- •Напівпровідникові прилади Загальна характеристика напівпровідників
- •Типи переходів
- •Властивості несиметричного p-n-переходу
- •Пряме вмикання p – n – переходу
- •Зворотне вмикання p – n – переходу
- •Перехід метал – напівпровідник (перехід Шоткі).
- •Властивості реальних p–n–переходів
- •Пробій p-n-переходів
- •По перетворювальній потужності
- •Основні характеристики і параметри діодів
- •Випрямні площинні діоди
- •Германієві діоди
- •Кремнієві діоди
- •Високочастотні діоди
- •Імпульсні діоди
- •4)Температурний коефіцієнт
- •Тунельні діоди
- •Частотні властивості тунельних діодів.
- •Температурна залежність параметрів тунельного діода
- •Частотні властивості варикапів
- •Позначення діодів
- •Транзистори
- •Біполярні транзистори
- •Принципи роботи та фізичні процеси в транзисторі
- •Схеми вмикання транзисторів
- •Характеристики транзистора ввімкненого зі спільною базою
- •Вхідні вольт-амперні характеристики схеми з спільною базою
- •Вихідні вольт-амперні характеристики схеми з спільною базою
- •Характеристики передачі струму схеми зі спільною базою
- •Характеристики зворотного зв’язку у схемі зі спільною базою
- •Характеристики транзистора ввімкненого по схемі з спільним емітером Вхідні вольт-амперні характеристики схеми зі спільним емітером
- •Вихідні вольт-амперні характеристики схеми зі спільним емітером
- •Характеристика передачі струму
- •Характеристики транзистора по схемі зі спільним колектором
- •Транзистор як еквівалентний чотириполюсник
- •Система z – параметрів
- •Фізичне значення z – параметрів:
- •Система y – параметрів
- •Система h – параметрів
- •Зв’язок між системами параметрів чотириполюсників
- •Фізична модель транзистора Вольт-амперні характеристики ідеалізованого транзистора
- •Активний режим
- •Режим насичення
- •Режим глибокої відсічки
- •Інерційні і частотні властивості транзистора
- •Інерційні властивості транзистора
- •Частотні властивості транзистора
- •Вплив ємності емітера
- •2. Вплив часу прольоту носіїв через базу
- •3. Вплив сталої часу колектора
- •4. Вплив сталої часу прольоту через від’ємний заряд
- •Частотні властивості реального транзистора
- •Складовий транзистор
- •Пробої транзисторів. Шуми транзисторів.
- •Лавинний пробій
- •Вторинний пробій
- •Шуми напівпровідникових приладів
- •Позначення напівпровідникових транзисторів
- •Структура і принцип роботи польового транзистора з керуючим p-n- переходом
- •Принцип роботи
- •Вольт-амперні характеристики польового транзистора
- •Теоретичний розрахунок вольт-амперних характеристик транзистора з керуючим p-n-переходом
- •Частотні властивості транзистора
- •Польові транзистори з ізольованим затвором
- •Польові транзистори з наведеним каналом
- •Принцип роботи і вольт-амперні характеристики
- •Вихідні вольт-амперні характеристики
- •Характеристики передачі струму
- •Польові транзистори з власним каналом
- •Вихідні вольт-амперні характеристики
- •Розрахунок вольт-амперних характеристик польового транзистора з ізольованим затвором
- •Прилади з зарядовим зв’язком
- •Регістр зсуву
- •Принцип дії приладу
- •Тиристори
- •Принцип роботи та вольт-амперні характеристики тиристора
- •Керовані тиристори
- •Методи переключення тиристора
- •Включення тиристора
- •Виключення тиристора
- •Симетричні тиристори (симістори).
- •Позначення тиристорів та їх параметри
- •Тиристор, як і діод, має декілька позначень
- •Потужні польові транзистори
- •Біполярні транзистори з ізольованим затвором
- •Випромінюючі напівпроводникові прилади
- •Принцип дії та характеристики світло діодів
- •Основні характеристики і параметри лазерів
- •Фотоприймачі
- •Фото діод Фото резистор
- •Фото резистори
- •Основні характеристики і параметри фото резисторів Основними характеристиками фото резисторів є:
- •Фото діоди
- •Оптрони
Характеристики передачі струму
Рисунок 53 Вольт-амперні характеристики передачі струму
Характеристикою передачі струму називають залежність стуму стоку ІС від напруги затвор стік UЗС при постійній напрузі між витоком і стоком. Всі характеристики починаються із однієї точки, якій відповідає UЗ = Uпор., коли створюється канал. Польовий транзистор з ізольованим затвором має великий коефіцієнт підсилення по струму і напрузі, а відповідно і по потужності, тому що на управління майже не витрачається потужність джерела вхідного сигналу.
Механізм підсилення по потужності аналогічний як і в біполярному транзисторі. Під дією електростатичного поля, яке діє повздовж каналу, носії заряду розганяються, забираючи потужність від джерела постійного струму, а за рахунок вхідного сигналу створюється поперечна складова напруженості поля. Ця напруженість завжди діє в протилежному напрямі. Відбувається гальмування носіїв заряду, і за рахунок цього відбувається перетворення енергії постійного струму в енергію змінного струму.
Польові транзистори з власним каналом
Через наявність каналу між витоком і стоком керувати шириною каналу у таких польових транзисторів можна, як позитивною, так і негативною напругою на затворі. Тому такі транзистори працюють як в режимі збіднення, так і в режимі збагачення. Тому вольт-амперні характеристики польового транзистора будуть розташовані вверх і вниз від вольт-амперної характеристики при напрузі на затворі рівній нулю Uзатв=0.
Рисунок 53 Модель польового транзистора з власним каналом
Вихідні вольт-амперні характеристики
Рисунок 54 Вихідні вольт-амперні характеристики
Рисунок 55 Характеристика передачі струму
Розрахунок вольт-амперних характеристик польового транзистора з ізольованим затвором
Структура частини МДН -транзистора, прийнята для розрахунку вихідних статичних характеристик має наступний вигляд
Рисунок 56 Спрощена модель польового транзистора з ізольованим затвором
В транзисторах з ізольованим затвором створюється декілька зарядів, обумовлених рухомими і нерухомими носіями заряду. Нерухомий заряд обумовлений іонізованими атомами на межі розподілу діелектрика і каналу. Рухомий заряд створюється носіями домішки і власною провідністю напівпровідника. Рухомим зарядом, створеним власною провідністю, при розрахунку можна знехтувати.
Струм через канал буде визначатися питомою провідністю і напруженістю електричного поля вздовж каналу. Питома провідність каналу залежить від кількості носіїв, які знаходяться в одиниці об’єму каналу, і ефективної рухливості носіїв в каналі. І вона буде рівна :
– питома провідність
– кількість дірок в квадраті
Тоді враховуючи це будемо мати де
– щільність рухливого заряду
– ефективна рухливість дірок в каналі
Для визначення залежності струму від його параметрів визначимо величину повного заряду електронів в каналі. Повний заряд складається із рухомого заряду, який створюється основними носіями, і нерухомого, створеного іонами. Тобто повний заряд буде рівний:
Знаючи величину заряду, можна визначити величину струму. Струм стоку Іс буде рівний:
де Ех – напруженість електричного поля
γ- питома провідність
b - ширина каналу
Визначимо межі інтегрування для каналу польового транзистора з ізольованим затвором
x → 0 до l
U → 0 до UCB
Для знаходження рівняння крутої частини вольт-амперної характеристики знайдемо величину нерухомого заряду:
;
Крута частина вольт-амперної характеристики буде описуватися рівнянням:
Для пологої частини вольт-амперної характеристики напруга більше, ніж напруга насичення UСВнас, і в першому наближенні можна вважати, що рухомий заряд в каналі не накопичується, тому що струм досягає насичення і всі рухомі носії заряду приймають участь у створенні струму. Тоді можна знайти значення напруги насичення:
Полога частина вольт-амперної характеристики:
Властивості і підсилюючі можливості цього транзистора можна охарактеризувати крутизною вольт-амперних характеристик на крутій і пологій ділянках.
Крута частина вольт-амперної характеристики буде характеризуватися крутизною:
Полога частина вольт-амперної характеристики :
Основною робочою ділянкою вольт-амперних характеристик є полога частина, тому при виготовленні польового транзистора вирішують питання збільшення крутизни, а це можливо за наступних умов.
Напівпровідник, з якого виготовляється транзистор, повинен мати носії з великою рухливістю, тому в більшості випадків у транзисторів використовують напівпровідник для каналу з електронною провідністю (типу n), тому що рухливість електронів більше рухливості дірок.
Крутизну збільшують за рахунок збільшення питомої ємності СЗК, а ця ємність визначається відносною діелектричною проникливістю діелектрика і його товщиною. Збільшення ємності між затвором і каналом СЗК кличе за собою негативні наслідки, тому що збільшуються величини паразитних ємностей між електродами, що погіршує частотні властивості транзистора.
Збільшують ширину і зменшують довжину каналу. Але в цьому випадку теж погіршуються частотні властивості транзистора, тому знаходять компромісне рішення.