Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Арсенид галлия. Получение, свойства и применение

.pdf
Скачиваний:
39
Добавлен:
25.10.2023
Размер:
18.36 Mб
Скачать

120

О П Т И Ч Е С К И Е

С В О Й С Т В А

 

[ГЛ. 3

и при тгя^Ю1 8 см~3 (Х=5 мкм) Кп/п

минимально и

равно

— 2 - Ю - 1 ' см*.

 

 

 

 

 

 

Спектры поглощения материалов

р-типа, показанные

на рис. 3.19 [47, 21] для образцов с концентрацией

дырок

от 3- 10г о до 4,74- 1 0 1 Э с и _ 3 ,

также имеют

сложную

струк­

туру в области

0,25—0,5

эв,

которая

сглаживается с

ростом концентрации и температуры. В области 0,32 эв

отчетливо

виден минимум.

Так же как и для электрон­

ных образцов,

поглощение

здесь

пропорционально

кон­

центрации

дырок,

однако

сечение

поглощения

мо­

нотонно растет

с

увеличением

концентрации дырок.

При р^Ю^см"3

(Х=5 мкм) сечение

поглощения

для

дырок ^ 1 0 - ^ - для электронов.

Теоретический анализ спектров поглощения арсенида галлия был сделан [48—50] с учетом как свободных но­ сителей, так и виутризониых переходов.

Классическая теория поглощения света в металлах Друде—Лоренца (см. формулу (3.17)) дает следующую формулу для коэффициента поглощения:

* = - i n ^ Z ^ : >

(3-24)

которая успешно применялась и для анализа

спектров

поглощения многих полупроводников, в которых пре­ обладающим механизмом рассеяния носителей является рассеяние на акустических фоноиах. Теория поглощения

свободными

электронами в

соединениях

группы А 3 В 5

построена с учетом непараболичиости зоны

проводимости,

и показано,

что показатель

степени у длины волны X

в зависимости К—Xх не равен 2, как это следует из клас­ сической теории металлов, а зависит от соотношения между вкладами различных механизмов рассеяния но­ сителей в кристалле, что определяется усреднением по энергиям в выраясении (3.15).

Обработка экспериментальных результатов для образ­ цов n-GaAs [52] с помощью теории Хаги и Кимуры поз­ волила установить, что вклад акустических фононов мал, а соотношение между вкладами оптических фононов и при­ месей зависит от концентрации электронов и от длины волны.

'•iJ

С В О Й С Т В А П Р И О Т С У Т С Т В И И В Н Е Ш Н И Х П О Л Е Й

121

Анализ поглощения на свободных электронах поз­ волил, кроме выявления роли механизмов рассеяния, определить константу деформационного потенциала, рав­ ную 0,3 э в , а также долю компенсации примесей, или степень экранирования носителей примесями.

Внутризонные

переходы. На рис. 3.20 и

3.21

схемати­

чески показаны

ветви зоны проводимости

и

валентной

 

 

[too]

 

 

 

Рис.

3.20.

Схема возможных

Рис.

3.21.

Схема

оптических

переходов

внутри

оптических

перехо­

зоны проводимости

[50].

дов

внутри

валент­

.Г —

пепрямой переход (энергия

 

ной зоны.

перехода из виртуального в конеч­

 

 

 

ное состояние

отлична от

пуля),

 

 

 

 

D — прямой переход.

 

 

 

зоны вблизи абсолютного экстремума, а также возможные электронные переходы, вызванные квантами света. Как видно на рис. 3.20, переход электрона в зоне проводимо­ сти является непрямым, т. е. конечное состояние обла­ дает волновым числом к г , отличающимся от волнового числа начального состояния к;, следовательно, этот переход возможен, по закону сохранения импульса, при участии в процессе перехода третьей частицы (кроме фотона и электрона), которая вносит (пли уносит) вол­ новой вектор, равный разности-к;—к,.

В теории рассмотрены два возможных перехода элект­ рона из мпиимума 0 в минимум 1 (см. рис. 3.20). В слу­ чае £)-перехода электрон при взаимодействии с фотоном переходит в виртуальное состояние, совпадающее с на­ чальным, т. е. остается в минимуме 0. (Это возможно

122 О П Т И Ч Е С К И Е С В О Й С Т В А [ГЛ. 3

вследствие того, что время жизни электрона в виртуаль­ ном состоянии равно пулю, поэтому энергия состояния • неопределенна). Затем электрон взаимодействует с на­ рушением решетки (фопоны, примеси), получает при этом

 

 

 

импульс kj'—k; и переходит в

 

 

 

минимум

1.

При /-переходе

 

 

 

виртуальное

состояние

не сов­

 

 

 

падает ни с начальным, ни с ко­

 

 

 

нечным состоянием, а

находит­

 

 

 

ся над нпми (в минимуме 2

 

 

 

илп 3 на рис. 3.20), куда элект­

 

 

 

рон

перебрасывается

при вза­

 

 

 

имодействии

с фотоном (мини­

 

 

 

мум

2)

или нарушением

иде­

 

 

 

альности

решетки (минимум 3).

 

 

 

Оказалось, что эти два типа пе­

 

 

 

реходов

дают

совершенно

раз­

 

 

 

личные

спектры

поглощения:

 

 

 

при

/J-переходе в

спектре име­

 

 

 

ется

отчетливый

максимум, в

 

 

 

то

время как /-переход

даеу

 

 

 

плато, примыкающее к краю ос­

 

 

 

новного поглощения.

Спектры,

 

 

 

хорошо согласующиеся с /)-ие-

 

 

 

реходами, получены в AlSb и

 

 

 

GaSb, тогда

как

спектр

внут-

 

 

 

рнзопного поглощения GaAs со­

 

 

 

ответствует/-переходам. На рис.

Рис. 3.22.

Спектры

3.22

показаны

для

срав­

нения экспериментальные

зави­

виутризонпого

погло­

симости и вычисленные для / -

щения.

 

С п л о ш н ы е л п н п п

— т е о р е ­

переходов, откуда

видно

хоро­

д а н н ы е э к с п е р и м е н т а п р и

шее

согласие

для всех

концен­

т и ч е с к и е [50], к р у ж к и —

 

 

 

 

 

 

 

р а з л и ч н ы х к о ц ц е ш р а ц п п х

траций электронов. Температур­

э л е к т р о н о в в о б р а з ц а х [40].

ная

зависимость

поглощения

7 — 1,3-10";

2 — 4,9-10";

Х 1 0 1 8

см—'.

 

в n-GaAs

также согласуется с

з — 1,1-10'8 ;

4 — 5,4 х

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

теорией /-переходов. Вычислен­

ная из сравнения теории и эксперимента величина

энер­

гии между

минимумами

в точках к [100] и к' [100]

равна

0,44 эв, что находится

в удовлетворительном

согласии

с теоретическими оценками, а также данными спектров межзонного отражения и других экспериментов.

З.Ц

С В О Й С Т В А

П Р И О Т С У Т С Т В И И В Н Е Ш Н И Х П О Л Е Й

123

В

материале

р-типа поглощение происходит за

счет

прямых переходов электронов между ветвями валентной зоны на уровень Ферми, поэтому в спектре поглощения должны наблюдаться три полосы, причем две коротко­ волновые должны иметь максимумы вблизи / ш 1 з и Лсо.,3, в то время как у третьей, длинноволновой полосы, макси­ мум должен быть сдвинут в бесконечность. Поскольку эффективная масса тяжелых дырок велпка, то уровень

Ферми при небольших концепт-

 

 

 

 

 

рациях

находится

ие

 

глубоко,

 

 

 

 

 

следовательно,

в

 

ветвн

легких

W

 

 

 

 

дырок

он

 

близок

к

 

нулю,

и

 

 

 

 

 

максимум 7 J C O 2 3 « ^ A S O = 0 , 3 2

эв—

 

 

 

ТО

 

величине спин-орбитального рас­

 

 

 

 

 

щепления, которая впервые бы­

30

 

 

 

 

ла

экспериментально

определе­

 

[///]

 

 

 

на

именно

из спектров

погло­

 

 

 

 

 

Г//7/71

 

 

щения дырочных

образцов.

 

 

 

—wo\

 

 

 

 

 

 

—[по]

 

 

 

 

3.1.3. Взаимодействие света

го

 

 

 

 

 

 

 

 

с

кристаллической

решеткой.

 

 

У

 

 

Здесь будет рассматриваться не

 

/

у

 

 

только

область частот

со^

(°Д-

w -

//

^

 

 

нофононное

 

поглощение),

но

 

 

и

область

 

со ^> соь

 

(многофо-

 

 

 

 

 

ионное

поглощение),

где также

 

 

 

 

 

проявляются

 

полосы,

 

связан­

 

 

 

 

 

ные с фононным спектром крис­

 

 

 

 

 

таллической

решетки.

Такой

о

 

0,5

 

1,0

подход, по-видимому, целесо­

 

 

 

?/<7тах

образен,

поскольку,

 

несмотря

Рлс.

3.23.

Расчетный

на

различие

областей

 

частот,

механизмы

взаимодействия

све­

спектр фононов в трех

кристаллографических

та с веществом в том и другом

направлениях

[55].

интервале

близки

 

друг

другу.

 

 

 

 

 

 

На

рис.

 

3

. 2

3

показан

вычисленный фононный

спектр

арсенида

галлпя

 

для

 

трех

кристаллографических

на­

правлений: [ 1 1 0 ] ,

[ 1 1 1 ]

и [ 1 0 0 ] .

Можно

отметить

две

осо­

бенности

этого

спектра.

Во-первых,

для

всех

направ­

лений при значении волнового вектора q—О частота продольных оптических фононов больше частоты попереч­

ных

оптических фононов, т. е. LO^>TO, в то время

как

при

2 = g m a x LO<^TO. Во-вторых, в направлении

[ 1 1 0

124 О П Т И Ч Е С К И Е С В О Й С Т В А [ Г Л . 3

вырождение ветви поперечных акустических фоионов снято, так что имеются две ветви поперечных оптических фо­

ионов, причем

T A ^ T A j .

 

 

 

При взаимодействии кванта света с кристаллической

решеткой возможны

(из

законов сохранения

импульса

и энергии)

два

механизма. В первом, одиофононном, ме­

ханизме каждый

попадающий в кристалл фотон создает

один фонол,

причем

поскольку

импульс фотона близок

к нулю, то создается фонон тоже с пулевым

импульсом,

т. е. оптический

фоиои,

так

как

энергия

акустиче­

ского фонона

при д = 0 равна нулю.

Во втором, многофо-

нонном, механизме каждый поглощенный фотон может привести к излучению или поглощению двух, трех и более как оптических, так и акустических фоноиов, сумма им­ пульсов которых близка к нулю.

Однофононный спектр. Одиофононный спектр опти­ ческих констант арсенида галлия теоретически рассчитан на основании модели из одного гармонического осцил­ лятора с введением некоторого феноменологического коэф­ фициента 7, характеризующего затухание, и имеет вид

(3.25)

где ах — собственная частота осциллятора, равная ча­ стоте поперечных оптических колебаний ТО кристалли­ ческой решетки при q=0, es — статическая (низкочастот­ ная) диэлектрическая постоянная, измеренная в области частот, ниже сог, Бтвысокочастотная диэлектрическая постоянная, измеряемая в области частот co^>G),. Здесь свободные и связанные носители не учитываются, экспе риментально это достигается при исследовании чистых образцов.

На рис. 3.24 точечной линией показан спектр отра­ жения, вычисленный по формуле (3.25), сплошной ли­ нией показан экспериментальный спектр отражения, по­ лученный при 4° К, пунктирные линии соответствуют спектру поглощения, измеренному при 296° К на образ­ цах толщиной 25 и 68 мкм. Таким образом, несмотря

3.1]

С В О Й С Т В А П Р И О Т С У Т С Т В И И В Н Е П Ш И Х П О Л Е Й

125

иа простоту модели, согласие расчетной и эксперимен­ тальной зависимостей достаточно хорошее для того, чтобы можно было из их сравнения определить параметры to,, es, So, и у 154—56, 59].

W 45 Л, мкм

Рис. 3.24. Спектры решеточного отражения R и поглощения К f 551.

1 — р а с с ч и т а н н ы й с п е к т р о т р а ж е н и я п о м о д е л и э л е м е н т а р н о г о о с ц и л л я т о р а ; " — э к с п е р и м е н т а л ь н ы й с п е к т р о т р а ж е н и я п р и 4 ° К ; Л и 4 — э к с п е р и м е н т а л ь ­ н ы е с п е к т р ы п о г л о щ е н и я п р и 2 9 6 ° К д л я о б р а з ц о в т о л щ и н о й 2 5 и 0 8 . м к / t .

Ш ' р т л к а л ы ш м п с т р е л к а м и п о к а з а н ы з н а ч е н и я д л и н в о л п , с о о т в е т с т в у ю щ и е п р о д о л ь н о м у и п о п е р е ч н о м у о п т и ч е с к и м ф о н о н а м ( с м . т а б л . 3 . 6 ) .

Частоты поперечных и продольных (ТО и LO) оп­ тических колебаний при q=0 связаны друг с другом соотношением Лиддана—Саха—Теллера

 

(3.26)

600=v непосредственно определяется из

прозрачности

или отражения в области частот со^со,; es

и у находят

126

О П Т И Ч Е С К И Е С В О Й С Т В А

[ГЛ. 3

подгонкой теоретического спектра й(со) к эксперимен­ тальному. Параметры элементарного осциллятора могут быть также определены из спектров рамановского рас­ сеяния, из рассеяния нейтронов. В табл. 3.6 приведены результаты всех методов при 4 и 296 °К 159].

 

 

 

 

Т а б л II ц а .Я. б

М е т о д

т,

° К

Я ( Т О ) , мкм

? . ( Т . О ) , JIIKJM

 

От раженне

4

">

36,5±0,3

33,7±0,2

 

Прозрачность

 

 

30,71 ±0,05

33,Я8±0,05

 

Рамаи-рассея-

4,2

36,01 ±0,03

33,72+0,03

 

нне

 

Отражение

290

37,27±0,05

34,42±0,05

 

Прозрачность

290

37,27±0,05

34,42+0,05

 

Рамап-рассея-

296

37,23±0,03

34,27±0,03

 

нпе

 

Нейтрон-рас­

296

37,5±0,3

35,1 ±0,6

 

сеянпе

 

На рис. 3.24 LO и ТО прп 4 и 296 °К показаны

стрел­

ками. Тонкая структура

в спектре

поглощения

явля­

ется размерным эффектом, связанным с толщппой

образца.

На основании со/, es и ег о могут

быть

вычислены эф­

фективные ионные

заряды

е 1 п е с

и e s (табл.

3.7 159]).

 

 

Т а б л и ц а 3.7

 

 

 

ес

e s

еь

 

13,13

11,10

0,20

0,51

2,2

 

Первые два являются макроскопическими параметрами, поскольку вычисляются из условия равенства нулю на­ пряженности макроскопического внутреннего электри­ ческого поля (для е ь ) или смещения для (<?с). Эти две ве­ личины связаны друг с другом и с другими параметрами элементарного осциллятора формулой Ворпа

«Ь

(

- Есо М \ 1 / 2

3 . 1 ]

С В О Й С Т В А П Р И

О Т С У Т С Т В И И В Н Е Ш Н И Х П О Л Е Й

127

где

М — приведенная

масса иоиа, N — число пар

ионов

в единице объема. Заряды еь и ес могут быть названы по­ перечным и продольным зарядами.

Величина e s вводится при рассмотрении эффективного электрического поля, действующего на ион, т. е. es яв­

ляется микроскопической

характеристикой поляризации

кристалла и может быть вычислепа

по формуле Сцигетти

/ в 5 - е ю

МАИ*

Зсо,

Для типично ионного кристалла NaCl e s = l , для германия es=0. Для арсенида галлия es =0,51, что соответствует большой доле ковалеитности в связях этого кристалла.

Многофоноппый спектр. Процесс взаимодействия фо­ тона одновременно с несколькими фонопами значительно менее вероятен однофононного (резонансного) процесса, поэтому полосы многофоионного поглощения по интен­ сивности тем слабее, чем большее число фононов участ­ вует в процессе взаимодействия кванта излучения с кри­ сталлической решеткой. Если однофоноиный процесс имеет сильный резонансный пик как в спектре отражения, так и в спектре прозрачности, то миогофононное взаимо­ действие ввиду малости t, (v2 ^>£2 ) проявляется только при исследовании прозрачности достаточно толстых об­ разцов.

Законы сохранения при миогофоионном процессе име­ ют вид

 

 

 

 

 

 

U о) = S ±

(Чу)>

 

 

 

 

з

 

 

 

 

 

>

 

 

 

где

qj — волновой

вектор фонона

с энергией

7lco(qy),

Ь

вектор обратной

решетки;

g = 0

при п=1 и

2, g =

= + 1 , при ?г=3. Знак «+» соответствует эмиссии, а «—» — поглощению фонона.

Многофононные спектры также должны удовлетворять и правилам отбора. Для решетки цинковой обманки, в которую кристаллизуется арсенпд галлия, правила отбора для двух- и трехфояоиных процессов вычислены

128

О П Т И Ч Е С К И Е

С В О Й С Т В А

1ГЛ. 3

для точек Г = [000], L--

1

, Х = [ 1 0 0 Ш =

1 4-0

 

Перечень разрешенных переходов с участием двух

фоионов

дан в табл. 3.S, где индексы 1 и 2 при ТО и ТА указывают на снятие вырождения для поперечных оптической и аку­

стической ветвей

в направлении низшей

симметрии

1

, что связано с отсутствием центра

инверсии

в

 

решетке цинковой

обмапкп [60].

 

 

 

 

 

Т я б л и ц а

3.8

Точка

Разрешенные двухфопонпые переходы для решетки

 

ЗОНЫ

 

 

цинковой обманки

 

 

Брил­

 

 

 

люэна

 

 

 

 

Г2Ш(Г), Ш(Г) ТО (Г), 2ТО(Г)

X

2ТО(Х),

LO(X)+TO(X),

LO(X)+LA(X),

LO(X)+TA(X),

ТО(Х) +LA(X), ТО(Х)+ТА(Х), LA(X)+TA(X), 2ТА(Х)

 

 

2TO(L),

TO(L)+LO(L),

TO(L)+LA(L),

TO(L)+TA(L),

L2LO(L), LO(L)+LA(L), LO(L)+TA(L), 2LA(L), LA(L)+TA(L), 2TA(L)

TO,(W)+LO(W), TO,(W)+LA(W), T02 (W) -f-LO(W), W m(W)+LA(W), LO(W)+LA(W), LO(W)+TA,(W),

LO(W)+TA,(W), LA(W)+TA,(W), LA(W)+TA2 (W)

При проверке правильности идентификации особен­ ностей спектра поглощения может быть применено пра­ вило Брута

2 Т 0 2 ( Г ) + Ь 0 3 (Г) = 2 (TO) 2 +(LO) 2 +2(TA) 2 +(LA) a , (3.28)

которое выведено для ионного кристалла с учетом кулоновского взаимодействия лишь меледу ближайшими со­ седями в кристаллической решетке, по экспериментальная проверка показала его справедливость и для других кристаллов. В левой части формулы (3.28) стоит сумма квадратов энергий поперечных и продольных оптических фоноиов в центре зоны, а в правой части — сумма квад­ ратов энергий всех шести фоионов на краю зоны для ре­ шеток, элементарная ячейка которых содержит два атома.

со

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ