Скачиваний:
35
Добавлен:
23.04.2022
Размер:
4.96 Mб
Скачать

t

 

t

 

 

t

 

 

 

 

 

 

 

 

t2

 

 

 

 

 

Р(t)=1f (t)dt =1

 

 

 

 

 

exp

 

 

 

 

 

 

 

 

=

σ

2

 

2σ

2

dt

0

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

t 2

2σ2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

t2

 

 

 

 

 

 

exp (x)dx = exp

 

 

 

 

 

 

=1

 

 

 

 

 

 

;

 

 

2σ

2

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

λ (t)=

f (t)

=

 

t

;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

P (t)

 

 

σ2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

t2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

π

 

T1 = P (t)dt =

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

exp

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

.

 

2 σ

dt = σ

2

0

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

При вычислении использован табличный интеграл

exp(a2 x2 )dx =

π

, при а > 0.

0

2a

 

 

 

(2.59)

(2.60)

(2.61)

Зависимости основных количественных характеристик надежности для распределения Релея приведены на рис. 2.13. Из формулы для интенсивности отказов видно, что эта интенсивность растет линейно с течением времени. Поэтому распределение Релея применимо для описания характеристик надежности объектов с явно выраженным эффектом старения, например электровакуумных приборов.

λ (t)

λ (t)

 

 

P(t)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1,0

 

 

f (t)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

f (t)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

t

0

t

Рис. 2.13. Зависимости λ (t),

f (t),

P (t) для распределения Релея

141

Пример 2.15. Время работы изделия до отказа (например, некоторых электровакуумных приборов) подчиняется закону распределения Релея. Требуется вычислить количественные характеристики надежности изделия P(t), a(t), λ(t), Т1* для t = 500, 1000, 2000 ч, если параметр распределения σ =1000 ч.

Решение.

1. По формуле (2.59) определяем вероятность безотказной работы для t = 500 ч:

P(500) = exp(–5002/(2·10002) = 0,88.

По формуле (2.58) определим частоту отказа:

a(500) = 500/10002exp(–5002/(2·10002) = 0,44·10–3 ч–1.

По формуле (2.60) определим интенсивность отказа:

λ(500) = 500/10002 = 0,5·10–3 ч–1.

По формуле (2.61) определим среднее время до отказа:

Т1 = 1000 · π2 = 1253 ч.

2. Аналогично определим параметры надежности для t = 1000 ч:

P(1000) = exp(–10002/(2·10002) = 0,606;

a(1000) = 1000/10002exp(–10002/(2·10002) = 0,606·10–3 ч–1; λ(1000) = 1000/10002 = 10–3 ч–1.

3. t = 2000 ч:

P(2000) = exp(–20002/(2·10002) = 0,1353; a(2000) = 2000/10002exp(–20002/(2·10002) = 0,27·10–3 ч–1.

λ(2000) = 2000/10002 = 2·10–3 ч–1.

Из примера видно, что данные электровакуумные приборы имеют низкую надежность и практически могут работать в течение времени t < 500 ч.

142

Гамма-распределение используется при оценке надежности объектов в начальный период эксплуатации, при исследовании надежности электромеханических объектов, высоконадежной электронной аппаратуры с интенсивностью отказов, уменьшающейся во времени. Оно описывает также распределение времени отказов объектов, резервированных способом замещения, если наработка на отказ основного и резервного объектов следует экспоненциальному закону.

Плотность гамма-распределения задается выражением

f (t)=

λ20

 

tk –1exp (λ0t),

(2.62)

Г(k )

 

 

 

где Г(k) = (k–1)! гамма-функция, определяемая по формуле

 

 

 

 

Г(k )= uk 1eudu .

 

 

 

 

0

 

В теории надежности

гамма-распределение

используется

при целом k. При k > 1 гамма-распределение является распределением суммы k независимых случайных величин, каждая из которых имеет экспоненциальное распределение с параметром λ0 =1T1 .

Для такого распределения

 

 

 

 

(λ0 t)k1

 

 

 

 

 

 

 

 

f (t) = λ0

 

 

 

exp (−λ0 t),

(2.63)

 

(k 1)!

t

 

 

 

 

 

λk0

t

 

 

 

 

 

 

Р(t)=1f (t)dt =1

tk 1eλ0t dt =

 

(k 1)!

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k1

 

 

i

 

 

 

 

= exp (− λ0 t)

(λ0t)

 

 

,

 

 

(2.64)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

i=0

i !

 

 

 

 

 

 

λ (t)=

f (t)

=

 

λ0 (λ0 t)k 1

 

 

,

(2.65)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

P (t)

 

 

k 1

(λ0 t)

i

 

 

 

(k 1)!

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

i =0

 

i !

 

 

 

 

143

k

 

 

T1 = P(t)dt =

.

(2.66)

 

0

λ0

 

Дисперсия времени безотказной работы

Д =1 λ20 . Математи-

ческое ожидание числа отказов n на интервале времени, равном t,

составит n = λ0t.

Параметр формы k характеризует асимметрию и эксцесс гаммараспределения. В зависимости от его величины существенно изменяется вид основных количественных характеристик надежности. Зависимости f (t), λ(t) и P(t) приведены на рис. 2.14, из которого видно, что при k = 1 гамма-распределение превращается в экспоненциальное распределение. При k >1 интенсивность отказов возрастает, а при k < 1 – убывает.

f (t)

 

 

k < 1

λ(t)

 

 

k >1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k = 1

 

 

 

k = 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k >1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k < 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

t

0

 

 

t

 

 

 

Р(t)

 

 

k > 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k = 1

 

 

 

 

 

 

 

k < 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

t

Рис. 2.14. Зависимости λ (t), f (t), P (t) для гамма-распределения

144

Пример 2.16. Наработка некоторого элемента до отказа имеет гамма-распределение с параметрами k = 3 и λ0 = 0,05. Определите вероятность безотказной работы элемента и интенсивность отказов при наработке, равной 24 ч.

Решение. Используя формулу (2.64), определяем

2

(0,05 24)

k

exp (0,05

24)

 

P(24)=

 

= 0,88 .

 

 

k !

 

 

k =0

 

 

 

 

 

С помощью формулы (2.63) вычисляем

f

(24)=

(0,05)3 242 exp (0,05 24)

= 0,011.

Г(3)

 

 

 

 

По формулам (2.65), (2.66) получаем

λ (24)=

f (24)

=

0,011

= 0,0125 отказа/ч,

P (24)

 

0,88

 

 

 

 

 

 

 

 

 

T =

3

 

= 60 ч.

 

 

 

 

 

 

 

 

1

0,05

 

 

 

 

 

 

При исследовании характеристик надежности полупроводниковых приборов, при ускоренных испытаниях объектов в форсированных режимах, при анализе надежности объектов в период приработки используется распределение Вейбулла. Модель надежности Вейбулла, называемая также моделью Вейбулла–Гнеденко, была предложена шведским ученым В. Вейбуллом в качестве модели прочности материалов, а затем обоснована математически советским ученым Б. В. Гнеденко. Плотность распределения наработки до отказа в этом случае определяется выражением

f (t)= a(t) = λ0 k t k 1 exp (− λ0 tk ).

(2.67)

145

Параметр λ0 задает масштаб кривой по оси абсцисс, а пара-

метр k – асимметрию и эксцесс распределения. Ориентировочно значение k = 0,2…0,4 для электронных устройств с убывающей функцией интенсивности отказов и k =1,2…1,4 для механических устройств с возрастающей функцией интенсивности отказов.

Для распределения Вейбулла основные количественные характеристики надежности выражаются следующими формулами:

t

t

P (t)=1f (t)dt =1λ0 k tk 1e−λ0t k dt =1+ eλ0t k

0

0

 

λ (t)=

f (t)

= λ0 k tk –1

 

P (t)

 

 

 

 

t

t

 

 

 

T1 = P (t)d t = exp (−λ0 tk )d t =

0

0

 

 

 

;

Γ1 +1k

1

λk0

t0 = eλ0t k ; (2.68)

(2.69)

,(2.70)

где Ггамма-функция.

Дисперсия времени безотказной работы

 

2

 

2

1

 

 

 

Г

 

+1 – Г

 

 

 

+1

 

 

 

 

 

 

Д =

k

 

 

k

 

.

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

λk0

Зависимости основных количественных характеристик надежности от времени приведены на рис. 2.15. Из рисунка видно, что при k = 1 распределение Вейбулла превращается в экспоненциальное распределение. При k > 1 интенсивность отказов начинается с нуля и с течением времени возрастает. При k < 1 интенсивность отказов начинается с +и в области больших t стремится к нулю. При соответствующем подборе параметра k можно с помощью закона Вейбулла описывать надежность и стареющих элементов,

146

у которых λ0(t) возрастает, и надежность элементов, имеющих скрытые дефекты, у которых λ0(t) убывает с течением времени. Закон Вейбулла очень удобен для вычислений, но связан с эмпирическим подбором параметров λ0 и k для имеющейся зависимости λ0(t).

f(t)

 

k<1

λ(t)

 

 

 

k>1

 

 

 

 

k=1

 

 

 

 

k=1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k>1

 

 

 

 

k<1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

t

0

 

 

 

t

0

 

 

 

 

Р(t)

 

 

k>1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

k=1

 

 

 

 

 

 

 

 

k<1

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

t

 

 

 

Рис. 2.15. Зависимости λ (t),

f (t), P (t) для распределения Вейбулла

Пример 2.17. Наработка некоторого элемента до отказа имеет распределение Вейбулла с параметрами k = 4, в интервале времен от 1000 до 2000 ч. Найти вероятность безотказной работы элемента и интенсивность отказов при наработке, равной 1500 ч.

Решение. Подставляя заданные значения в формулу (2.68), получаем

 

1500 −1000

4

 

 

P(1500) = exp −

 

 

 

= exp(− 0,0625) = 0,939 .

2000 −1000

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

147

С помощью формулы (2.69)

находим

искомую интенсив-

ность отказов:

 

 

 

 

 

λ(1500) =

4(1500 1000)41

=

4 5003

= 0,0005 отказа/ч.

(2000 1000)4

10004

 

 

 

 

 

Пример 2.18. Время безотказной работы устройства подчиняется закону Вейбулла с параметрами k = 1,5 λ0 = 10–4 ч–1, время работы t = 100 ч. Требуется вычислить количественные характеристики надежности устройства.

Решение. Определим вероятность безотказной работы по фор-

муле (2.68)

Р(100) = exp(–10–4·1001,5) = 0,9.

Частота отказов определяется по формуле (2.67):

а(100) = 10–4·1,5·1000,5·0,9 = 1,35·10–3 ч–1.

Интенсивность отказов определяем по формуле

λ(100)=

a(100)

 

=

1,35 103

=1,5 103

ч–1.

 

 

 

P(100)

0,9

 

 

 

 

Вычислим среднюю наработку до первого отказа по формуле (2.70). Вычислим вначале значение гамма-функции. В нашем случае х = (1/k)+1 = (1/1,5)+1 = 1,67, тогда Г(х) = 0,9033. Подставляя значение Г(х) и параметры распределения λ и k в выражение для Т1, получим

Т1 = 0,9033/(10–4)1/1,5 = 418 ч.

Пример 2.19. Определить вероятность безотказной работы устройства для экспоненциальной модели и модели Вейбулла через 105 ч работы при условии, что Р = 0,99 за время работы t = 1000 ч.

Решение. В случае экспоненциальной модели интенсивность отказов λ = 10–5 ч–1.

148

В случае модели Вейбулла при k = 0,5 λ0 = –lnP(t)/tk = 0,000316. Следовательно, через 105 ч работы вероятность безотказной ра-

боты, прогнозируемой

по экспоненциальной модели, равна

Рэ = exp(–10–5·105) = 0,37.

Прогноз по модели Вейбулла Рв =

= exp(–0,000316·102,5) = 0,905. Следовательно, выбор правильной модели надежности не безразличен для практики.

Выбор модели надежности – сложная научно-техническая проблема. Она может быть удовлетворительно решена стандартными методами математической статистики, если имеется большой статистический материал об отказах исследуемых объектов. В случае приближенных оценок часто выбирается экспоненциальная модель как наиболее удобная с точки зрения аналитических преобразований. Экспоненциальную модель рекомендуется применить при выполнении расчетов надежности в случае отсутствия других исходных данных для расчета, кроме интенсивности отказов. В случае наличия более полных исходных данных целесообразно пользоваться другой, более точной моделью, например моделью Вейбулла.

На этом заканчивается нахождение распределений наработки до отказа и соответствующих им вероятностей безотказной работы и интенсивностей отказов.

2.6. Построение эмпирической функции распределения

Предполагается, что известен закон распределения времени работы элемента до отказа

F (t)= P{T1 t},

где T1 случайная наработка до первого отказа; F(t) – функция распределения времени работы до первого отказа.

Если функция F(t) задана в ступенчатом виде (рис. 2.16), то среднее время наработки до отказа определится по формуле

 

T1 = [F(ti +1 )F(ti )] ti+1

(2.71)

i =0

149

F(t)

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

F(ti)

i

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

F(t3)

3

 

 

 

 

 

F(t2)

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

F(t1)

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

t = 0

t1

t2

t3

 

t

 

Рис. 2.16. График

 

 

к пояснению формулы (2.71)

 

1

1–F(t)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1–F(t1)

 

 

 

 

 

 

1–F(t2)

 

 

 

 

 

 

1–F(t3)

 

 

 

 

 

 

1–F(t4)

 

 

 

 

 

 

 

1

2

3

 

i

 

t = 0 t1

t2

t3

 

ti

t

Рис. 2.17. График к пояснению

 

 

 

формулы (2.72)

 

или также в виде ступенчатой функции (рис. 2.17) по формуле

T1 = P(ti )(ti+1 ti ). (2.72)

i=0

Винтервале ti ≤ t ≤ ti+1 для дискретного распределе-

ния интенсивность отказов λ(t) имеет вид

λ(t)= F( (ti+1 ))F((ti )) . (2.73)

ti+1 ti F ti

Пример 2.20. При испытаниях N = 35 элементов после каждого часа фиксировалось число произошедших отказов. Результаты этих испытаний и расчетов сведены в табл. 2.7, 2.8.

Таблица 2.7

Результаты испытаний

Момент времени, ti

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Число отказов, n(ti)

0

3

3

5

8

7

6

2

1

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

150