Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Яффе Б. Пьезоэлектрическая керамика

.pdf
Скачиваний:
24
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
10.5 Mб
Скачать

600

 

5 0 0

чч

 

 

 

ПК

 

 

 

 

ччччч

 

 

 

О

 

 

 

 

 

 

g '

ІО о

~

 

 

 

 

 

§<0_ 300

 

 

V

 

 

 

 

 

с

гоо

 

 

 

 

 

 

 

 

15

 

-

 

Cm

 

]

Срэ

 

 

 

to o

 

 

 

\

 

Диссоц.

 

 

 

 

 

 

 

 

о

 

i

i i t

 

\

t f

1

\

 

 

____ * r

 

о

 

го

і о

во

во

PbO:5nOfc

 

р ь т ю 3

 

ао

 

« о

г о

 

 

60

о

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Содержание, мол. %

 

Ф и г . 7.31.

Фазовая

диаграмма

системы

РЬТЮ 3 — «PbSn03» [15].

Ф и г. 7.32. Зависимость диэлектрической проницаемости К и радиального коэф­ фициента электромеханической связи кр керамики системы РЬТЮд — «PbSn03» от состава [15].

бЗак. 801

162

ГЛАВА Г

2.

Титанат — цирконат — станнат свинца Pb(Ti, Zr, Sn )0 3

Морфотропная граница в тройной системе Pb(Ti, Zr, Sn)C>3про­ стирается между морфотропными границами твердых растворов, состоящих из двух исходных компонентов системы (фиг. 7.33) [15].

“ PbSnOj"

Ф и г . 7.33. Фазовая диаграмма системы Р Ы і0 3 — PbZr03— «PbSn03»

при ком­

натной

температуре.

в табл, 7.2.

ст—сегнетоэлектрнческая тетрагональная

фаза; другие обозначения объяснены

Для керамики каждого изученного ряда составов был найден пик значений свойств на морфотропной границе.

3. Титанат — гафнат свинца Pb(Ti, H f)0 3

Гафний по своим химическим свойствам весьма сходен с цир­ конием, и в двойной системе РЬ(Ті, Ш )Оз имеется морфотропная граница, совершенно аналогичная границе в системе Pb(Ti, Zr)03 [15]. Изменение свойств иллюстрируется на фиг. 7.34 и 7.35.

4. Титанат — станнат свинца и бария (Pb, Ва)(Ті, S n )0 3

При введении в Pb(Ti, S n )0 3 ионов Ва2+ морфотропная граница несколько сдвигается в сторону более высокого содержания Ті4+ и уменьшается точка Кюри [20]. На фиг. 7.36 показаны фазовые рав­ новесия при комнатной температуре.

Ф и г . 7.34. Фазовая диаграмма системы РЫіОз — РЬНГОз, на которой не рас­ сматривается область с высоким содержанием РЬНЮз [15].

Ф и г . 7.35.

Зависимость диэлектрической

проницаемости К и

радиального ко­

эффициента

от

состава

 

[15].

РЬТЮз—РЬНЮз

электромеханической

связи kp

керамики системы

 

164

ГЛАВА 7

В. СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ И АНТИСЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СОСТАВЫ СИСТЕМЫ Pb(Zr, Sn,Ti)03 С ВЫСОКОЙ КОНЦЕНТРАЦИЕЙ Zr«x

В этой системе в области составов, близких к Pb(Zr, Sn) Оз, по­ лучается керамика, коэффициент электромеханической связи кото­ рой до некоторой степени пониженный. Однако область представ­ ляет большой научный интерес из-за возникновения у соответст­ вующих материалов как сегнетоэлектрнческого, так и аитисегнетоэлектрического состояний. Керамика этих составов, перспективная

Ф и г . 7.36. Фазовая диаграмма системы РЬТЮз— PbO: SnOo—ВаТіОз— BaSnO 3[20],

(Обозначения см. на фиг. 7.17 и 7.18.)

в отношении создания специальных преобразователей энергии, ин­ тенсивно исследовалась в лаборатории авторов. Антисегнетоэлектрическая область составов, близких к PbZrOs, оказалась значи­ тельно сложнее, чем предполагалось вначале (фиг. 7.33).

Свойства некоторых составов, близких к PbZr03, уже обсужда­ лись (гл. 6). Известные устойчивые фазы в модифицированном PbZr03 перечислены в табл. 7.2.

Тетрагональная антисегнетоэлектрическая структура представ­ ляет собой в действительности небольшое число очень близких фаз, различимых только по слабым изменениям сверхструктурных линий. Число таких фаз точно еще не известно. Поскольку п£>и пе­ реходах между этими фазами не было обнаружено скачков темпе­ ратурной зависимости диэлектрической проницаемости или каких-

ТВЕРДЫЕ РАСТВОРЫ Pb(TI. Zr, Sn, Hf)Oj

165

либо других физических аномалий, при последующем обсуждении эти фазы будут классифицироваться как одна фаза.

Таблица 7.2

Устойчивые фазы в модифицированном P b Z r0 3, перечисленные приблизительно в порядке увеличения объема

элементарной ячейки

Антнсегнетоэлектрическое ромбическое

соедине-

А р

ние P b Z r0 3

 

 

 

А т

Антисегнетоэлектричеекие тетрагональные струк-

туры (см. текст)

 

 

 

 

Структуры с параэлектрической кубической

Я ук

умноженной ячейкой (см. текст)

 

 

 

Параэлектрическая простая кубическая

фаза

/7,.

Сегнетоэлектрическая

ромбоэдрическая

фаза,

С рэ (нт)

низкотемпературная

 

 

 

 

Сегнетоэлектрическая

ромбоэдрическая

фаза,

С рэ (вт)

высокотемпературная

 

 

 

 

Имеются две фазы с умноженными кубическими ячейками, об одной из которых сообщалось для составов Pb(Zr, S n )0 3 [50]. Ни в одной из этих фаз на рентгенограммах не было обнаружено сверхструктуры или искажения. Умножение ячейки постулируется на основе наблюдаемых аномалий теплового расширения и скач­ ков в температурной зависимости диэлектрической проницаемости. Интересно отметить, что добавки Sn4+ и Sr2+ оказывают одинаковое влияние на устойчивость фаз в PbZrC>3: они приводят к умножению ячейки в параэлектрической фазе (при температурах выше темпе­ ратуры существования сегнетоэлектрической или антисегнетоэлектрической фазы) (фиг. 6.9 и 7.37). Присутствие одной или обеих этих кубических фаз с умноженной ячейкой весьма эффективно сглаживает пик диэлектрической проницаемости, равный несколь­ ким тысячам, который в отсутствие этих фаз наблюдается при фа­ зовом переходе Срэ(вт) П к или Лт ^ -Я к (см. фиг. 10.1).

Высокотемпературная ромбоэдрическая сегнетоэлектрическая фаза аналогична фазе, найденной для составов с большим пьезо­ электрическим эффектом, расположенных вблизи морфотропной границы, соответствующей РЬ(Ті0^ г 0,5з)Оз. Коэффициент электро­ механической связи этой фазы постепенно уменьшается с увеличе­ нием содержания Zr4+. Низкотемпературная ромбоэдрическая фаза приблизительно изоструктурна высокотемпературной и незначи­ тельно отличается от нее по размерам элементарной ячейки [4, 7]. Переход между ними легко обнаруживается по электрическим из­ мерениям для составов с высокой концентрацией ионов Zr4+ (фиг. 7.3). Однако с увеличением содержания Ті4+ различия стано­ вятся все менее заметными.

Диаграммы, показывающие эти фазы в Pb(Zr, Sn, Т і)0 3 с не­ большой концентрацией (1 ат.%) Nb, представлены на фиг. 7.37,

N JD а

Ф и г .

7.37.

Фазовые диаграммы

керамики твердых растворов

Pb(Zr, Sn, Ti) 0 3

1

ат.%

Nb, поляризованной

при возможных (различных)

температурах.

ТВЕРДЫЕ РАСТВОРЫ Pb(Ti, Zr. Sn. Hf)Oj

167

Здесь наблюдается значительный гистерезис в зависимости от тем­ пературы и приложенного электрического поля. Приведенные фазы относятся к образцам, предварительно подвергнутым воздействию поляризующего поля, и поэтому не представляют равновесные со­ стояния. Вероятно, фазы в образцах, охлажденных в печи, также не могут находиться в равновесном состоянии из-за метастабильного сохранения более высокотемпературных фаз.

а

ö

В

Ф и г . 7.38. Двойная петля гистерезиса керамики со структурой Л т (а); петля гистерезиса керамики в метастабилыюй сегнетоэлектрической фазе, индуцируе­ мой полем, прикладываемым к образцу, первоначально находившемуся в антисегнетоэлектрическом состоянии (б); петля гистерезиса керамики в сегнето­ электрической фазе (в) [5].

Е

с —коэрцитивное поле;

Е^ —

критическое поле перехода

Ат

в СрЭ;

— поле обратного

 

 

 

перехода в фазу Ат.

Керамика, находящаяся в некоторых из этих фаз, проявляет интересные диэлектрические и сегнетоэлектрические свойства. Пре­ вращение Срэ(нт) или Срэ(вт) в Лр или А тобнаруживается по рез­ кому выделению заряда в поляризованном образце. Во многих случаях в таких образцах при нагревании могут возникать поля, достаточные для возникновения их диэлектрического пробоя.

Для составов структуры /1т, имеющих такую концентрацию Sn4+, что при дальнейшем охлаждении фаза Лт будет превращаться в СрЭ, двойные петли диэлектрического гистерезиса могут на­ блюдаться во всей области устойчивости фазы Лт [51], причем в не­ которых случаях в интервале температур от —40 до 125 °С и выше. Такое поведение наблюдается только тогда, когда антисегнетоэлектрическая фаза устойчива при более высокой температуре, чем сегнетоэлектрическая фаза. В других случаях приложение поля вызывает появление метастабнльного сегнетоэлектрического со­ стояния (фиг. 7.38). Это осуществляется путем приложения доста­ точно высокого поля для переключения образца, первоначально на­ ходившегося в антисегнетоэлектрической фазе Лт, в фазу Срэ. При последующих циклах изменения поля наблюдается обычная петля

168

ГЛАВА 7

гистерезиса, если только образец не нагревается выше температуры перехода в иесегиетоэлектрическую фазу и снова ие охлаждается.

Другое интересное явление возникает вследствие различий в размере элементарных ячеек фаз. Ячейки по размеру делятся на

а

5

Ф и г .

7.39. Изменение

плотности заряда

(протекающего по короткозамкнутой

цепи)

керамики Pbo,995[(Zro,7Sno,o3)o,94Tio,o6]o,99Nb0,oiC>3

в зависимости

от гидро­

статического сжатия (а)

и одностороннего

сжатия,

параллельного

полярной

 

 

оси (б)

[5].

 

 

три типа. Самые большие ячейки имеют сегиетоэлектрические фазы Срэ(вт) и Срэ(нт), причем ячейка высокотемпературной фазы боль­ ше, чем у низкотемпературной. Промежуточными по размеру ячеек являются параэлектрические фазы Пк и Я ук, которые не про­ являют объемной аномалии при взаимных превращениях. Еще меньше размер ячеек антисегнетоэлектрических фаз А ти А р, при­ чем последняя имеет наименьшую ячейку. (Такая последователь­ ность в размерах элементарных ячеек сегнетоэлектрической, пара-

ТВЕРДЫЕ РАСТВОРЫ Pb(TI, Zr, Sn, Hf)0,

169

электрической и амтисегнетоэлектрической фаз, по-видимому, является общим правилом.) Благодаря таким соотношениям обра­ зец можно перевести из сегнетоэлектрической фазы в антисегнетоэлектрическую приложением гидростатического давления или одномерного механического напряжения параллельно направлению поляризующего поля, если образец предварительно поляризо­ ван [5]. Переход влечет за собой внезапное выделение полного заряда. В случае некоторых составов для такого фазового пере­ хода достаточно приложить весьма умеренное гидростатическое давление (фиг. 7.39); при этом имеет место зависимость критиче­ ского давления от температуры и от полного электрического со­ противления нагрузки.

Керамика составов с высоким содержанием Zr4+, являясь сег­ нетоэлектрической, не характеризуется сильной пьезоэлектриче­ ской связью. Типичные значения kp составляют только 0,1—0,2, хотя сегнетоэлектрическая поляризация остается высокой. Их ин­ тересные свойства возникают в результате того, что свободные энергии всех перечисленных фаз в указанной области составов становятся примерно одинаковыми, так что приложение относи­ тельно малых механических напряжений или электрических полей может привести к фазовым превращениям без разрушения об­ разца. Таким образом, эта керамика может представить интерес для различных схем, предназначенных для циклического преобра­ зования энергии. Некоторые из соответствующих термодинамиче­ ских соображений изложены Берлинкуром и др. [5].

Г. С Е Г Н Е Т О Э Л Е К Т Р И Ч Е С К И Е И А Н Т И С Е Г Н Е Т О Э Л Е К Т Р И Ч Е С К И Е СО СТ А В Ы ,

С О Д Е Р Ж А Щ И Е Ш<+

В результате изучения фазовых переходов и электрических яв­ лений в системах РЬ (Ш , Zr, Ті) 0 3 и Pb (Hf, Sn, Ті) Оз было выяв­ лено большое разнообразие явлений, подобных описанным в пре­ дыдущем разделе [20, 53]. В составах Pb (Hf, Zr, Ті) 0 3 ионы Ш 4+ увеличивают область устойчивости антисегнетоэлектрической фазы

А т и несколько понижают точку Кюри. В системе РЬ(Ш , Т і)0 3 граница между сегнетоэлектрической и айтисегнетоэлектрической фазами имеет наклон, противоположный наклону фазовой границы между аналогичными фазами, показанной на фиг. 7.1. Таким об­ разом, составы, обнаруживающие двойные петли гистерезиса под действием электрического поля, могут образовываться и в отсут­ ствие Sn4+. При совместном введении Zr4+ и Ш 4+ эта фазовая гра­ ница может становиться почти идеально морфотропной [52]. По­ добно составам, содержащим Zr4+, указанные составы не прояв­ ляют сильных пьезоэлектрических свойств (Äp = 0,06—0,16) и представляют интерес в основном с точки зрения фазовых превра­ щений, вызываемых приложением электрических, механических или тепловых воздействий [53].

170

 

 

ГЛАВА 7

 

 

 

ЛИТЕРАТУРА

 

1.

Shirane G.,

Suzuki К. — «J. Phys. Soc. Japan»,

1952, v. 7, p. 333.

2.

Sawaguchi E. — «J. Phys. Soc. Japan», 1953, v. 8,

p. 615— 629.

3.

Shirane G.,

Takeda A. — «J. Phys. Soc. Japan»,

1952, v. 7, p. 5— 11.

4.

Barnett H.

AI. — «J. Appl. Phys.»,

1962, v. 33, p. 1606.

5.

Berlincourt

D., Krueger H. H. A.,

Jaffe B. — «Phys. Chem. Solids», 1964, v. 25,

p. 659— 674.

6. Shirane G., Suzuki /(., Takeda A. — «J. Phys. Soc. Japan», 1952, v. 7, p. 12— 18. 7. Michel C., Moreau J.-M., Achenbach G. D., Gerson R., James 117. / ,— «Solid

 

State

Commun.»,

1969, v. 7, p. 865— 868.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

v. 1, p. 218—

'8. Ikeda

T.,

 

Okano

T.,

Watanabe AI. — «Japan J . Appl. Phys.»,

1962,

 

222.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

W.

S. — «J.

 

 

 

 

 

9.

Webster A. H., MacDonald R. C., Bowman

Can.

Ceram. Soc.»,

 

1965, V. 34,

p. 97— 102.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

10.

Fushimi

S.,

Ikeda T. — «J. Am . Ceram. Soc.»,

1967, v. 50,

 

p.

129— 132.

 

 

 

Robinson

 

A. «J.

 

Am. Ceram. Soc.»,

1968, v. 51,

p.

577— 582.

 

 

 

 

 

 

 

11. Aykan K.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

12.

Matsuo У.,

Sasaki

H. — «J. Am.

Ceram.

Soc.»,

1965,

 

48,

p.

289— 291.

 

13.

Jaffe

B.,

 

 

E.,

 

Luff D. — «Trans. Br. Ceram. Soc.»,

1962,

 

v. 61,

p. 85—93.

 

14.

 

Roth R. S.,

Marzullo S. — «J. Appl. Phys.»,

v.

 

 

 

 

 

 

 

 

Jaffe

B„

 

Roth

 

R.

S.,

 

Marzullo

S. — «J.

 

 

 

 

1954, v. 25, p. 809—810.

15.

 

 

 

Res,

Nat.

Bur.

 

Stds.»,

1955,

v.

55,

 

p. 239—254.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

16.

Berlincourt

D., Cmolik C., Jaffe H. — «Proc. IRE»,

I960, v. 48, p. 220—229.

 

17. Berlincourt

D. — «IRE

 

Trans. Ultrasonics

Eng. PGUE-4»,

 

1956,

p. 53— 65.

 

18.

Веневцев Ю. H., Жданов Г. С., Соловьев С. П., Иванова В. В. — «Кристалло­

 

графия», 1959, т. 4, с. 255—256.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

19.

Kulcsar F. — «J. Am. Ceram. Soc.»,

1959,

42,

49— 51.

 

 

 

 

 

 

 

22.

Roy R.

 

«J.

 

Phys. Soc. Japan», 1959, v. 14,

p.

1286— 1294.

 

 

 

 

20.

Ikeda

T.

 

 

 

 

 

 

21.

Ikeda

T.

 

Phys. Soc. Japan»,

1959, v.v.14, p.p.168— 174.

 

 

 

 

 

 

 

23.

 

 

 

«J. Am. Ceram. Soc.», 1954, v. 37, p. 581— 588.

 

 

 

1491— 1493.

 

 

 

 

 

Г.

 

А.,

Аграновская А.

И. — «Ж ТФ»,

1958, т. 28, с.

 

24.

Смоленский«J.

 

 

 

 

 

Hayakawa

S. «J.

Am.

Ceram.

 

Soc.»,

1965,

v.

48,

Ouchi

H.,

Nishida

 

 

 

 

Ouchi

Н.,

Nagano

К., Hayakawa

S.,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

25.

p. 630—635.

 

 

 

 

AI.,

 

 

 

«J.

Am.

Ceram.

 

Soc.»,

1966,

v.

49,

Ouchi H.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

p. 577—582.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

26.

 

 

 

— c j. Am. Ceram. Soc.»,

1968, v. 51,

p. 169— 176.

 

 

 

 

 

 

 

27.

Tanaka

Y.,

Ikeda

T.,

Toyoda H. — «Rev.

Elec.

Commun.

Lab.»,

1965,

v.

13,

28.

p. 744—752.1965, т. 29, с. 2042—2045.

 

А.,

И супов В. А. — «Изв. АН

С С С Р ,

Буянова E.

А.,

 

Стрелец П. Л., Серова И.

 

сер. физ.»,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

29.

Ikeda Т.,

 

Okano

 

Т. — «Japan J. Appl. Phys.», 1963, v. 3, p. 63— 71.

 

 

 

 

30.Kulcsar F. — «J. Am. Ceram. Soc.», 1959, v. 42, p. 343— 349.

31.Kulcsar F. — «J. Am. Ceram. Soc.», 1965, v. 48, p. 54.

32.Globe Union, Inc., Франц, пат. № 1308231, November 2, 1962.

33.Terhune N. /1., Charlton J. J. Am. Ceram. Soc. Fall Meeting, Bedford, Penna.,

September 26— 28.

34. ' Gerson R., Jaffe H. — «J. Phys. Chem. Solids», 1963, v. 24, p. 979— 984.

35.Gerson R. — «J. Appl. Phys.», 1960, v. 31, p. 188— 194.

36.B.erlincourt D. SC-4443 (RR), Sandia Corp.'Tech. Rep. U. S. Dept. Commerce, Washington, D . C . 20025, 1960.

37.Gerson R. — «J. Appl. Phys.», 1960, v. 31, p. 1615— 1617.

38.

Kulcsar F. Пат. СШ А № 3006857, October 31, 1961.

 

39.

Berlincourt D. SC-4203 (TR), Sandia Corp. Tech. Rep. U. S. Dept. Commerce,

 

Washington, D .C . 20025, 1958.

 

40.

Ikeda T., Fushimi

S. — «J.

Phys. Soc. Japan», 1962, v. 17, p.

1202— 1203.

41.

Di Benedetto В.,

Cronan

C. J . — «J. Am. Ceram. Soc.», 1968,

v. 51, p. 364—

 

368.

 

 

 

42- Berlincourt D., Krueger H. H. A. — «J. Appl. Phys.», 1959, v. 30, p. 1804— 1810,