- •Сборник лекций по курсу общей оптики
- •§ Фотометрические понятия и величины
- •§ Эволюция оптических теорий
- •§ Шкала электромагнитных волн
- •§ Особенности видимого диапазона
- •§ Электромагнитные волны (волновое уравнение)
- •§ Плоские волны
- •§ Сферические волны
- •§ Плоские гармонические волны. Волновой вектор
- •§ Представление гармонических волн в комплексном виде
- •§ Свойства элементарных и гармонических волн
- •§ Эффект Доплера
- •§Плотность потока энергии электромагнитной волны. Гауссов пучок.
- •§Импульсы электромагнитной волны
- •§ Давление света
- •§ Суперпозиция световых волн
- •§ Поляризация электромагнитных волн
- •§ Преломление и отражение на границе двух плоских диэлектриков
- •I. Законы геометрической оптики
- •III. Формулы Френеля
- •§ Полное внутреннее отражение
- •§Энергетические соотношения падающих, отражённых, преломленных волн
- •§ Элементы геометрической оптики
- •§ Виды оптических систем
- •§ Аберрации оптических систем
- •§ Условия наблюдения интерференции
- •§ Осуществление когерентных источников в оптике
- •§ Таутохронизм оптических систем
- •§Расчёт интерференционной картины от 2 когерентных источников
- •§ Многолучевая интерференция
- •§ Интерференция в параллельных лучах на клине
- •§ Эталон Фабри-Перо
- •§ Просветление оптики
- •§ Принцип Гюйгенса-Френеля. Метод зон Френеля
- •0 (В силу малости)
- •§Дифракция Френеля на круглом отверстии и экране. Зонная пластинка
- •§ Графическое вычисление амплитуды
- •§ Дифракция на крае полуплоскости
- •§ Дифракция в параллельных лучах
- •§ Распределение интенсивности в фокальной плоскости линзы при дифракции на одной щели
- •§Геометрическое вычисление интенсивности в фокальной плоскости
- •§ Дифракционная решётка
- •§ Наклонное падение лучей на решётку
- •§ Дифракция на многомерных структурах
- •§ Физические основы голографии
- •§ Двойное лучепреломление
- •§ Объяснение двойного лучепреломления на основании анизотропии диэлектрических свойств кристалла
- •§ Построение Гюйгенса в одноосных кристаллах
- •§ Получение поляризованного света. Поляризационные приборы
- •§ Получение и исследование эллиптически поляризованного света
- •§ Интерференция поляризованных лучей (хром. Поляризация)
- •§ Искусственная анизотропия
- •§ Вращение плоскости поляризации
- •§ Рэлеевское рассеяние
- •§ Комбинационное рассеяние света
- •§ Нормальная и аномальная дисперсия
- •§ Основы электронной теории дисперсии
- •§ Поглощение света. Закон Бугера-Ламберта-Бера
- •§ Фазовая и групповая скорости
- •§ Лучеиспускательная и поглощательная способность тела. Закон Кирхгофа.
- •§ Закон Стефана-Больцмана.Закон Вина. Формула Рэлея-Джинса
- •§ Формула Планка
- •§ Фотоэффект
- •§ Элементарная квантовая теория излучения (спонтанное и вынужденное излучение)
- •§ Инверсная населённость
- •§ Условия, необходимые для создания лазера
§ Многолучевая интерференция
Д ля наблюдения интерференции не обязательно наличие двух источников, её можно наблюдать и в природе. Интерференция в параллельных лучах на плоскопараллельной пластине. AD-волновая поверхность. Лучи 1 и 2 дают интерференцию в отраженном свете. Лучи 1 и 2 дают интерференцию в проходящем свете:
AB=BC= ;
=
Разность хода лучей 1 ,2 через угол преломления.
Поскольку на практике удобнее выражать Δ1’2’ через угол падения, то
(2)
– min в отраженном свете
Из выше сказанного следует:
Если пластинка лежит на материале удовлетворяющем условию nм>nпл>nср
1) то в этом случае луч 1 испытывает в точке В потерю полуволны на отражение =>
2) в отраженном свете при условии nпл>nср
3) в прошедшем свете при условии nм>nпл>nср
4) если пластинку освещать расходящимися лучами, то интерференционная картина будет иметь вид замкнутых кривых, разность хода для которых зависит только от угла => эти кривые называют полосами равного наклона.
§ Интерференция в параллельных лучах на клине
Разность хода между двумя ближайшими максимумами
– ширина интерф. полосы.
Такую интерференционную картину называют полосами равной толщины.=
Их частным случаем являются кольца ньютона которые образуются на воздушном клине возникающим между сферической поверхностью выпуклой линзы и плоскопараллельной пластиной.
Интерференционная картина наблюдаемая в отраженном свете и из соображений симметрии следует, что интерференционная картина будет иметь вид темных и светлых концентрических колец.
Частным случаем (5) является случай когда а=0
По аналогии можно найти
Наблюдение колец ньютона можно использовать для измерения показателя преломления а также оценки качества обработки линзы.
§ Эталон Фабри-Перо
Э талон(интерферометр) Фабри-Перо состоит из двух пластин ограничивающих плоско-параллельный слой воздуха, пластины I, II имеют слегка клиновидную форму для того чтобы интерференционные картины на самих пластинах не накладывались на интерференционную картину получаемую в условиях воздуха. +помогает избегать бликов в наблюд. области.
Внутренние поверхности пластины покрыты зеркальным слоем с коэф.отражения порядка 90…98%.
Внутренняя поверхность пластинки может быть обработана с точностью до 0,01λ.
Пластины зафиксированы между собой с помощью распорных колец, облад. очень низким коэффициентом температурного расширения.
Задача: посчитать оптич разность хода между лучами 1’ и 2’.
В случае нормального падения( и можно наблюдать наивысшии порядки интерференции
В случаи эталона Фабри-Перо наивысшие порядкиинтерф. наблюд. в центре картины.
При t=0,5 cм λ=5*10^(-7)м .
Вышесказанное справедливо для монохроматического излучения; в случае использования немонохроматического источника в фокальной плоскости линзы будут наблюдаться чередующиеся цветные кольца для разных λ.
При такой интерференции может случиться, что в N порядке на кольцо λ1 наложено кольцо λ2 из N+1 порядка.
Минимальная разность длин волн наблюдается в центре картины=>
– постоянная интерферометра.
Если направить на интерферометр световой поток со средней длиной волны λ,то спектральный интервал в котором интерф.картины не будут пере…ваться не будет превышать
Эталон Фабри-Перо обладает большой дисперсией(способ разлаг в спектры) и как следствие обладает большой разреш способностью но малой областью свободной дисперсии( малая величина)
Способность прибора видеть две близких спектральных линии раздельно называют разрешающей способностью.
R-коэф отражения.
И нтерферометр Фабри-Перо используется для разложения света в спектр на очень узком спектральном интервале. Используется с предварительными монохроматорами.