![](/user_photo/_userpic.png)
книги из ГПНТБ / Арсенид галлия. Получение, свойства и применение
.pdf150 |
О П Т И Ч Е С К И Е С В О Й С Т В А |
[ГЛ. 3 |
|
||
поэтому |
главные экстремальные точки, пе зависящие от |
напряженности |
электрического поля, находятся при одной |
||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
и |
той же энергии |
Тт = |
|||||||
|
1 — 1 — 1 — 1 — 1 — г |
1 |
1 1 Е |
1 |
= е э к с т р |
. В действительнос |
|||||||||||
4 |
|
|
|
|
|
|
|
ти из-за эффектов |
|
затуха |
|||||||
45 |
кв/см |
|
|
|
|
ния |
главные |
особенности |
|||||||||
|
|
|
|
|
|||||||||||||
|
|
А |
|
|
в спектрах Аех и Ае2 |
сдви |
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
нуты |
друг относительно |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
друга.. |
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
При |
|
эксперименталь |
||||||
|
|
... |
[ |
.^~~\ |
|
|
|
ном |
исследовании |
|
элек- |
||||||
|
|
" |
— |
|
|
|
троотражеиия |
к |
поверх |
||||||||
|
|
|
|
1 |
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
ности |
образца |
приклады |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
. |
- |
Щ |
|
\ |
|
|
|
вается |
одновременно |
пос |
|||||||
|
— |
Аеч |
|
i |
|
|
|
тоянное и переменное элек |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
трические |
поля |
с |
помо |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
щью прозрачного в необхо |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
димой |
областп |
|
спектра |
||||||
|
|
|
О |
: |
|
|
|
электролита, нли полупро |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
зрачной |
металлической |
||||||||||
-6 |
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
-0,12 |
-0,05 |
|
О |
|
ОМ |
0,12 |
пленки, отделенной от об |
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
разца |
тонким |
слоем |
изо |
||||||
Рис. 3.40. Теоретические спектры |
лятора |
[111]. Этой методи |
|||||||||||||||
кой были исследованы об |
|||||||||||||||||
пормалпзоваипых |
изменений оп |
разцы |
GaAs с концентра |
||||||||||||||
|
1 1 |
1 |
1 |
. 1 .. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
тических |
констант при парабо |
цией электронов |
и |
дырок |
|||||||||||||
лическом крае во внешнем элект |
|||||||||||||||||
от |
101 Б |
до 101 9 |
см~3 |
и уста |
|||||||||||||
|
рическом поле |
[103]. |
|
||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
новлено, |
что |
при |
кон |
||||||
центрации |
|
носителей |
больше |
101 8 |
см~3 |
|
спектры |
||||||||||
имели характерный |
впд п - и /кгипа. При малых концент |
рациях прпмесей наблюдались пики, связанные с опти ческими переходами на примесные уровни. Ширина этих пиков возрастала с увеличением концентрации, положение зависело от типа примеси, форма изменялась с ростом электрического поля иначе по сравнению с «собственными» пиками. В различных образцах примесные пики обиару?кепы при трех разных энергиях, предшествующих за
зору е0 или £j. Для образцов, |
легированных теллуром, |
||
положение примесного |
пика |
соответствовало |
энергии |
0,045 эв, для образцов |
с цинком |
энергия равпа |
0,030 эв, |
что иаходится в хорошем согласии с данными других ме тодов. Третье значение 0,020 эв соответствовало неизвест-
8.4] |
П Ь Е З О О П Т И Ч Е С К И Е Э Ф Ф Е К Т Ы |
151 |
ной примеси. По влиянию одноосной деформациям эти пики можно было установить: к какому экстремуму ва лентной зоны или зоны проводимости «привязан» тот или другой примеспый уровень.
На рис. 3.41 показан спектр электроотражения /г-GaAs при комнатной температуре с концентрацией электронов
(uRlR)-W5
|
• | |
1 » |
I |
|
I |
I |
I |
I |
|
|
i • |
|
|
|
|
|
Ы,зд |
|
|
Рис. |
3.41. Спектр |
электроотражения образца с |
концентрацией |
||||||
|
|
|
электронов Ю1 ' см—3 fill]. |
|
|
||||
И н д е к с ы соответствуют |
з о н н о й д и а г р а м м е |
р и с . 3. 2, |
е 0 — e j — |
э н е р г и я |
и о н и з а |
||||
ц и и п р и м е с н ы х ц е н т р о в ; А |
— |
соответствует п о л о ж е н и ю о с о б е н н о с т е й в |
спектре |
||||||
|
п о г л о щ е н и я ; |
Я |
— в с п е к т р е |
обычного |
о т р а ж е н и я . |
|
|||
~ 1 0 1 7 |
см~3. |
Индексы |
соответствуют переходам, показан |
||||||
ным |
на рис. |
3.2. |
Пики ет и ei -f- А0 |
идентифицируются |
примесному уровню, «привязанному» ко дну зоны прово димости, так как воздействие одноосной деформации при водило к линейному смещению их и пика е0 . Если бы этот примесный уровень был «привязан» к валентной зоне, его зависимость от деформации должна быть нелинейной.
3.4. Пьезооптпческие эффекты
При всесторонней или одноосной деформации кристал лической решетки ее симметрия изменяется, что приво дит к смещению экстремумов энергетических зон, а сле довательно, к изменению оптических спектров прозрач ности и отражения. Для германия эти исследования об ширны, а для арсенида галлия имеется лишь несколько работ [112—117], в которых на основании оптических ис-
152 |
О П Т И Ч Е С К И Е |
С В О Й С Т В А |
[ГЛ. 3 |
следований |
установлено, что |
вырождение ветвей |
легких |
и тяжелых дырок в валентной зоне под действием одно осной нагрузки снимается, а «центр тяжести» валентной зоны опускается по отношению к зоне проводимости. Ветвь, отщепленная спин-орбитальиым взаимодействием,
Рис. 3.42. Схема ближайших энергетических зон 1115]:
опускается относительно дна зоны проводимости и при всестороннем сжатии крис талла.
На рис. 3.42 показаны раз
решенные переходы |
из вет |
||
вей легких и тяжелых |
дырок |
||
в зону проводимости. |
Видно, |
||
что |
из ветви легких |
дырок |
|
( / = |
3/2, m j = ±3/2), |
разре |
|
шены оптические |
переходы |
под действием света, электри ческий вектор которого пер пендикулярен оси нагрузки; переходы из ветви тяжелых дырок ( / = 3/2, m j — ±1/2) разрешены для обеих поля ризаций света.
а) |
и б) п р п отсутствии |
п |
п о д д е й с т |
Практически для повыше |
|||||
в и е м о д п о о с в о й с и л о в о й п а г р у з к и . |
ния чувствительности |
из |
|||||||
Стрелками |
п о к а з а н ы |
р а з р е ш е н н ы е |
|||||||
и |
В о з н а ч а ю т |
п е р п е н д и к у л я р н о с т ь |
мерений в последних работах |
||||||
о п т и ч е с к и е |
п е р е х о д ы , |
|
символы |
л. |
|
|
|
||
и |
п а р а л л е л ь н о с т ь оси |
|
н а г р у з к и |
и |
[114—117] применялась |
мо |
|||
э л е к т р и ч е с к о г о |
в е к т о р а |
световой |
дуляционная |
техника, |
за- |
||||
|
|
|
в о л н ы . |
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
ключающаяся |
в том, что к |
|
кристаллу |
наряду с постоянной одноосной нагрузкой при |
кладывалось переменное электрическое поле Е или пе ременная нагрузка X (в том же направлении, что и постоян ная) п измерялась величина изменения отражения AR/R,
а затем, используя связь коэффициента |
отражения (че |
рез соотношения Крамерса — Кроиига) |
с коэффициен |
том поглощения, определялись потенциалы деформации зон в особых точках.
Изменение зазора между потолком валентной зоны ( / = 3/2) и дном зоны проводимости в к = 0 при действии
одноосной нагрузки |
равно |
|
Дег = |
a (sn + 2s12) X ± \ бе, |
(3.45) |
3.4] |
П Ь Е З О О П Т И Ч Е С К И Е . Э Ф Ф Е К Т Ы |
153 |
где бе — расщеплепие ветвей легких и тяжелых дырок, которое зависит от ориентации оси нагрузки относительно кристаллографических осей: например, для нагрузки, параллельной осям [100], [111] и [110], расщепление равно:
бе- |
2Ъ (sn — s12)X; |
100 |
|
2 |
11/2 |
X |
44 |
|
(X —нагрузка); а — деформационный потенциал, соответ ствующий всестороннему сжатию; hud — деформацион ные потенциалы, соответствующие нагрузкам тетраго нальной и ромбоэдрической симметрии; sn, s12 и % — уп ругие постоянные.
На рис. 3.43 показаны спектры электро-пьезо-отражения
[115](статическая нагрузка, переменное электрическое
поле, приложенное к поверхности кристалла иа границе с электролитом) в области 1,37—1,60 эв при комнатной температуре и одноосной нагрузке X = 7,55 . 109 дн/см2, параллельной оси [111]. Аналогичные спектры получены для области энергии 2,8—3,3 эв. Структура спектров &RIR зависит от поляризации света относительно на грузки. При Е II X пик е0 сдвигается в коротковолновую сторону, но его форма существенно не изменяется по от ношению к форме пика е0 при отсутствии нагрузки, лишь осцилляции Фраица — Келдыша становятся более от четливыми. При EJ_X в спектре появляется новый пик при 1,47 эв, который, согласно правилам отбора, должен быть связан с переходом из ветви легких дырок. Осцилля ции Фраица — Келдыша сдвигаются в более коротко волновую сторону. Подобные результаты наблюдались для нагрузки вдоль осей [1001 и [110|.
Анализ экспериментальных данных позволил вычис лить деформационные потенциалы а — —8,7, Ъ = —2,1, d = —6,5 эв с погрешностью не более 5% в хорошем со гласии с данными других измерений [112].
Сдвиг пика е0 + Д0 (иа рис. 3.43 не показан) проис ходит лишь за счет гидростатического сжатия (первый член в формуле (3.45)), и вычисленная на основании этого
154 О П Т И Ч Е С К И Е С В О Й С Т В А [ГЛ. 3
сдвига велнчппа деформационного потенциала а хорошо согласуется со значениями, определенными из расщепле ния пика е0 .
Заключение. Подводя итоги оптических исследований ар сенида галлия, можпо сделать вывод, что к настоящему
времени чистые |
кристаллы исследованы достаточно |
(AR/RH03 |
••> 1 |
Рис. 3.43. |
Экспериментальные |
спектры электроотражепия [115]. |
||
1 |
н а г р у з к а |
о т с у т с т в у е т ; -', 3 — |
о д н о о с н о е статическое у с и л и е А ' = 7 , 5 5 х |
|
0 дн/см~г, |
причем Х | | [ 1 Ш ; 2 и |
. 4 — электрический вектор световой в о л н ы |
||
Х10 |
Е |[ X |
и Е х Х . |
||
разносторонне, н получены |
весьма точные сведения о вели |
чинах энергетических зазоров запрещенной зоны и при лежащих к ней экстремумов. Определены эффективные массы электронов и дырок в абсолютных экстремумах зон, причем эти результаты получены различными опти ческими методами как без приложения к кристаллу до полнительного внешнего поля, так и с ним.
В последние годы в теории и эксперименте все боль шую популярность завоевывают комплексные методы ис следования кристаллов при одновременном воздействии на них нескольких (двух или даже трех) внешних полей. Это позволяет независимо от других методов получить
3.4] |
П Ь Е З О О П Т И Ч Е С К И Е Э Ф Ф Е К Т Ы |
155 |
сведения о различных параметрах полупроводника. Повидимому, методы нескольких полей в приложении к арсениду галлия дадут возможность более точно определить величины энергетических зазоров, эффективных масс и т. д.
Основное внимание исследователей, безусловно, бу дет направлено на изучение свойств примесных и особеппо сильно легированных кристаллов, на выявление зависи мостей свойств кристалла от типа введенной примеси. Эти исследования, как видно из настоящего обзора, уже на чаты, однако выполнены без достаточной широты. Все стороннее изучение сильно легированных кристаллов,
кроме научного, имеет |
большой практический интерес, |
так как такие кристаллы |
все более широко применяются |
в приборах. |
|
Наконец, в обзоре ни слова пе сказано об изучении рас сеяния света в кристаллах иа примесных и других неоднородностях, а также об эффектах нелинейной оптики, для изучения которых теперь, благодаря применению ла зеров, открываются богатые возможности.
Г Л А В А 4
ЯВЛЕНИЯ ПЕРЕНОСА
4.0.Введение
4.0.1.Основные формулы. Классическая теория явле ний переноса исходит пз представления о том, что электро
проводность полупроводников определяется электронами и дыркамп проводимости, которые представляют собой
квазпчастицы |
с определенным зарядом |
+е и массой т * |
п движутся в |
кристалле по обычным |
законам механики |
и электродинамики (так называемый «метод эффективной массы»). Столкновение с дефектами кристалла или с фононами — «квантами» тепловых колебаний решетки—при водит к рассеянию электронов и дырок. Чаще всего это
рассеяние упруго; тогда можно ввести понятие |
длины |
сво |
|||||
бодного |
пробега частицы I, паглядио представляемое |
как |
|||||
отрезок |
пути между двумя столкновениями, |
и времепи |
|||||
свободного |
пробега |
т = IIv, |
где v — скорость |
частицы. |
|||
В такой |
модели |
расчет |
эффектов переноса |
сводится |
крешению классических уравнении движения элек
трона |
во |
внешних полях |
и |
к |
суммированию |
ре |
|||||
зультата |
по |
всем |
электронам, |
находящимся |
в |
зоне |
|||||
(для |
простоты |
мы |
обычно |
|
будем |
рассматривать |
|||||
только |
электроны; |
для |
дырок |
выводы |
аналогичны). |
||||||
Наиболее |
часто рассматриваются |
коэффициенты |
удель |
||||||||
ной электропроводности |
о, Холла |
R, |
дифференциальной |
||||||||
термо-э. д. с. а, |
Нернста — Эттингсгаузена |
— поперечного |
|||||||||
О1- п |
продольного |
(2", |
удельной |
теплопроводности |
х, |
||||||
а также магнетосопротивленне |
Др/р. |
|
|
|
|
В слабых полях *) при наличии одного сорта носителей тока (см., например, [М27, М36]) эти коэффициенты
*) Слабыми считаются поля, не изменяющие заметпо тепловую анергию и скорость электрона: u///c<Cl и uE/v<^l. Обычно исполь зуемые в лабораториях поля //=5—10 кэ и /? = 10~3—102 а/см для большинства кристаллов арсенида галлия являются слабыми.
4.0] |
В В Е Д Е Н И Е |
157 |
|
равны: |
0 |
= |
еип, |
|
|
(4.1) |
|
|
|
||||
|
|
|
еп |
|
|
(4.2) |
|
|
|
|
|
|
|
|
^- |
= |
ЬгиЧР, |
|
|
(4.3) |
|
Р |
|
|
|
|
|
|
а |
= |
~ [Аг |
— и), |
|
(4.4) |
|
|
|
|
|
|
(4.5) |
|
|
|
е |
|
|
(4.6) |
|
|
|
|
|
|
|
Подвижность |
определяется |
формулой |
и = |
ех/т*, |
||
где т — среднее |
время |
релаксации электронов; ц.=цДГ— |
||||
приведенный уровень Ферми, ц. — уровень Ферми. |
|
|||||
Как видно, кинетические коэффициенты связаны с важ |
||||||
нейшими параметрами |
кристалла: п, и, т |
, ц. — и позво |
ляют экспериментально определять их. Осповпая труд ность при анализе состоит обычпо в неточном знании «факторов рассеяппя» аг, Ъг, АТ , q\ , q}, которые пред ставляют собой определенные комбинации из сумм («инте гралов переноса») по всем электронам данного сорта, на ходящимся в зоне. Есть случаи, однако, когда эти факторы могут быть найдены и точно. Если зона параболична, за кон рассеяния электронов, т. е. связь времени релакса ции с их энергией е, известеп, и, наконец, известна сте пень вырождения электронного газа, т. е. величина р., то интегралы переноса могут быть вычислены точно (см.,
например, |
[МЗЗ]). |
Большинство известных |
механизмов |
||||
рассеяния |
характеризуется |
степенным законом рассеяния |
|||||
т—е'', где |
7- принимает |
значения |
от — 0,5 |
(рассеяние |
|||
на акустических колебаниях решетки) до 1,5 |
(рассеяние |
||||||
на ионах примеси). Холл-фактор аг |
в отсутствие |
вырож |
|||||
дения в зависимости |
от 7" |
и |
и. принимает значения |
от 1 до |
|||
1,93, но обычно он близок к |
1 (для |
GaAs аг яг1—1,3) [1]. |
При анализе R и а чаще всего полагают a r = 1. Величину их— Ro называют иногда «холловской» подинжностыо. Остальные эффекты зависят от г и ц. сильнее. В отсутствие
158 |
Я В Л Е Н И Я |
П Е Р Е Н О С А |
|
[ГЛ. 4 |
||
вырождения 0 ^ |
br ^ |
0,53; |
|
|
|
|
Ат = |
2 -|- |
г, gr = |
rar , (/I |
= |
(а2 |
-|- Ьг ). |
При вырождении |
q \ и |
/jjстремятся |
к |
пулю |
как l / j l 2 , тер- |
мо-э.д.с. и q г—как 1/ц.. Термо-э. д. с. используется для опре деления ц (а с помощью и. пт*), магнетосопротивленпе и
эффекты Нериста — Эттингсгаузеиа — для определения г. Если закон т(е) не степенной, то вычисление фак торов рассеяния усложняется. Допуская некоторую по грешность анализа, в большинстве практически важных случаев можно пользоваться все же простейшими форму лами и приведенными выше значениями факторов рассея ния, что равносильно замене истинного закона рассеяния т(е) близким к нему степенным т—ег * с некоторым
«эффективным» показателем рассеяния г *[1].
При наличии нескольких сортов носителей тока (соб ственная или смешанная проводимость, два сорта дырок), анизотропии зон, иепараболичности, в случае отсутствия времени релаксации и в ряде других случаев анализ эф фектов переноса усложняется и становится неоднознач ным. Это довольно обычная ситуация для полупроводни ков, и для выхода из нее требуется привлечение дополни тельных данных или исследование эффектов переноса в новых условиях, например в сильных полях, при силь ном вырождении электронного газа и т. п.
4.0.2. Перенос в арсениде галлия. Благодаря большой ширине запрещенной зоны арсенида галлия почти во всех случаях мы имеем дело с примесной проводимостью, т. е. с одними только электронами или только дырками. При этом электроны обладают постоянной и изотропной эф фективной массой, иначе говоря, массой простейшей клас сической частицы. Вместе с высокой подвижностью элек тронов это делает полностью применимым представление о них как о частицах, подчиняющихся обычным класси ческим уравнениям движения. Таким образом, кристаллы арсенида галлия тг-типа представляют собой простейшую модель полупроводника и при наличии времени релакса ции перенос в них описывается простейшими уравнениями. Это почти уникальный случай для физики полупровод ников, он дает удобную возможность для проверки фун даментальных положений теории. Напомним, что такие
4.0] |
В В Е Д Е Н И Е |
159 |
широко известные |
кристаллы, как |
германий и крем |
ний, имеют резко анизотропную зону проводимости, а анти-
монид и арсенид индия — сильную |
^епараболичность; |
|
во многих кристаллах 'проводимость |
осуществляется "не" |
|
одним, а двумя и более сортами носителей тока |
(большин |
|
ство кристаллов р-типа) и т. и. |
|
|
Исторически исследование арсенида галлия |
началось |
именно с кристаллов n-типа, поскольку такой материал получается и без легирования. Наряду с классическими закономерностями был обнаружен ряд явлений, показав ших, что и в арсениде галлия при определенных условиях картина переноса может усложняться. Так, благодаря малой эффективной массе тп* электроны примесных цент ров" в арсениде' галлия ?г-типа имеют очень большие opВиты, и взаимодействие их между собой приводит к обра^ зованию хорошо "проводящей «примесной»_зоны. Малость Шп*' — причина и другого интересного явления — очень сильного вырождения электронного газа, приближающего сильно легированные кристаллы арсенида галлпя л-типа по своим свойствам к металлам.
При сильном вырождении в сильных электрических полях или при высоких температурах, когда энергия про водящих электронов достигает нескольких десятых до лей электрон-вольта, становятся заметными отступления зоны проводимости арсенида галлия от простейшего вида: проявляется ее непараболичиость, т. е. непостоянство 7>г*; появляются электроны другого сорта в вышележа щем дополнительном минимуме. При углубленном ана лизе определенная сложность обнаруживается в картине рассеяния носителей тока в арсеииде галлия. В кристал лах р-типа построение законченной модели оказывается
затруднительным |
из-за наличия нескольких сортов ды |
рок и сложного |
строения валентной зоны. |
Наибольшее место в дальнейшем изложении занимают данные по электропроводности и эффекту Холла, с ис следования которых начинается изучение любого полу проводникового кристалла. Большое место уделено эф фекту Ганна — физически новому и практически важному явлению генерирования колебаний в кристалле в сильном электрическом поле. В первую очередь и в большей мере рассматриваются кристаллы /г-типа, как лучше исследо ванные.