Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Статистическая механика композитных материалов

..pdf
Скачиваний:
15
Добавлен:
15.11.2022
Размер:
6.7 Mб
Скачать

[2 eJ»k)M x m) - c m] > ,

(1.20)

h=1

 

однако исследование их в общем случае (для произ­ вольной многокомпонентной среды) представляет опре­ деленные трудности. Наиболее простой вид моментные функции свойств в (я) имеют для двухкомпонентной среды с изотропными компонентами, свойства которых детерминированы (например, для стеклопластиков).

 

Пусть

С1 и С11 — свойства

арматуры и

связующего

(С ^ С 11);

=

1— X = V.

<Х> = Р .

Тогда С =

=

С+

Сп (1 — Р). Флуктуации свойств равны 9°(х) =

=

С*Х° (х), где

С* = С1 — С11, Х° = XР. Отсюда видно,

что координатная зависимость моментных функций свойств 0 (х) полностью определяется координатной зависимостью моментных функций случайного поля А,(х):

К ^Ч хь

хт ) = с г

СМ ГЧх!,

Х т ) .

Более сложный вид имеют моментные функции

свойств двухкомпонентного

материала,

если свойства

одного из компонентов случайны вследствие неоднород­ ности и анизотропии частиц. Пусть в 1 — случайное свой­

ство

наполнителя (арматуры), Сп — детерминирован­

ное

свойство связующего,

Я (х)— индикаторная функ­

ция подмножества L1 точек

наполнителя. Предполагая,

что в пределах данного элемента структуры .реализации свойств в 1 постоянны, имеем

0 (x) = e4(x) + c " [ i - i ( x ) ] .

Математическое ожидание статистически однородно­ го поля в(х) постоянно относительно координат и равно

С =

< 0 ) = СгР + С 11 (1 — Р),

где С1 = ( 0 1 ) =

const относительно х.

в точке М (х;):

Находим флуктуацию свойства 0

(х)

 

0о(х ,)= С ? А ; +

0 Г Р

(1.21)

и по формуле ( 1 .2 0 ) записываем корреляционную°функцию(

имея в виду, что значения 0 1 статистически не зависят от X (расположения элементов структуры):

41

Kk2) (X 1)X2) =C?C5M 2 ) (x1I X2) + < 0'l°02° > M 2’ (X t, X2).

Здесь < 0 Г 0 Г ) = О(021)(х1, x2)— корреляционный момент

свойства 0 1 ; УИ12) (xlt х2) = < A(Xj) Я,(х2) ) — начальная моментная функция второго порядка индикаторной функции

X(х). Координатная зависимость функции /Сх,2> (Xl, х2) и М*,2) (х,, х2) исследовалась в п. 4.

Если значения 0 1 в различных элементах структуры статистически независимы, то

< 0 Г 0 Г > л 4 2,(Х1,

х2) = < 0Г©2° >

PiP2l,

122

 

( . )

где Р\ = Р — вероятность попадания точки М (xt) на не­ которую частицу наполнителя; Р21 — условная вероятность попадания точки М (х2) на ту же частицу. В отличие от случая, рассмотренного в п. 4, здесь учитывается только первое слагаемое суммы (1.9), поскольку при попадании точек М (хА) и М (х2) на различные частицы наполнителя, согласно предположению, равны нулю корреляционные

моменты < 0 0 2 ° )

 

функций

( 1 .2 2 ) по­

Простые координатные зависимости

лучаются, если отрезки

(см. (1.10)

и рис.

7) распре­

делены по экспоненциальному закону или закону Релея. При экспоненциальном распределении

следовательно, < 0 1°0 2 ° > М[2) (хи х2) = < 0 Г©2* > Ре~аг,

где г = | Xj — х2|; а — параметр распределения. Такой вид имеет, в частности, корреляционная функция, описываю­ щая распределение мартенсита в стали [72].

При распределении li по закону Релея с параметром h

 

Fr (r) =

l - e ~ htr*

 

 

 

si

 

 

 

 

< е ! ° е Г >

л С > ( Х1, X 2) =

< 0 Г 0 Г

> P <r h*r‘

Перемножая

флуктуации

(1.21)

в

точках 7W(xi),

М(х2) и М(х3)

и гприменяя

оператор

математического

42

ожидания, получаем моментную функцию третьего по­ рядка свойств 0 (х):

Ке3) (х1( Ха,

х3) = С*С*С* /Сл.3’ (xj, х2,

х8) +М ,3) (х1( х2, х3)

(< е Г е Г е Г > + cf < 0 Г 0 Г > + с 2* < 0 Г 0 Г > +

+Сз* < 0

Г0 Г > ) -

Р [С? < ©Г0 3 ° >

Ml2) (ха, х3) +

+С 2* < 0 Г0

Г > м !2) (Xl) х3) + с! < 0

Г0 Г > м12 )(х„ Ха)].

Выражения для моментных функций высших поряд­

ков получаются еще

более громоздкими. Эксперимен­

тальные данные о координатной зависимости этих функ­ ций отсутствуют. Для аналитического построения ука­ занных зависимостей необходимо вычислить вероятность того, что некоторые т точек принадлежат случайным образом ориентированному элементу структуры задан­ ной (вообще говоря, случайной) формы.

Условные моменты. Заметим, что всюду при вычис­ лении моментов в 1 математическое ожидание берется по множеству L1 точек, принадлежащих компоненту I, т. е. это условные моменты. Рассмотрим методы вычисления условных моментов.

Закон и моменты распределения свойств компонен­ тов могут быть заданы на основании экспериментальных данных или априори. Возможно также вычисление мо­ ментов, если задано распределение анизотропных эле­ ментов структуры по направлениям. Эта задача анало­ гична задаче о распределении свойств однофазных по­ ликристаллов, исследованной в работах [5, 16, 59, 73— 76]. Необходимость решения данной задачи возникает при. построении статистических моделей композитных материалов, армированных нитевидными кристаллами.

Пусть Сijmn — компоненты тензора модулей упругости некоторого элемента структуры в кристаллографической

системе координат (*ь*2 ,хз). При неупорядоченном рас­ положении элементов структуры модули упругости, отне­ сенные к системе координат (хь х2, х3), связанной с телом (так называемой лабораторной), — случайные величины,

поскольку случайны углы между осями х[ и Xj. Модули упругости в лабораторной системе выражаются через кри­ сталлографические постоянные по формулам преобразования

®ijmn ~

>

(1.23)

43

где ки = cos (х;, x'j); по повторяющимся греческим индек­ сам предполагается суммирование от 1 до 3. Обычно в ка­ честве трех независимых параметров, определяющих вза­ имное положение осей кристаллографической и лаборатор­ ной систем координат, принимают углы Эйлера (р, ф, О.

Зная распределение углов Эйлера, находим распределе­ ние и моменты модулей упругости 0 гЛпп как функции слу­

чайных величин. В частности, для

математического

ожида­

ния имеем

 

 

 

Я 2я 2я

 

 

 

С < л п п - j j

Щ О Ар, Ф,

« (« . V, t) d u d v d t,

(1 .24)

ООО

 

 

 

гДе /ф,Ф,#(и*

О — плотность

совместного распределе­

ния углов Эйлера.

Композитный материал, хаотически армированный в пространстве. При хаотическом расположении элементов структуры в пространстве все направлении кристаллогра­

фических осей х[ равновероятны. Концы орта оси х3 рас­ пределены с равномерной плотностью на сфере единичного

радиуса. Поэтому (см. п. 4 гл. 1) U(t)

sint.

Плотность совместного распределения углов Эйлера

можно представить в виде

 

/ф,ч>,ф(м. у. О = U { t ) f ( v \ t ) f { u \ v ,

t),

где / ( пЮ и f(u\v, 0 — плотности условных

распределе­

ний. Так как при фиксированном тЭ' углы ф и ср равномер­

но распределены в интервале

от 0 до 2 л, т ° / ( у| 0

==" ^ ' >

f ( u \ v , 0

= 17 -

 

 

 

Т а к и м

образом [7 3 ],

 

 

 

 

/Фф.о(“. о. 0

= -r -r -sin t-

О-25)

 

 

 

8л2

 

В дальнейшем вместо составляющих тензора модулей

упругости

0 ,;mn и тензора податливостей \himn будем рас­

сматривать элементы

и л Рд соответствующих

им мат‘

риц модулей и коэффициентов деформации (здесь

р, Я =

= 1, 2,

6).

 

 

 

44

Переход от тензорных обозначений постоянных упру­

гости к матричным осуществляется

по следующему прави­

лу замены

индексов: 11->1; 22->2;

33—^3; 23, 32->-4; 31,

13->5; 1 2 ,

2 1 -> 6 . Кроме того, при переходе к тензорным

обозначениям упругих податливостей появляется множитель:

Uijmn = 2 “ftjtpq, где k

равно

числу

индексов р,

р > 3.

Например, П1122 = я12;

П1112 =

^ ;

П3212 =

При

 

 

2

4

 

переходе к матричным обозначениям модулей упругости множитель отсутствует.

Для вычисления моментов первого порядка свойств npq нужно найти математические ожидания произведений

Вследствие

равновероятного

распределения кристаллогра­

фических

осей

выполняются

соотношения: < Mi

> =

-- < Mi ) = < Mi > = < М2

) = < Мз );

< М3 М2

) =

= < М2 Мз > = < М2

Мз >

И т. д. Применяя формулу (1.25),

находим

 

 

я 2я 2я

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

sin4

v sin61 dudvdt

 

 

 

 

 

0

0

 

0

 

 

 

 

5

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

я 2я 2я

 

 

 

 

 

 

 

< Л-32 ^33 )

Шcos2

v sin31cos4 dudvdt=

 

 

8л2

15

 

 

 

0

0

0

 

 

 

 

 

 

 

 

( M1 M2 M3 ) = ( M2 M3 ) — ( М2 Мз ) — 0

и т. д.

 

 

В результате

получаем моменты

первого порядка слу­

чайных величин npq{ (

npq >

= spq):

 

 

 

 

 

Sn — s2 2

— S3 3

lo

(3s j -f- 3s1 1

-j- 2sj j j) ,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

S44 —S55 —560 — jg

(^SI _b SII

 

^SIIl)»

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Д1.26)

S23 =

S3i =

S12 =

f S i

~

S II

+

^ S I 1 1

 

 

S14 —

 

— S56 —

 

 

= s2 4 =

 

 

— ^34 —

 

 

45

где s { sn + s22 + s33, sn —s44 + s 55 Ь S 6 6 ,

sUI

s23 +

+ s3 i + si2 * Между величинами spq имеется

связь 2

(5 И —

— s23) = S44, характерная для постоянных упругости изот­

ропной среды. Аналогичные вычисления дают моменты пер­

вого порядка модулей упругости

( < ftPq > = cpq):

=

С22 = ^33 = “77"

~^^сп +

^cni)»

 

 

*

1о

 

 

 

 

С44 = C55 = с6в = —

(Cj +

Зсj j

с111),

 

 

 

 

 

 

 

(1.27)

^23 =

^31 = ^12 “

1-

(+

+

4^J J J ) ,

 

C14 — —C$Q— —C24

£34

0 »

г д е Cj = Cn +

C22 ~b C33’

C \ \ =

СЛ4 "I" C55

C66* C11I

= C23 “Ь

+C31 + ClV

Соотношения (1.26) и (1.27) были получены Фойгтом [77]'. Вычисление моментов второго порядка также сводится к нахождению интегралов от тригонометриче­ ских функций углов Эйлера [59, 73].

При вычислении моментов распределения коэффи­ циентов линейного теплового расширения (и других свойств, заданных тензором второго ранга) некоторого компонента с анизотропными элементами структуры (кристаллами), хаотически ориентированными в прост­ ранстве, используется аналогичный метод [78]. Случай­ ные коэффициенты линейного теплового расширения ац выражаются как функции случайных углов Эйлера, оп­ ределяющих положение кристаллографических осей, на основании формул преобразования

аи = = а и (ф, Ф),

где а\.— кристаллографические постоянные. Используя

плотность распределения углов Эйлера в виде (1.25), находим математические ожидания а и ( < а и > = аи):

ап — а 22 — азз ~~ я; я12 #23

ам —

1

(а\ 1+#22 + азз ).

Таким

образом, моменты

где а = —

3

 

 

 

46

первого порядка коэффициентов линейного теплового рас­

ширения

образуют шаровой тензор:

=

где Sij—

символы Кронекера.

 

 

Композитный материал с текстурой вращения. Опре­

деленный

практический интерес представляет

случай,

когда анизотропные (кристаллические) элементы струк­ туры ориентированы преимущественно в одном направ­ лении (например, в материалах, армированных ните­ видными кристаллами). Плотность концов ортов кри­ сталлографических осей на сфере в таком материале не постоянна и определяется видом текстуры. Если рас­ пределение ортов осесимметрично, то имеет место тек­ стура вращения.

В работах [59, 79—81] плотность распределения углов Эйлера принята в виде

Лр, *, ф(“. ». 0 = ~ r r f (Osin/, 8л2

где функция f(t) должна удовлетворять условию норми­ ровки

я

уJ f{t)s\ntdt = 1.

О

Вработе [82] при вычислении моментов распределения коэффициентов податливости плотность распределения углов Эйлера задавалась в виде

1 Лр, ♦, в («. о = 4п2 М О .

где /о ( 0 — плотность распределения угла О, определяемая из эксперимента либо задаваемая априори.

Пусть /ф (t) = a cos*/; а, k — постоянные (k — четные целые числа, 2). Постоянную а находим из условия

а 1 cos* tdt = 1

В результате имеем

м о = — ft'.! cosл,t.

п(ft — 1)11

47

Задавая различные значения /г, можно изменять вид функции f$(t) с целью приближения к эксперименталь­ ным данным. При &->-оо имеем случай одноосной ориен­ тации, для которого

U, +, *(«. у- 0 = - ^ - 6 ( 0 ,

где &(0 — дельта-функция [83].

Методы описания текстур и другие подходы к вычи­ слению моментов распределения свойств композитных материалов рассмотрены в работе [16].

Структуру композитных материалов, содержащих во­ локна круглого сечения, удобно задавать плотностью совместного распределения углов сферической системы координат (О, ф). Пусть Ф — угол между направлением волокна х'3 и направлением армирования х3, ф — угол,

измеряемый в плоскости *1*2. Если микрошлиф изготов­ лен таким образом, что его плоскость параллельна плос­ кости *1*2, то угол ф может быть измерен непосредствен­ но (как угол между большой полуосью эллипса, полу­ ченного, в селении волокна, и осью х{). Угол ft находится из соотношения ft = arccos Ь/а, где а и b — большая и ма­ лая полуоси эллипса.

Если распределения # и ф независимы, то плотность совместного распределения равна

«) =

&(*)/„(«),

причем для текстуры вращения

“) =

2п fb (0 -

Средние значения физических постоянных композит­ ного материала, для которого экспериментально по­ строены гистограммы распределения углов Ои ф сфери­ ческой системы координат, можно вычислить по форму­ лам математического ожидания дискретной случайной величины, т. е. не подбирая подходящие аппроксимации плотностей распределения.

Г л а в а 2

НАПРЯЖЕННОЕ И ДЕФОРМИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ

1. СЛУЧАЙНЫЕ н а п р я ж е н и я

Случайные напряжения в точке тела. В теле У* выделим параллелепипед ДУ с ребрами Дх;. Освободим его от связей с остальными точками тела и заменим действие

связей случайными силами. Пусть векторы й (1) = (Qi1*, Q20 ,

йз*') равны равнодействующим случайных поверхностных сил на гранях параллелепипеда ДУ— площадках AS4 =

=АхгАх3\ AS2 = Ax3Axt; AS3= Дл^ДхгВеличины

 

Игл

Q)°

/ — Ь 2, 3)

 

 

 

О;; =

 

 

AS;

 

 

будем называть случайными напряжениями.

параллеле­

Рассматривая

равновесие элементарного

пипеда,

нетрудно убедиться,

что тензор случайных

на­

пряжений симметричен: Oij = Oji. Отсюда очевидна

сим­

метрия

тензора

начальных

моментов первого порядка

m = <a>: nii}=mji.

 

 

 

 

 

 

 

Случайные напряжения

на

площадках

с линей­

ными размерами А1*; =

где

— характерные размеры

тела, 0

1 (п-

2 гл.

1 ),

в эксперименте

называются

макроскопическими,

если размеры площадок велики по срав­

нению с размерами элементов структуры композитного ма­ териала. При условии е*-*-0 те же напряжения являются макроскопическими в статистической модели класса Вп.

Микроструктурными, или микроскопическими, назы­ ваются напряжения о//, действующие на площадках An S/f линейные размеры которых Allxt = /* е* в эксперименте и

4. Зак. 674

49

при 6 ^ 0 в статистической модели V* класса Вп. При

этом площадки Ап5^ имеют размеры, равные характерным размерам элементов структуры (в среднем).

Уравнения равновесия и граничные условия. Соглас­ но принятому в п. 3 гл. 1 условию, все тела Vz статисти­ ческой модели (реализации тела 1/*) имеют равные раз­ меры и форму. Поэтому тело У* ограничено детермини­ рованной границей 5. Следовательно, направляющие косинусы tii (i= 1, 2 , 3) внешней нормали п к границе 5 также детерминированы в исходном (ненагруженном) со­ стоянии данного тела. Имея в виду линейную задачу те­ ории упругости, в дальнейшем будем относить внешние силы и внутренние напряжения к исходному, недеформированному состоянию тела.

Из условия равновесия элементарного тетраэдра по ана­ логии с классической (детерминистической) теорией напря­

жений нетрудно найти граничные условия

для

макроско­

пических а!/

и микроструктурных о!/ напряжений. Обозна­

чив через cl

и oh1 случайные напряжения

на

наклонных

гранях тетраэдров с линейными размерами

соответственно

первого и второго порядков малости, получим

 

 

Oh = tlaO<xki O’k = Па(Уак

 

(2 *1 )

Соотношения (2.1) справедливы также, если напряже­

ния о{ и ok1 действуют на площадках, расположенных на границе S тела V*.

В случае, если дисперсии напряжений ok равны нулю

и, следовательно, сами напряжения детерминированы (ol = = рк)у будем называть соответствующие граничные условия

(2.1) макродетерминированными. При этом напряжения о \1

Oh,h и aim могут быть как случайными, так и детерминиро­ ванными.

Из условия равновесия для реализаций случайных напряжений в точках множества LM соответственных то­ чек статистической модели (см. п. 3 гл. 1 ) нетрудно по­ лучить в случае неоднородного поля напряжений диффе­ ренциальные уравнения равновесия

дха + ф, = о,

(2.2)

где Ф, — случайные объемные силы.

50