Наноэлектроника лит-ра / dragunov
.pdf
Рис. 5.19. Геометрическая структура модели ДУНТ [48]. Слева – расположение графитовых плоскостей со структурой упаковки АСАС, справа – схема диагональных переходов между нанотрубками
С точки зрения анализа возможности практического применения УНТ кроме энергетического спектра особое внимание привлекают их уникальные проводящие свойства [49]. Экспериментальные исследования ОУНТ различного диаметра показали, что проводимость прямолинейного участка нанотрубки, не испытывающей внешней нагрузки, составляет около 100 мкСм. На рис. 5.20, а показана типичная зависимость сопротивления металлической ОУНТ длиной около 3 мкм от температуры [50]. Характеристиками таких нанотрубок можно управлять с помощью затворного напряжения, как показано на вставке к рис. 5.21. Зависимость тока затвора от напряжения на затворе показана на рис. 5.21. В данном случае толщина диэлектрика (SiO2) составляла
500 нм.
Следует однако заметить, что анализ экспериментального материала, накопленного к настоящему времени, показывает существенное различие в значениях проводимости ОУНТ, измеренных разными группами исследователей. Это различие может достигать одного-двух порядков.
Такое состояние вопроса, с одной стороны, связано с различием структур ОУНТ и, в частности, различиями в их хиральности, а с другой – влиянием дефектов поверхности нанотрубок на их проводимость. Причем эти дефекты могут быть обусловлены не только возможным
201
R(кОм)
20 |
|
|
|
|
|
-2 |
|
|
|
|
Vg: 0 B |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
16 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 B |
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
2 B |
|
||
|
|
|
|
|
|
A) |
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
0 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
( |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
12 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
3 B |
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
I |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
8 |
|
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
0 50 100 150 200 300 T, К |
|
3 |
2 1 |
|
0 -1 -2 V, B |
|||||||||||
|
|
|
|
аа |
|
|
|
|
б б |
|||||||
Рис. 5.20. Зависимость сопротивления металлической ОУНТ с Ti контактами от температуры (а). ВАХ полупроводниковой ОУНТ при различных затворных напряжениях (б). Схема приложения затворного напряжения показана на рис. 5.21
отклонением от идеальной гексагональной структуры, но и наличием присоединенных радикалов, изменяющих положение и структуру валентной зоны и зоны проводимости. В результате разные эксперименты отличаются друг от друга не только характером, но даже знаком зависимости.
Следует отметить, что прямые измерения проводимости индивидуальных нанотрубок представляют собой технически трудную задачу. Это связано с миниатюрными размерами нанотрубок, затрудняющими проведение надежных измерений, и с чрезвычайно низким сопротив-
|
|
|
|
|
|
лением индивидуальной нанотруб- |
|||
|
25 |
|
|
|
|
ки, которое, как правило, оказыва- |
|||
|
20 |
|
|
|
|
ется |
значительно |
ниже сопротив- |
|
|
|
|
|
|
ления подводящих контактов. |
||||
A) |
|
|
|
|
|
||||
15 |
|
|
|
|
В то время как проводимость |
||||
I, (н |
10 |
|
|
|
|
ОУНТ более или менее согласуется |
|||
|
|
|
|
|
с баллистическим механизмом пе- |
||||
|
|
|
|
|
|
||||
|
5 |
|
|
|
|
реноса носителей заряда [51], для |
|||
|
0 |
|
|
|
|
описания механизма проводимости |
|||
|
|
|
|
4 Vg, B многослойных нанотрубок необхо- |
|||||
|
0 |
1 |
2 |
3 |
|||||
Рис. 5.21. Зависимость тока затвора |
димо |
привлекать |
более сложные |
||||||
модели. С одной стороны, наблю- |
|||||||||
от напряжения |
между |
затвором |
|||||||
даемое в ряде экспериментов явле- |
|||||||||
|
|
и подложкой |
|
||||||
|
|
|
ние |
квантования |
проводимости |
||||
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
202 |
|
|
|
приписывается баллистической проводимости по внешней оболочке, а с другой – слабая локализация носителей и наличие осцилляций Аро- нова–Бома в магнетосопротивлении при низких температурах указывает на то, что длина когерентности соответствует диффузионному переносу, в котором участвует более чем одна внешняя оболочка.
, См/м
T, К
Рис. 5.22. Температурная зависимость ДУНТ [48]
Результаты расчета зависимости изотропной продольной проводимости для серии двухслойных armchair УНТ от температуры приведены на рис. 5.22. Из графиков видно, что для всех рассмотренных ДУНТ проводимость монотонно уменьшается с увеличением температуры, что характерно для проводников. Однако в области 30…60 К спад кривых замедляется, а в некоторых случаях даже образуется плато. Данные зависимости показывают возможность превращения двух проводящих (металлических) нанотрубок типа armchair в полупроводниковую двухслойную нанотрубку, т.е. указывают на возможность фазового перехода «металл–полупроводник» при некоторых конфигурациях взаимного расположения слоев ДУНТ [48].
5.3.Механические свойства углеродных нанотрубок
Наряду с электронными свойствами большой интерес с прикладной точки зрения представляют и уникальные механические свойства углеродных нанотрубок. Эксперименты показывают, что углеродные
203
нанотрубки имеют рекордно высокое значение модуля Юнга (порядка терапаскаля) [11], что в 4–5 раз больше модуля упругости стали. Высокие прочностные характеристики УНТ, обусловленные совершенством их структуры и силой химической связи между атомами углерода, представляют большой интерес с точки зрения создания новых материалов, обладающих повышенными механическими характеристиками. В настоящее время успешно развиваются технологии получения из нанотрубок сверхпрочных волокон, пряжи, тканей, а также композитных материалов. По своим механическим характеристикам эти изделия стоят вне конкуренции среди любых других подобных материалов.
Важной особенностью нанотрубок является сильная связь между их электронными характеристиками и механической деформацией [52]. При деформации УНТ могут изменяться ширина запрещенной зоны, концентрация носителей заряда, фононный спектр и т.д. В результате нанотрубка может использоваться в качестве эффективного преобразователя механического движения в электрический сигнал. На рис. 5.23 показана одна из возможных конструкций электромеханического преобразователя на основе углеродной нанотрубки [53].
Как уже отмечалось, по своей структуре УНТ представляет собой однослойную либо многослойную цилиндрическую оболочку диаметром от одного до нескольких десятков нанометров и длиной от одной десятой до нескольких десятков микрон.
|
|
|
исток |
|
сток |
|
|
|
затвор
Рис. 5.23. Изображение электромеханического преобразователя на основе нанотрубки, полученное с помощью сканирующего электронного
микроскопа [53]
204
Наиболее простым объектом с точки зрения анализа упругих свойств является однослойная нанотрубка. Как объект теории упругости однослойная нанотрубка может быть представлена в виде тонкой цилиндрической оболочки. В настоящее время нет никаких указаний на наличие сколько-нибудь ощутимой зависимости механических характеристик нанотрубки от ее хиральности. Тем не менее не следует ожидать полного подобия в поведении макроскопических оболочек аналогичной геометрии и УНТ, так как, во-первых, УНТ не имеет сплошной стенки, а во-вторых, имеет толщину порядка размера атома.
Упругие механические свойства протяженных цилиндрических оболочек характеризуются набором модулей упругости, представляющих собой коэффициенты пропорциональности между механическим напряжением и деформацией такой оболочки в определенном направлении. Наиболее распространенные типы деформации для однослойной нанотрубки показаны на рис. 5.24. Кроме того, важное место занимает также кручение оболочки относительно ее оси.
а |
|
|
б |
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
в |
|
г |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
д |
е |
Рис. 5.24. Основные типы деформации нанотрубок:
а – осевое растяжение; б – осевое сжатие; в – симметричный изгиб; г – радиальное сжатие; д – упругое отклонение; е – эйлеровская деформация [11]
205
Основным параметром нанотрубки, характеризующим ее прочность на растяжение (рис. 5.24, а), является продольный модуль Юнга, определяемый выражением [11]
E |
N |
, |
(5.3.1) |
2 Rh |
где – продольное механическое напряжение (отношение продольного растягивающего усилия N , приложенного к нанотрубке, к площади поперечного сечения), – относительное растяжение нанотрубки при данном напряжении, R – радиус нанотрубки, h – толщина ее стенок.
Аналогично определяется модуль упругости, соответствующий осевому сжатию нанотрубки (рис. 5.24, б). Отметим, что растяжение и сжатие УНТ являются симметричными процессами только при достаточно малых нагрузках.
Оценка величины модуля упругости однослойной нанотрубки может быть проведена на основе микроскопического подхода с учетом упругих сил, действующих между атомами углерода, составляющими гексагональную поверхность. Полагая атомы, составляющие нанотрубку, расположенными вдоль нитей, параллельных ее оси, и взаимодействующими друг с другом в соответствии с модельным потенциалом Морзе,
U X |
U0 1 |
exp( 2 |
) 2 , |
|
|
||||||
для оценки модуля Юнга в приближении малого растяжения ( |
1) |
||||||||||
получим следующее выражение: |
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
||
E |
nX 0 |
|
2U |
|
|
8U0 |
|
, |
(5.3.2) |
||
nr2 |
|
X 2 |
|
X |
|
r2 |
|||||
|
0 |
|
|
|
X X0 |
0 0 |
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
||||||
где U0 – глубина потенциальной ямы, в которой находятся атомы углерода; (X X0 ) / X0 – безразмерное межъядерное расстояние; X0 – межъядерное расстояние, соответствующее минимуму потенциальной энергии; ~ 1 – безразмерный параметр, характеризующий степень резкости потенциала взаимодействия, n – эффективное число нитей, пропорциональное диаметру нанотрубки, r0 – величина порядка радиуса единичного атома углерода. Подставляя характерные значения
206
r ~ 0.5 10 |
8 см, X |
0 |
~ 1.5 10 8 |
см, |
U |
0 |
~ 6 эВ, |
1 , получаем оценку |
0 |
|
|
|
|
|
|
||
E ~ 6 1012 |
Па [11]. |
|
|
|
|
|
|
|
Согласно (5.3.2) величина модуля Юнга длинной цилиндрической оболочки не зависит от ее диаметра, но сильно зависит от толщины
стенки цилиндра 2r0 . Именно неопределенность в значении этого па-
раметра, по порядку величины равного радиусу атома, является основным источником погрешности подобных оценок. Тем не менее оценка (5.3.2) находится в качественном согласии с результатами прямых измерений. Значения модуля Юнга, измеренные различными авторами, приведены в табл. 5.2.
Т а б л и ц а 5.2
№ |
E, ТПа |
Объект |
Метод |
Источ- |
||
п/п |
исследования |
измерения |
ник |
|||
|
|
|||||
1 |
1.3 |
0.45 |
ОУНТ |
Частота колебаний |
[54] |
|
2 |
0.01 |
ОУНТ, синтезирован- |
|
[55] |
||
|
|
|
ные CVD |
|
||
|
|
|
|
|
||
3 |
1.2 |
ОУНТ |
|
[56] |
||
4 |
0.81 |
0.41 |
МУНТ |
Упругая деформация |
[57–60] |
|
5 |
0.27 |
МУНТ, синтезирован- |
Упругая деформация |
[57–60] |
||
|
|
|
ные CVD |
|
||
|
|
|
|
|
||
6 |
1.8 |
0.9 |
МУНТ |
Тепловые колебания |
[61] |
|
7 |
1.28 |
0.59 |
МУНТ диаметром |
Частота колебаний |
[62] |
|
|
|
|
26–76 нм |
|
||
|
|
|
|
|
||
8 |
1–1.2 |
МУНТ |
|
[63] |
||
9 |
3.5 |
МУНТ |
Изгибная деформация |
[64] |
||
10 |
1.23 |
0.09 |
МУНТ c внутренним |
|
|
|
|
|
|
диаметром 3.2 нм и |
|
[65] |
|
|
|
|
внешним – 14.3 нм, |
|
||
|
|
|
|
|
||
|
|
|
синтезированные CVD |
|
|
|
11 |
0.27–0.95 |
МУНТ |
Деформация растяжения |
[66] |
||
12 |
0.1–1 |
МУНТ |
Частота колебаний |
[67] |
||
12 |
0.32–1.47 |
Связка УНТ |
Деформация растяжения |
[68] |
||
13 |
1.18 |
0.4 |
Связка УНТ |
Изгибная деформация |
[58] |
|
14 |
0.32–1.47 |
Связка УНТ |
Тепловые колебания |
[54] |
||
15 |
0.45 |
0.23 |
Жгуты МУНТ |
Прямое измерение |
[69] |
|
16 |
1.06 |
Графит |
|
[61] |
||
|
|
|
207 |
|
|
|
|
Можно заметить, что заметно |
|||
|
выпадают из общего ряда лишь |
|||
|
результаты |
измерений |
модуля |
|
|
Юнга для УНТ, синтезированных |
|||
|
методом химического осаждения |
|||
|
(CVD). Обычно это связывают со |
|||
|
значительной |
концентрацией |
||
Рис. 5.25. Схема устройства для де- |
структурных |
дефектов |
в таких |
|
нанотрубках, |
что проявляется |
|||
формирования НТ с использованием |
||||
АСМ |
также и в прочностных характе- |
|
ристиках материала. |
||
|
В настоящее время большинство измерений механических характеристик УНТ проводят либо с использованием атомно-силовых микроскопов, либо электромеханическим способом. При этом силовое воздействие создается в первом случае кантилевером микроскопа, например, как показано на рис. 5.25 и 5.26, а во втором – электрическим полем, как показано на рис. 5.23 и 5.27. Заметим, что полученный
|
|
а |
|
|
|
а |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
б метод 1 |
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
Ti/Au |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
в |
метод 2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
лазер |
|
сила |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
б |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
г |
метод 3 |
|
Рис. 5.26. Фотография (а) и схема |
Рис. 5.27. Схема нагружения нано- |
||||||||||
нагружения нанотрубки (б) с ис- |
трубок с использованием электро- |
||||||||||
|
|
пользованием АСМ [71] |
статического возбуждения колеба- |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ний [55] |
|
|
|
|
|
|
|
|
208 |
|
|
|
|
на основании таких измерений (связывающих прогиб НТ с величиной приложенной силы) кажущийся модуль Юнга Eb в случае жгутов (связок) нанотрубок связан с истинным модулем Юнга соотношением
1 |
1 |
|
10 D2 |
, |
(5.3.3) |
|||
Eb |
|
E |
|
3G |
|
L2 |
||
|
|
|
|
|
||||
где D – диаметр жгута, L – его длина, G – модуль сдвига. Второе слагаемое в правой части (5.3.3) учитывает сдвиг нанотрубок, входящих в состав жгута, относительно друг друга.
Поскольку характерное значение G составляет порядка гигапаскаля [11], а E 1 ТПа, вклад второго слагаемого становится существенным для коротких ( D
L 0.01) УНТ.
Наряду с модулем Юнга на растяжение, важной характеристикой нанотрубок является изгибная жесткость. Детальные измерения изгибной жесткости многослойных УНТ бамбукообразной структуры выполнены в работе [70]. В этой работе измерялась резонансная частота консольно закрепленных нанотрубок.
В соответствии с классической теорией упругости связь между резонансной частотой колебаний сплошной цилиндрической оболочки и ее параметрами представлена выражением
|
2 |
|
|
(D2 D2 )E |
|
|
|
fi |
i |
|
|
1 d |
, |
(5.3.4) |
|
8 L2 |
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
где D, D1 – соответственно внешний и внутренний диаметр нанотруб-
ки, L – ее длина, – плотность материала нанотрубки, Ed – эффективный модуль упругости по отношению к изгибу, численный коэффици-
ент |
i |
1.875 и 4.694 |
соответственно для первой и второй гармоник |
|
|
|
колебаний. Результаты измерений резонансной частоты для шести нанотрубок показали, что значения резонансных частот находятся в диапазоне около 1 МГц, а ширина резонанса f
f ~ 0.01.
Параметры исследованных нанотрубок, результаты измерений и значения эффективных модулей упругости по отношению к изгибу, полученные в результате обработки экспериментальных данных [70], приведены в табл. 5.3.
209
Т а б л и ц а 5.3
№ |
Внешний |
Внутренний |
Длина |
Резонансная |
Модуль |
||
диаметр |
диаметр |
частота |
деформации |
||||
п/п |
L, мкм |
||||||
D, нм |
D1, нм |
f, МГц |
Ed, ГПа |
||||
|
|
||||||
1 |
33 |
18.8 |
5.5 |
0.658 |
32 |
3.6 |
|
2 |
39 |
19.4 |
5.7 |
0.644 |
26.5 |
3.1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
3 |
30 |
13.8 |
5.0 |
0.791 |
26.3 |
3.1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
4 |
45.8 |
16.7 |
5.3 |
0.908 |
31.5 |
3.5 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
5 |
50 |
27.1 |
4.6 |
1.420 |
32.1 |
3.5 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
6 |
64 |
27.8 |
5.7 |
0.968 |
23 |
2.7 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Полученные в [70] значения Ed оказались примерно на порядок
меньше соответствующих величин (~200 ГПа), приводимых другими авторами (см., например, [67]). Наиболее вероятно, что такое расхождение результатов экспериментов является следствием бамбукообразной структуры УНТ [70] и большого числа характеризующих ее точечных дефектов. В то же время высокая чувствительность резонансной частоты к различным воздействиям позволила авторам [70] оценить массу нанотрубки в 23 фг, что оказалось сопоставимо с результатами независимой оценки (17 фг).
Еще один цикл измерений, связанных с оценкой изгибной жесткости НТ, проводился авторами [72]. В этой работе исследовалось механическое поведение так называемых «стручков», представляющих собой однослойные нанотрубки, заполненные молекулами фуллеренов. В результате специальной обработки были получены жгуты ОУНТ с раскрытыми концами, что позволяло заполнять их молекулами фуллерена C60. Для закрытия концов нанотрубок и устранения дефектов структуры нанотрубок как заполненные, так и контрольные (незаполненные) образцы выдерживались в течение часа в вакууме при 800 С. Затем с помощью просвечивающего электронного микроскопа было установлено, что внутри УНТ существуют достаточно однородные по длине одномерные цепочки C60 со средним расстоянием между молекулами 0.997 нм.
Механические характеристики заполненных и незаполненных нанотрубок определялись с помощью сканирующего зондового микроскопа. Жгут очищенных УНТ прикреплялся к наконечнику микроскопа и с помощью манипулятора передвигался в направлении заземленного
210
