Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Физические основы рентгеноспектрального локального анализа

..pdf
Скачиваний:
17
Добавлен:
25.10.2023
Размер:
15.53 Mб
Скачать

ностей к концентрациям элементов, указывающие на существенное значение новых факторов в рентгеноспек­ тральною микроанализе, которыми ранее пренебрегали. Например, очевидно, что анод-шлиф для микроанализ! состоит из микроскопических монокристаллов с различ­ ной ориентацией кристаллографических осей относитель­ но произвольного сечения образца плоскостью шлифа. Поэтому электронный зонд составляет различные углы с определенной кристаллографической плоскостью кристал­ лика или одинаковые углы с различными плоскостями.

В ряде работ сообщались факты изменения интенсив­ ности линий при анализе однородного материала, состояще­ го из монокристалликов, различно ориентированных от­ носительно падающего электронного зонда. О различной ориентации плоскостей монокристалликов шлифа отно­ сительно электронного пучка судили по различной травимости их поверхности. Интенсивность одной и той же ли­ нии характеристического спектра данного элемента меня­ лась при этом на 1—5%. Этот эффект, открытый Данкамбом в 1962 г., обусловлен особенностями интерференции электронных волн в кристалле.

Возможен еще один эффект, связанный с поляризацией характеристического рентгеновского излучения. Оказа­ лось, что в зависимости от ориентации вектора поляриза­ ции относительно оси кристалла-анализатора, в силу поперечного характера электромагнитного излучения мо­ гут полностью или частично гаситься отдельные компо­ ненты излучения с различным пространственным направ­ лением вектора поляризатии. Это приводит к изменению всех параметров линии испускания: положения мак­ симума линии по шкале частот, интенсивности в макси­ муме, индекса асимметрии. Для монокристаллов графита «ориентационный эффект» дает изменение интенсивности в максимуме на 15%, а изменение спектрального поло­ жения может привести к изменению интенсивности в мак­ симуме до 40%, если образец и стандарт отличаются кри­ сталлической структурой и кристаллографические оси анализируемых монокристаллов по-разному ориентиро­ ваны относительно оси кристалла-анализатора.

Статьи 1—6, 8, 9 и 17 настоящего сборника переведены В. И. Рыдником, статьи 10—12, 16, 22, 23 — Ю. Э.Угасте, статьи 7, 13—15, 18—21 — И. Д. Марчуковой.

Докт. физ.-матем. наук, проф. И. В. Боровский

ПОГЛОЩЕНИЕ ЭНЕРГИИ ЭЛЕКТРОНОВ В ТОЛСТЫХ МИШЕНЯХ

В. К ос еле mm

Введение. Теоретический расчет пространственного и спектрального распределения рентгеновского излучения, возбужденного в толстой мишени в условиях, имеющих место при рентгеноспектральном микроанализе, требует детального знания процесса диссипации энергии электронов по мере их проникновения в вещество. Лежащая в основе этого расчета проблема пространственного распределения электронов все еще не решена из-за отсутствия адекватной теории многократного рассеяния. Для ее решения были предложены различные приближенные методы, основан­ ные на использовании упрощенных моделей движе­ ния электронов и подсчете потери ими энергии в твердых телах.

Эти модели базируются на некоторых грубых допущениях относительно важнейших процессов рассеяния электронов, записываемых в виде простых соотношений для уменьшения интенсивности электронного пучка (например, экспонен­ циальный закон Ленарда) и для скорости потери энергии электронами (например, закон Бете). Справедливость этих за­ конов в условиях электронно-зондового анализа, который обычно проводится при энергиях электронов, значительно меньших тех, для каких они были установлены первона­ чально, исследовалась в нашей лаборатории в течение нес­ кольких последних лет. Закономерности проникновения электронов в вещество при энергиях от 5 до 25 кэв были недавно рассмотрены в работе [1]. Настоящая статья пред­ ставляет собой обзор современного состояния вопроса о диссипации энергии электронов, и, в частности, в ней описана попытка получить распределения энергии в тол­ стых мишенях на основе измерений, выполненных на тон­ ких пленках. Теоретический подход к этой задаче с по­ мощью расчетного метода Монте-Карло был сделан Би­ шопом [2] и Грином [3].

Непосредственное экспериментальное изучение дисси­ пации энергии электронов в толстых мишенях является очень трудным делом. Эренберг совместно с Франком [4] и Кингом [5] пытался наблюдать в оптический микро­ скоп распределение интенсивности катодолюминесценции в люминофорах. При этом были велики экспериментальные ошибки и существовала дополнительная возможность миграции возбуждения в решетке, но их данные для лю­ минофоров высокой плотности оказались в хорошем согла­ сии с нашими результатами для меди. Вместо наблюдения видимого излучения для этой цели можно исследовать возбужденное в образцах характеристическое рентгенов­ ское излучение, хотя получить из наблюдений распреде­ ление излучения по глубине можно лишь косвенным путем. Этот подход впервые применили Кастен и Деками [6] в случае медной мишени, и наши результаты отлично согласуются с полученными ими.

Интересно также сравнить наши результаты с теоре­ тическими или эмпирическими законами, обычно исполь­ зуемыми в упрощенных моделях. Мы нашли, что закон Бете для (средних) потерь энергии существенно завышает скорость потерь энергии в толстых мишенях и что закон Томеона — Уиддингтона еще более расходится с опытом (это, впрочем, уже давно было известно). Мы нашли так­ же, что более точная теория Спенсера [7] хорошо согла­ суется с нашими данными для меди и несколько хуже — для золота. Хорошо оправдывается выражение, получен­ ное Ландау [8] для изменения наиболее вероятной энер­ гии электронов по мере увеличения толщины, проходимой ими в пленках.

Теоретические основы. Подробное теоретическое рас­ смотрение диссипации энергии электронного пучка в тол­ стой мишени требует записи полного дифференциального уравнения для электронного потока, учитывающего сече­ ния процессов как упругого, так и неупругого рассеяния. Спенсер [10], используя сечения в форме, предложенной Венцелем, ввел ряд упрощений для получения решения этого уравнения; в частности, он пренебрег разбросом энергии электронов. Спенсер выполнил большой объем численных расчетов для электронного пучка с энергиями от 25 кэв и выше, падающего нормально на полубеско­ нечную среду, и составил таблицы результатов [7] для углерода, алюминия, меди, олова, свинца и полистирола. Нам представляется, что его работа — единственная среди

теоретических работ, правильно учитывающая те дей­ ствительные условия, которые чаще всего встречаются

вэксперименте.

Влитературе описано значительное число более при­ ближенных методов, однако большинство авторов, разра­ батывающих теорию рентгеноспектрального локального анализа, предпочитают для построения своих моделей ис­ пользовать самые простые со­ отношения — законы Бете или Томсона — Уиддингтона. По­ следний из указанных зако­ нов, основывающийся на из­ мерениях, первоначально проведенных Уиддингтоном

[11]на сравнительно толстых

металлических фольгах, обыч­ но записывается в виде

 

E l

-

E l =

bz,

(1)

 

 

 

где

Ер

— наиболее

вероят

 

 

 

ная

энергия

 

электронов,

 

 

 

имевших начальную

энергию

Рис. 1. Энергетическое

распределе­

ние электронов,

прошедших через

Е0,

по прохождении ими фоль­

алюминиевые

пленки

различной

ги толщиной

z.

Множитель

массовой толщины pz при началь­

ной энергии Е 0

= 18 кэв. Обратите

Ь никогда

не

постоянен;он

внимание на то, что по

обе сторо­

ны пунктира разный масштаб оси

меняется от .элемента к эле­

ординат.

 

менту и для каждого из них

 

 

 

зависит от Е0.

Величину Ер наиболее удобно использовать

для характеристики энергии пучка, поскольку она не­

посредственно дает

положение

максимума

энергетическо­

го

распределения

электронов,

проходящих

сквозь фоль­

гу

толщиной z

(рис. 1).

 

 

 

С теоретической точки зрения больший смысл имеет

средняя энергия

пучка

Ет, которую можно определить

соотношением

 

 

 

 

 

 

Ет

=

J N

(E)EdE

I J N(E)dE.

(2)

 

 

 

о

 

о

 

Бете [12] получил квантовомеханическое выражение для скорости потери энергии электронного пучка в веществе в виде зависимости средней энергии от пробега электронов х.

В нерелятивистском приближении оно имеет вид

d (рх)

ЛЕ

где е — заряд электрона,

р плотность, Z — атомный

номер, А — атомный вес вещества, / — ионизационный потенциал, N —число Авогадро. Когда энергия пучка становится меньше энергии ионизации ЛГ-оболочки, Z заменяется на Z — 1,81, а 1 — на / ' , в которое теперь не включается потенциал ионизации Х-оболочки [13]. Наиболее достоверные значения / , по-видимому, полу­ чены Баккером и Сегре [14] и приведены в табл. 1. Следует, однако, отметить, что эти значения найдены из экспери­ ментов при высоких энергиях; значения Г были вычислены

из

I

с помощью метода Ливингстона — Бете. Значения

Іх

в табл. 1 извлечены

из

работ

Раута [15] и Томас

[16].

Средние ионизационные потенциалы

(ее)

Т а б л и ц а

1

 

 

 

 

 

 

 

 

Элемент

 

 

 

 

Потенциал

С

А1

 

Си

A g

Аи

 

 

 

 

 

 

/

75

150

280

420

720

 

 

 

100

220

350

640

 

 

їх

73

120

230

265

400

 

Законы Бете и Томсона — Уиддингтона получены для

двух

различных

величин — соответственно средней и

наи­

более

вероятной

энергий.

Это

различие

не всегда

 

при­

нимается во внимание авторами моделей проникновения электронов в вещество. В начале этого процесса, как видно

из рис. 1, наиболее вероятная

энергия значительно

выше средней — при некоторых

обстоятельствах даже

в 4—5 раз. При дальнейшем проникновении энергети­

ческое

распределение становится почти гауссовым, так

что Ет

и Ер оказываются

примерно равными. Это экс­

периментальное значение Ет

нельзя, однако, сравнивать

со значением, полученным путем интегрирования урав­ нения (3), поскольку в уравнение Бете входит полная длина пробега электрона вместо толщины фольги z, а траекторный пробег электрона в рассеивателе очень трудно определить. Вместе с тем в узкой области толщин

уравнение (3) после

интегрирования

приводит

к квадра­

тичному закону типа Томсона — Уиддингтона,

поскольку

логарифмический член меняется очень медленно.

Выражение, аналогичное закону Бете, было выведено

Ландау [8], однако

оно

связывает

наиболее

вероятную

(а не среднюю) энергию

пучка с толщиной фольги (а не

с полным траекторным пробегом электронов). Оно отли­ чается от (3) другой формой логарифмического члена,

аименно

l n ^ E i

(4)

в нерелятивистском приближении.

По этой причине,

а также вследствие пренебрежения размытием пучка из-за рассеяния, выражение Ландау применимо только для фольг столь малой толщины, что потеря энергии электро­ нами в них мала по сравнению с Е0. По-видимому, вы­

ражение

Ландау

хорошо

обосновано при высоких энер­

гиях электронов

[17], и

наши

результаты показывают

хорошее

согласие с ним

при 18

кэв.

Теории микроанализа, которые пренебрегают разбросом энергий и в качестве параметра выбирают либо наиболее вероятную, либо среднюю энергию, содержат существен­ ную ошибку, особенно при малых избытках напряжения. Примем, например, Е0 = 2Ек- Тогда на глубине, которой отвечает нижняя кривая на рис. 1, мы должны получить Ер ^ Ет ^ Е&. Иными словами, мы должны заключить, что на этой глубине полностью прекращается возбуж­ дение ІГ-серии излучения, хотя на самом деле еще почти

половина

электронов имеет энергии, достаточные для

этого возбуждения.

 

 

 

 

 

Экспериментальные результаты, а) Энергетическое рас­

пределение

в тонких

пленках.

Известно

большое число

измерений

энергетического распределения электронных

пучков по

прохождении

через

тонкие фольги

металлов

и других элементов

как

при низких, так

и при

высоких

энергиях. Обзоры этих экспериментов, в частности, вы­ полнены Боте [18] и Биркхофом [17]. Мы провели изме­ рения на представительной совокупности элементов в области энергий, используемой при микроанализе и в недостаточной степени исследованной в более ранних работах.

Наша работа была выполнена на тонких пленках, полученных методом испарения, с помощью магнитного

бета-спектрометра [ 1 , 9]. Пример полученного энергети­ ческого распределения приведен на рис. 1. Острый пик малых потерь для тонких пленок слегка смещается от элемента к элементу; однако с ростом толщины он смеща­ ется от Е0 быстрее для алюминия, чем для золота.

pz, м/<гсм~

Рис. 2. Графики зависимости квадрата энергии прошедших электронов от мас­ совой толщины пленки при начальной энергии 18 кэв. Ер — наиболее вероят­ ная энергия, Ет — средняя энергия; штриховая кривая отвечает закону Бете для потерь энергии, штрих-пунктирная кривая — закону Ландау для наибо­ лее вероятной потери энергии.

Аналогичные кривые позволили построить зависимость

Ер и Ет

для разных

толщин данного элемента при по­

стоянном значении Е0.

Для сравнения с теорией на рис. 2

приведены

квадраты

этих параметров в зависимости

от массовой толщины; на рис. 2 показаны эти зависимости для алюминия, меди, серебра и золота при Е0 = 18 кэв. Рассмотрение рис. 2 позволяет сделать следующие выводы:

1. Закон Томсона — Уиддингтона

(1)

неудовлетвори­

телен, но приближенно

выполняется

для толстых

пленок

данного

элемента при

данном

Е0.

 

 

 

 

2. Эксперименты при

различных

значениях

Е0

пока­

зывают,

что

множитель

b в

уравнении

(1)

возрастает

с ростом Е0.

В частности,

его

значения, полученные Тер-

риллом [19] при40—50 «звичасто используемые в расчетах

поправок при микроанализе, в 23 раза выше значений, измеренных при 18 кэв.

3. Экспериментально определеннаяскорость уменьше­ ния средней энергии, будучи близка к предсказываемой законом Бете (3) на начальном участке пробега электронов, все более отличается от теории с ростом толщины пленок. Это расхождение идет в том направлении, которого можно ожидать, исходя из того, что длина пробега (фигуриру­ ющая в теории Бете) все более превосходит толщину фоль­ ги по мере роста z. Это расхождение для золота сильнее, чем для алюминия, и обусловлено тем, что средний угол однократного рассеяния в золоте больше, чем в алюминии, а значит, и больше длина пробега при той же толщине фольги.

4. На большей части пробега квадратичному закону

Томсона — Уиддингтона подчиняется средняя

энергия,

т. е. для нее имеет место соотношение

 

К2п

= Ъ'г.

(5)

Экспериментально определенные значения Ъ' приведены в

табл.

2.

Путем

экстраполяции

зависимости

pz

т)

можно

получить

«среднеэнергетический»

пробег,

значе­

ние которого будет

обсуждаться

далее.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Т а б л и ц а

2

Параметр

потерь средней энергии

(10й

;>в2

• г - 1 см2)

 

 

Элемент

 

Ее, КЗ!

Элемент

 

Е 0 . кзі

 

 

9

15

18

9

15

 

18

 

 

 

 

 

А1

 

4,0

4,6

5,2

Ag

 

3,0

3,8

 

4,6

Си

 

3,4

3,9

4,9

Аи

 

2,7

3,1

 

3,8

5. Выражение, полученное Ландау для зависимости

наиболее

вероятной

энергии

Ер

от

толщины

фольги,

хорошо описывает наши экспериментальные результаты для золота и алюминия (пунктир на рис. 2), по крайней

мере на первой трети пробега.

 

 

 

б) Энергетическое распределение

в толстых

мишенях.

Закон Бете (3) связывает потери энергии с пробегом

элек­

трона; траектория электрона в образце — в общем

силь­

но изломанная линия. В

результате он ничего не говорит

о скорости диссипации

энергии

электронов в

глубине

образца, за исключением лишь его тонкого поверхност­ ного слоя, в котором угловое рассеяние пренебрежимо ма­ ло. "Уравнение Бете позволяет получить требуемые све­ дения, только если скомбинировать его с каким-либо методом расчета углового распределения пучка, учиты­ вающим также и обратное рассеяние. В качестве послед­ него можно использовать либо метод Монте-Карло, кото­ рый детально прослеживает траектории большого числа отдельных электронов, либо транспортное уравнение, которое описывает поток электронов. Полуэмпирической альтернативой можно считать попытку получить диссипа­ цию энергии в толстых мишенях, исходя из вычисле­ ний, выполненных на тонких пленках того же элемента. Распределение числа электронов по глубине можно по­ лучить из соотношения доли прошедших и обратно рас­ сеянных электронов на границе пленки и массивной под­ ложки, на которую она помещена [9]. Аналогичным пу­ тем можно рассчитать и зависимость диссипации энер­ гии от глубины, измеряя среднюю энергию прошедших сквозь пленку известной массовой толщины pz электро­ нов (Emt) и обратно рассеянных от нее электронов тЬ), а также определяя среднюю энергию тг) и коэффициент г обратного рассеяния электронов от толстой мишени.

Средняя энергия электрона, прошедшего через вооб­ ражаемую границу на глубине z толстой мишени, будет меньше таковой для электрона, прошедшего через сво­

бодную пленку такой же толщины,

поскольку и доля

об­

ратно

рассеянных электронов, и их

средняя

энергия

в

случае

толстой мишени больше,

чем для тонкой плен­

ки. При помещении Р'пленки

на

толстую

подложку

некоторые из электронов, прошедших сквозь пленку и обратно рассеянных от подложки, могут вновь «отражать­ ся» от пленки и возвращаться в подложку; остальная же часть рассеянных обратно от подложки электронов будет проходить через пленку и выходить наружу из образца. Как показывает рис. 3, полученный в случае меди при 10 кэв, доля обратно рассеянных электронов г)ь уже достаточно^велика даже для тонких пленок и постепенно увеличивается с ростом их толщины; на рис. 3 также видны постепенное уменьшение доли прошедших сквозь пленку электронов г], и соответствующее возраста­ ние доли поглощенных в ней электронов Т|а .

Ряд, который появляется в этой задаче многократного рассеяния, легко суммируется [9], и мы приходим к вы-

ражению для средней энергии Ета электрона (поглощен­ ного в области между поверхностью и глубиной г), пред­ ставляющему собою разность между начальной энергией электрона и суммой величин энергий, отвечающих элек­ тронам, вышедшим обратно через поверхность образца и поглощенным в остальной части образца:

 

i-(rEIEo)

(6)

Ета — Е0 f\tE.mt

Значения Етг

измерялись рядом

исследователей, ЕтЪ

Куленкампфом

и Рюттигером

[20], Е mt нами [9].

Си І,,=!Инзв

ЗЛО

«Й7

Маковая їлолщаиа.мкг/ем'

Р И С . 3. Относительные

доли

прошедших (ті( ), обратно рассе­ янных (т]|Р и поглощенных (Г)а)

электронов в медных пленках, в зависимости от массовой толщи­ ны пленок, при Е0 = 10 кэв.

Рис. 4. Суммарная энергия

электрона

Е д

диссипированная в толстых

мише­

нях

из меди и золота при 10

кэв,

в

за­

висимости от глубины в мишени. S

теоретическая кривая Стинчфилда для меди (см. Леверенц [22]), Е — экспери­ ментальная кривая для полистирола (Эренберг и Кинг [5]).

Внося эти данные в уравнение (6), мы получили кривые, подобные приведенной на рис. 4; эти кривые показывают ход диссипации энергии по мере проникновения электро­

нов

в мишень, вплоть до максимума, равного

разности

Е0

— гЕтг между начальной энергией и средней

энергией

электронов, вышедших обратно наружу из образца. Кривые при 20 кэв почти идентичны кривым при 10 кэв в случае меди, но отличаются от кривых в случае золота вследствие того, что обратно рассеянные от золота элек­ троны имеют в среднем более высокие энергии (рис. 5).

В своей начальной части кривые диссипации энергии для данной массовой толщины различаются весьма незна­ чительно при одном и том же значении Е0 (см. рис. 4),

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ