Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Ротин В.А. Радиоионизационное детектирование в газовой хроматографии

.pdf
Скачиваний:
2
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
6.84 Mб
Скачать

тестирования в режиме импульсного питания, которое обычно приводят в литературе. Фактически оно осно­ вано на квазистационарных приближениях и поэтому не может претендовать на строгость.

Если длительность импульса много меньше периода импульсов, то захват электронов .и рекомбинация заря­ дов осуществляются при практически нулевой напря­ женности поля. Следовательно, средняя энергия элек­ тронов определяется температурой газа и практически не зависит от амплитуды импульса (электроны термализованы).

Во время импульса напряжения происходит сбор нерекомбинировавших и незахваченных электронов. При полном сборе свободных электронов их количество не зависит от напряжения в импульсе. Поэтому сигнал детектора при повышении напряжения может достигать насыщения.

При детектировании в режиме импульсного питания захват электронов в основном осуществляется при теп­ ловых энергиях. Это определяет некоторые преимуще­ ства данного метода перед методом детектирования при постоянном токе. В режиме постоянного тока изме­ нение концентрации анализируемого вещества обуслов­ ливает изменение средней энергии электронов под влия­ нием поля зарядов. Так как сечение захвата, как пра­ вило, зависит от энергии электронов, то это явление служит дополнительной причиной нелинейности детек­ тора. В режиме импульсного питания электроны термализованы, поэтому их энергия от состава газа не зависит.

Но эта же особенность может быть и недостатком метода. Если анализируемое вещество способно захва­ тывать лишь электроны достаточно больших энергий по сравнению с тепловыми, то детектирование в режиме импульсного питания малоэффективно. В этом случае захватываются лишь те электроны, которые получают достаточную энергию от поля во время импульса на­ пряжения.

При детектировании в режиме импульсного питания предъявляются дополнительные требования к газу-но­ сителю. Прежде всего необходимо, чтобы скорость дрейфа электронов была как можно более высокой и за короткий импульс можно было достаточно полно осу­ ществить их сбор. Поэтому для этого метода в основном

160

рекомендуется использовать аргон с 5 или 10%-пым содержанием метана. Наличие метана эффективно по­ нижает энергию электронов и тем самым ускоряет их термализацию, в результате уменьшения энергии повы­ шается скорость дрейфа электронов в аргоне. Кроме того, метан снижает концентрацию метастабильных ато­ мов аргона и устраняет нежелательное в данном случае проявление эффекта Пепнинга.

5.8. ФЛЮКТУАЦИИ ТОКА ПРОВОДИМОСТИ

При анализе флюктуаций тока в режиме тока насы­ щения мы рассматривали лишь процессы образования зарядов, считая сбор зарядов полным и практически мгновенным. В режиме тока проводимости необходимо учитывать, что часть зарядов рекомбинирует в объеме камеры детектора. Доля собираемых зарядов, строго говоря, случайная величина. Поэтому при детектирова­ нии в режиме тока проводимости требуется учитывать флюктуации доли собираемых зарядов.

Необходимо рассматривать три последовательных процесса, определяющих ток: излучение §-частиц, иони­ зацию и сбор зарядов. Флюктуации, вызываемые пер­ выми двумя процессами, нам известны. Поэтому можно упростить задачу, сведя ее к анализу двух последова­ тельных процессов: образования зарядов и их сбора. Будем считать, что флюктуации количества образую­ щихся зарядов Ni0 за время А? известны и описываются формулой (2.24).

За рассматриваемый интервал времени А^ па элек­ тродах собирается количество зарядов АД равное

N, =

ЛДх;,

 

(5.45)

где х ,— доля собираемых

зарядов.

Если At

много

больше времени движения

зарядов

в камере

детек­

тора, то процесс сбора допустимо рассматривать как мгновенный. В таком приближении суммарный процесс можно рассматривать как квазикаскадный, т. е. не учи­ тывать вклада зарядов, образующихся в предыдущие интервалы времени, в значение АД Для квазикаскадного процесса флюктуации значения А'* в соответствии с формулой (2.20) равны

а (АД = V * i ° 2 (Nl0) Ч- ЛДо2 (х,) .

(5.46)

И Зак. 786

1G1

Умножив обе части равенства на е/It, перейдем к флюктуациям тока

 

е 2ст2 (Ni0)

e*Njо

о2(х(.)

(5.47)

о ( / ) =

IF-

+ дг2

В формуле (5.47) слагаемые под знаком корня опре­ деляют квадраты флюктуаций тока, вызванных флюк­ туациями числа образующихся зарядов в отсутствие флюктуаций доли собираемых зарядов (первое слагае­ мое) и флюктуациями доли собираемых зарядов в от­ сутствие флюктуаций числа образуюищихся зарядов (второе слагаемое). Первое из слагаемых легко преоб­ разуется с учетом того, что величина e2os(Ni0)/I t 2 равна квадрату флюктуации тока насыщения [см. формулу

(2.24)]:

его2 (N i0)

°2(/Нас) =

g(ЯI 4~ ') ^на

(5.48)

Л/2

 

М

 

а среднее значение доли собираемых зарядов, очевидно, равно

х,

= У,/У/0 =

/ ф//нас.

 

(5.49)

Отсюда

 

 

 

 

а(1 ) =

е (Яс + 4 ) -7ф

e2Ncо

о2 (X,)

(5.50)

нас

+ Д*2

 

Второе слагемое в целом описывает флюктуации тока при строго постоянном значении числа образующихся зарядов. Оно может быть рассчитано следующим об­ разом.

Заметим, что щ равна средней вероятности сбора

заряда, а

1— у,• равна вероятности его рекомбинации

в объеме

детектора. Поэтому вероятность того, что

произвольно выбранные У* зарядов соберутся на элек­ тродах, а У,о — Уг зарядов рекомбинируют в объеме, равна

х ^ ( 1 — K,fto~N.

Необходимо учесть, что У,- зарядов из числа Уг0 можно выбирать CNMl = ---- — -----способами. Поэтому вероят­

ны У;!(Уд>—У/)!

электродах,

ность того, что Уj

зарядов соберется на

равна

 

 

Р (У,) =

10x f ‘ (1 - х /* » - ^ .

(5.51)

162

Формула (5.51) описывает биномиальный закон рас­ пределения вероятностей числа собираемых зарядов. Расчет флюктуаций случайных величин, подчиняющихся этому закону, широко известен [32]. Поэтому мы запи­ шем без вывода

о (Nt) = 1 ^ . ( 1 —~Ni/Ni0) .

(5.52)

Отсюда флюктуации тока при строго постоянном зна­ чении числа образующихся зарядов равны

- i r V

V

 

Nio J1 =

- У % - 0 -

/ * )

,

(5.53)

 

а флюктуации доли собираемых зарядов

т £ г ( ’

/ ф )■

(5.54)

 

 

 

Подставив уравнение (5.53) или уравнение (5.54) в выражение (5.50), получим окончательное выражение для флюктуаций тока проводимости:

а(/)

■ /

е(Я(+ ») >1

+

е!ф

____{ф_\

(5.55)

 

 

 

 

 

Atl„

 

At

^нас J

 

 

 

 

 

 

Проанализируем полученную формулу. Важно опре­ делить, какой из двух рассматриваемых процессов — об­ разование зарядов или их рекомбинация — определяет в основном статистические флюктуации в режиме тока проводимости. Как и следовало ожидать, с приближе­ нием к току насыщения (7ф->-/нас) флюктуации тока определяются главным образом флюктуациями числа образующихся зарядов, так как второе слагаемое под корнем в формуле (5.55) стремится к нулю. В этом случае

,/«(<?< + о / |

е (Я1 0

7нас

 

Л</нас

“ Л и с

У

At

(5.56)

 

 

 

и л и , в соответствии с уравнением

(2.24),

 

 

 

а(/) =

(/ф//нас)а(/нас).

 

(5.57)

И* 163

При малых же степенях насыщения (/ф//Нас<§с1) опре­ деляющими могут стать флюктуации доли собираемых зарядов, так как при /ф-»-0 первое слагаемое умень­

шается пропорционально Iф, а второе — У / ф.

Можно оценить, при каких степенях насыщения опре­ деляющими являются те или иные виды флюктуаций. Для этого разделим первое слагаемое под корнем фор­

мулы (5.55) на второе:

 

 

(5.58)

Из выражения (5.58)

следует, что при / нас //ф > ^ + 2

основную роль играют

флюктуации доли собираемых

зарядов, а при /нас//ф< < 7 + 2 — флюктуации числа обра­ зующихся зарядов. Ранее отмечалось, что оптимальным по чувствительности и линейности является такой режим детектирования, при котором / Ф^0,85/Нас, т. е. по край­

ней мере /нас/Лф<2. Значение

же qi + 2

всегда много

больше 2, так как <7i3>l [см.

формулу

(2.25) и далее

числовую оценку].

 

 

Таким образом, в описании статистических флюктуа­ ций тока при электронозахватном детектировании доста­ точно ограничиться формулой (5.56). В этом случае зависимость флюктуаций от напряжения подобна вольт-амперной характеристике детектора.

Полученные результаты относятся только к статисти­ ческим флюктуациям. На практике флюктуации тока часто определяются колебаниями напряжения питания, температуры, давления и состава газа. Наибольший ин­ терес представляют флюктуации тока, связанные с коле­ баниями температуры и давления газа, так как стаби­ лизация напряжения питания и состава газа до

необходимого

уровня обычно легко достижима.

В режиме

тока проводимости колебания плотности

газа, связанные с изменениями температуры и давления, будут вызывать флюктуации не только числа образую­ щихся зарядов, но и доли собираемых зарядов х,. Когда излучение p-источника полностью поглощается газом, колебания плотности газа не должны вызывать флюк­ туаций числа образующихся зарядов, потому что, хотя изменение плотности газа и влияет на длину пробега Р-частицы, число пар ионов, образующихся на полной длине пробега, при этом не изменяется. Доля же соби­

164

раемых зарядов значительно зависит от изменения плот­ ности газа, так как плотность газа влияет на скорость и подвижность ионов и электронов, а следовательно, и на скорость их рекомбинации. Поэтому при переходе от тока насыщения к току про­

водимости

можно

ожидать

 

 

 

2

4*

возрастания

флюктуации.

 

 

 

 

1,6

 

 

 

 

4*

Флюктуации

тока

должны

 

 

 

 

 

 

 

 

 

быть

максимальны в обла­

 

 

 

 

I»*—

сти

максимальной

чувстви­

s

 

 

/А

V ?

тельности

тока проводимо­

54*

 

 

1

сти к

изменению

плотности

о

 

 

/ )г

 

 

газа.

При

малых

же значе­

0,4

И у

 

 

0,5

ниях

доли

собираемых за­

 

 

 

о

рядов (/ф//„ас->-0) ДОЛЖНО

О

50

100

150

200

и,0

наблюдаться

падение флюк­

 

 

 

 

 

 

туации, так как само значе­

Рис. 41. Зависимость фонового

ние Кг стремится к нулю.

тока

( I)

и флюктуаций тока

Описанная

закономер­

(2)

от

напряжения

между

электродами

электронозахват­

ность наблюдалась нами при

ного

детектора

(режим тока

работе

с

электронозахват­

 

проводимости).

 

ным детектором с тритиевым источником. На рис. 41 показаны вольт-амперная харак­

теристика детектора и зависимость флюктуаций тока от

напряжения при постоянной времени

измерительной

цепи т=1 сек. Флюктуации тока имеют

максимальное

значение при /ф//цас = 0,5. Если напряжение уменьшает­ ся, флюктуации тока стремятся к нулю, а при переходе к току насыщения — к постоянному значению, характер­ ному для этого режима.

5.9. ПОРОГ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ. СВЯЗЬ С АКТИВНОСТЬЮ ИСТОЧНИКА

Повышение активности источника «р приводит к уве­ личению сигнала электронозахватного детектора и флюктуаций тока. Важно знать, как влияет увеличение активности источника на порог чувствительности Смпн.

Пусть флюктуации тока определяются лишь стати­ стикой образования и сбора зарядов, т. е. напряжение питания, температура, давление и состав газа-носителя достаточно хорошо стабилизированы. В этих условиях флюктуации тока проводимости описываются форму­ лой (5.56). Если опыты с разными источниками про­

165

водить в оптимальном режиме, то, как это было пока­ зано выше, во всех опытах фоновый ток будет соответ­ ствовать примерно одинаковым степеням насыщения, т. е. можно считать /ф//нас—const. Тогда при увеличении активности источника флюктуации тока будут возра­

стать пропорционально У /„ас, т. е.

о (/) ~ ]/ц р .

(5.59)

Чувствительность же детектора будет возрастать

пропорционально (д1ф/ди) 11у

[см. формулы

(5.30) и

(5.35)]. Найдем связь величины (д1ф/ди)1'у

с «р.

Если /ф//цас= const, то с

увеличением п р

фоновый

ток возрастает пропорционально току насыщения, по­ этому

Ар — /нас — Яр-

(5.60)

Теперь необходимо найти зависимость дифференциаль­ ной проводимости д1ф/ди от пр. Наиболее просто это сделать для случая слабой равномерной ионизации и слабого электрического поля. Если ток проводимости описывается законом Ома [см. уравнение (1.54)], то проводимость пропорциональна скорости образования зарядов. Тогда

д1ф/ди = 1ф/и ~ У У ~ У щ .

(5.61)

Из уравнений (5.60) и (5.61) следует, что чувствитель­ ность детектирования в режиме закона Ома

, д/ф

1

Л ---- — Щ-

(5-62)

Она сильнее зависит от активности источника, чем флюктуации тока. Поэтому в данном режиме

С м и н

------------ —1 .

(5.63)

 

У п$

 

Рассмотрим теперь более важный случай сильной ионизации и высоких степеней насыщения, когда закон

166

Ома не выполняется. Общего, удобного для анализа выражения вольт-амперной характеристики ионизацион­ ной камеры, к сожалению, не существует. Поэтому мы воспользуемся следующей, достаточно точно выполняю­ щейся закономерностью несамостоятельного разряда.

Если вольт-амперные характеристики данной иони­

зационной камеры

(т. е.

детектора) с определенным

газом-носителем построить

в

V

координатах

ш—

( R — сопротивление

разряда

на участке, где

выпол­

няется закон Ома: R=U/l), то характеристики, полу­ ченные с источниками размой активности, опишутся одной кривой [22], т. е. функция

 

^/Я /н.с =

/(/ф//н.с)-

(5‘64)

не зависит от / нас,

следовательно и от щ.

Продифференцировав левую и правую части выра­

жения (5 .6 4 ) по /ф , получим

 

 

d U

1

^ ( / ф//нас)

1

д ! Ф

R I нас

д ( /ф //нас)

(5 .6 5 )

^нас

Отсюда

 

 

 

 

9U

(1ф!1аас)

(5 .6 6 )

 

д!ф

д(/ф//нас)

 

 

Очевидно, при / ф,/7Нас= const д /(/ф /У „ а с )/< Э (/Ф//н а с ) также

постоянна и не зависит от «р. Поэтому при изменении активности p-источника дифференциальное сопротивле­ ние разряда dUjdlф изменяется так же, как сопротив­ ление в режиме закона Ома, т. е.

dUldlФ- R = UII ~ 1/|/цр .

(5.67)

Отсюда искомая дифференциальная проводимость раз­ ряда при постоянной степени насыщения связана с ак­

167

тивностью источника зависимостью вида

д1ф1ди ~ У щ .

(5.68)

Таким образом, при сильной ионизации и больших сте­ пенях насыщения, так же как и в режиме закона Ома, чувствительность растет пропорционально /гр, в то время

как флюктуации тока пропорциональны)/" Щ , т. е. при увеличении активности источника значение минималь­ ной детектируемой концентрации уменьшается в соот­ ветствии с формулой (5.63).

Г Л А В А

6

ДЕТЕКТИРОВАНИЕ В БИНАРНЫХ ГАЗАХ-НОСИТЕЛЯХ

6.1.ОБЩИЕ ЗАМЕЧАНИЯ

Впредыдущих главах анализ методов детектирова­ ния строился в основном на изучении закономерностей электрического разряда в бинарных газовых смесях, т. е.

принималось, что газ-носитель не содержит примесей. В реальных условиях в газе-носителе всегда присут­ ствуют примеси, поэтому теория радиоионизационного детектирования должна учитывать закономерности элек­ трического разряда в многокомпонентных разбавленных смесях.

Характер влияния примесей в газе-носителе на зако­ номерности детектирования различен. Во-первых, при­ меси могут практически не влиять на характеристики детектирования, по крайней мере, в некоторых преде­ лах изменения концентрации компонентов газовой смеси. В этом случае требуется знать верхний уровень содержания примесей и принимать необходимые меры к поддержанию нужной степени чистоты газа-носителя. Примером служит детектирование по сечениям иониза­ ции. Изменение состава газа-носителя влияет на вели­ чину (sa — sa)/s3, определяющую сигнал детектора. Если это изменение не ухудшает точности хроматографиче­ ского анализа (обычно относительная погрешность из­ мерения составляет 1—5%), наличие примеси в газеносителе не опасно.

Характеристики детектирования могут значительно зависеть от примесей, хотя сущность метода при этом

ине изменяется. Такое влияние бывает положительным

иотрицательным. Примесь может повышать или сни­

жать чувствительность, одновременно или независимо от этого увеличивая или уменьшая линейный диапазон детектирования. Наличие примеси усиливает или ослаб­ ляет побочные для данного метода детектирования про­

169

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ