Основные характеристики тестов

Pi,j – вероятность ошибки диагностирования вида: обнаружено i-е а на самом деле объект находится в j-е.

P - вероятность правильного диагностирования.

t0 – средняя оперативная продолжительность диагностирования

C0 – средняя стоимость диагностирования

L – глубина тестирования

Моделирование может быть прямым и обратным.

Прямое – вычисление выходов по известным входам

Обратное – наоборот

Кол-во тестовых наборов – это длина теста l.

Объём теста – произведение длины теста на размерность тестовых векторов, т.е. фактически это память, для хранения теста.

Полнота тестирования – Q=(K/K₀)*100%

Где K₀ – общее кол-во неисправностей данного класса в данном объекте.

K – кол-во неисправностей заданного класса обнаруживаемых тестом.

Надёжность тестирования –

Системы диагностирования и процессы в них.

Решение любой задачи тех. Диагностики необходимо рассматривать в рамках конкретных систем.

Системой диагностирования будем называть совокупность объекта диагностирования, средств диагностирования, средств диагностирования и человека оператора.

Алгоритмические средства – алгоритмы синтеза тестов и алгоритмы проведения тест - эксперимента.

Аппаратные средства – оборудование обеспечивающее контакт с объектом диагностирования.

Всю последовательность действий в рамках системы диагностирования направленную на определение технического состояния объекта, называют процессом диагностирования.[ПД]

В ПД выделяют 2 этапа.

1. Формализация Диагностической Модели (DM –deathmatch). Синтез Tеста

2. Тест – эксперимент. Дешифрация теста.

№ 17. Методы параметрического диагностирования.

Истину глаголят, что существует 3 основных подхода:

• Метод непосредственной оценки – наблюдение по измерительным приборам

• Метод сравнения с эталоном (эталоном может быть объект либо мера)

• Метод замещения

В ходе параметрического диагностирования производятся измерения 3-х видов параметров:

• Токовые параметры (Iвх – входные токи при логическом 0 или 1 на входе, Iвых – выходные токи при логическом 0 или 1 на входе, Iпот-ток потребления)

• Параметры напряжения (Uвх – входное напряжение при логическом 0 или 1 на входе, Uвых – выходное напряжение при логическом 0 или 1 на входе, Uпор - пороговое напряжение перепада 0 1)

• Временные параметры. (t зд - время задержки срабатывания, tзд р – время задержки распространения сигнала, tзд р ср –среднее время задержки распространения сигнала = (tзд р⁰¹+ tзд р¹⁰)/2

Недостатки:

1. Широкий класс неисправностей

2. Сложность получения эталлоных реакций

3. Высокие требования к квалификации обслуживающего персонала

Достоинства:

Близость к реальным физическим процессам объекта диагностирования

№ 18. Детерминированный фунциональный подход к синтезу тестов.

На первом этапе составляется ТФН – таблица ф-ций неисправностей вида

Входы	f0	f1	…	fn
000…0
000…1
111…1

В ТФИ 1-й столбец содержит все возможные входные воздействия 2-й столбец содержит реакцию исправной схемы , каждый последующий – реакцию схемы с внесённой i-й неисправностью. Для заполнения ТФН использует либо модель либо макет устройства, позволяющие вносить и исследовать поведение неисправностей данного класса. Непосредственный синтез теста производится путём решения задачи min покрытия в данной ТФН.

Достоинства:

• Потенциальная возможность аналитического решения задачи, т.е. обнаружения 100% неисправностей заданного класса

• Строгая формализованность метода решения задачи min покрытия

• Для построения теста указанным методом необходимо промоделировать поведение схемы со всеми возможными неисправностями заданного класса

• Построение min покрытия в ТФН может оказаться переборной задачей, т.е. трудоёмкость этого алгоритма возрастает экспоненциально, при линейном возрастании размерности задачи.

№ 19. Детерминированный структурный подход к синтезу тестов.

Наиболее часто встречающимся классом неисправностей кот. приходится исследовать на уровне структурного описания объектов является класс одиночных неисправностей на выводах элементов объекта. Перед началом тестирования необходимо выполнить

• Чётко определить входы и выходы объекта

• Только после этого можно перейти к понятию «функциональности» объекта

• И только потом можно обозначить структуру объекта

Агоритм Роша.

Вводят понятие – перепад на синхровходе - e, т.е. синхроперепады являющиеся специальным условием транспортировки активного сигнала.

Обозначения: p-неактивный перепад из 0 в 1 на выходе эл-та

d-активный перепад из 0 в 1 на выходе эл-та.

Например для D триггера:

S	D	C	R	Q	not Q
1	d	e	1	d	not p
d	x	x	not p	not d	p
1	e	1	d	d	not p
…	…	...	…	…	…

Можно рассмотреть работу элемента как в синхронном так и в асинхронном режиме (Например для того же триггера удерживание 1 на входах R и S заставляет триггер работать в синхронном режиме, иначе триггер работает в асинхронном режиме.

Алгоритм построения каждого набора включает в себя 2 фазы:

• Фаза прямого распространения. Включает в себя все действия, обеспечивающие транспортировку активного перепада от проверяемой точки схемы к наблюдаемым выходам.

• Фаза обратного распространения: включает в себя все действия, обеспечивающие транспортировку всех небезразличных значений сигналов к управляемым выходам схемы.

Т.е. построение тех таблиц вида

dxxxxx11xd1xxx

d 0 not d

dxxxxx11xd10 not d

итд…

№ 21. Методы анализ выходных реакций.

На практике применяют следующие методы анализа выходных реакций:

• Ручной

• Многоразрядное сравнение

• Подсчёт переключений

• Получение Контрольной суммы

• Сигнатурный анализ

Вот пример получения контрольной суммы

Просто, можно не описывать, главное

Выводы:

На практике методами случайного и псевдослучайного тестирования удаётся обнаружить до 60% неисправностей. Применение детерминированных методов позволяет обнаружить до 80% неисправностей, остальное повышение полноты теста возможно неформальными ручными методами.

№ 22. Вероятностный подход к синтезу тестов

Суть этой группы методов состоит в следующем:

• создаётся 100% исправный макет объекта диагностирования

• с помощью случайной или псевдослучайной генерации входных воздействий формируются и запоминаются эталонные воздействия

• эти входные воздействия подаются на «золотой» эталон и фиксируется реакцией исправного объекта

• эти реакции становятся эталонными реакциями теста

Псевдослучайная генерация – целенаправленное управление вероятностью вх. значений сигнала.

Как правило методы случайной генерации используются в сочетании с мощными моделирующими методами.

В этом случае сгенерированная случайная вх. последовательность подаётся на вх. модели устройства с целью исследования полноты тестирования.

Достоинства:

• простота генерации входных воздействий (дешевизна)

• простота тестового оборудования, необходимого для генерации

• невысокие требования к обслуживающему персоналу

Недостатки:

• необходимость «золотого» эталона

• неопределённость полноты тестирования

неформальный эмпирический характер назначений вероятности вх. сигналов при псевдослучайной генерации.

№ 23. Основные подходы к тестированию МП устройств

К примеру если синтез теста производится на базе анализа системы команд МП.

• Все команды у-ва разбить на группы функционально близких команд

• Из каждой группы выделить 1 или несколько наиболее представительных команд

Критерии выбора таковы

При выполнении команды задействовано max кол-во аппаратных средств

или команда является наиболее часто используемой в у-ве.

Тест формируется из выбранной последовательности команд.

№ 24. Предварительное преобразование схем в задачах диагностики.

Предварительное преобразование схем позволяет повысить формальность описания объекта и тем самым повышает эффективность последующих алгоритмов моделирования.

Для преобразования схем БЕЗ контуров обратной связи используют 3 вида ранжирования:

• однородное ранжирование

• ранжирование по модели Хаффмана

• конвейерное ранжирование