также р е д к и е з е мл и . Так как точки плавления их лежат достаточно высоко, то не исключена возможность получения этих металлов из их иодидов. Таким путем получен, в частности, и т т р и й .

Элементы IV группы (кремний, титан, цирконий, гафний, торий) получаются диссоциацией их иодидов. Полученные таким способом металлы обладают большой пластичностью и легко обрабатываются.

Металлы V группы (ванадий, ниобий и тантал) могут быть полу­ чены следующим образом. Ванадий — из иодида, но так как ѴІ3 нестоек, то, вероятно, образуется VI2. Но это соединение мало летуче (как и вообще большинство соединений типа XI2), поэтому колбу необходимо нагревать до 800° С и изготовлять ее из кварца. Благо­

1 5 8

приятнее условия для ниобия и тантала, которые могут быть полу­ чены не только термической диссоциацией их иодидов, но и хлоридов.

Элемент VI группы х р о м может быть получен так же, как и ванадий.

Из элементов VII группы не удалось пока очистить этим методом марганец, иодид которого мало летуч. Однако рений получается диссоциацией его хлорида.

Что касается VIII группы, то из металлов группы

железа может

осаждаться диссоциацией иодида только ж е л е з о ,

как и м е д ь

(из I группы). Однако пока иодидным методом не удалось очистить

никель и кобальт. Это объясняется, вероятно, тем,

что металлы

не образуют трииодидов; дииодиды же их мало летучи. Однако в тех­ нике чистый никель получают диссоциацией карбонила; это приме­ нимо также и для железа.

Из-за высоких температур плавления металлы п л а т и н о в о й г р у п п ы могли бы быть получены термической диссоциацией. Однако эти металлы образуют очень мало летучих соединений.

Иодидный процесс может быть применен также для нанесения тонких пленок (толщиной в 5—10 мкм) на пластинки (подложки) из различных материалов. Хорошо очищенный иодид того или иного элемента подвергают термическому разложению на поверхности подложки, нагретой до определенной температуры. При этом пленки получаются монокристаллическими, что позволяет применять их для изготовления полупроводниковых приборов небольших разме­ ров в радиоэлектронике, в вычислительных машинах н в автоматике.

Близкий к этому процесс заключается в получении монокрметал­ лических пленок кремния на поверхности подложки тоже из чистого кремния, но менее совершенной структуры. В этом случае тщательно очищенный тетрахлорид кремния восстанавливают водородом на

поверхности подложки,

нагретой до

1000—1100° С:

SiCl4 + 2На = Si +

4НС1.

(97)

Вместо четыреххлористого кремния может быть использован

также трихлорсилан:

 

SiHCIg + На = Si + ЗНС1,

(98)

требующий для своего восстановления меньшего количества водо­ рода.

Путем восстановления водородом очищенных хлоридов туго­ плавких металлов (например, вольфрама) на поверхности раскален­ ного тонкого цилиндрического прутка могут быть получены трубки из этих металлов небольшого диаметра.

Применение водорода как восстановителя необходимо для хло­ ридов потому, что они значительно более прочные химические соеди­ нения, чем иодиды, и термическое разложение их возможно лишь при очень высоких температурах.

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ