18. Эоп групповой сосредоточенной цели.
Основные закономерности вторичного излучения групповой сосредоточенной цели можно выяснить путем исследования вторичного излучения совокупности изотропных вторичных излучателей. ЭОП такой совокупности равна:
где
,
,
− амплитуда и фаза электрического поля
ОС у раскрыва приемной антенны,
создаваемого
-м
вторичным излучателем, и ЭОП последнего.
При
,
очевидно,
При разности фаз
,
кратной нечетному и четному числам
радиан, имеет место соответственно,
взаимная когерентная компенсация,
,
и когерентное сложение
,
отраженных сигналов, создаваемых
одиночными вторичными излучателями
парной цели.
Рис. 7
Разность фаз
в случае парной цели равна
,
где
− диаметр парной цели. При такой разности
фаз описываемая зависимостью
диаграмма вторичного излучения парной
цели является многолепестковой, а
изрезанность ее тем больше, чем больше
отношение
(рис. 7).
В соответствии с рисунком 7
;
;
;
.
Среднее значение ЭОП парной цели
при равномерно распределенной случайной
разности фаз
,
,
равно сумме ЭОП одиночных вторичных
излучателей:
Этот результат соответствует случаю некогерентного суммирования ОС от одиночных вторичных излучателей парной цели.
Среднее значение ЭОП групповой цели,
состоящей из произвольного числа
изотропных вторичных излучателей,
определяется выражением
.
Диаграмма обратного вторичного излучения
такой цели имеет еще более сложную, чем
у парной цели многолепестковую структуру.
Причем изрезанность этой диаграммы
увеличивается с ростом отношения
линейных размеров цели к длине волны.
Рассмотренные закономерности вторичного
излучения групповой сосредоточенной
цели справедливы и для сложной
сосредоточенной цели, состоящей из
совокупности независимых областей
локального вторичного излучения.
19. Эоп реальной сосредоточенной цели.
Реальные сосредоточенные цели, например, самолеты, ракеты, искусственные спутники земли (ИСЗ), вертолеты и пр. имеют сложную форму. Выпуклые и плоские участки их во многих случаях проводящей поверхности, размеры которых значительно превышают длину волны, создают большое число областей локального вторичного излучения. Кроме того, на поверхностях таких целей существуют также элементы с резонансным вторичным излучением. Все это позволяет по закономерностям вторичного излучения отождествлять большинство реальных сосредоточенных целей с групповыми сосредоточенными целями.
Последнее допущение вполне объясняет
многолепестковый характер экспериментально
полученных диаграмм вторичного излучения
реальных сосредоточенных целей. Такие
диаграммы для самолета, снятые при
и
,
приведены на рис. 8. Ширина их лепестков
пропорциональна отношению длины волны
к наблюдаемым размерам цели, т.е.
.
Видно, что уменьшение длины волны
приводит к сужению лепестков диаграммы
обратного вторичного излучения вторичной
сосредоточенной цели и увеличению
изрезанности этой диаграммы.
Рис. 8
Расчет ЭОП сосредоточенной цели основан
на использовании выражения
и сводится к отысканию амплитуды
электрического поля ОС у раскрыва
приемной антенны РЛС. Однако, практически
такой расчёт удается осуществить лишь
для целей, имеющих сравнительно простые
геометрические формы. Поэтому ЭОП
реальных целей, как правило, определяется
экспериментально и предполагает
измерение амплитуд ОСигналов от
расположенных на одинаковых расстояниях
от РЛС исследуемой и эталонной целей и
расчёт ЭОП по формуле
.
Определяя таким образом ЭОП цели для различных углов ориентации и , можно снять ее диаграмму обратного вторичного излучения.
Экспериментальное определение ЭОП может производиться как по самой цели, так и по ее физической модели. При этом длина волны ЗС уменьшается пропорционально масштабу модели.
В качестве эталонной цели обычно
используется металлический или
металлизированный шар с диаметром,
намного большим длины волны. ЭОП такого
шара равна
.
Для характеристики отражательных
способностей реальных сосредоточенных
целей, расчета дальности действия РЛС
и в целом ряда других случаев используется
усредненные по углам ориентации значения
их ЭОП. При усреднении углы
и
обычно полагаются статистически
независимыми, (их совместная плотность
распределения представляется произведением
соответствующих плотностей, то есть
),
а также равномерно распределенными:
.
С учетом этого среднее значение ЭОП определяется как
.